CN114965506A - 检测防伪卡缺陷装置及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及工业自动化检测产品缺陷装置技术领域，尤其涉及一种检测防伪卡缺陷装置及其方法。一种检测防伪卡缺陷装置，包括箱体，箱体底部一侧设置有检测口；还包括：分光镜，设置于所述箱体内部且位于所述检测口上方；反光镜，设置于箱体内部靠近检测口的一侧且位于分光镜的上方；拍摄装置，设置于箱体远离检测口的一侧，且拍摄装置的镜头朝向分光镜；第一检测光源；第二检测光源；以及第三检测光源；3个检测光源产生3种检测光路，任意一种检测光路依次途径分光镜和反光镜、并由反光镜反射最终进入拍摄装置的镜头。本方案实现仅采用一台拍摄装置即可取得三幅不同检测光源的检测图像，降低生产成本，减少占用空间。

Description

检测防伪卡缺陷装置及其方法

技术领域

本发明涉及工业自动化检测产品缺陷装置技术领域，尤其涉及一种检测防伪卡缺陷装置及其方法。

背景技术

防伪卡检测目前通常的做法是工业自动化检测或者是人工检测。人工检测存在着标准不一，漏检率高，人力成本较高，效率较低等缺点。而传统的工业自动化检测做法，如直接通过面阵CCD相机获取图像，再通过图像灰度值等特征的变化进行特征筛选从而判定缺陷的类型；亦或是一个拍摄装置对应一种检测光源进行缺陷检测。

然而，对于防伪卡的产品缺陷检测，需要检测的项目较多，每个检测项目需要一个拍摄装置以及一款光源，因此需要占用的空间较大，在一些对设备尺寸较为受限的地方无法安装；同时由于使用的拍摄装置较多造成生产成本也相对较高。

因此，现在亟需设计一种能解决上述一个或者多个问题的检测防伪卡缺陷装置。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足提供一种检测防伪卡缺陷装置及其方法，旨在减少检测需占用的空间，以及节约生产成本。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的：一种检测防伪卡缺陷装置，该检测防伪卡缺陷装置包括箱体，所述箱体底部一侧设置有检测口；该检测防伪卡缺陷装置还包括：

分光镜，设置于所述箱体内部且位于所述检测口上方；

反光镜，设置于所述箱体内部靠近所述检测口的一侧且位于所述分光镜的上方；

拍摄装置，设置于所述箱体远离所述检测口的一侧，且所述拍摄装置的镜头朝向所述分光镜；

第一检测光源，设置于所述箱体内部远离所述检测口的一侧，且位于所述拍摄装置的下方，产生用于照射防伪卡的第一检测光路；以及

第二检测光源和第三检测光源，分别紧邻设于所述检测口，分别产生用于照射防伪卡的第二检测光路和第三检测光路；

其中，第一检测光路、第二检测光路和第三检测光路，均分别依次途径所述分光镜和所述反光镜、并由所述反光镜反射最终进入所述拍摄装置的镜头。

作为本发明进一步的方案：所述第一检测光源为同轴光源，所述第二检测光源为低角度环形光源，所述第三检测光源为多光谱环形光源。

作为本发明进一步的方案：所述第一检测光源设置于所述箱体内部远离所述检测口的一侧，且位于所述拍摄装置下方；

该检测防伪卡缺陷装置还包括灯板框，所述灯板框位于所述分光镜下方且紧邻于所述检测口，所述第二检测光源和所述第三检测光源均设置于所述灯板框的内侧壁。

作为本发明进一步的方案：所述第二检测光源和所述第三检测光源分别设置有若干个，并且所述第二检测光源和所述第三检测光源互相呈间隔分布设置。

作为本发明进一步的方案：所述第二检测光源分布于所述第三检测光源上方。

作为本发明进一步的方案：所述第二检测光源分布于所述第三检测光源的下方。

作为本发明进一步的方案：该检测防伪卡缺陷装置还包括第一滑轨、固定件和锁止钉，所述固定件固定于所述第一滑轨底部的一端，所述箱体的底部活动连接于所述第一滑轨顶部，所述检测口紧邻于所述固定件，所述箱体通过所述锁止钉锁止于所述固定件。

