JP5050705B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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Description
a)前記複数の微小領域毎に収集された質量スペクトルデータ又は近接する複数の微小領域を集めた集合微小領域に対応する質量スペクトルデータに対する多変量解析を行うことにより、二次元範囲全体として特徴的な質量を抽出する特徴抽出手段と、
b)前記特徴抽出手段により抽出された、特徴的な質量が観測される微小領域又は集合微小領域の二次元的な集中の程度を統計的に判断する手段であって、特徴的な1つの質量が観測される微小領域又は集合微小領域の二次元的な分散値を計算し、この分散値に基づき集中の程度を判断する集中度判定手段と、
c)前記集中度判定手段により二次元的な集中の程度が高いと判断された、特徴的な質量が観測される微小領域又は集合微小領域を、試料上の同一種類の部位であるとみなし、それを反映した情報を作成して提示する情報提示手段と、
を備えることを特徴としている。
また上記課題を解決するために成された本発明の第2の態様は、
試料上の所定の二次元範囲内に設定された複数の微小領域毎の質量分析を行い、その結果を利用して質量分析イメージングを行う質量分析装置において、
a)前記複数の微小領域毎に収集された質量スペクトルデータ又は近接する複数の微小領域を集めた集合微小領域に対応する質量スペクトルデータに対する多変量解析を行うことにより、二次元範囲全体として特徴的な質量を抽出する特徴抽出手段と、
b)前記特徴抽出手段により抽出された、特徴的な質量が観測される微小領域又は集合微小領域の二次元的な集中の程度を統計的に判断する手段であって、特徴的な1つの質量が観測される微小領域又は集合微小領域の二次元的な密度分布に基づいて集中の程度を判断する集中度判定手段と、
c)前記集中度判定手段により二次元的な集中の程度が高いと判断された、特徴的な質量が観測される微小領域又は集合微小領域を、試料上の同一種類の部位であるとみなし、それを反映した情報を作成して提示する情報提示手段と、
を備えることを特徴としている。
まず、或る1つの質量ピークの中で信号強度が所定の閾値以上であるような特異微小領域を抽出し、その特異微小領域の座標を取得する。そして、その座標の二次元的な、つまり空間的な分散値を計算し、その分散値に基づいて集中の程度を判断する。例えば分散値Vは次式で計算することができる。
V=Σ{(xi−xav)2+(yj−yav)2}/N
ここで、Σは与えられた特異微小領域の座標(xi,yj)の全てについての総和、xavは与えられた特異微小領域のx軸方向の座標の平均値、yavは与えられた特異微小領域のy軸方向の座標の平均値、Nは与えられた特異微小領域の数、である。分散値Vが小さいほど特異微小領域の集中度が高く、その質量ピークの元となった分子が同一の組織を形成している可能性が高いと言える。例えば、或る質量ピークについての特異微小領域が図4に示すように分布していた場合、それら特異微小領域の座標の分散値は小さくなるから、これが1つの組織であると高い確度で推測することができる。
別の方法としては、或る質量ピークについての特異微小領域の二次元的な密度分布を調べ、高い密度で特異微小領域が存在する部分が多い場合に集中の程度が高いと判断するようにすることができる。例えば、いま図5に示すように、近接する複数(この例では9個)の微小領域を含む拡大微小領域53を想定し、その拡大微小領域53に含まれる特異微小領域の割合を密度として定義する。つまり、拡大微小領域53に含まれる全ての微小領域が特異微小領域であれば密度1(=100%)、拡大微小領域53に含まれる全ての微小領域が特異微小領域でなければ密度0(=0%)であるとする。そうして、二次元範囲50全体に亘って拡大微小領域53を設定したときの密度のヒストグラムを求める。このとき、拡大微小領域は少しずつずらして一部が重なるようにしてもよいし、重なりがないようにしてもよい。
2…試料ステージ
3…試料
3a…レーザ光照射位置
4…レーザ照射部
5…レーザ光
6…レンズ
7…イオン輸送管
10…真空チャンバ
11…イオンレンズ
12…イオントラップ
13…飛行時間型質量分析器
14…リフレクトロン電極
15…イオン検出器
20…A/D変換器
21…データ処理部
22…データ記憶部
23…制御部
24…ステージ駆動部
25…操作部
26…表示部
30…ガイド
31…CCDカメラ
32…レンズ
33…透過照明部
Claims (2)
- 試料上の所定の二次元範囲内に設定された複数の微小領域毎の質量分析を行い、その結果を利用して質量分析イメージングを行う質量分析装置において、
a)前記複数の微小領域毎に収集された質量スペクトルデータ又は近接する複数の微小領域を集めた集合微小領域に対応する質量スペクトルデータに対する多変量解析を行うことにより、二次元範囲全体として特徴的な質量を抽出する特徴抽出手段と、
b)前記特徴抽出手段により抽出された、特徴的な質量が観測される微小領域又は集合微小領域の二次元的な集中の程度を統計的に判断する手段であって、特徴的な1つの質量が観測される微小領域又は集合微小領域の二次元的な分散値を計算し、この分散値に基づき集中の程度を判断する集中度判定手段と、
c)前記集中度判定手段により二次元的な集中の程度が高いと判断された、特徴的な質量が観測される微小領域又は集合微小領域を、試料上の同一種類の部位であるとみなし、それを反映した情報を作成して提示する情報提示手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 試料上の所定の二次元範囲内に設定された複数の微小領域毎の質量分析を行い、その結果を利用して質量分析イメージングを行う質量分析装置において、
a)前記複数の微小領域毎に収集された質量スペクトルデータ又は近接する複数の微小領域を集めた集合微小領域に対応する質量スペクトルデータに対する多変量解析を行うことにより、二次元範囲全体として特徴的な質量を抽出する特徴抽出手段と、
b)前記特徴抽出手段により抽出された、特徴的な質量が観測される微小領域又は集合微小領域の二次元的な集中の程度を統計的に判断する手段であって、特徴的な1つの質量が観測される微小領域又は集合微小領域の二次元的な密度分布に基づいて集中の程度を判断する集中度判定手段と、
c)前記集中度判定手段により二次元的な集中の程度が高いと判断された、特徴的な質量が観測される微小領域又は集合微小領域を、試料上の同一種類の部位であるとみなし、それを反映した情報を作成して提示する情報提示手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
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