JPH1090198A - 欠陥を検出するための方法および照射装置 - Google Patents
欠陥を検出するための方法および照射装置Info
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 44
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 75
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 52
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 15
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims description 2
- 210000003128 head Anatomy 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/024—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
- H04N1/028—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
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- H04N1/024—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
- H04N1/028—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 記録媒体支持部の表面またはその上に取付け
られる記録媒体の欠陥を検出するための方法を提供す
る。 【解決手段】 走査される記録媒体が上に置かれて用い
られる。分析スキャナの記録媒体支持表面に隣接して位
置づけるための照射装置が提供される。装置は少なくと
も部分的にその長さに沿って延びるスロット（２）を有
するハウジング（１）を含む。ハウジング（１）内には
少なくとも１つの放射源（３，４）が支持され、それに
より放射ビームがスロット（２）を通過する。放射吸収
表面（１１，１２）が放射源（３，４）からずれて設け
られて、ビーム方向からずれた方向に、媒体支持表面を
通してスロット（２）を観察するときに背景を形成する
ようにする。
られる記録媒体の欠陥を検出するための方法を提供す
る。 【解決手段】 走査される記録媒体が上に置かれて用い
られる。分析スキャナの記録媒体支持表面に隣接して位
置づけるための照射装置が提供される。装置は少なくと
も部分的にその長さに沿って延びるスロット（２）を有
するハウジング（１）を含む。ハウジング（１）内には
少なくとも１つの放射源（３，４）が支持され、それに
より放射ビームがスロット（２）を通過する。放射吸収
表面（１１，１２）が放射源（３，４）からずれて設け
られて、ビーム方向からずれた方向に、媒体支持表面を
通してスロット（２）を観察するときに背景を形成する
ようにする。
Description
【０００１】
【発明の分野】この発明は、分析スキャナに取付けられ
た記録媒体に含まれる画像（イメージ）の欠陥による影
響を検出および／または低減するための装置および方法
に関する。
た記録媒体に含まれる画像（イメージ）の欠陥による影
響を検出および／または低減するための装置および方法
に関する。
【０００２】
【先行技術の説明】画像の電子表現を発生するための典
型的な分析スキャナにおいて、記録媒体上の画像はさま
ざまな方法によって透明ドラムまたはフラットベッドな
どの記録媒体支持表面に取付けられる。これらの各々の
方法においては、走査される画像の区域に異物、スクラ
ッチまたは油の泡が確実に存在しないようにしなければ
ならない。以前は、取付が有効であるかどうかは取付け
られた画像を目視検査することによって判断されたが、
通常の照射ではこのような欠陥を識別することは困難で
ある。
型的な分析スキャナにおいて、記録媒体上の画像はさま
ざまな方法によって透明ドラムまたはフラットベッドな
どの記録媒体支持表面に取付けられる。これらの各々の
方法においては、走査される画像の区域に異物、スクラ
ッチまたは油の泡が確実に存在しないようにしなければ
ならない。以前は、取付が有効であるかどうかは取付け
られた画像を目視検査することによって判断されたが、
通常の照射ではこのような欠陥を識別することは困難で
ある。
【０００３】欠陥が識別されると、異物など簡単に取除
くことができるものもあるが、このような解決策によっ
ては十分に完全な画像が得られなかったり、欠陥に対処
するために自動工程が好ましかったりする用途が多い。
一例を挙げると、記録媒体に記録される画像はその後の
処理、記憶および出力などのためにディジタル化される
必要がある。これは従来、記録媒体を走査し、記録媒体
から放射されて画像レンズに当たる光を感知し、その
後、受取られた光をピクセルごとにディジタル化するこ
とによって達成されてきた。スクラッチなどの欠陥があ
れば、欠陥に当たる光は画像レンズから散乱し、この結
果画像には暗い縞模様が生ずる。これらの暗い縞模様は
ディジタル化された画像内に永久に記録される。これは
以前は、エアブラシ技術を用いるか、または拡散源を用
いて透明体をすべての方向から照射することのいずれか
によって対処されてきた。第１の試みの問題としては、
時間がかかることおよびスクラッチを認識しそれに対処
できるオペレータの技術が必要であることが挙げられ、
第２の試みは光の効率が非常に悪い。
くことができるものもあるが、このような解決策によっ
ては十分に完全な画像が得られなかったり、欠陥に対処
するために自動工程が好ましかったりする用途が多い。
一例を挙げると、記録媒体に記録される画像はその後の
処理、記憶および出力などのためにディジタル化される
必要がある。これは従来、記録媒体を走査し、記録媒体
から放射されて画像レンズに当たる光を感知し、その
後、受取られた光をピクセルごとにディジタル化するこ
とによって達成されてきた。スクラッチなどの欠陥があ
れば、欠陥に当たる光は画像レンズから散乱し、この結
果画像には暗い縞模様が生ずる。これらの暗い縞模様は
ディジタル化された画像内に永久に記録される。これは
以前は、エアブラシ技術を用いるか、または拡散源を用
いて透明体をすべての方向から照射することのいずれか
によって対処されてきた。第１の試みの問題としては、
時間がかかることおよびスクラッチを認識しそれに対処
できるオペレータの技術が必要であることが挙げられ、
第２の試みは光の効率が非常に悪い。
【０００４】プレート物体の表面状態を判断するための
１つの試みがＵＳ−Ａ−４９８９９７３に記載されてい
る。プレート物体の方に光が方向づけられ、プレート物
体から拡散反射した光に応答して光路外に置かれたセン
サが電気信号を発生する。プレート物体の表面状態は拡
散反射を基準として判断される。実際は拡散光を正確に
感知することは困難である。
１つの試みがＵＳ−Ａ−４９８９９７３に記載されてい
る。プレート物体の方に光が方向づけられ、プレート物
体から拡散反射した光に応答して光路外に置かれたセン
サが電気信号を発生する。プレート物体の表面状態は拡
散反射を基準として判断される。実際は拡散光を正確に
感知することは困難である。
【０００５】ＵＳ−Ａ−３９２０３１１は顕微鏡対物レ
ンズの視野内で物体を簡単に観察できるようにする顕微
鏡照明器を記載している。これは欠陥の検出にはかかわ
らない。
ンズの視野内で物体を簡単に観察できるようにする顕微
鏡照明器を記載している。これは欠陥の検出にはかかわ
らない。
【０００６】ＵＳ−Ａ−５０５８９８２は反射によって
不透明物体を検査するためのシステムを記載している。
不透明物体を検査するためのシステムを記載している。
【０００７】ＥＰ−Ａ−０６７８９１０は半球形カバー
に収められた半導体ディスクの表面を照射するための照
射装置を記載している。これは十分に自動化した品質管
理を可能にする。
に収められた半導体ディスクの表面を照射するための照
射装置を記載している。これは十分に自動化した品質管
理を可能にする。
【０００８】ＷＯ ９３−１３４０６は、光カードなど
の光記録媒体の表面上の欠陥を識別するための装置を記
載している。このシステムは反射によって機能する。
の光記録媒体の表面上の欠陥を識別するための装置を記
載している。このシステムは反射によって機能する。
【０００９】
【発明の概要】この発明の第１の局面に従って、記録媒
体支持部の表面またはその上に取付けられる記録媒体に
ある欠陥を検出するための方法が提供され、この方法は
支持表面を源からの放射ビームで照射するステップを含