作为本发明进一步的方案：该检测防伪卡缺陷装置还包括：

高度调节结构，包括第一电机、螺杆及轴承件，所述第一电机驱动所述螺杆上下移动，所述螺杆的一端轴承连接于所述轴承件；以及

角度调节结构，包括连接架、第一铰接块、折叠支撑杆以及直线电机，所述轴承件设置于所述连接架且随所述连接架同步移动，所述折叠支撑杆由若干节铰接节互相首尾铰接构成，所述连接架设置于所述灯板框远离所述第二检测光源和所述第三检测光源的一侧，所述折叠支撑杆的顶部铰接于所述灯板框，所述折叠支撑杆的底部铰接于所述连接架，所述直线电机固设于所述连接架，所述折叠支撑杆靠近底部的一端与所述直线电机连接，所述第一铰接块设置于所述连接架，所述第一铰接块与所述灯板框铰接。

作为本发明进一步的方案：所述角度调节结构还包括第二铰接块、连接座和顶杆，所述折叠支撑杆的顶部和底部分别铰接于所述第二铰接块和所述连接座，所述第二铰接块固设于所述灯板框的内侧壁，所述连接座固设于所述连接架靠近所述灯板框的一侧，所述折叠支撑杆靠近所述连接座的一端设置有第二滑轨，所述顶杆的一端铰接于所述连接座，所述顶杆的另一端通过所述第二滑轨活动连接于所述折叠支撑杆，所述直线电机用于驱动所述顶杆的另一端沿所述第二滑轨滑动。

本发明还提供了另一技术方案：一种检测防伪卡缺陷的方法，包括以下步骤：

上料步骤：将防伪卡置于箱体的检测口的正下方；

初次亮卡步骤：点亮同轴光源、低角度环形光源和多光谱环形光源中的任意一个光源，同时关闭余下两个光源；

初次成像步骤：拍摄装置根据初次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡以获取检测图像一；

第二次亮卡步骤：点亮同轴光源、低角度环形光源和多光谱环形光源中的任意一个未被点亮过的光源，同时关闭余下两个光源；

第二次成像步骤：拍摄装置根据第二次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡以获取检测图像二；

第三次亮卡步骤：重复第二次亮卡步骤，直至所有光源均被点亮过至少一次；

第三次成像步骤：拍摄装置根据第三次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡以获取检测图像三。

作为本发明进一步的方案：该检测防伪卡缺陷的方法还包括：

换料步骤：更换另一规格的防伪卡并将其表示为第二防伪卡，将所述第二防伪卡置于所述检测口的正下方；

高度调节步骤：根据所述第二防伪卡的尺寸和位置，第一电机驱动螺杆上升或下降，以带动灯板框同步升降，直至灯板框上的第二检测光源和第三检测光源的高度适于照射所述第二防伪卡；

角度调节步骤：根据所述第二防伪卡的尺寸和位置，直线电机驱动顶杆收叠或撑开折叠支撑杆，直至灯板框上的第二检测光源和第三检测光源的照射角度进一步适于照射所述第二防伪卡；

依次重复初次亮卡步骤、初次成像步骤、第二次亮卡步骤、第二次成像步骤、第三次亮卡步骤及第三次成像步骤。

本发明的有益效果：

本技术方案，将三组检测光源设置于箱体内，形成三种成像工位，且在箱体内设置分光镜和反光镜，三组检测光源独立控制，分时曝光，并形成对应的检测光路，三组检测光源分别对应的三组检测光路均通过分光镜集成，然后向反光镜照射，再由反光镜反射最终进入拍摄装置的镜头，实现仅采用一台拍摄装置即可取得三幅不同检测光源的检测图像，有效降低由于拍摄装置而造成的生产成本，且有效减少所占用的检测空间；另外，通过反光镜转折了检测光路，避免检测光路向上照射，有效降低整体高度，进一步减少占用空间。

