JPWO2010001439A1 - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(A)試料上の或る測定点(厳密には点とみなせる程度に面積の小さな微小領域)のマススペクトル又は複数点のマススペクトルの平均をとった平均マススペクトルを表示画面上に表示させ、これをオペレータが確認して着目するm/z範囲を指定する。すると、試料上の二次元範囲内の各測定点において、指定されたm/z範囲のスペクトル強度値に対応する色付けがなされたマッピング画像が表示画面上に描出される。
(B)試料表面の光学画像又は特定のm/z(又はm/z範囲)の二次元的分布を示すマッピング画像上で、オペレータは着目する部分を任意形状のROI(Region of Interest:関心領域)設定枠により指定する。すると、そのROI設定枠で囲まれる範囲に含まれる複数の測定点のマススペクトルの平均が計算され、それにより作成された平均マススペクトルが表示画面上に描出される。
a)試料上の所定の二次元範囲内の各微小領域に対しMS分析を実行してMSスペクトルデータを収集するMS分析実行手段と、
b)前記MSスペクトルデータを参照してオペレータが1乃至複数の関心物質又はそのm/zを指定するための関心物質指定手段と、
c)指定された1乃至複数の関心物質のm/zをプリカーサとしたMS/MS分析を、前記所定の二次元範囲内の各微小領域に対して実行しMS/MSスペクトルデータを収集するMS/MS分析実行手段と、
d)前記MSスペクトルデータに基づいて、前記1乃至複数の関心物質が存在する微小領域を関心物質毎に抽出する領域抽出手段と、
e)前記MS/MSスペクトルデータの中から前記領域抽出手段により抽出された微小領域のMS/MSスペクトルデータを選別し、それらを用いて前記関心物質毎に平均MS/MSスペクトルを算出する平均スペクトル算出手段と、
f)前記関心物質の平均MS/MSスペクトルを用いて該関心物質を同定する同定手段と、
を備えることを特徴としている。
a)試料上の所定の二次元範囲内の各微小領域に対しMS分析を実行してMSスペクトルデータを収集するMS分析実行手段と、
b)前記MSスペクトルデータを参照してオペレータが1乃至複数の関心物質又はそのm/zを指定するための関心物質指定手段と、
c)前記MSスペクトルデータに基づいて、前記1乃至複数の関心物質が存在する微小領域を関心物質毎に抽出する領域抽出手段と、
d)前記1乃至複数の関心物質のm/zをプリカーサとしたMS/MS分析を、前記領域抽出手段により抽出された微小領域に対してそれぞれ実行してMS/MSスペクトルデータを収集するMS/MS分析実行手段と、
e)前記MS/MSスペクトルデータを用いて前記関心物質毎に平均MS/MSスペクトルを算出する平均スペクトル算出手段と、
f)前記関心物質の平均MS/MSスペクトルを用いて該関心物質を同定する同定手段と、
を備えることを特徴としている。
2…試料ステージ
3…試料
3a…レーザ光照射位置
4…レーザ照射部
5…レーザ光
6…レンズ
7…イオン輸送管
10…真空チャンバ
11…イオンレンズ
12…イオントラップ
13…TOFMS
14…リフレクトロン電極
15…検出器
20…A/D変換器
21…データ処理部
22…データ記憶部
23…制御部
24…ステージ駆動部
25…操作部
26…表示部
30…ガイド
31…CCDカメラ
32…レンズ
33…透過照明部
50…光学画像
51…質量分析範囲
52…微小領域
53…MSスペクトル
54a、54b…m/z分布画像
Claims (4)
- 試料上の二次元範囲内に設定された複数の微小領域についてそれぞれMS分析及びMS/MS分析を実行可能な質量分析装置であって、
a)試料上の所定の二次元範囲内の各微小領域に対しMS分析を実行してMSスペクトルデータを収集するMS分析実行手段と、
b)前記MSスペクトルデータを参照してオペレータが1乃至複数の関心物質又はそのm/zを指定するための関心物質指定手段と、
c)指定された1乃至複数の関心物質のm/zをプリカーサとしたMS/MS分析を、前記所定の二次元範囲内の各微小領域に対して実行しMS/MSスペクトルデータを収集するMS/MS分析実行手段と、
d)前記MSスペクトルデータに基づいて、前記1乃至複数の関心物質が存在する微小領域を関心物質毎に抽出する領域抽出手段と、
e)前記MS/MSスペクトルデータの中から前記領域抽出手段により抽出された微小領域のMS/MSスペクトルデータを選別し、それらを用いて前記関心物質毎に平均MS/MSスペクトルを算出する平均スペクトル算出手段と、
f)前記関心物質の平均MS/MSスペクトルを用いて該関心物質を同定する同定手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 試料上の二次元範囲内に設定された複数の微小領域についてそれぞれMS分析及びMS/MS分析を実行可能な質量分析装置であって、
a)試料上の所定の二次元範囲内の各微小領域に対しMS分析を実行してMSスペクトルデータを収集するMS分析実行手段と、
b)前記MSスペクトルデータを参照してオペレータが1乃至複数の関心物質又はそのm/zを指定するための関心物質指定手段と、
c)前記MSスペクトルデータに基づいて、前記1乃至複数の関心物質が存在する微小領域を関心物質毎に抽出する領域抽出手段と、
d)前記1乃至複数の関心物質のm/zをプリカーサとしたMS/MS分析を、前記領域抽出手段により抽出された微小領域に対してそれぞれ実行しMS/MSスペクトルデータを収集するMS/MS分析実行手段と、
e)前記MS/MSスペクトルデータを用いて前記関心物質毎に平均MS/MSスペクトルを算出する平均スペクトル算出手段と、
f)前記関心物質の平均MS/MSスペクトルを用いて該関心物質を同定する同定手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載の質量分析装置であって、
前記領域抽出手段は、或る微小領域のMSスペクトルにおいて前記関心物質のm/zのスペクトル強度が所定の閾値以上であるときに、その微小領域にその関心物質が存在すると判断することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1又は2に記載の質量分析装置であって、
前記MSスペクトルデータに基づいて任意のm/z又はm/z範囲の空間的分布を示すm/z分布画像を描出する分布画像描出手段をさらに備え、オペレータが前記関心物質指定手段により1乃至複数の関心物質又はそのm/zを指定する際にm/z分布画像を利用できるようにしたことを特徴とする質量分析装置。
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