JP2017208378A - 薄膜トランジスタアレイ基板および薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法 - Google Patents

薄膜トランジスタアレイ基板および薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法 Download PDF

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Hina Chujo
妃奈 中條
正浩 横尾
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正浩 横尾
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Abstract

【課題】印刷版に高精細なパターンを形成することなく、容易にソース電極およびドレイン電極をパターン形成することができ、安定し且つ容易に半導体層を形成することができる薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を提供する。【解決手段】薄膜トランジスタアレイ基板は、基板上と、ゲート電極と、ゲート絶縁体層と、ソース電極と、ドレイン電極と、半導体層とを有する薄膜トランジスタアレイ基板であって、ゲート絶縁体層は、表面に凹凸面を有し、ゲート絶縁体層の凸部上に、ソース電極とドレイン電極とが形成され、ゲート絶縁体層の凹部に半導体層が形成される。【選択図】図1C

Description

本発明は薄膜トランジスタアレイ基板および薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法に関する。
薄膜トランジスタアレイ基板の一つの用途として、画像表示装置への応用が挙げられる。画像表示装置の高性能化に伴って、薄膜トランジスタアレイ基板の製造においても、高精細の製造方法が要求される。特許文献1では、凹凸面を有する基板の凹凸面の精細度を高めることで、半導体チャネル層の均一化および微細化を行っている。
特開2004−241397号公報
しかしながら、特許文献1ではフォトリソグラフィ法を用いているため、工程数が増えてしまう。
本発明は、印刷版に高精細なパターンを形成することなく、容易にソース電極およびドレイン電極をパターン形成することができ、安定し且つ容易に半導体層を形成することができる薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するための本発明の一局面は、基板と、ゲート電極と、ゲート絶縁体層と、ソース電極と、ドレイン電極と、半導体層とを有する薄膜トランジスタアレイ基板であって、ゲート絶縁体層は、表面に凹凸面を有し、ゲート絶縁体層の凸部上に、ソース電極とドレイン電極とが形成され、ゲート絶縁体層の凹部に半導体層が形成された、薄膜トランジスタアレイ基板である。
また、ゲート絶縁体層が樹脂を含有してもよい。
また、半導体層が有機半導体材料を含有してもよい。
また、ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極のうち少なくとも一つが導電性粒子を含有してもよい。
また、導電性粒子が金属粒子でもよい。
また、金属粒子が金若しくは銀の粒子であってもよい。
また、導電性粒子が導電性高分子であってもよい。
また、導電性高分子がポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルホン酸若しくはポリアニリンであってもよい。
また、本発明の他の局面は、基板と、ゲート電極と、ゲート絶縁体層と、ソース電極と、ドレイン電極と、半導体層とを有する薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法であって、ゲート絶縁体層上に凹凸部を形成する工程と、ゲート絶縁体層の凸部上にソース電極とドレイン電極とを形成する工程と、ゲート絶縁体層の凹部に半導体層を形成する工程とを含み、少なくともソース電極とドレイン電極が印刷法により形成される、薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法である。
また、ソース電極とドレイン電極とを形成する工程において、ソース電極およびドレイン電極が、アニロックスロールにより導電性粒子の分散液を転写し、これを乾燥することにより形成されてもよい。
また、ソース電極とドレイン電極とを形成する工程において、ソース電極およびドレイン電極が、シリコーンブランケットにより導電性粒子の分散液を転写し、これを乾燥することにより形成されてもよい。
また、半導体層を形成する工程において、半導体層が印刷法により形成されてもよい。
また、半導体層を形成する印刷法がインクジェット法若しくはディスペンサであってもよい。
