JP2017173103A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
照)。例えば、多重反射型TOFMSや、多重周回型TOFMSは、飛行距離を延ばす工夫が施されており、超高質量分解能MSに分類できる。また、超高質量分解能MSとしては、さらに、電場型フーリエ変換型MS(FT MS)や、磁場型フーリエ変換型イオンサイクロトロン共鳴型MS(FT−ICR MS)等がある。
試料の所定領域内に設定された複数の測定領域の各々に対して、質量分析を行うことによりマスイメージを生成する質量分析装置であって、
前記試料を前記測定領域ごとにイオン化し、生成されたイオンを質量分離し検出する測定部と、
前記測定部の測定結果に基づいて、前記測定領域ごとにマススペクトルを取得するマススペクトル取得部と、
前記マススペクトル取得部で取得された複数のマススペクトルに基づいて、マスイメージを生成するマスイメージ生成部と、
を含み、
前記マスイメージ生成部は、
複数のマススペクトルの少なくとも一部を積算して、積算マススペクトルを生成する処理と、
前記積算マススペクトルから同一化合物由来のピークを抽出する処理と、
抽出された同一化合物由来のピークに基づいて、マスイメージを生成する処理と、
を行う。
同一化合物由来のピークを抽出する処理では、モノアイソトピックピーク、および当該モノアイソトピックピークに関連する同位体ピークを抽出して、ピークグループを作成し、
マスイメージを生成する処理では、前記ピークグループに含まれる複数のピークの各々についてマスイメージを生成し、生成された複数のマスイメージを積算してもよい。
同一化合物由来のピークを抽出する処理では、抽出する同位体ピークの数を、マススペクトルの質量範囲に応じて変更してもよい。
同一化合物由来のピークを抽出する処理では、さらに、付加イオンが異なる同一化合物由来のピークを抽出して、前記ピークグループを作成してもよい。
同一化合物由来のピークを抽出する処理では、さらに、高分子ポリマーにおいて繰り返し単位数が異なる同一化合物由来のピークを抽出して、前記ピークグループを作成してもよい。
マスイメージを生成する処理で生成された複数のマスイメージを記憶する記憶部を含んでいてもよい。
前記ピークグループに含まれるピークを表示部に表示させる処理を行う表示処理部を含んでいてもよい。
前記測定部は、前記イオンを質量分離し検出する質量分析部を有し、
前記質量分析部は、飛行時間型質量分析器、電場型フーリエ変換質量分析器、または磁場型フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴型質量分析器であってもよい。
まず、本実施形態に係る質量分析装置について図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る質量分析装置100を模式的に示す図である。
る。
についてのみ積算マスイメージを生成する処理を行ってもよい。
次に、質量分析装置100の動作について説明する。図8は、質量分析装置100の動作の一例を示すフローチャートである。ここでは、マスイメージング測定を行う際の質量分析装置100の動作について説明する。
クのみ)からマスイメージを生成する場合と比べて、S/N比が高く、化合物の正確な強度分布の情報が得られるマスイメージを生成することができる。したがって、質量分析装置100では、容易に、良好なマスイメージを生成することができる。
なお、本発明は上述した実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
上述した実施形態では、データ処理部26は、積算マススペクトルから同一化合物由来のピークを抽出する処理において、積算マススペクトルからモノアイソトピックピークおよび当該モノアイソトピックピークに関連する同位体ピークを抽出して、ピークグループを作成した。
付加[M+K]+、銀付加[M+Ag]+、等がある。付加イオンには、試料中に含まれる物質由来のものや、イオン化を促進するために意図的に添加されたマトリックス由来のものなどがある。マススペクトル上には、同一化合物が、複数の付加イオンの形であらわれることがある。例えば試料が生体組織の場合には、同一化合物が、プロトン付加イオン、ナトリウム付加イオン、カリウム付加イオンの形で同時にマススペクトル上にあらわれることがある。
上述した実施形態では、データ処理部26は、積算マススペクトルから同一化合物由来のピークを抽出する処理において、積算マススペクトルからモノアイソトピックピークおよび当該モノアイソトピックピークに関連する同位体ピークを抽出して、ピークグループを作成した。
H4Oであり、繰り返し単位の質量は44.026である。積算マススペクトル上において、ある任意のnを持つポリマーのモノアイソトピックピークを起点に、繰り返し単位の質量差でピークを探すことで、繰り返し単位数が異なる同一化合物由来のピークを抽出することができる。
上述した実施形態では、データ処理部26は、積算マススペクトルから同一化合物由来のピークを抽出する処理において、積算マススペクトルからモノアイソトピックピークおよび当該モノアイソトピックピークに関連する同位体ピークを抽出して、ピークグループを作成した。
上述した実施形態では、データ処理部26は、積算マススペクトルからモノアイソトピックピークおよび当該モノアイソトピックピークに関連する同位体ピークを抽出して、ピークグループを作成した。
ピックピークに関して、上述した同位体ピークを抽出する処理や、付加イオンを抽出する処理、高分子ポリマーの繰り返し単位数が異なるピークを抽出する処理を行ってもよい。
Claims (8)
- 試料の所定領域内に設定された複数の測定領域の各々に対して、質量分析を行うことによりマスイメージを生成する質量分析装置であって、
前記試料を前記測定領域ごとにイオン化し、生成されたイオンを質量分離し検出する測定部と、
前記測定部の測定結果に基づいて、前記測定領域ごとにマススペクトルを取得するマススペクトル取得部と、
前記マススペクトル取得部で取得された複数のマススペクトルに基づいて、マスイメージを生成するマスイメージ生成部と、
を含み、
前記マスイメージ生成部は、
複数のマススペクトルの少なくとも一部を積算して、積算マススペクトルを生成する処理と、
前記積算マススペクトルから同一化合物由来のピークを抽出する処理と、
抽出された同一化合物由来のピークに基づいて、マスイメージを生成する処理と、
を行う、質量分析装置。 - 請求項1において、
同一化合物由来のピークを抽出する処理では、モノアイソトピックピーク、および当該モノアイソトピックピークに関連する同位体ピークを抽出して、ピークグループを作成し、
マスイメージを生成する処理では、前記ピークグループに含まれる複数のピークの各々についてマスイメージを生成し、生成された複数のマスイメージを積算する、質量分析装置。 - 請求項2において、
同一化合物由来のピークを抽出する処理では、抽出する同位体ピークの数を、マススペクトルの質量範囲に応じて変更する、質量分析装置。 - 請求項2または3において、
同一化合物由来のピークを抽出する処理では、さらに、付加イオンが異なる同一化合物由来のピークを抽出して、前記ピークグループを作成する、質量分析装置。 - 請求項2ないし4のいずれか1項において、
同一化合物由来のピークを抽出する処理では、さらに、高分子ポリマーにおいて繰り返し単位数が異なる同一化合物由来のピークを抽出して、前記ピークグループを作成する、質量分析装置。 - 請求項2ないし5のいずれか1項において、
マスイメージを生成する処理で生成された複数のマスイメージを記憶する記憶部を含む、質量分析装置。 - 請求項2ないし6のいずれか1項において、
前記ピークグループに含まれるピークを表示部に表示させる処理を行う表示処理部を含む、質量分析装置。 - 請求項1ないし7のいずれか1項において、
前記測定部は、前記イオンを質量分離し検出する質量分析部を有し、
前記質量分析部は、飛行時間型質量分析器、電場型フーリエ変換質量分析器、または磁
場型フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴型質量分析器である、質量分析装置。
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