み、この支持部は放射に対して透過的であり、さらにこ
の方法は放射源からずれて配置された放射吸収表面に対
して支持表面を観察するステップを含み、観察方向は照
射ビームが支持表面に当たる方向からずれた角度をなす
方向であり、放射ビームは支持部を通過しており、さら
にこの方法は高輝度の領域を検出することにより欠陥の
存在を決定するステップを含む。
体支持部の表面またはその上に取付けられる記録媒体に
ある欠陥を検出するための方法が提供され、この方法は
支持表面を源からの放射ビームで照射するステップを含
み、この支持部は放射に対して透過的であり、さらにこ
の方法は放射源からずれて配置された放射吸収表面に対
して支持表面を観察するステップを含み、観察方向は照
射ビームが支持表面に当たる方向からずれた角度をなす
方向であり、放射ビームは支持部を通過しており、さら
にこの方法は高輝度の領域を検出することにより欠陥の
存在を決定するステップを含む。
【００１０】取付けられた記録媒体、記録媒体支持表面
自体または媒体と媒体支持表面との間にある欠陥を観察
するための新しい方法が考案された。この方法は、表面
が観察される方向からずれた角度で支持表面を照射する
ことにかかわる。欠陥のないスキャナ表面の領域が観察
方向に沿って観察されると、この方法は放射源からの直
接光線が確実に観察者の視線からずれるようにし、かつ
領域が確実に実質的に暗くなるようにする。しかしなが
ら、媒体、媒体支持表面またはそれらの間に欠陥があれ
ぱ、光線は観察者の視線の中に散乱することとなる。こ
の結果、欠陥に対応する高輝度区域によって観察領域は
実質的に暗くなることとなる。
自体または媒体と媒体支持表面との間にある欠陥を観察
するための新しい方法が考案された。この方法は、表面
が観察される方向からずれた角度で支持表面を照射する
ことにかかわる。欠陥のないスキャナ表面の領域が観察
方向に沿って観察されると、この方法は放射源からの直
接光線が確実に観察者の視線からずれるようにし、かつ
領域が確実に実質的に暗くなるようにする。しかしなが
ら、媒体、媒体支持表面またはそれらの間に欠陥があれ
ぱ、光線は観察者の視線の中に散乱することとなる。こ
の結果、欠陥に対応する高輝度区域によって観察領域は
実質的に暗くなることとなる。
【００１１】このような方法はさまざまな異なった方法
で実施され得ることを認識されたい。たとえばこの工程
は支持部が裸眼で観察されるよう手動で行なわれてもよ
く、これに代えてこの方法は自動化されてもよく、この
場合、観察手段はある形の走査システムであってもよ
い。
で実施され得ることを認識されたい。たとえばこの工程
は支持部が裸眼で観察されるよう手動で行なわれてもよ
く、これに代えてこの方法は自動化されてもよく、この
場合、観察手段はある形の走査システムであってもよ
い。
【００１２】いずれの場合にも、典型的には放射は表面
に対する法線からずれた角度で記録媒体支持表面に当
り、表面は法線に沿って観察されるが、法線からずれた
角度で支持表面を観察しかつ法線照射をもたらすことは
可能であると考えられる。これにより表面の配向および
観察が簡単になる。
に対する法線からずれた角度で記録媒体支持表面に当
り、表面は法線に沿って観察されるが、法線からずれた
角度で支持表面を観察しかつ法線照射をもたらすことは
可能であると考えられる。これにより表面の配向および
観察が簡単になる。
【００１３】放射吸収表面はさまざまな形であってもよ
いが、好ましくは、ビーム源が発生する実質的にすべて
の波長を吸収する形のものである。可視波長の場合、放
射吸収表面は好ましくは黒であるか、または暗い青であ
る。
いが、好ましくは、ビーム源が発生する実質的にすべて
の波長を吸収する形のものである。可視波長の場合、放
射吸収表面は好ましくは黒であるか、または暗い青であ
る。
【００１４】さらに、この発明の第２の局面に従った装
置を用いることもできるが、さまざまな放射源を用いる
ことが可能である。この発明の第２の局面においては、
照射装置であって、走査される記録媒体がその上に位置
づけられて用いられる分析スキャナの記録媒体支持表面
を隣接して位置づけるためのものが提供され、この装置
は、少なくとも部分的にその長さに沿って延びるスロッ
トを備えたハウジングと、ハウジング内に支持され、そ
れにより放射ビームがスロットを通過する、少なくとも
１つの放射源と、放射吸収表面とを含み、この放射吸収
表面は放射源からずれて配置されて、ビーム方向からず
れた方向に媒体支持表面を通してスロットを観察すると
きに背景を形成するようにする。
置を用いることもできるが、さまざまな放射源を用いる
ことが可能である。この発明の第２の局面においては、
照射装置であって、走査される記録媒体がその上に位置
づけられて用いられる分析スキャナの記録媒体支持表面
を隣接して位置づけるためのものが提供され、この装置
は、少なくとも部分的にその長さに沿って延びるスロッ
トを備えたハウジングと、ハウジング内に支持され、そ
れにより放射ビームがスロットを通過する、少なくとも
１つの放射源と、放射吸収表面とを含み、この放射吸収
表面は放射源からずれて配置されて、ビーム方向からず
れた方向に媒体支持表面を通してスロットを観察すると
きに背景を形成するようにする。
【００１５】照射するための放射源は発光ダイオード、
光バルブまたは半導体レーザのいずれであってもよい
が、好ましくは、蛍光チューブである。蛍光チューブに
は長い照射源をもたらすという利点がある。したがっ
て、単一チューブは画像支持表面に対して配置される
と、多数の源の使用を必要とせず、支持表面の長さに沿
って光線をもたらすことができる。
光バルブまたは半導体レーザのいずれであってもよい
が、好ましくは、蛍光チューブである。蛍光チューブに
は長い照射源をもたらすという利点がある。したがっ
て、単一チューブは画像支持表面に対して配置される
と、多数の源の使用を必要とせず、支持表面の長さに沿
って光線をもたらすことができる。
【００１６】湾曲ミラーまたはレンズなどの焦点合わせ
手段を用いて放射ビームを発生することもできるが、典
型的には、装置は放射をビームにする放射シールドをさ
らに含むこととなる。焦点合わせ手段を用いるよりもシ
ールドを用いると構成が遙に簡単になる。
手段を用いて放射ビームを発生することもできるが、典
型的には、装置は放射をビームにする放射シールドをさ
らに含むこととなる。焦点合わせ手段を用いるよりもシ
ールドを用いると構成が遙に簡単になる。
【００１７】欠陥の観察を助けるために、放射シールド
には好ましくは放射吸収表面が組込まれる。シールドと
スクリーンとが切離されている場合よりも、構成が簡単
になる。
には好ましくは放射吸収表面が組込まれる。シールドと
スクリーンとが切離されている場合よりも、構成が簡単
になる。
【００１８】放射シールドはハウジング内であればどこ
に置かれてもよいが、好ましくは背景表面がスロットと
対面するようスロットと向かい合ってハウジング内に配
置される。これにより、それに対してスキャナ表面また
は記録媒体が観察される背景がもたらされる。
に置かれてもよいが、好ましくは背景表面がスロットと
対面するようスロットと向かい合ってハウジング内に配
置される。これにより、それに対してスキャナ表面また
は記録媒体が観察される背景がもたらされる。
【００１９】画像支持表面はフラットベッドスキャナに
おけるように平らな表面であるか、または分析シリンダ
スキャナにおけるようにシリンダドラムであってもよ
い。
おけるように平らな表面であるか、または分析シリンダ
スキャナにおけるようにシリンダドラムであってもよ
い。
【００２０】ハウジングは所望の形であればいかなるも
のであってもよいが、典型的にはチューブである。これ
により、平らな取付表面の下またはシリンダドラムの中
のいずれかに容易に挿入できるようになる。
のであってもよいが、典型的にはチューブである。これ
により、平らな取付表面の下またはシリンダドラムの中
のいずれかに容易に挿入できるようになる。
【００２１】照射は単一源によってもたらされてもよい
が、典型的には装置は少なくとも２つの放射源を含み、
これらの少なくとも２つの放射源は、スロットの中心お
よびチューブの軸を通る面のまわりで左右対称に支持さ
れる。左右対称に取付けられた２つの源を用いると、２
つの異なった方向からの光線は欠陥への入射光線にな
る。これには、より多くの放射が散乱するため、観察時
に欠陥が明るく見えるようになり、かつ欠陥を確実に均
一に照射するという利点がある。
が、典型的には装置は少なくとも２つの放射源を含み、
これらの少なくとも２つの放射源は、スロットの中心お
よびチューブの軸を通る面のまわりで左右対称に支持さ
れる。左右対称に取付けられた２つの源を用いると、２