本発明によれば、高精細なパターンを形成した印刷版を用いることなく容易に電極を形成することができ、安定し且つ容易に半導体層を形成できる薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を提供することができる。
本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する平面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する平面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する平面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する平面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する平面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図 本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図
本発明の実施形態について、以下に図面を使用して詳細に説明する。
<第1の実施形態>
本発明の第1の実施形態について図1A〜図1C及び図2A〜図2Eを用いて説明する。
図1A〜図1Cは、本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図であり、図2A〜図2Eは平面図である。
初めに、図2Aに示すように、基板1上に、ゲート電極2と、ゲート電極2に接続されたゲート配線2’を形成する。
次に、図2Bに示すように、基板1、ゲート電極2及びゲート配線2’の上に、ゲート絶縁体層3を形成する。
次に、図1A、図2Cに示すように、ハーフトーンマスクまたはグレイトーンマスク4を用いてゲート絶縁体層3上に凹凸を形成する。
次に、図1B、図2Dに示すように、アニロックスロール8により導電性粒子の分散液を、ゲート絶縁体層3に転写してソース電極5およびドレイン電極6を形成する。このとき、アニロックスロール8とゲート絶縁体層3の凸部上面とのみが接触することで、ゲート絶縁体層3の凸部上面にのみソース電極5およびドレイン電極6が形成される。
次に、図1C、図2Eに示すように、ゲート電極2上であってゲート絶縁体層3の凸部に挟まれたゲート絶縁体層3の凹部内に、半導体層7を形成する。ゲート絶縁体層3の凸部側面およびソース電極5、ドレイン電極6が隔壁となり、良好な半導体層7のパターニングが行える。
基板1に用いる材料は特に限定されるものではなく、一般に用いられる材料として、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)やポリイミド、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリカーボネートなどのフレキシブルなプラスチック材料、石英などのガラス基板やシリコンウェハーなどがある。しかしながら、フレキシブル化や各プロセス温度などを考慮すると、基板1としてPENやポリイミドなどを用いることが望ましい。
ゲート電極2とゲート配線2’とに用いられる材料は特に限定されるものではないが、一般に用いられる材料には、金、白金、ニッケル、インジウム錫酸化物などの金属あるいは酸化物の薄膜若しくはポリ(エチレンジオキシチオフェン)/ポリスチレンスルホネート(PEDOT/PSS)やポリアニリンなどの導電性高分子や金や銀、ニッケルなどの金属コロイド粒子を分散させた溶液若しくは銀など金属粒子を導電材料として用いた厚膜ペーストなどを挙げることができる。
ゲート絶縁体層3に用いられる材料は特に限定されるものではないが、一般に用いられる材料にはポリビニルフェノール、ポリメタクリル酸メチル、ポリイミド、ポリビニルアルコールなどの高分子溶液、アルミナやシリカゲルなどの粒子を分散させた溶液などがある。
ソース配線5およびドレイン電極6に用いられる材料は特に限定されるものではないが、一般に用いられる材料には、金、ポリ(エチレンジオキシチオフェン)/ポリスチレンスルホネート(PEDOT/PSS)やポリアニリンなどの導電性高分子や金や銀、ニッケルなどの金属コロイド粒子を分散させた溶液若しくは銀など金属粒子を導電材料として用いた厚膜ペーストなどを挙げることができる。
半導体層7に用いられる材料は特に限定されるものではないが、一般に用いられる材料としてポリチオフェン、ポリアリルアミン、フルオレンビチオフェン共重合体、およびそれらの誘導体のような高分子有機半導体材料、およびペンタセン、テトラセン、銅フタロシアニン、ペリレン、およびそれらの誘導体のような低分子有機半導体材料を用いることができるが、低コスト化、フレキシブル化、大面積化を考慮すると印刷法が適用できる有機半導体を用いることが望ましい。半導体層を形成する方法としては、インクジェット法、フレキソ印刷、スクリーン印刷、ディスペンサなどがある。
