JP2017152574A - 光電変換膜および光電変換装置 - Google Patents

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Takuya Oshima
卓也 大島
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丈司 大隈
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【課題】 光吸収量を高めることのできる光電変換膜および太陽電池を提供する。【解決手段】 光電変換膜7は、複数の量子細線7aが束状に集積された複数の細線束7Aがアレイ状に配列しているとともに、前記複数の細線束7Aの直径Dは、可視光領域から近赤外領域までの波長の範囲内に在る。細線束7Aの直径は700〜1000nmであり、その直径以下の間隔で配置されている。また、量子細線7a間に金属酸化物膜7bを有している。光電変換装置は、2つの導体層間に光電変換膜7を有している。【選択図】 図1

Description

本発明は、光電変換膜および光電変換装置に関する。
近年、太陽電池の光電変換効率を向上させる目的で光電変換膜に量子細線を適用する試みが行われている(例えば、特許文献1を参照)。
量子細線を用いた太陽電池の光電変換効率は、量子細線を集積した光電変換膜内に生成するキャリアの総量に関係する。
特開平6−21486号公報
ところが、量子細線を半導体膜上に単純に立設させて膜状に集積した光電変換膜は、量子効果に基づくものであることから、吸収することのできる光としては、バンドギャップに対応するエネルギーの波長を有する光となるため、光吸収量を高めることができない場合がある。 これは量子化に必要な直径と光吸収に必要な直径とが異なることに因る。
従って本発明は、光吸収量を高めることのできる光電変換膜および光電変換装置を提供することを目的とする。
本発明の光電変換膜は、複数の量子細線が束状に集積された複数の細線束がアレイ状に配列しているとともに、前記複数の細線束の直径は、可視光領域から近赤外領域までの波長の範囲内に在るものである。
本発明の光電変換装置は、2つの導体層間に光電変換層を備えた光電変換装置であって、前記光電変換層が上記の光電変換膜であるものである。
本発明によれば、光吸収量を高めることができる。
本発明の光電変換装置の一実施形態を部分的に示す断面模式図である。 本実施形態の他の態様を示すもので、量子細線の間に金属酸化膜を有していることを示す拡大模式図である。 本実施形態の光電変換装置の製造方法を示す工程図である。
図1は、本発明の光電変換装置の一実施形態を部分的に示す断面模式図である。次に紹介する実施形態および図面は当業者が本発明の思想を理解できるようにするための一例として挙げるものである。従って、本発明は以下に提示する実施形態および図面に限定されるものではなく、他の形態に具現化することができるのは言うまでもない。
図1に示す光電変換装置は、下面側に第1導体層3を有する シリコン基板5の上面に
、光電変換膜7、ホウ素ドープアモルファスシリコン膜9および第2導体層11がこの順に積層された構成を有している。ここで、第1導体層3には、通常、銀(Ag)などの貴金属を含む金属膜が適用される 。 シリコン基板5にはリンドープシリコン基板が適用される。第2導体層11にはインジウム錫酸化物に代表される透明導電膜が用いられる。
光電変換膜7は、複数の量子細線7aが集積された複数の細線束7Aがn型シリコン膜5上にアレイ状に配置された構成を成している。ここで、アレイ状とは、図1に示しているように、同じ構成のもの(ここでは量子細線7a)が群(ここでは細線束7A)を成して同じ方向に並んでいることを言う。
この場合、細線束7Aの基本的な形状は柱状体であるが、その横断面は円に限らず、多角形状であっても良い。また、細線束7Aは、基本的に、光電変換膜7の厚み方向にほぼ垂直に林立しているが、一部の細線束7Aにおいては、斜めの方向に向いているものが含まれていても良い。
この細線束7Aは、その直径Dが可視光領域から近赤外領域までの波長の範囲内に在る。ここで、可視光領域から近赤外領域までの波長の範囲とは、400nm〜2500nmである。
光電変換膜7によれば、細線束7Aの直径Dが可視光領域から近赤外領域までの波長の範囲内に在るため、細線束7Aに入射してきた太陽光のうち、細線束7Aの直径Dに相当する波長の光が、細線束7A内でミー散乱しやすくなるため、細線束7Aで反射する太陽光の量が減り、これにより細線束7Aでの光吸収量を高めることができる。