つの異なった方向からの光線は欠陥への入射光線にな
る。これには、より多くの放射が散乱するため、観察時
に欠陥が明るく見えるようになり、かつ欠陥を確実に均
一に照射するという利点がある。
【００２２】この装置は、この発明の第１の局面による
方法を実施するようにする照射をもたらす。欠陥が検出
されると、異物などそれらのうちいくらかは手で取除く
ことができる。それでもなおいくらかの欠陥は残り、こ
れらはさらなる自動工程を実施することにより対処され
得る。これに代えて、場合によっては手動方法よりも自
動方法の方が好ましいこともあり、たとえば多数の画像
が短い時間で取扱われなければならない場合には自動方
法の方が好ましい。
方法を実施するようにする照射をもたらす。欠陥が検出
されると、異物などそれらのうちいくらかは手で取除く
ことができる。それでもなおいくらかの欠陥は残り、こ
れらはさらなる自動工程を実施することにより対処され
得る。これに代えて、場合によっては手動方法よりも自
動方法の方が好ましいこともあり、たとえば多数の画像
が短い時間で取扱われなければならない場合には自動方
法の方が好ましい。
【００２３】欠陥が自動的に取扱われるようにするため
に、この発明の第３の局面に従って、記録媒体上の画像
のディジタル表現を発生するための方法が提供され、こ
の方法は、 ａ） 第１の態様で媒体を照射して媒体からの放射が感
知装置に当たるようにし、この感知装置が媒体の外観の
第１のディジタル表現を発生するステップと、 ｂ） 第２の態様で媒体を照射し、それにより媒体上の
欠陥からの放射の輝度が媒体の他の部分からの放射と比
較して高められるようにし、かつ感知装置に放射が当た
るようにして媒体の外観の第１のディジタル表現を発生
するようにするステップと、 ｃ） 第１のディジタル表現を変形して、第２のディジ
タル表現を基準とすることにより欠陥による影響をなく
して画像のディジタル表現を発生するステップとを含
む。
に、この発明の第３の局面に従って、記録媒体上の画像
のディジタル表現を発生するための方法が提供され、こ
の方法は、 ａ） 第１の態様で媒体を照射して媒体からの放射が感
知装置に当たるようにし、この感知装置が媒体の外観の
第１のディジタル表現を発生するステップと、 ｂ） 第２の態様で媒体を照射し、それにより媒体上の
欠陥からの放射の輝度が媒体の他の部分からの放射と比
較して高められるようにし、かつ感知装置に放射が当た
るようにして媒体の外観の第１のディジタル表現を発生
するようにするステップと、 ｃ） 第１のディジタル表現を変形して、第２のディジ
タル表現を基準とすることにより欠陥による影響をなく
して画像のディジタル表現を発生するステップとを含
む。
【００２４】この発明の第４の局面に従って、記録媒体
上の画像のディジタル表現を発生するための装置が提供
され、この装置は上に記録媒体が配置され得る記録媒体
支持部と、支持部上の媒体を放射で照射するための手段
と、支持部上の媒体からの放射を感知し、かつ照射され
ている媒体の外観のディジタル表現を発生するための感
知装置と、感知装置に接続された処理手段とを含み、装
置はこの発明の第１の局面による方法を実施するように
されている。
上の画像のディジタル表現を発生するための装置が提供
され、この装置は上に記録媒体が配置され得る記録媒体
支持部と、支持部上の媒体を放射で照射するための手段
と、支持部上の媒体からの放射を感知し、かつ照射され
ている媒体の外観のディジタル表現を発生するための感
知装置と、感知装置に接続された処理手段とを含み、装
置はこの発明の第１の局面による方法を実施するように
されている。
【００２５】さらに、この発明の第１または第２の局面
のうちいずれかに関連または独立して、記録媒体上の欠
陥を自動的に取扱うための新しい方法および装置が考案
された。このプロセスは第１に媒体が全体的に均等に照
射され、第２に欠陥が強調されるよう、２つの異なった
態様で媒体を本質的に照射することにより達成される。
これらの２つの照射態様は、別個の光源を用いるか、ま
たは１つの位置から別の位置に移動された単一源を用い
ることにより達成することができる。特に、照射の第２
の態様は、欠陥のみによって散乱した光が画像レンズに
受取られるように光源をずらしておくか、またはこの発
明の第２の局面による照射装置を用いることにより、達
成することができる。
のうちいずれかに関連または独立して、記録媒体上の欠
陥を自動的に取扱うための新しい方法および装置が考案
された。このプロセスは第１に媒体が全体的に均等に照
射され、第２に欠陥が強調されるよう、２つの異なった
態様で媒体を本質的に照射することにより達成される。
これらの２つの照射態様は、別個の光源を用いるか、ま
たは１つの位置から別の位置に移動された単一源を用い
ることにより達成することができる。特に、照射の第２
の態様は、欠陥のみによって散乱した光が画像レンズに
受取られるように光源をずらしておくか、またはこの発
明の第２の局面による照射装置を用いることにより、達
成することができる。
【００２６】ステップｃ）はさまざまな方法で実施する
ことができる。非常に簡単な試みでは、できれば適切な
加重修正の後に、第２のディジタル表現が第１のディジ
タル表現に加えられ得る。
ことができる。非常に簡単な試みでは、できれば適切な
加重修正の後に、第２のディジタル表現が第１のディジ
タル表現に加えられ得る。
【００２７】より高度な試みでは、第２のディジタル表
現は欠陥の位置を識別するマスクを形成するよう処理さ
れ、第１のディジタル表現は欠陥による影響をなくする
ようマスクの制御のもとで修正される。この修正は内挿
または複製技術であるか、またはガイドとしてマスクを
用いてもとの欠陥部分を強調する、電子エアブラシ技術
などの技術的な方法であってもよい。
現は欠陥の位置を識別するマスクを形成するよう処理さ
れ、第１のディジタル表現は欠陥による影響をなくする
ようマスクの制御のもとで修正される。この修正は内挿
または複製技術であるか、またはガイドとしてマスクを
用いてもとの欠陥部分を強調する、電子エアブラシ技術
などの技術的な方法であってもよい。
【００２８】マスクの作成はしきい値技術を用いて行な
うことができる。たとえば、予め定められたしきい値と
記憶された各ピクセル値とを比較するか、画像区域にわ
たる変数であり得るしきい値を自動的に計算するか、ま
たは背景から欠陥を選択するよう設計されたある他のア
ルゴリズムを用いることにより行なわれる。
うことができる。たとえば、予め定められたしきい値と
記憶された各ピクセル値とを比較するか、画像区域にわ
たる変数であり得るしきい値を自動的に計算するか、ま
たは背景から欠陥を選択するよう設計されたある他のア
ルゴリズムを用いることにより行なわれる。
【００２９】第２の試みは第１の試みよりも好ましい。
なぜなら、ステップｂ）の間、感知装置によって画像の
部分が依然として感知されるおそれがあり、これをなく
す必要がある。たとえば、透明体の場合には、透明体の
乳剤が光をさらに散乱させ、それにより透明体上に画像
の、付加的な微かな複製を発生することとなる。
なぜなら、ステップｂ）の間、感知装置によって画像の
部分が依然として感知されるおそれがあり、これをなく
す必要がある。たとえば、透明体の場合には、透明体の
乳剤が光をさらに散乱させ、それにより透明体上に画像
の、付加的な微かな複製を発生することとなる。
【００３０】ステップ（ａ）および（ｂ）はこれに代え
て単一走査の間に２つの照射源から瞬間的に光を発する
ことにより、いかなる順番で、または同時に行なわれて
もよい。
て単一走査の間に２つの照射源から瞬間的に光を発する
ことにより、いかなる順番で、または同時に行なわれて
もよい。
【００３１】第３および第４の局面は不透明な記録媒体
によって実現することができるが、好ましくは媒体は透
明であり、一方の側から照射され、感知装置は他方の側
から出された放射を検出するよう位置付けられる。
によって実現することができるが、好ましくは媒体は透
明であり、一方の側から照射され、感知装置は他方の側
から出された放射を検出するよう位置付けられる。
【００３２】処理手段は別個のハードウェアコンポーネ
ント、適切にプログラムされたコンピュータまたはこれ
らの２つの組合せの形であってもよい。
ント、適切にプログラムされたコンピュータまたはこれ
らの２つの組合せの形であってもよい。
【００３３】記録媒体はポジまたはネガを含んでもよ
く、これらは好ましくは、透過光によって第１の態様で
走査されることとなる。透過光または反射光のいずれか
を用いると第２の態様で記録媒体を走査することができ
る。
く、これらは好ましくは、透過光によって第１の態様で
走査されることとなる。透過光または反射光のいずれか