<第2の実施形態>
本発明の第2の実施形態について図3A〜図3C及び図2A〜図2Eを用いて説明する。
図3A〜図3Cは、本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図である。なお、平面図は第1の実施形態から変わらないため、図2A〜図2Eを用いる。
初めに、図2Aに示すように、基板1上に、ゲート電極2と、ゲート電極2に接続されたゲート配線2’を形成する。
次に、図2Bに示すように、基板1、ゲート電極2及びゲート配線2’の上に、ゲート絶縁体層3を形成する。
次に、図3A、図2Cに示すように、ハーフトーンマスクまたはグレイトーンマスク4を用いてゲート絶縁体層3上に凹凸を形成する。
次に、図3B、図2Dに示すように、シリコーンブランケット9により導電性粒子の分散液を、ゲート絶縁体層3に転写してソース電極5およびドレイン電極6を形成する。このとき、シリコーンブランケット9とゲート絶縁体層3の凸部上面とのみが接触することで、ゲート絶縁体層3の凸部上面にのみソース電極5およびドレイン電極6が形成される。
次に、図3C、図2Eに示すように、ゲート電極2上であってゲート絶縁体層3の凸部に挟まれたゲート絶縁体層3の凹部内に、半導体層7を形成する。ゲート絶縁体層3の凸部側面およびソース電極5、ドレイン電極6が隔壁となり、良好な半導体層7のパターニングが行える。
使用する材料は第1の実施形態の場合と同様であるため、使用する材料についての説明は省略する。
<第3の実施形態>
本発明の第3の実施形態について図4A〜図4C及び図2A〜図2Eを用いて説明する。
図4A〜図4Cは、本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図である。なお、平面図は第1の実施形態から変わらないため、図2A〜図2Eを用いる。
初めに、図2Aに示すように、基板1上に、ゲート電極2と、ゲート電極2に接続されたゲート配線2’を形成する。
次に、図2Bに示すように、基板1、ゲート電極2及びゲート配線2’の上に、ゲート絶縁体層3を形成する。
次に、図4A、図2Cに示すように、プレス加工によってゲート絶縁体層3上に凹凸を形成する。
次に、図4B、図2Dに示すように、アニロックスロール8により導電性粒子の分散液を、ゲート絶縁体層3に転写してソース電極5およびドレイン電極6を形成する。このとき、アニロックスロール8とゲート絶縁体層3の凸部上面とのみが接触することで、ゲート絶縁体層3の凸部上面にのみソース電極5およびドレイン電極6が形成される。
次に、図4C、図2Eに示すように、ゲート電極2上であってゲート絶縁体層3の凸部に挟まれたゲート絶縁体層3の凹部内に、半導体層7を形成する。ゲート絶縁体層3の凸部側面およびソース電極5、ドレイン電極6が隔壁となり、良好な半導体層7のパターニングが行える。
使用する材料は第1の実施形態の場合と同様であるため、使用する材料ついての説明は省略する。
<第4の実施形態>
本発明の第4の実施形態について図5A〜図4C及び図2A〜図2Eを用いて説明する。
図5A〜図5Cは、本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を説明する断面図である。なお、平面図は第1の実施形態から変わらないため、図2A〜図2Eを用いる。
初めに、図2Aに示すように、基板1上に、ゲート電極2と、ゲート電極2に接続されたゲート配線2’を形成する。
次に、図2Bに示すように、基板1、ゲート電極2及びゲート配線2’の上に、ゲート絶縁体層3を形成する。
次に、図5A、図2Cに示すように、プレス加工によってゲート絶縁体層3上に凹凸を形成する。
次に、図4B、図2Dに示すように、シリコーンブランケット9により導電性粒子の分散液を、ゲート絶縁体層3に転写してソース電極5およびドレイン電極6を形成する。このとき、シリコーンブランケット9とゲート絶縁体層3の凸部上面とのみが接触することで、ゲート絶縁体層3の凸部上面にのみソース電極5およびドレイン電極6が形成される。
次に、図5C、図2Eに示すように、ゲート電極2上であってゲート絶縁体層3の凸部に挟まれたゲート絶縁体層3の凹部内に、半導体層7を形成する。ゲート絶縁体層3の凸部側面およびソース電極5、ドレイン電極6が隔壁となり、良好な半導体層7のパターニングが行える。
使用する材料は第1の実施形態の場合と同様であるため、使用する材料についての説明は省略する。
以下に本発明の実施例について具体的に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
<実施例1>
本発明者は、図1A〜図1C、図2A〜図2Eに示したとおりゲート電極2およびゲート配線2’が形成された基板1上に、ハーフトーンマスクを用いて凹凸を有するゲート絶縁体層3を形成した。アニロックスロール8を用いてソース電極5およびドレイン電極6をゲート絶縁体層3の凸部上に形成した。その後、ゲート電極2上であってゲート絶縁体層3の凸部に挟まれたゲート絶縁体層3の凹部内に、半導体層7を形成した。