附图说明

图1为本发明的整体结构示意图。

图2为本发明的平面剖视结构示意图。

图3为本发明的局部结构立体示意图。

图4为本发明的立体剖面结构示意图。

图5为图4的局部结构立体剖面示意图。

图6为本发明所述高度调节结构的结构示意图。

图7为本发明所述角度调节结构的结构示意图。

图8为本发明所述折叠支撑杆的另一种结构示意图。

附图标记包括：

1—箱体，

11—检测口，12—灯板框，

111—第一检测光源，112—第二检测光源，113—第三检测光源，

121—灯板片；

2—分光镜；3—反光镜；4—拍摄装置；

5—高度调节结构，

51—第一电机，52—螺杆，53—轴承件，

521—蜗杆部，522—涡轮；

6—角度调节结构，

61—连接架， 62—第一铰接块，63—折叠支撑杆，64—直线电机，65—第二铰接块，66—连接座，67—顶杆，

631—第二滑轨；

7—防伪卡，8—显示屏，9—传送带；

101—第一滑轨，102—固定件，103—锁止钉。

具体实施方式

以下结合附图对本发明进行详细的描述。

如图1~8所示，在本发明实施例中提供了一种检测防伪卡缺陷装置，该检测防伪卡缺陷装置包括箱体1，所述箱体1底部一侧设置有检测口11；该检测防伪卡缺陷装置还包括：

分光镜2，设置于所述箱体1内部且位于所述检测口11上方；

反光镜3，设置于所述箱体1内部靠近所述检测口11的一侧且位于所述分光镜2的上方；

拍摄装置4，设置于所述箱体1远离所述检测口11的一侧，且所述拍摄装置4的镜头朝向所述分光镜2；

第一检测光源111，设置于所述箱体1内部远离所述检测口11的一侧，且位于所述拍摄装置4的下方，产生用于照射防伪卡7的第一检测光路；以及

第二检测光源112和第三检测光源113，分别紧邻设于所述检测口11，分别产生用于照射防伪卡7的第二检测光路和第三检测光路；

其中，第一检测光路、第二检测光路和第三检测光路，均分别依次途径所述分光镜2和所述反光镜3、并由所述反光镜3反射最终进入所述拍摄装置4的镜头。

本技术方案，将三组检测光源设置于箱体1内，形成三种成像工位，且在箱体1内设置分光镜2和反光镜3，三组检测光源独立控制，分时曝光，并形成对应的检测光路，三组检测光源分别对应的三组检测光路均通过分光镜2集成，然后向反光镜3照射，再由反光镜3反射最终进入拍摄装置4的镜头，实现仅采用一台拍摄装置4即可取得三幅不同检测光源的检测图像，有效降低由于拍摄装置4而造成的生产成本，且有效减少所占用的检测空间；另外，通过反光镜3转折了检测光路，避免检测光路向上照射，有效降低整体高度，进一步减少占用空间。多组检测光源组合并集成于箱体1，通过对多组检测光源逐一分时曝光，且实现拍摄装置4复用，成本低，装置占用空间小。

在一些实施例中，所述第一检测光源111为同轴光源，所述第二检测光源112为低角度环形光源，所述第三检测光源113为多光谱环形光源。具体地，同轴光源可以用于检测防伪卡7表面划痕、脏污、缺失、位置偏移等；低角度环形光源可以用于防伪卡7检测凹陷、凸起、轮廓提取等；多光谱环形光源可以用于在特定波长下有相应的产品检测，例如紫外激发、红外激发、红外吸收等，优选紫外光源，以用于检测防伪卡7上采用紫光专用油墨制作的标志。

在一些实施例中，该检测防伪卡缺陷装置还包括灯板框12，所述灯板框12位于所述分光镜2下方且紧邻于所述检测口11，所述第二检测光源112和所述第三检测光源113均设置于所述灯板框12的内侧壁。进一步地，如图5所示，所述灯板框12由4个灯板片121围设而成。具体地，第二检测光源112和第三检测光源113分别设置于灯板片121的内侧壁；优选地，如图7所示，第二检测光源112和第三检测光源113分别设置于连接架61远离灯板片121的一面。