を用いると第２の態様で記録媒体を走査することができ
る。
【００３４】照射源は典型的には可視波長範囲の光を発
生することとなるが、場合によっては可視波長範囲外の
波長で動作することもある。
生することとなるが、場合によっては可視波長範囲外の
波長で動作することもある。
【００３５】典型的には、２つの源が設けられるが、場
合によっては、記録媒体を迅速に十分に走査できるよう
にするために２つより多い源が用いられてもよく、また
は単一の移動可能な源が用いられてもよい。一般に放射
は可視光を含むが、可視範囲外の波長、たとえばＵＶま
たは赤外線を含んでもよい。
合によっては、記録媒体を迅速に十分に走査できるよう
にするために２つより多い源が用いられてもよく、また
は単一の移動可能な源が用いられてもよい。一般に放射
は可視光を含むが、可視範囲外の波長、たとえばＵＶま
たは赤外線を含んでもよい。
【００３６】発明による装置および方法のいくつかの例
は添付の図面を参照して説明される。
は添付の図面を参照して説明される。
【００３７】
【詳細な説明】図１から３に示される装置は不透明チュ
ーブ１を含み、この不透明チューブ１は、長さが約８０
０ｍｍであり、直径が約８５ｍｍであり、スロット２を
有し、このスロット２の長さは約４５０ｍｍであり、幅
は約３０ｍｍであり、チューブの長さに沿って延びる。
チューブ１の内部にはチューブの軸に平行に、横方向に
間隔をあけて配置された２つの蛍光チューブ３および４
がある。これらはほぼ半球状の固定具５および６によっ
て定位置に保たれる。好ましい実施例においては、蛍光
チューブ３および４の他方の端部を支持するよう２つの
付加的な固定具１５および１６がさらに含まれる。固定
具５はチューブ１を通って延びるねじ７および８によっ
て定位置に保たれる。残りの固定具６、１５および１６
を定位置に保つために、これに似たねじ（図示せず）が
用いられる。
ーブ１を含み、この不透明チューブ１は、長さが約８０
０ｍｍであり、直径が約８５ｍｍであり、スロット２を
有し、このスロット２の長さは約４５０ｍｍであり、幅
は約３０ｍｍであり、チューブの長さに沿って延びる。
チューブ１の内部にはチューブの軸に平行に、横方向に
間隔をあけて配置された２つの蛍光チューブ３および４
がある。これらはほぼ半球状の固定具５および６によっ
て定位置に保たれる。好ましい実施例においては、蛍光
チューブ３および４の他方の端部を支持するよう２つの
付加的な固定具１５および１６がさらに含まれる。固定
具５はチューブ１を通って延びるねじ７および８によっ
て定位置に保たれる。残りの固定具６、１５および１６
を定位置に保つために、これに似たねじ（図示せず）が
用いられる。
【００３８】チューブ１が潰れないようにするために、
１対の支持ストラット９および１９がそれぞれの対の固
定具５および６ならびに１５および１６間に横方向に延
びる。チューブの柔軟性を高めるようスロット２の反対
側でチューブ１の外面に長方形の溝１０が位置づけられ
る。これによりスロット幅の調整が容易になる。選択さ
れたスロット幅に応じて、異なったストラット９および
１９が用いられることとなる。
１対の支持ストラット９および１９がそれぞれの対の固
定具５および６ならびに１５および１６間に横方向に延
びる。チューブの柔軟性を高めるようスロット２の反対
側でチューブ１の外面に長方形の溝１０が位置づけられ
る。これによりスロット幅の調整が容易になる。選択さ
れたスロット幅に応じて、異なったストラット９および
１９が用いられることとなる。
【００３９】装置は１対の放射シールド１１および１２
をさらに含み、これらは図２に示され、図１では省略さ
れている。これらのシールドはスロット２を通る直接放
射を蛍光チューブ３および４から遮蔽し、かつスロット
２と関連して２つの放射ビーム１３および１４を規定す
る。これらのビームはスロット２を通り、交差して最大
照射区域１７を形成する。
をさらに含み、これらは図２に示され、図１では省略さ
れている。これらのシールドはスロット２を通る直接放
射を蛍光チューブ３および４から遮蔽し、かつスロット
２と関連して２つの放射ビーム１３および１４を規定す
る。これらのビームはスロット２を通り、交差して最大
照射区域１７を形成する。
【００４０】好ましい実施例において、チューブ１なら
びにシールド１１および１２は、蛍光チューブ３および
４によって放射され、それらの上に当たるすべての放射
を吸収するよう黒くされている。黒いシールド１１およ
び１２により、それに対して支持表面および透明体を観
察することができる背景が提供される。
びにシールド１１および１２は、蛍光チューブ３および
４によって放射され、それらの上に当たるすべての放射
を吸収するよう黒くされている。黒いシールド１１およ
び１２により、それに対して支持表面および透明体を観
察することができる背景が提供される。
【００４１】図３は照射装置の平面図を示す。この図で
は、スロット２の面に対して垂直な角度でチューブの方
を見ると、スロットを通して黒いシールド１１および１
２しか見えないことが明らかである。放射シールド１１
および１２はチューブ１に沿った途中にあり、固定具５
および６は一端に、固定具１５および１６は他方端にあ
る。
は、スロット２の面に対して垂直な角度でチューブの方
を見ると、スロットを通して黒いシールド１１および１
２しか見えないことが明らかである。放射シールド１１
および１２はチューブ１に沿った途中にあり、固定具５
および６は一端に、固定具１５および１６は他方端にあ
る。
【００４２】蛍光チューブ３および４は固定具５、６、
１５および１６の孔を通して取付けられるため、チュー
ブの端部は固定具の外側端部から突出する。チューブ３
および４の突出端部２３および２４はそれぞれ放射を吸
収するよう黒くされている。これにより、装置の有効性
を低減するおそれのある、支持表面への不所望な照射が
避けられる。
１５および１６の孔を通して取付けられるため、チュー
ブの端部は固定具の外側端部から突出する。チューブ３
および４の突出端部２３および２４はそれぞれ放射を吸
収するよう黒くされている。これにより、装置の有効性
を低減するおそれのある、支持表面への不所望な照射が
避けられる。
【００４３】チューブ３および４はリード２０および２
１によって電源装置１８に接続される。各リードはそれ
ぞれ２つのワイヤ２５および２６ならびに２７および２
８を含む。リード２０および２１はチューブ１の一端に
入り、ここで各リード２０および２１からのワイヤ２５
および２７がそれぞれチューブ３および４のうち１つに
接続される。残りのワイヤ２６および２８は放射シール
ド１１および１２の背後を通り、蛍光チューブ３および
４の他方端に接続される。
１によって電源装置１８に接続される。各リードはそれ
ぞれ２つのワイヤ２５および２６ならびに２７および２
８を含む。リード２０および２１はチューブ１の一端に
入り、ここで各リード２０および２１からのワイヤ２５
および２７がそれぞれチューブ３および４のうち１つに
接続される。残りのワイヤ２６および２８は放射シール
ド１１および１２の背後を通り、蛍光チューブ３および
４の他方端に接続される。
【００４４】この発明の方法の一例を実施するために、
装置は分析スキャナ（図２）のドラム２９の内部に挿入
され、いくつかの支持手段またはブラケット（図示せ
ず）によって記録媒体支持表面２９Ａに隣接して定位置
に保たれてもよく、または装置は必要に応じてユーザが
装置を位置づけることのできるよう手で保持されてもよ
い。シリンダドラムスキャナの使用は制限的なものでは
なく、装置はフラットベッドスキャナと等しくうまく機
能し得ることに留意されたい。ドラムは上に取付けられ
る透明体３０を有してもよいし、または有さなくてもよ
い。装置は、欠陥２２がチェックされるドラムの領域が
最大照射区域１７内に含まれるように位置づけられる。
その後、観察方向に沿って、スロット２の方を観察者が
見ることにより領域が検査される。
装置は分析スキャナ（図２）のドラム２９の内部に挿入
され、いくつかの支持手段またはブラケット（図示せ
ず）によって記録媒体支持表面２９Ａに隣接して定位置
に保たれてもよく、または装置は必要に応じてユーザが
装置を位置づけることのできるよう手で保持されてもよ
い。シリンダドラムスキャナの使用は制限的なものでは
なく、装置はフラットベッドスキャナと等しくうまく機
能し得ることに留意されたい。ドラムは上に取付けられ
る透明体３０を有してもよいし、または有さなくてもよ
い。装置は、欠陥２２がチェックされるドラムの領域が
最大照射区域１７内に含まれるように位置づけられる。
その後、観察方向に沿って、スロット２の方を観察者が
見ることにより領域が検査される。
【００４５】一般的には、好ましい観察方向は支持表面
