CN208688987U - 基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置。这种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置，包括工业相机、光栅光源、计算机成像装置以及输送产品的传送皮带，所述光栅光源包括同轴光源和光栅尺，光栅尺位于同轴光源的出光口处，同轴光源的出光口正前方设有将同轴光源光线反射到产品的分光镜，产品位于分光镜的正下方，工业相机位于分光镜的正上方，工业相机内置有接收产品反射光线的图像传感器，工业相机通过线路连接至计算机成像装置。本实用新型结构简单，设计合理，操作简便，能够将偏光片产品上的折痕、打痕、压痕等缺陷明显显示出来，成像容易调试且效果明显。
Description
技术领域
本实用新型涉及偏光片缺陷检测装置技术领域，尤其是一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置。
背景技术
不同的光源类型及光源的位置以及不同的相机位置构成了不同了成像系统。在成像系统系统主要包括相机、镜头、光源以及产品。目前偏光片检测主要有透射成像和反射成像。
透射成像系统是光源和相机在同一条垂直线上，然后将偏光片置于相机和光源中间，这就构成了透射成像，也正是因为偏光片置于相机和光源中间，当偏光片上有记号、胶污、喷码等信息的时候会遮挡部分光源进入相机的光线，相机接收到不同的光亮，这样就很容易将偏光片表面的信息成像出来，例如记号、糊污、喷码类缺陷，偏光片上的形变类缺陷无法通过透射完全显示出来，除了形变特别严重的偏光片。但是由于偏光片厚度为0.2～0.3mm，它的形变在表面看起来就会很浅，而且偏小，和本专利最接近的技术是同轴成像无法明显显示出缺陷，透射成像也无法明显显示出形变类缺陷。
反射成像系统是将光源放在产品和相机之间，当光源照射到偏光片表面时光线发生反射，使相机能接收到反射的光线，当偏光片表面发生形变的时候会改变光线的入射角度，入射角等于反射角，反射角度也会改变，这样进入相机的光线的量就会发生改变，造成亮度发生改变，偏光片表面的平整性就会被呈现出来。首先由于产品轻薄且形变缺陷轻微，这样的形变不足以利用同轴成像表现出来，其次偏光片会发生翘曲，这种形变带来的影响远大于缺陷的形变，但是有翘曲的产品是被认为好品的。因此仅使用同轴反射是无法将形变缺陷显示出来。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是：克服现有技术中之不足，提供一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置，包括工业相机、光栅光源、计算机成像装置以及输送产品的传送皮带，所述光栅光源包括同轴光源和光栅尺，光栅尺位于同轴光源的出光口处，同轴光源的出光口正前方设有将同轴光源光线反射到产品的分光镜，产品位于分光镜的正下方，工业相机位于分光镜的正上方，工业相机内置有接收产品反射光线的图像传感器，工业相机通过线路连接至计算机成像装置。
进一步地，所述传送皮带下方设有将产品翘曲地方吸附平整的吸风箱。
进一步地，所述同轴光源上安装有散热器。
计算机成像装置提供显示光栅成像界面，并将光栅放大，方便对光栅成像做出调整；光栅光源包括同轴光源和光栅尺，其中同轴光源为成像系统提供稳定的成像环境，光栅尺则和同轴光源搭配使用，它将同轴的光分割成明暗相间的样子，从而形成固定的光栅成像环境；工业相机用于收集光栅成像效果，并将光栅成像发送到计算机成像装置；吸风箱和传送皮带用于吸附产品，使产品在成像点保持平整。
本实用新型的有益效果是：本实用新型结构简单，设计合理，操作简便，能够将偏光片产品上的折痕、打痕、压痕等缺陷明显显示出来，成像容易调试且效果明显；偏光片产品表面发生形变类缺陷不易成像，利用同轴成像和光栅尺配合使用，将光栅条纹在产品上成像，产品上会出现明暗相间的光栅条纹；没有形变缺陷的产品在光栅光源下是可以显示出光栅条纹的，对于产品轻微且小的形变，光栅条纹可以使这些缺陷变的明显，当有形变缺陷的时候，原有光栅条纹会被破坏，发生扭曲，成像就会被破坏，这样缺陷就会被显示出来；吸风箱将产品翘曲地方吸附平整。
附图说明
下面结合附图和实施方式对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的结构示意图。
图中1.工业相机，2.光栅尺，3.同轴光源，4.散热器，5.分光镜，6.产品，7.传送皮带，8.吸风箱，9.计算机成像装置。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型作进一步的说明。这些附图均为简化的示意图仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1所示的基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置，包括工业相机1、光栅光源、计算机成像装置9以及输送产品6的传送皮带7，光栅光源包括同轴光源3和光栅尺2，光栅尺2位于同轴光源3的出光口处，同轴光源3的出光口正前方设有将同轴光源3光线反射到产品6的分光镜5，产品6位于分光镜5的正下方，工业相机1位于分光镜5的正上方，工业相机1内置有接收产品6反射光线的图像传感器，工业相机1通过线路连接至计算机成像装置9。
传送皮带7下方设有将产品6翘曲地方吸附平整的吸风箱8，同轴光源3上安装有散热器4。
工作过程为：传送皮带7输送产品6至分光镜5正下方，同轴光源3发射的光束通过分光镜5照射到产品上，然后反射进入工业相机1，部分光束能反射进入工业相机1，工业相机1的图像传感器就能读取到产品6上的光亮信息，图像传感器通过线路将信息传输至计算机成像装置9，计算机成像装置9显示光栅成像。根据光栅成像光路图，产品6水平放置，同轴光源3发出的光垂直照射到产品6上，根据光的反射定律，产品6上会有光栅条纹。当产品6平整时，光栅条纹会明暗相间，且条纹清晰无形变；当产品6表面不平整时，产品6表面的光栅条纹会发生扭曲，表面轻微的形变会通过光栅条纹的扭曲从而明显的显示出来。吸风箱8根据计算机成像装置9显示的光栅成像效果，对产品6翘曲的地方吸附平整。
上述实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。
Claims (3)
1.一种基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置，其特征在于：包括工业相机（1）、光栅光源、计算机成像装置（9）以及输送产品（6）的传送皮带（7），所述光栅光源包括同轴光源（3）和光栅尺（2），光栅尺（2）位于同轴光源（3）的出光口处，同轴光源（3）的出光口正前方设有将同轴光源（3）光线反射到产品（6）的分光镜（5），产品（6）位于分光镜（5）的正下方，工业相机（1）位于分光镜（5）的正上方，工业相机（1）内置有接收产品（6）反射光线的图像传感器，工业相机（1）通过线路连接至计算机成像装置（9）。
2.根据权利要求1所述的基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置，其特征在于：所述传送皮带（7）下方设有将产品（6）翘曲地方吸附平整的吸风箱（8）。
3.根据权利要求1所述的基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置，其特征在于：所述同轴光源（3）上安装有散热器（4）。
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