在一些实施例中，所述第二检测光源112和所述第三检测光源113分别设置有若干个，并且二者互相呈间隔分布设置。具体地，采用间隔分布设置，充分利用灯板框12的安装空间，合理分配检测光源的安装位置，使得检测光源的分时曝光的效果最大化，从而更好的检测到防伪卡7的缺陷。

在一些实施例中，所述第二检测光源112分布于所述第三检测光源113上方。具体地，有效减少曝光中的检测光源的光线受到未曝光的检测光源的遮挡，以进一步提高第二检测光源112和第三检测光源113之间的分时曝光对防伪卡7的缺陷检测效果，更充分合理地利用灯板框12的可安装位置。

在一些实施例中，所述第二检测光源112分布于所述第三检测光源113的下方。具体地，有效减少曝光中的检测光源的光线受到未曝光的检测光源的遮挡，以进一步提高第二检测光源112和第三检测光源113之间的分时曝光对防伪卡7的缺陷检测效果，更充分合理地利用灯板框12的可安装位置。

在一些实施例中，该检测防伪卡缺陷装置还包括第一滑轨101、固定件102和锁止钉103，所述固定件102固定于所述第一滑轨101底部的一端，所述箱体1的底部活动连接于所述第一滑轨101顶部，所述检测口11紧邻于所述固定件102，所述箱体1通过所述锁止钉103锁止于所述固定件102。具体地，锁止钉103采用蝶形螺母和螺丝，易于松紧操作；设置第一滑轨101使箱体1可沿第一滑轨101长度方向实现抽拉动作，易于维护拆装；固定件102的凹陷部正对于箱体1底部的检测口11，待检测产品从固定件102的凹陷部穿过，使得拍摄装置4的镜头能够从检测口11捕捉到待检测产品在对应检测光源下的成像。

在一些实施例中，该检测防伪卡缺陷装置还包括：

高度调节结构5，包括第一电机51、螺杆52及轴承件53，所述第一电机51驱动所述螺杆52上下移动，所述螺杆52的一端轴承连接于所述轴承件53；以及

角度调节结构6，包括连接架61、第一铰接块62、折叠支撑杆63以及直线电机64，所述轴承件53设置于所述连接架61且随所述连接架61同步移动，所述折叠支撑杆63由若干节铰接节互相首尾铰接构成，所述连接架61设置于所述灯板框12远离所述第二检测光源112和所述第三检测光源113的一侧，所述折叠支撑杆63的顶部铰接于所述灯板框12，所述折叠支撑杆63的底部铰接于所述连接架61，所述直线电机64固设于所述连接架，所述折叠支撑杆63靠近底部的一端与所述直线电机64连接，所述第一铰接块62设置于所述连接架61，所述第一铰接块62与所述灯板框12铰接。通过角度调节结构6或高度调节结构5以调节第二检测光源112或第三检测光源113对防伪卡7的照射角度，以便于找到最优的照射角度，使检测光源的检测效果更高效。详细地，第一电机51和螺杆52之间采用蜗轮蜗杆传动连接，螺杆52上设置有与涡轮522相配的蜗杆部521，高度调节时，如图6所示，第一电机51驱动涡轮522转动，使涡轮522带动螺杆52上下移动，螺杆52又带动灯板框12上下移动以实现高度调节；轴承件53的设置，使得当螺杆52驱动连接架（61）升降以带动灯板框12上下移动时，螺杆52与灯板框12之间的相对位置是不变的，不会产生相对移动，避免了当螺杆52转动时会向灯板框12的下方伸出而触及到下方用于输送防伪卡7的传送带9，也避免了螺杆52伸出而触碰到待检测的防伪卡7；另外，可通过在连接架61远离所述螺杆52的一端设置导轨，使得螺杆52驱动连接架61升降时，连接架61沿导轨方向升降，导轨进一步限制连接架61的自由度，防止由于轴承件53的摩擦力过大而带动连接架61转动，进一步避免螺杆52转动时向灯板框12的下方伸出。连接架61、灯板框12和第一铰接块62之间构成翘板结构，调节角度时，如图7所示，将第一铰接块62设置于连接架61的中部，折叠支撑杆63设置于连接架61的任意一端，直线电机64采用微型直线电机64，通过直线电机64驱动折叠支撑杆63展开或折叠，使得灯板框12倾斜成合适的角度，利用折叠支撑杆63的若干个铰接节之间的过盈铰接的紧配力，为灯板框12在倾斜后能够提供一定的支撑力以保持倾斜后的角度。