２９Ａに対する法線に沿った方向であり、この場合光ビ
ームは観察方向からずれた角度でドラム表面に当たる。
さらに、光源３および４はスロット２のエッジによって
観察者からは見えない。このため、観察方向１００に沿
って見ている観察者の目に直接、放射光線が入射するこ
とはない。したがって、黒い背景に対して観察する時、
ドラムおよび透明体は実質的に暗く見える。
２９Ａに対する法線に沿った方向であり、この場合光ビ
ームは観察方向からずれた角度でドラム表面に当たる。
さらに、光源３および４はスロット２のエッジによって
観察者からは見えない。このため、観察方向１００に沿
って見ている観察者の目に直接、放射光線が入射するこ
とはない。したがって、黒い背景に対して観察する時、
ドラムおよび透明体は実質的に暗く見える。
【００４６】分析スキャナドラム２９はスクラッチまた
は汚点などの欠陥２２を含み得る。取付けられた透明体
もまた、異物およびスクラッチを含む欠陥による影響を
受けることとなり、透明体が油で取付けられる場合には
スキャナ表面２９Ａと透明体３０との間に油の泡が形成
されるおそれがある。これらの欠陥２２に入射する光線
は散乱することとなる。散乱光の中には観察者の目に入
射するものもある。
は汚点などの欠陥２２を含み得る。取付けられた透明体
もまた、異物およびスクラッチを含む欠陥による影響を
受けることとなり、透明体が油で取付けられる場合には
スキャナ表面２９Ａと透明体３０との間に油の泡が形成
されるおそれがある。これらの欠陥２２に入射する光線
は散乱することとなる。散乱光の中には観察者の目に入
射するものもある。
【００４７】このため、観察領域は高輝度の区域により
均一に暗く見えることとなる。これらの区域はドラムま
たは透明体のいずれかにある欠陥の位置に対応する。典
型的な透明体の外観の一例が図４に示される。
均一に暗く見えることとなる。これらの区域はドラムま
たは透明体のいずれかにある欠陥の位置に対応する。典
型的な透明体の外観の一例が図４に示される。
【００４８】図４はスキャナドラム２９に取付けられた
透明体３０の目視検査によって見える画像を表わす。観
察すると、ドラム２９および透明体３０は低輝度の区域
により実質的に明るく見えるのではなく、高輝度の区域
により実質的に暗く見えるという点で画像はネガである
と考えられる。
透明体３０の目視検査によって見える画像を表わす。観
察すると、ドラム２９および透明体３０は低輝度の区域
により実質的に明るく見えるのではなく、高輝度の区域
により実質的に暗く見えるという点で画像はネガである
と考えられる。
【００４９】マーク３１および３２はそれぞれドラム２
９および透明体３０のスクラッチの結果として見える画
像を表わす。異物はすべて、１点から光線を散乱するこ
ととなり、したがって異物は照射点３３として観察する
ことができる。最後に、透明体３０とドラム表面２９と
の間に油の泡があると、わずかに輝度の高い領域３４が
形成されることとなり、この領域３４はさらに輝度の高
い外周３５によって囲まれる。高輝度の外周は泡のエッ
ジを形成する油に多く散乱することにより生じる。
９および透明体３０のスクラッチの結果として見える画
像を表わす。異物はすべて、１点から光線を散乱するこ
ととなり、したがって異物は照射点３３として観察する
ことができる。最後に、透明体３０とドラム表面２９と
の間に油の泡があると、わずかに輝度の高い領域３４が
形成されることとなり、この領域３４はさらに輝度の高
い外周３５によって囲まれる。高輝度の外周は泡のエッ
ジを形成する油に多く散乱することにより生じる。
【００５０】この発明は目視検査に制限されるのではな
く、光感知スキャナなどの代替的な検出手段と関連して
照射装置を用いることもできることに注目されたい。装
置がスキャナと用いられる場合には、たとえば赤外線な
どの不可視照射を用いることもできる。この場合ドラム
表面を照射するために用いられる放射線の波長をスキャ
ナが確実に検出できるようにしなければならない。
く、光感知スキャナなどの代替的な検出手段と関連して
照射装置を用いることもできることに注目されたい。装
置がスキャナと用いられる場合には、たとえば赤外線な
どの不可視照射を用いることもできる。この場合ドラム
表面を照射するために用いられる放射線の波長をスキャ
ナが確実に検出できるようにしなければならない。
【００５１】欠陥が検出されると、それらのうちいつら
かは取除くことができる。これはさまざまな方法で行な
うことができ、欠陥の種類に大きく依存する。たとえ
ば、媒体支持部の表面または記録媒体上の異物は表面を
きれいにすることにより取除くことができる。媒体と支
持表面との間にある油の泡は再度取付けるか、その領域
に圧力を加えて、集められた油を分散することにより減
らすことができる。さらに、支持表面にスクラッチがあ
る場合には、それを取り換えることが必要であろう。
かは取除くことができる。これはさまざまな方法で行な
うことができ、欠陥の種類に大きく依存する。たとえ
ば、媒体支持部の表面または記録媒体上の異物は表面を
きれいにすることにより取除くことができる。媒体と支
持表面との間にある油の泡は再度取付けるか、その領域
に圧力を加えて、集められた油を分散することにより減
らすことができる。さらに、支持表面にスクラッチがあ
る場合には、それを取り換えることが必要であろう。
【００５２】欠陥の補償を可能にする装置が図５に示さ
れ、これは透明シリンダまたはフラットベッドなどの記
録媒体支持部５１を含む。像が映し出される透明体５２
は支持部５１の表面に固定される。支持部５１の上方に
は、走査ヘッド５３が位置づけられ、この走査ヘッド５
３はモータ５５によって回転する親ねじ５４に取付けら
れる。支持部５１の下方には第１の光源５６が位置づけ
られる。これに代えて支持部５１は、透明体が上に置か
れるギャップを規定してもよい。
れ、これは透明シリンダまたはフラットベッドなどの記
録媒体支持部５１を含む。像が映し出される透明体５２
は支持部５１の表面に固定される。支持部５１の上方に
は、走査ヘッド５３が位置づけられ、この走査ヘッド５
３はモータ５５によって回転する親ねじ５４に取付けら
れる。支持部５１の下方には第１の光源５６が位置づけ
られる。これに代えて支持部５１は、透明体が上に置か
れるギャップを規定してもよい。
【００５３】記録媒体支持部５１は透明体５２をヘッド
５３の下で第１の方向に走査されるよう移動することが
でき、第１の方向は、親ねじ５４が回転すると、それに
沿ってヘッド５３が移動する第２の方向に直交する。源
５６はヘッド５３とともに移動するよう取付けられる。
このように、透明体５２全体を走査ヘッド５３で走査す
ることができる。
５３の下で第１の方向に走査されるよう移動することが
でき、第１の方向は、親ねじ５４が回転すると、それに
沿ってヘッド５３が移動する第２の方向に直交する。源
５６はヘッド５３とともに移動するよう取付けられる。
このように、透明体５２全体を走査ヘッド５３で走査す
ることができる。
【００５４】走査ヘッド５３は画像レンズ５７を含み、
これは光または放射検出器５８の下に取付けられる。検
出器５８は、透明体５２を通過し、（かつ透明体５２上
の画像によって変調された）光を受取る。検出器５８か
ら得られた電気信号は線５９に沿ってプロセッサ６０に
送られる。プロセッサ６０は信号をディジタル化し、そ
れらをストア６１に送り、このストア６１では、受取ら
れた光の輝度を表わす透明体５２の各ピクセルに対する
値がストアされる。
これは光または放射検出器５８の下に取付けられる。検
出器５８は、透明体５２を通過し、（かつ透明体５２上
の画像によって変調された）光を受取る。検出器５８か
ら得られた電気信号は線５９に沿ってプロセッサ６０に
送られる。プロセッサ６０は信号をディジタル化し、そ
れらをストア６１に送り、このストア６１では、受取ら
れた光の輝度を表わす透明体５２の各ピクセルに対する
値がストアされる。
【００５５】この例では白黒画像の走査が説明された
が、この発明はカラー画像にも適用することができ、こ
の場合走査ヘッド３は従来の態様で適切に変形されるこ
ととなる。
が、この発明はカラー画像にも適用することができ、こ
の場合走査ヘッド３は従来の態様で適切に変形されるこ
ととなる。
【００５６】最後に、補助光源６２が設けられ、この補
助光源６２はビーム６３を発生し、このビーム６３はヘ
ッド５３から透明体５２を通って延びる縦軸からずれ
る。この源は単に、図５に示されるようなずらしておか
れた源であってもよいが、蛍光チューブ３および４を別
個に起動することができるならば、図１の照射装置を用
いていわゆるずれた照射をもたらすようにすることもで
きる。
助光源６２はビーム６３を発生し、このビーム６３はヘ
