JP2017150862A - 光線路特性解析装置及び信号処理方法 - Google Patents
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Abstract
Description
プローブ光パルスとポンプ光パルスの少なくとも一方を前記被測定光ファイバの入射端に入射する試験光入射手段と、
前記被測定光ファイバの入射端に戻る戻り光を光電変換する光受信手段と、
前記光受信手段が光電変換したアナログの電気信号を用いてアナログ信号処理を行うアナログ信号処理手段と、
前記光受信手段が光電変換したアナログの電気信号もしくは前記アナログ信号処理手段が前記アナログ信号処理を行ったアナログの電気信号をデジタルの電気信号に変換するA/D変換手段と、
前記A/D変換器が変換したデジタルの電気信号を演算して被測定光ファイバの特性を解析する演算処理手段と、
を備えており、
前記アナログ信号処理手段は、前記アナログ信号処理として、
前記被測定光ファイバの入射端に任意の光周波数差を持つプローブ光パルスとポンプ光パルスが任意の時間差で入射され、前記被測定光ファイバの入射端に戻る戻り光を前記光受信手段が光電変換したアナログ測定信号を前記A/D変換器がデジタル信号へ変換する前に、
前記プローブ光パルスのみが前記被測定光ファイバに入射され、前記被測定光ファイバの遠端で反射して入射端に戻る光パルスを前記光受信手段が光電変換したアナログの参照信号に1未満の正の数を乗じた調整信号を算出し、前記アナログ測定信号から前記調整信号を減算する処理を行うことを特徴とする。
前記被測定光ファイバの入射端に任意の光周波数差を持つプローブ光パルスとポンプ光パルスを任意の時間差で入射し、前記被測定光ファイバの入射端に戻る戻り光を光電変換したアナログ測定信号をデジタル信号へ変換する前に、
前記プローブ光パルスのみが前記被測定光ファイバに入射され、前記被測定光ファイバの遠端で反射して入射端に戻る光パルスを光電変換したアナログの参照信号に1未満の正の数を乗じた調整信号を算出し、前記アナログ測定信号から前記調整信号を減算するアナログ信号処理手順を行うことを特徴とする。
図1は、本実施形態の光線路特性解析装置の構成を示すブロック図である。本光線路特性解析装置は、ブリルアン時間領域解析法(BOTDA:Brillouin Optical Time Domain Analysis)で被測定光ファイバの特性を解析する光線路特性解析装置であって、
プローブ光パルスとポンプ光パルスの少なくとも一方を前記被測定光ファイバの入射端に入射する試験光入射手段と、
前記被測定光ファイバの入射端に戻る戻り光を光電変換する光受信手段と、
前記光受信手段が光電変換したアナログの電気信号を用いてアナログ信号処理を行うアナログ信号処理手段と、
前記光受信手段が光電変換したアナログの電気信号もしくは前記アナログ信号処理手段が前記アナログ信号処理を行ったアナログの電気信号をデジタルの電気信号に変換するA/D変換手段と、
前記A/D変換器が変換したデジタルの電気信号を演算して被測定光ファイバの特性を解析する演算処理手段と、
を備えており、
前記アナログ信号処理手段は、前記アナログ信号処理として、
前記被測定光ファイバの入射端に任意の光周波数差を持つプローブ光パルスとポンプ光パルスが任意の時間差で入射され、前記被測定光ファイバの入射端に戻る戻り光を前記光受信手段が光電変換したアナログ測定信号を前記A/D変換器がデジタル信号へ変換する前に、
前記プローブ光パルスのみが前記被測定光ファイバに入射され、前記被測定光ファイバの遠端で反射して入射端に戻る光パルスを前記光受信手段が光電変換したアナログの参照信号に1未満の正の数を乗じた調整信号を算出し、前記アナログ測定信号から前記調整信号を減算する処理を行うことを特徴とする。
図2は、アナログ信号処理手段29が行うアナログ信号処理手順の概念図である。当該アナログ信号処理手順は、被測定光ファイバ100の入射端に任意の光周波数差を持つプローブ光パルスとポンプ光パルスを任意の時間差で入射し、被測定光ファイバ100の入射端に戻る戻り光を光電変換したアナログ測定信号をデジタル信号へ変換する前に、
前記プローブ光パルスのみが被測定光ファイバ100に入射され、被測定光ファイバ100の遠端で反射して入射端に戻る光パルスを光電変換したアナログの参照信号に1未満の正の数を乗じた調整信号を算出し、前記アナログ測定信号から前記調整信号を減算する。
(数式S) VN_out=V’N−AVN
ここで、Nは被測定光ファイバ100の分岐心線番号、Aは1未満の正の数である。
演算処理装置28は、入射時間差t1でプローブ光パルスとポンプ光パルスとの両方を被測定光ファイバ100へ入射した場合のプローブ光強度から、プローブ光パルスのみを被測定光ファイバ100へ入射した場合のプローブ光強度を減算することで、誘導ブリルアン利得を求める。次に、演算処理装置28は、入射時間差t1を変化させて誘導ブリルアン利得の測定を繰り返し、距離に対する誘導ブリルアン利得を算出する。演算処理装置28は、距離に対する誘導ブリルアン利得から、被測定光ファイバ100である単一線路あるいは分岐光線路についての距離に対する損失/温度/歪分布を求める。図6は、演算処理装置28が演算した被測定光ファイバ100の測定例である。誘導ブリルアン利得は損失から求めることができる。