ここで、細線束7Aの直径Dとは、光電変換膜7を断面視したときに、各細線束7Aにおいて最大となる幅を言う。この場合、細線束7Aの本数割合で10%以下であれば、一部に、400nm〜2500nmを外れる細線束7Aが含まれていても良い。
また、この光電変換膜7において、細線束7Aの直径を700〜1000nmの範囲にしたときには、さらに光吸収量を向上させることができる。
量子細線7aにシリコンを使用し、トップセルとして利用する場合、量子細線7aを薄膜状にしたときのバンドギャップは、1.7〜1.9eV付近(波長で650〜730)が適したものとなる。
そこで、細線束7Aの直径を700〜1000nmにすると、量子細線7aを膜状に形成したときに、光吸収係数の最も低い吸収端である700nm付近の光吸収量を増やすことができる。
また、この光電変換膜では、細線束7A同士がその直径Dよりも短い間隔で 配置され
ていることが望ましい。細線束7Aが緻密化するように配列させると、光電変換膜7は細線束7Aの占有面積の増加によって、太陽光の受光面が大きくなり、これにより光吸収量をさらに高めることができる。
なお、細線束7A同士は短絡しない間隔、例えば、20nm以上の間隔で配置されていれば良い。
なお、細線束7A間の隙間には絶縁性の材料が介在されていることが望ましい。絶縁性の材料としては、有機物または金属酸化物が好適なものとなる。
細線束7Aの長さとしては、例えば、10nm以上5000nm以下であれば、高い光吸収量を維持することができる。
また、量子細線7aは横断面の形状が多角形であっても良い。量子細線7aは横断面の形状が多角形である場合には、量子細線7aの表面積を大きくすることができるため、キャリアの回収効率を高めることができ、光電変換効率を向上させることができる。形状としては、量子細線7a間の隙間の領域を狭くできるという点から四角形状などの矩形状が良い。
また、量子細線7aの直径は、一方端が他方端よりも大きくなっていても良い。この場合、太陽光の入射光側の直径を小さくし、その反対側の直径を大きくすると、量子細線7aの中で直径が大きい方である太陽光から遠い側においてもキャリアが導体層などの集電部材へ移動しやすくなり、光電変換効率を高めることができる。
図2は、本実施形態の他の態様を示すもので、量子細線の間に金属酸化膜を有していることを示す拡大模式図である。
また、この細線束7Aは量子細線7a間に金属酸化物7bが介在していてもよい。この場合、金属酸化物7bは、図2に示すように、金属元素膜7baと酸素膜7bbとが原子オーダーで積層されて膜状となったものが良い。以下、膜状の金属酸化物のことを金属酸化物膜7bと表記する場合がある。金属酸化物膜7bとして金属元素と酸素とが原子オーダーで積層されている構造であると、量子細線7aの表面および量子細線7a間に原子オーダーで障壁層を形成できるため、キャリアの染みだしが容易となり、これにより光電変換効率を高めることができる。このような金属酸化物膜7bは原子層堆積層(Atomic Layer Deposition、以下、ALD法と表記する。)によって形成することができる。
そして、金属酸化物膜7bの材料としては、量子細線7aおよび細線束7Aからのキャリアの収集効率を高められるという点で、酸化亜鉛または酸化アルミニウムを挙げることができるが、この中でバンドギャップが、後述の量子細線7aの材料に近いという点から酸化亜鉛が良い。
上記した量子細線7aの材料としては、種々の半導体材料が適用されるが、そのエネルギーギャップ(Eg)としては、0.15〜4.50evを有するものが好適である。具体的な半導体材料としては、ゲルマニウム(Ge)、シリコン(Si)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、ヒ素(As)、アンチモン(Sb)、銅(Cu)、鉄(Fe)、亜鉛(Zn)、硫黄(S)、鉛(Pb)、テルル(Te)およびセレン(Se)から選ばれるいずれか1種またはこれらの化合物もしくは酸化物を用いることが望ましい。
次に、本実施形態の光電変換装置の製造方法について説明する。図3は、本実施形態の光電変換装置の製造方法を示す工程図である。まず、リンドープシリコン基板を準備する。
次に、このリンドープシリコン膜5 の表面上に上記の光電変換膜7を形成する。この