ッド５３から透明体５２を通って延びる縦軸からずれ
る。この源は単に、図５に示されるようなずらしておか
れた源であってもよいが、蛍光チューブ３および４を別
個に起動することができるならば、図１の照射装置を用
いていわゆるずれた照射をもたらすようにすることもで
きる。
【００５７】次に、図５に示した装置の動作を説明す
る。初めに、透明体５２が支持部５１に取付けられ、源
５６が活性化（作動）する。源６２は不活性の（停止し
た）ままである。源５６は全体的に均一に、ヘッド５３
の下方にある透明体５２を照射し（図６のステップ７
０）、透明体５２の小さな区域からの光はＣＣＤ検出器
５８上にレンズ５７によって焦点合わせされる。検出器
は当業者には周知である形の、ＣＣＤ検出器アレイなど
のいかなる適切な検出器であってもよい。親ねじ５４が
回転して走査ヘッド５３がモータ５５の制御下で親ねじ
に沿って（源５６の移動に対応して）移動するように
し、支持部５１は直交方向に移動する。このように、透
明体５２のすべての部分の画像がＣＣＤ検出器５８上に
映し出される（ステップ７１）。検出器５８からの信号
は線５９に沿ってプロセッサ６０にダウンロードされ、
このプロセッサ６０で信号はディジタル化され、その
後、それぞれのピクセルに対応するストア６１の適切な
位置にストアされる（ステップ７２）。
る。初めに、透明体５２が支持部５１に取付けられ、源
５６が活性化（作動）する。源６２は不活性の（停止し
た）ままである。源５６は全体的に均一に、ヘッド５３
の下方にある透明体５２を照射し（図６のステップ７
０）、透明体５２の小さな区域からの光はＣＣＤ検出器
５８上にレンズ５７によって焦点合わせされる。検出器
は当業者には周知である形の、ＣＣＤ検出器アレイなど
のいかなる適切な検出器であってもよい。親ねじ５４が
回転して走査ヘッド５３がモータ５５の制御下で親ねじ
に沿って（源５６の移動に対応して）移動するように
し、支持部５１は直交方向に移動する。このように、透
明体５２のすべての部分の画像がＣＣＤ検出器５８上に
映し出される（ステップ７１）。検出器５８からの信号
は線５９に沿ってプロセッサ６０にダウンロードされ、
このプロセッサ６０で信号はディジタル化され、その
後、それぞれのピクセルに対応するストア６１の適切な
位置にストアされる（ステップ７２）。
【００５８】次に、光源５６が不活性化（停止）し、光
源６２が活性化（作動）する。源６２からの光は鋭角を
なして透明体５２上に当たるため、実質的には透明体５
２上のスクラッチなどの欠陥によって回折または屈折し
た光のみが画像レンズ５７に方向づけられることとな
る。透明体５２上の乳剤により光のうちいくらかを散乱
させることもできるが、これは一般的には、スクラッチ
によって散乱する光よりも遙に弱い（ステップ７３）。
透明体５２は再度走査され（ステップ７４）、源６２は
ヘッド５３の移動とともに動き、透明体５２の外観の、
ディジタル化された第２の画像がストア６１にストアさ
れる（ステップ７５）。
源６２が活性化（作動）する。源６２からの光は鋭角を
なして透明体５２上に当たるため、実質的には透明体５
２上のスクラッチなどの欠陥によって回折または屈折し
た光のみが画像レンズ５７に方向づけられることとな
る。透明体５２上の乳剤により光のうちいくらかを散乱
させることもできるが、これは一般的には、スクラッチ
によって散乱する光よりも遙に弱い（ステップ７３）。
透明体５２は再度走査され（ステップ７４）、源６２は
ヘッド５３の移動とともに動き、透明体５２の外観の、
ディジタル化された第２の画像がストア６１にストアさ
れる（ステップ７５）。
【００５９】画像は、スクラッチなどの欠陥から予期さ
れる光の輝度のみが上回るように設定された、予め定め
られた輝度しきい値と比較され得る。その後マスク画像
が生成され、このマスク画像においては、各ピクセル
が、スクラッチを示すために十分な光がないかあるかを
それぞれ示す単一の２進値「０」または「１」を含む。
れる光の輝度のみが上回るように設定された、予め定め
られた輝度しきい値と比較され得る。その後マスク画像
が生成され、このマスク画像においては、各ピクセル
が、スクラッチを示すために十分な光がないかあるかを
それぞれ示す単一の２進値「０」または「１」を含む。
【００６０】次にプロセッサ６０はマスク画像を用い
て、ディジタル化された第１の画像にあるスクラッチを
突き止め、マスク画像において「１」で識別されたピク
セルのストア値と、隣接するピクセルに基づいた内挿値
とを置換える（ステップ７７）。このように第１の画像
のスクラッチによる影響が取除かれる。
て、ディジタル化された第１の画像にあるスクラッチを
突き止め、マスク画像において「１」で識別されたピク
セルのストア値と、隣接するピクセルに基づいた内挿値
とを置換える（ステップ７７）。このように第１の画像
のスクラッチによる影響が取除かれる。
【００６１】示した例では、２つの源５６および６２が
用いられる。場合によっては、可動クレードルに源５６
を取付けて、源６２の位置に示される位置から調節でき
るようにすることができる。
用いられる。場合によっては、可動クレードルに源５６
を取付けて、源６２の位置に示される位置から調節でき
るようにすることができる。
【図１】照射装置の斜視図である。
【図２】図１に示した装置が分析スキャナドラムに取付
けられたときの断面図である。
けられたときの断面図である。
【図３】図１に示した装置の平面図である。
【図４】照射装置を用いて観察した典型的な画像を表わ
す図である。
す図である。
【図５】欠陥による影響を低減するために用いられる装
置の概略的なブロック図である。
置の概略的なブロック図である。
【図６】図５に示した装置の動作を示すフロー図であ
る。
る。
１ ハウジング ２ スロット ３，４ 放射源
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成９年７月３日
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図４】
【図５】
【図１】
【図２】
【図３】
【図６】
Claims (29)
- 【請求項１】 記録媒体支持部の表面またはその上に取
付けられる記録媒体における欠陥を検出するための方法
であって、前記方法は源からの放射ビームによって前記
支持表面を照射するステップを含み、前記支持部は前記
放射に対して透過的であり、さらに前記方法は前記放射
源からずれて置かれた放射吸収表面に対して前記支持表
面を観察するステップを含み、前記観察方向は前記照射
ビームが前記支持表面に当たる方向からずれた角度であ
り、前記放射ビームは前記支持部を通過しており、さら
に前記方法は高輝度の領域を検出することにより欠陥の
存在を決定するステップを含む、欠陥を検出するための
方法。 - 【請求項２】 前記放射ビームが前記表面に対する法線
からずれた角度で前記記録媒体支持表面に当たり、前記
支持表面は前記法線に沿って観察される、請求項１に記
載の方法。 - 【請求項３】 前記放射吸収表面が前記ビーム源が発生
した実質的にすべての波長を吸収する、請求項１または
２に記載の方法。 - 【請求項４】 記録媒体上の画像のディジタル表現を発
生するための方法であって、前記方法は ａ） 第１の態様で前記媒体を照射して前記媒体からの
放射が感知装置に当たるようにし、前記感知装置が前記
媒体の外観の第１のディジタル表現を発生するようにす
るステップと、 ｂ） 第２の態様で前記媒体を照射して、それにより前
記媒体の欠陥からの放射の輝度が、前記媒体の他の部分
からの放射と比較して高められ、かつ前記感知装置に前
記放射が当たるようにして前記媒体の外観の第２のディ
ジタル表現を発生するようにするステップと、 ｃ） 前記第１のディジタル表現を変形して前記第２の
ディジタル表現を基準にして前記欠陥による影響を取除
いて、前記画像のディジタル表現を発生するようにする
ステップとを含む、方法。 - 【請求項５】 前記ステップｃ）が、前記第２ディジタ
ル表現が先のステップで加重された後に必要であれば前
記第１のディジタル表現に前記第２のディジタル表現を
加えるステップを含む、請求項４に記載の方法。 - 【請求項６】 前記ステップｃ）が、前記第２のディジ
タル表現からマスクを作成し、かつ前記マスクを基準に
して前記第１のディジタル表現を変形するステップを含
む、請求項４に記載の方法。 - 【請求項７】 前記マスクが、ストアされた各ピクセル
値と予め定められたしきい値とを比較することによって
作成される、請求項６に記載の方法。 - 【請求項８】 前記ステップｃ）が、内挿または複製方
法によってスクラッチに対応する各ピクセルに対して前
記第１のディジタル表現に値を発生するステップを含