在一些实施例中，所述角度调节结构6还包括有第二铰接块65、连接座66和顶杆67，所述折叠支撑杆63的顶部和底部分别铰接于所述第二铰接块65和所述连接座66，所述第二铰接块65固设于所述灯板框12的内侧壁，所述连接座66固设于所述连接架61靠近所述灯板框12的一侧，所述折叠支撑杆63靠近所述连接座66的一端设置有第二滑轨631，所述顶杆67的一端铰接于所述连接座66，所述顶杆67的另一端通过所述第二滑轨631活动连接于所述折叠支撑杆63，所述直线电机64用于驱动所述顶杆67的另一端沿所述第二滑轨631滑动。具体地，如图8所示，直线电机64的一端固接于连接座66，直线电机64的推杆一端连接于顶杆67，直线电机64驱动顶杆67沿第二滑轨631的方向运动，使顶杆67驱动折叠支撑杆63展开或折叠，从而调节灯板片121的一端与连接架61之间的距离，由于如图7所示中对灯板框12的翘板结构的设置，使得当折叠支撑杆63展开或折叠时分别实现灯板片121的角度调节，以实现第二检测光源112和第三检测光源113的照射角度的调节。

另外，在一些实施例中，该检测防伪卡缺陷装置还包括显示屏8，用于显示拍摄装置4所获取的检测图像，以及显示经CCD相机系统检测分析处理后的输出的检测结果。该检测防伪卡缺陷装置还包括传送带9，用于将防伪卡7输送到箱体1的检测口11。

另一种方案，一种检测防伪卡缺陷的方法，包括以下步骤：

上料步骤：将防伪卡7置于箱体1的检测口11的正下方；

初次亮卡步骤：点亮同轴光源、低角度环形光源和多光谱环形光源中的任意一个光源，同时关闭余下两个光源；

初次成像步骤：拍摄装置4根据初次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡7以获取检测图像一；

第二次亮卡步骤：点亮同轴光源、低角度环形光源和多光谱环形光源中的任意一个未被点亮过的光源，同时关闭余下两个光源；

第二次成像步骤：拍摄装置4根据第二次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡7以获取检测图像二；

第三次亮卡步骤：重复第二次亮卡步骤，直至所有光源均被点亮过至少一次；

第三次成像步骤：拍摄装置4根据第三次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡7以获取检测图像三。具体地，多组检测光源组合并集成于箱体1，通过对多组检测光源逐一点亮达到分时曝光，且实现拍摄装置4复用以获取多幅检测图像，成本低，检测装置占用空间小；在较小空间，多光源组合实现防伪卡7的多种质量检测；实现无接触检测，替代人工，提升生产效率。详细地，传送带9将防伪卡7输送至箱体1的检测口11的正下方，点亮不同的检测光源以照射防伪卡7，使防伪卡7曝光，并形成检测光路，其光路图如图2中的空心箭头所示，检测光路通过分光镜2透射成像，再由反光镜3反射转折进入拍摄装置4的镜头，使拍摄装置4获取检测图像，再经由如CCD相机的图像检测系统中预设好的标准母片进行比对，得出缺陷检测结果，显示屏8显示该检测结果和检测图像。

在一些实施例中，该检测防伪卡缺陷的方法还包括：

换料步骤：更换另一规格的防伪卡并将其表示为第二防伪卡，将所述第二防伪卡置于所述检测口11的正下方；

高度调节步骤：根据所述第二防伪卡的尺寸和位置，第一电机51驱动螺杆52上升或下降，以带动灯板框12同步升降，直至灯板框12上的第二检测光源112和第三检测光源113的高度适于照射所述第二防伪卡；