場合、慣用のメタルアシストエッチング法を用いる。まず、図3(a)に示すように、第1導体層3とは反対側のリンドープシリコン基板5上に量子細線7aを形成するための半導体膜8を形成する。
次に、図3(b)に示すように、半導体膜8の表面にAgなどの金属粒子10を置いて、溶解液によって金属が置かれた部分を厚み方向に溶解させていく。このような処理の後
に残った部分が量子細線7aとなる。この場合、エッチング溶液としては、過酸化水素とフッ化水素水との混合溶液を用いる。このとき、半導体膜8の下層側を残すようにする。
次に、図3(c)に示すように、量子細線7aを除く領域に、上記したALD法を用いて、例えば、亜鉛のガスと酸素ガスとを交互に導入して、亜鉛膜と酸素膜とを交互に成膜していく。こうして本実施形態の光電変換膜7を形成できる。
次に、図1に示した光電変換装置となるように、以下の工程を実施する。光電変換膜7の表面にホウ素ドープアモルファスシリコン膜9を形成する。このホウ素ドープアモルファスシリコン膜9の形成にはプラズマCVD法を用いる。最後に、ホウ素ドープアモルファスシリコン膜9の表面に、第2導体層11となるインジウム錫酸化物(ITO)膜を形成する。一方、リンドープシリコン基板5の裏面に第1導体層3となる銀の膜を蒸着法によって形成する。 こうして本実施形態の光電変換装置が得られる。
以下、上記した方法によって光電変換装置を作製して光吸収量の評価を行った。この場合、光吸収量の評価として短絡電流密度を測定した。
まず、リンドープシリコン基板は厚みが0.5mm、第1導体層には銀(Ag)を用いた。第2導体層にはインジウム錫酸化物(ITO)を用いた。量子細線および細線束を形成するための半導体膜として真性シリコンをプラズマCVD法を用いて作製した。絶縁材料としては酸化亜鉛をALD法により形成した。
次に、作製した光電変換膜の横断面を電子顕微鏡によって観察し、量子細線および細線束のサイズを測定した。作製した光電変換装置は、量子細線の平均の直径が5nm、量子細線間の間隔が10nm、細線束の平均の直径が900nm、半導体膜の厚みに起因する量子細線および細線束の平均長さが1μm、細線束間の間隔は平均で100nmであった。第1導体層の平均厚みが0.1μm、第2導体層の平均厚みが0.3μmであった。量子細線は横断面の形状が四角状であり、リンドープシリコン基板側の直径が上端側よりも大きくなっていた。
また、得られた光電変換膜の第1導体層と第2導体層間にリード線を接続し、1SUNの太陽光を照射してI−V特性を測定し、短絡電流密度を求めた。
比較例として、量子細線が孤立して配置された 試料を作製し、同様の評価を行った。
3・・・・・第1導体層
5・・・・・リンドープシリコン基板
7・・・・・光電変換膜
7A・・・・細線束
7a・・・・量子細線
7b・・・・金属酸化物膜
7ba・・・金属元素膜
7bb・・・酸素膜
9・・・・・ホウ素ドープアモルファスシリコン膜
11・・・・第2導体層

Claims (8)

  1. 複数の量子細線が束状に集積された複数の細線束がアレイ状に配列しているとともに、前記複数の細線束の直径は、可視光領域から近赤外領域までの波長の範囲内に在ることを特徴とする光電変換膜。
  2. 前記細線束は、直径が700〜1000nmであることを特徴とする請求項1に記載の光電変換膜。
  3. 前記量子細線は、横断面の形状が多角形であることを特徴とする請求項1または2に記載の光電変換膜。
  4. 前記量子細線の直径は、一方端が他方端よりも大きいことを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれかに記載の光電変換膜。
  5. 前記複数の細線束は、前記細線束の直径以下の間隔で集積されていることを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれかに記載の光電変換膜。
  6. 前記量子細線間に金属酸化物が介在していることを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれかに記載の光電変換膜。
  7. 前記金属酸化物が、酸化亜鉛または酸化アルミニウムであることをを特徴とする請求項6に記載の光電変換膜。
  8. 2つの導体層間に光電変換層を備えた太陽電池であって、前記光電変換層が請求項1乃至7のうちいずれかに記載の光電変換膜であることを特徴とする光電変換装置。
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