む、請求項４から７のいずれかに記載の方法。 - 【請求項９】 前記ステップａ）において前記媒体が垂
直に照射され、前記ステップｂ）において前記媒体が垂
直ではない方向から照射される、請求項４から８のいず
れかに記載の方法。 - 【請求項１０】 前記放射が可視光を含む、請求項４か
ら９のいずれかに記載の方法。 - 【請求項１１】 前記ステップａおよびｂがシーケンシ
ャルに行なわれる、請求項４から１０のいずれかに記載
の方法。 - 【請求項１２】 前記媒体が透過的であり、かつ一方の
側から照射され、前記感知装置が他方の側から出される
放射を検出するよう位置づけられる、請求項４から１１
のいずれかに記載の方法。 - 【請求項１３】 前記記録媒体が透明体またはフォトグ
ラフィックネガを含む、請求項１から１２のいずれかに
記載の方法。 - 【請求項１４】 走査される記録媒体が上に置かれて用
いられる分析スキャナの記録媒体支持表面に隣接して位
置づけるための照射装置であって、前記装置は少なくと
も部分的にその長さに沿って延びるスロットを備えたハ
ウジングを含み、さらに前記装置は前記ハウジング内に
支持された少なくとも１つの放射源を含み、それにより
放射ビームが前記スロットを通り、さらに前記装置は前
記放射源からずれて置かれて、前記ビーム方向からずれ
た方向から前記媒体支持表面を通して前記スロットを観
察する際に背景を形成するようにする放射吸収表面を含
む、照射装置。 - 【請求項１５】 前記少なくとも１つの放射源が蛍光チ
ューブである、請求項１４に記載の照射装置。 - 【請求項１６】 前記照射装置が、前記放射をビームに
するための放射シールドをさらに含む、請求項１４また
は１５に記載の照射装置。 - 【請求項１７】 前記放射シールドが前記放射吸収背景
表面を含む、請求項１６に記載の照射装置。 - 【請求項１８】 前記放射シールドが、前記背景表面が
前記スロットに対面するよう、前記スロットと向かい合
って前記ハウジング内に位置づけられる、請求項１７に
記載の照射装置。 - 【請求項１９】 前記ハウジングがチューブである、請
求項１４から１８のいずれかに記載の照射装置。 - 【請求項２０】 前記少なくとも１つの放射ビームが、
前記スロットの中心および前記チューブの軸を通る面に
対してずれた角度で前記スロットを通る、請求項１９に
記載の照射装置。 - 【請求項２１】 前記装置が、前記スロットに対して横
方向に間隔をあけて置かれた少なくとも２つの放射源を
含む、請求項１４から２０のいずれかに記載の照射装
置。 - 【請求項２２】 請求項２１に記載の照射装置であっ
て、請求項１９または２０に従属する場合に、前記放射
源が、前記スロットの中心および前記チューブの軸を通
る面のまわりで左右対称に位置づけられる、照射装置。 - 【請求項２３】 前記照射装置が、前記分析スキャナの
記録媒体支持表面に対して取付けられる、請求項１４か
ら２２のいずれかに記載の分析スキャナおよび照射装
置。 - 【請求項２４】 前記記録媒体支持表面がドラムであ
る、請求項２３に記載の分析スキャナおよび照射装置。 - 【請求項２５】 前記装置が、前記スロットの中心およ
び前記ドラムの軸を通る面のまわりで左右対称に支持さ
れる少なくとも２つの放射源を含む、請求項２４に記載
の分析スキャナおよび照射装置。 - 【請求項２６】 記録媒体上の画像のディジタル表現を
発生するための装置であって、前記装置は、上に記録媒
体を位置づけることができる記録媒体支持表面と、放射
によって前記支持部上の媒体を照射するための手段と、
前記支持部上の媒体からの放射を感知し、かつ照射され
ている媒体の外観のディジタル表現を発生するための感
知装置と、前記感知装置に接続された処理手段とを含
み、前記装置は請求項４から１３のいずれかによる方法
を行なうようにされている、装置。 - 【請求項２７】 ２つの光源が、前記第１および第２の
態様でそれぞれ前記媒体を照射するよう設けられる、請
求項２６に記載の装置。 - 【請求項２８】 前記第２の態様で前記媒体を照射する
ための前記光源が、請求項１４から２２のいずれかに記
載の装置である、請求項２６に記載の装置。 - 【請求項２９】 請求項１から１３のいずれかに記載の
方法を実施するのに適した照射をもたらすようにするた
めの、請求項１４から２０のいずれかに記載の照射装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB9613685:8 | 1996-06-28 | ||
| GBGB9613685.8A GB9613685D0 (en) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | An illumination unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1090198A true JPH1090198A (ja) | 1998-04-10 |
| JP4086934B2 JP4086934B2 (ja) | 2008-05-14 |
Family
ID=10796097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17031597A Expired - Fee Related JP4086934B2 (ja) | 1996-06-28 | 1997-06-26 | 記録媒体上の画像のディジタル表現を発生するための方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6091834A (ja) |
| EP (1) | EP0816833A3 (ja) |
| JP (1) | JP4086934B2 (ja) |
| GB (1) | GB9613685D0 (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69733946T2 (de) | 1996-05-10 | 2006-05-24 | Eastman Kodak Co. | Farbsensor mit luminanzpriorität |
| US6442301B1 (en) | 1997-01-06 | 2002-08-27 | Applied Science Fiction, Inc. | Apparatus and method for defect channel nulling |
| US6380539B1 (en) | 1997-01-30 | 2002-04-30 | Applied Science Fiction, Inc. | Four color trilinear CCD scanning |
| JP2002503066A (ja) | 1998-02-04 | 2002-01-29 | アプライド、サイエンス、フィクション、インコーポレーテッド | 赤外線ラインを備えた多重線形アレイセンサ |
| WO1999046729A1 (en) | 1998-03-13 | 1999-09-16 | Applied Science Fiction, Inc. | Image defect correction method |
| US6437358B1 (en) | 1999-02-04 | 2002-08-20 | Applied Science Fiction, Inc. | Apparatus and methods for capturing defect data |
| US6792162B1 (en) * | 1999-08-20 | 2004-09-14 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus to automatically enhance the quality of digital images by measuring grain trace magnitudes |
| AU7586800A (en) | 1999-09-16 | 2001-04-17 | Applied Science Fiction, Inc. | Method and system for altering defects in a digital image |
| US6614946B1 (en) | 1999-10-08 | 2003-09-02 | Eastman Kodak Company | System and method for correcting defects in digital images through selective fill-in from surrounding areas |