角度调节步骤：根据所述第二防伪卡的尺寸和位置，直线电机64驱动顶杆67收叠或撑开折叠支撑杆63，直至灯板框12上的第二检测光源112和第三检测光源113的照射角度进一步适于照射所述第二防伪卡；

依次重复初次亮卡步骤、初次成像步骤、第二次亮卡步骤、第二次成像步骤、第三次亮卡步骤及第三次成像步骤。详细地，如图6所示，所述高度调节步骤中，第一电机51驱动涡轮522转动，使涡轮522通过蜗杆部521带动螺杆52升降，又由于轴承件53和导轨的设置，实现连接架61和灯板框12随螺杆同步升降；如图7和图8所示，所述角度调节步骤中，直线电机64驱动顶杆67靠近折叠支撑杆63的一端沿第二滑轨631滑动，从而实现收叠或撑开折叠支撑杆63，又由于图7中，连接架61、灯板框12和第一铰接块62之间构成翘板结构，因此收叠或撑开折叠支撑杆63使灯板框12实现角度调节，从而调节灯板框12上的第二检测光源112和第三检测光源113的照射角度。

综上所述可知本发明乃具有以上所述的优良特性，得以令其在使用上，增进以往技术中所未有的效能而具有实用性，成为一极具实用价值的产品。

以上内容仅为本发明的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种检测防伪卡缺陷装置，其特征在于，该检测防伪卡缺陷装置包括箱体（1），所述箱体（1）底部一侧设置有检测口（11）；该检测防伪卡缺陷装置还包括：

分光镜（2），设置于所述箱体（1）内部且位于所述检测口（11）上方；

反光镜（3），设置于所述箱体（1）内部靠近所述检测口（11）的一侧且位于所述分光镜（2）的上方；

拍摄装置（4），设置于所述箱体（1）远离所述检测口（11）的一侧，且所述拍摄装置（4）的镜头朝向所述分光镜（2）；

第一检测光源（111），设置于所述箱体（1）内部远离所述检测口（11）的一侧，且位于所述拍摄装置（4）的下方，产生用于照射防伪卡（7）的第一检测光路；以及

第二检测光源（112）和第三检测光源（113），分别紧邻设于所述检测口（11），分别产生用于照射防伪卡（7）的第二检测光路和第三检测光路；

其中，第一检测光路、第二检测光路和第三检测光路，均分别依次途径所述分光镜（2）和所述反光镜（3）、并由所述反光镜（3）反射最终进入所述拍摄装置（4）的镜头。

2.根据权利要求1所述的检测防伪卡缺陷装置，其特征在于：所述第一检测光源（111）为同轴光源，所述第二检测光源（112）为低角度环形光源，所述第三检测光源（113）为多光谱环形光源。

3.根据权利要求1所述的检测防伪卡缺陷装置，其特征在于：该检测防伪卡缺陷装置还包括灯板框（12），所述灯板框（12）位于所述分光镜（2）下方且紧邻于所述检测口（11），所述第二检测光源（112）和所述第三检测光源（113）均设置于所述灯板框（12）的内侧壁。

4.根据权利要求3所述的检测防伪卡缺陷装置，其特征在于：所述第二检测光源（112）和所述第三检测光源（113）分别设置有若干个，并且所述第二检测光源（112）和所述第三检测光源（113）互相呈间隔分布设置。

5.根据权利要求4所述的检测防伪卡缺陷装置，其特征在于：所述第二检测光源（112）分布于所述第三检测光源（113）的上方或下方。

6.根据权利要求1所述的检测防伪卡缺陷装置，其特征在于：该检测防伪卡缺陷装置还包括第一滑轨（101）、固定件和锁止钉，所述固定件固定于所述第一滑轨（101）底部的一端，所述箱体（1）的底部活动连接于所述第一滑轨（101）顶部，所述检测口（11）紧邻于所述固定件，所述箱体（1）通过所述锁止钉锁止于所述固定件。