ボトムゲート・ボトムコンタクト型の薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法について説明する。まず、基板1の材料として、ポリエチレンナフタレート(PEN)、厚さ125μmを用いた。
次に、ゲート電極2およびゲート配線2’の材料として、ナノ銀とポリエチレングリコール#200との重量比が8:1であるナノ銀インキを用いた。ナノ銀インキを転写印刷法によりPEN基板1上に印刷し、180℃で1時間ベークしてゲート電極2およびゲート配線2’を形成した。
次に、ゲート絶縁体層3の材料として、ポリビニルフェノールをシクロヘキサノンに10重量%溶解させた溶液を用いた。ゲート絶縁体層3の溶液をダイコータ法により塗布し、ハーフトーンマスクを用いて凹凸を形成した。
次に、ソース電極5およびドレイン電極6の材料として、ナノ銀とポリエチレングリコール#200との重量比が8:1であるナノ銀インキを用いた。ナノ銀インキを、アニロックスロールを用いてゲート絶縁体層3の凸部に形成し、180℃で1時間乾燥させてソース電極5およびドレイン電極6を形成した。
次に、半導体層7の材料として、フルオレン−ビチオフェンコポリマー(F8T2)をテトラリンで1.0重量%になるように溶解した溶液を用いた。半導体層7は、インクジェット法を用いて、ゲート電極2上であってゲート絶縁体層3の凸部に挟まれたゲート絶縁体層3の凹部内に形成し、100℃で1時間乾燥させた。
<実施例2>
ソース電極5およびドレイン電極6を、シリコーンブランケット9を用いて形成した点以外は実施例1と同様とした。
<実施例3>
本発明者は、図4A〜図4C、図2A〜図2Eに示したとおりゲート電極2およびゲート配線2’が形成された基板1上に、プレス加工によって凹凸を有したゲート絶縁体層3を形成した。アニロックスロール8を用いてソース電極5およびドレイン電極6をゲート絶縁体層3の凸部上に形成した。その後、ゲート電極2上であってゲート絶縁体層3の凸部に挟まれたゲート絶縁体層3の凹部内に、半導体層7を形成した。
ゲート電極2を形成する工程までは、実施例1と同様とした。
ゲート絶縁体層3の材料として、ポリビニルフェノールをシクロヘキサノンに10重量%溶解させた溶液を用いた。ゲート絶縁体層3の溶液をダイコータ法により塗布し、プレス加工して凹凸を形成した。
次に、ソース電極5およびドレイン電極6の材料として、ナノ銀とポリエチレングリコール#200との重量比が8:1であるナノ銀インキを用いた。ナノ銀インキを、アニロックスロールを用いてゲート絶縁体層3の凸部に形成し、180℃で1時間乾燥させてソース電極5およびドレイン電極6を形成した。
次に、半導体層7の材料として、フルオレン−ビチオフェンコポリマー(F8T2)をテトラリンで1.0重量%になるように溶解した溶液を用いた。半導体層7は、インクジェット法を用いて、ゲート電極2上であってゲート絶縁体層3の凸部に挟まれたゲート絶縁体層3の凹部内に形成し、100℃で1時間乾燥させた。
<実施例4>
ソース電極5およびドレイン電極6を、シリコーンブランケット9を用いて形成した点以外は実施例3と同様とした。
<比較例1>
ハーフトーンマスク4を用いずゲート絶縁体層を形成した点以外は実施例1と同様とした。
実施例1〜4で作製した薄膜トランジスタアレイ基板では、ゲート絶縁体層の凸部のみにナノ銀が転写し、ソース電極およびドレイン電極を形成することができた。これらの薄膜トランジスタアレイ基板のトランジスタ特性を50素子測定した結果、オンオフ比が10を超える素子の数が、全体の70%〜90%であった。
比較例1で作製した薄膜トランジスタアレイ基板では、ゲート絶縁体層が凹凸を有していなかったため、ソース電極5およびドレイン電極6のパターンを形成することができず、一面にナノ銀が形成された。
以上、説明したように、本発明によれば、凹凸面を有するゲート絶縁体層を用いることで、印刷版に高精細なパターンを形成することなく、容易にソース電極およびドレイン電極をパターン形成することができる薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を提供できる。更に、ゲート絶縁体層の凹部およびソース電極とドレイン電極の側面により形成された隔壁によって、安定し且つ容易に半導体層を形成することができる薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法を提供できる。
本発明に係る薄膜トランジスタアレイ基板は、画像表示装置に用いることができる。
1 基板
2 ゲート電極
2’ ゲート配線
3 ゲート絶縁体層
4 ハーフトーンマスクまたはグレイトーンマスク
5 ソース電極
6 ドレイン電極
7 半導体層
8 アニロックスロール
9 シリコーンブランケット