| US6498867B1 (en) | 1999-10-08 | 2002-12-24 | Applied Science Fiction Inc. | Method and apparatus for differential illumination image-capturing and defect handling |
| US6924911B1 (en) | 1999-10-12 | 2005-08-02 | Eastman Kodak Company | Method and system for multi-sensor signal detection |
| US6711302B1 (en) | 1999-10-20 | 2004-03-23 | Eastman Kodak Company | Method and system for altering defects in digital image |
| US6683995B2 (en) | 1999-12-23 | 2004-01-27 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for correcting large defects in digital images |
| US7164511B2 (en) | 1999-12-29 | 2007-01-16 | Eastman Kodak Company | Distinguishing positive and negative films system and method |
| US6704458B2 (en) | 1999-12-29 | 2004-03-09 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for correcting heavily damaged images |
| US6720560B1 (en) | 1999-12-30 | 2004-04-13 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for scanning images |
| US6862117B1 (en) | 1999-12-30 | 2005-03-01 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for reducing the effect of bleed-through on captured images |
| US6750435B2 (en) | 2000-09-22 | 2004-06-15 | Eastman Kodak Company | Lens focusing device, system and method for use with multiple light wavelengths |
| WO2002025929A1 (en) * | 2000-09-22 | 2002-03-28 | Applied Science Fiction | Multiple-orientation image defect detection and correction |
| US6987892B2 (en) | 2001-04-19 | 2006-01-17 | Eastman Kodak Company | Method, system and software for correcting image defects |
| JP3516937B2 (ja) * | 2001-09-19 | 2004-04-05 | 株式会社Ｐｆｕ | 画像読み取りシステムの制御方法およびその制御プログラム |
| US7215427B2 (en) * | 2001-12-18 | 2007-05-08 | Kba-Giori S.A. | Device for controlling material |
| WO2018132258A1 (en) * | 2017-01-10 | 2018-07-19 | Sunspring America, Inc. | Technologies for identifying defects |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS503355A (ja) * | 1973-05-11 | 1975-01-14 | ||
| DD122314A3 (ja) * | 1974-04-25 | 1976-10-05 | ||
| US4410278A (en) * | 1979-07-20 | 1983-10-18 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for appearance inspection |
| DE3266654D1 (en) * | 1982-06-03 | 1985-11-07 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Scanning method and arrangement |
| EP0146005B1 (en) * | 1983-11-26 | 1991-08-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Surface defect inspecting apparatus |
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| JPH02223021A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-09-05 | Csk Corp | 光記録媒体の欠陥識別方法及びその装置 |
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| US5883714A (en) * | 1996-10-07 | 1999-03-16 | Phase Metrics | Method and apparatus for detecting defects on a disk using interferometric analysis on reflected light |
-
1996
- 1996-06-28 GB GBGB9613685.8A patent/GB9613685D0/en active Pending
-
1997
- 1997-06-26 JP JP17031597A patent/JP4086934B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-06-26 EP EP97304585A patent/EP0816833A3/en not_active Withdrawn
-
1998
- 1998-11-27 US US09/200,906 patent/US6091834A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB9613685D0 (en) | 1996-08-28 |
| JP4086934B2 (ja) | 2008-05-14 |
| US6091834A (en) | 2000-07-18 |
| EP0816833A2 (en) | 1998-01-07 |
| EP0816833A3 (en) | 1998-08-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040511 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060922 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061003 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20061228 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20070109 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070605 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120229 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130228 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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