7.根据权利要求3所述的检测防伪卡缺陷装置，其特征在于：该检测防伪卡缺陷装置还包括：

高度调节结构（5），包括第一电机（51）、螺杆（52）及轴承件（53），所述第一电机（51）驱动所述螺杆（52）上下移动，所述螺杆（52）的一端轴承连接于所述轴承件（53）；以及

角度调节结构（6），包括连接架（61）、第一铰接块（62）、折叠支撑杆（63）以及直线电机（64），所述轴承件（53）设置于所述连接架（61）且随所述连接架（61）同步移动，所述折叠支撑杆（63）由若干节铰接节互相首尾铰接构成，所述连接架（61）设置于所述灯板框（12）远离所述第二检测光源（112）和所述第三检测光源（113）的一侧，所述折叠支撑杆（63）的顶部铰接于所述灯板框（12），所述折叠支撑杆（63）的底部铰接于所述连接架（61），所述直线电机（64）固设于所述连接架，所述折叠支撑杆（63）靠近底部的一端与所述直线电机（64）连接，所述第一铰接块（62）设置于所述连接架（61），所述第一铰接块（62）与所述灯板框（12）铰接。

8.根据权利要求7所述的检测防伪卡缺陷装置，其特征在于：所述角度调节结构（6）还包括有第二铰接块（65）、连接座（66）和顶杆（67），所述折叠支撑杆（63）的顶部和底部分别铰接于所述第二铰接块（65）和所述连接座（66），所述第二铰接块（65）固设于所述灯板框（12）的内侧壁，所述连接座（66）固设于所述连接架（61）靠近所述灯板框（12）的一侧，所述折叠支撑杆（63）靠近所述连接座（66）的一端设置有第二滑轨（631），所述顶杆（67）的一端铰接于所述连接座（66），所述顶杆（67）的另一端通过所述第二滑轨（631）活动连接于所述折叠支撑杆（63），所述直线电机（64）用于驱动所述顶杆（67）的另一端沿所述第二滑轨（631）滑动。

9.一种检测防伪卡缺陷的方法，其特征在于，包括以下步骤：

上料步骤：将防伪卡（7）置于箱体（1）的检测口（11）的正下方；

初次亮卡步骤：点亮同轴光源、低角度环形光源和多光谱环形光源中的任意一个光源，同时关闭余下两个光源；

初次成像步骤：拍摄装置（4）根据初次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡（7）以获取检测图像一；

第二次亮卡步骤：点亮同轴光源、低角度环形光源和多光谱环形光源中的任意一个未被点亮过的光源，同时关闭余下两个光源；

第二次成像步骤：拍摄装置（4）根据第二次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡（7）以获取检测图像二；

第三次亮卡步骤：重复第二次亮卡步骤；

第三次成像步骤：拍摄装置（4）根据第三次亮卡步骤所点亮的光源拍摄防伪卡（7）以获取检测图像三。

10.根据权利要求9所述的检测防伪卡缺陷的方法，其特征在于，该检测防伪卡缺陷的方法还包括：

换料步骤：更换另一规格的防伪卡并将其表示为第二防伪卡，将所述第二防伪卡置于所述检测口（11）的正下方；

高度调节步骤：根据所述第二防伪卡的尺寸和位置，第一电机（51）驱动螺杆（52）上升或下降，以带动灯板框（12）同步升降，直至灯板框（12）上的第二检测光源（112）和第三检测光源（113）的高度适于照射所述第二防伪卡；

角度调节步骤：根据所述第二防伪卡的尺寸和位置，直线电机（64）驱动顶杆（67）收叠或撑开折叠支撑杆（63），直至灯板框（12）上的第二检测光源（112）和第三检测光源（113）的照射角度进一步适于照射所述第二防伪卡；

依次重复初次亮卡步骤、初次成像步骤、第二次亮卡步骤、第二次成像步骤、第三次亮卡步骤及第三次成像步骤。

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