Claims (13)

  1. 基板と、ゲート電極と、ゲート絶縁体層と、ソース電極と、ドレイン電極と、半導体層とを有する薄膜トランジスタアレイ基板であって、
    前記ゲート絶縁体層は、表面に凹凸面を有し、
    前記ゲート絶縁体層の凸部上に、前記ソース電極とドレイン電極とが形成され、
    前記ゲート絶縁体層の凹部に半導体層が形成された、薄膜トランジスタアレイ基板。
  2. 前記ゲート絶縁体層が樹脂を含有する、請求項1に記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
  3. 前記半導体層が有機半導体材料を含有する、請求項1または請求項2に記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
  4. 前記ゲート電極、前記ソース電極、及び前記ドレイン電極のうち少なくとも一つが導電性粒子を含有する、請求項1から請求項3のいずれかに記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
  5. 前記導電性粒子が金属粒子である、請求項4に記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
  6. 前記金属粒子が金若しくは銀の粒子である、請求項5に記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
  7. 前記導電性粒子が導電性高分子である、請求項4に記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
  8. 前記導電性高分子がポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルホン酸若しくはポリアニリンである、請求項7に記載の薄膜トランジスタアレイ基板。
  9. 基板と、ゲート電極と、ゲート絶縁体層と、ソース電極と、ドレイン電極と、半導体層とを有する薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法であって、
    前記ゲート絶縁体層上に凹凸部を形成する工程と、
    前記ゲート絶縁体層の凸部上に前記ソース電極と前記ドレイン電極とを形成する工程と、
    前記ゲート絶縁体層の凹部に半導体層を形成する工程とを含み、
    少なくとも前記ソース電極およびドレイン電極が印刷法により形成される、薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法。
  10. 前記ソース電極と前記ドレイン電極とを形成する工程において、前記ソース電極および前記ドレイン電極が、アニロックスロールにより導電性粒子の分散液を転写し、これを乾燥することにより形成される、請求項9に記載の薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法。
  11. 前記ソース電極と前記ドレイン電極とを形成する工程において、前記ソース電極および前記ドレイン電極が、シリコーンブランケットにより導電性粒子の分散液を転写し、これを乾燥することにより形成される、請求項9に記載の薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法。
  12. 前記半導体層を形成する工程において、前記半導体層が印刷法により形成される、請求項9から請求項11のいずれかに記載の薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法。
  13. 前記半導体層を形成する印刷法がインクジェット法若しくはディスペンサである、請求項12に記載の薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005108949A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電界効果トランジスタおよびその製造方法
JP2007095521A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Toppan Printing Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
JP2007150030A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Toppan Printing Co Ltd 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JP2007184437A (ja) * 2006-01-10 2007-07-19 Sony Corp 半導体装置の製造方法
JP2007250842A (ja) * 2006-03-16 2007-09-27 Konica Minolta Holdings Inc 薄膜トランジスタの製造方法
JP2010062391A (ja) * 2008-09-04 2010-03-18 Fuji Xerox Co Ltd 半導体トランジスタ素子の製造方法、及び半導体トランジスタ素子
JP2010135772A (ja) * 2008-11-07 2010-06-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及び当該半導体装置の作製方法
JP2012204661A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Toppan Printing Co Ltd 薄膜トランジスタ装置およびその製造方法
WO2013046547A1 (ja) * 2011-09-26 2013-04-04 パナソニック株式会社 有機薄膜トランジスタ

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005108949A (ja) * 2003-09-29 2005-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電界効果トランジスタおよびその製造方法
JP2007095521A (ja) * 2005-09-29 2007-04-12 Toppan Printing Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
JP2007150030A (ja) * 2005-11-29 2007-06-14 Toppan Printing Co Ltd 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JP2007184437A (ja) * 2006-01-10 2007-07-19 Sony Corp 半導体装置の製造方法
JP2007250842A (ja) * 2006-03-16 2007-09-27 Konica Minolta Holdings Inc 薄膜トランジスタの製造方法
JP2010062391A (ja) * 2008-09-04 2010-03-18 Fuji Xerox Co Ltd 半導体トランジスタ素子の製造方法、及び半導体トランジスタ素子
JP2010135772A (ja) * 2008-11-07 2010-06-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及び当該半導体装置の作製方法
JP2012204661A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Toppan Printing Co Ltd 薄膜トランジスタ装置およびその製造方法
WO2013046547A1 (ja) * 2011-09-26 2013-04-04 パナソニック株式会社 有機薄膜トランジスタ

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