次に、本実施形態の光線路特性解析装置の動作について説明する。
まず、プローブ光およびポンプ光の光周波数、パルス化手段(13,14)、光受信手段26、及びA/D変換器27は次の条件を満足する必要がある。
(条件1) プローブ光とポンプ光の周波数差は、被測定光ファイバ100のブリルアン周波数シフトと等しいこと。
(条件2) 被測定光ファイバ100が分岐光線路である場合、パルス化手段13から出力されるプローブ光パルスのパルス幅τは、分岐光ファイバの終端の反射型光フィルタ24からの戻り光の時間差2nΔL/cより狭いこと。
(条件3) 光受信手段26の帯域及びA/D変換器27の帯域は、パルス幅τを受光可能な帯域であること。
上記の条件を満足する本実施形態の光線路特性解析装置の測定原理を説明する。
第1試験光出力手段11はプローブ光を出力し、第2試験光出力手段13はポンプ光を出力する。ここで、プローブ光及びポンプ光の光周波数をf1、f2とする。fBは、被測定光ファイバ100誘導ブリルアン後方散乱による光周波数シフト量である。
プローブ光とポンプ光との周波数差がfBである場合、プローブ光パルスとポンプ光パルスとが衝突すると、ブリルアン回折格子が発生し、この回折格子によりポンプ光が反射されることで、プローブ光パルスは式(1)で表される増幅を受ける。
被測定光ファイバ100の入射端から分岐光ファイバ(#a)(1≦a≦Nの整数、ここではN=8)の終端までの長さをLaとする。プローブ光パルスは、分岐光ファイバ(#a)の終端に設置された反射型光フィルタ(#a)により反射される。ここで、分岐光ファイバの終端からの距離をl、被測定光ファイバ100の屈折率をn、真空中の光速をcとすると、反射されたプローブ光パルスはt1/2秒後にl=c/n×t1/2だけ進むので、被測定光ファイバ100の入射端からの距離をlx1とすると、その距離lx1は、
被測定光ファイバ100が分岐光線路である場合、以下の要件が必要になる。
プローブ光パルスが光受信器に到達する時間をtdaとする。プローブ光パルスは、分岐光ファイバの終端の反射型光フィルタ(#a)により反射され、光受信器へ戻ってくる。そのため、到達時間は、式(10)で表される。
以下は、本実施形態の光線路特性解析装置の特徴についてまとめたものである。
本発明の目的は、大きな損失を有する光線路において、光ファイバの損失分布・温度/歪分布を高感度に試験可能な光試験装置を提供することである。
12:第2試験光出力手段
13、14:光パルス化手段
15、16:入射時間制御手段
20:合波素子
21:サーキュレータ
22:光スプリッタ
23:分岐光線路
24:光反射フィルタ
26:光受信手段
27:A/D変換器
28:演算処理装置
29:アナログ信号処理手段
50:基幹光ファイバ
100:被測定光ファイバ
Claims (4)
- ブリルアン時間領域解析法(BOTDA:Brillouin Optical Time Domain Analysis)で被測定光ファイバの特性を解析する光線路特性解析装置であって、
プローブ光パルスとポンプ光パルスの少なくとも一方を前記被測定光ファイバの入射端に入射する試験光入射手段と、
前記被測定光ファイバの入射端に戻る戻り光を光電変換する光受信手段と、
前記光受信手段が光電変換したアナログの電気信号を用いてアナログ信号処理を行うアナログ信号処理手段と、
前記光受信手段が光電変換したアナログの電気信号もしくは前記アナログ信号処理手段が前記アナログ信号処理を行ったアナログの電気信号をデジタルの電気信号に変換するA/D変換手段と、
前記A/D変換器が変換したデジタルの電気信号を演算して被測定光ファイバの特性を解析する演算処理手段と、
を備えており、
前記アナログ信号処理手段は、前記アナログ信号処理として、
前記被測定光ファイバの入射端に任意の光周波数差を持つプローブ光パルスとポンプ光パルスが任意の時間差で入射され、前記被測定光ファイバの入射端に戻る戻り光を前記光受信手段が光電変換したアナログ測定信号を前記A/D変換器がデジタル信号へ変換する前に、
前記プローブ光パルスのみが前記被測定光ファイバに入射され、前記被測定光ファイバの遠端で反射して入射端に戻る光パルスを前記光受信手段が光電変換したアナログの参照信号に1未満の正の数を乗じた調整信号を算出し、前記アナログ測定信号から前記調整信号を減算する処理を行うことを特徴とする光線路特性解析装置。 - 前記被測定光ファイバが、前記入射端の後段にある光分岐器で複数の分岐光ファイバに分岐された分岐光線路である場合、
前記試験光入射手段は、前記プローブ光パルスを、前記分岐光ファイバの遠端で反射されたいずれの戻り光も前記光分岐器で重畳しないパルス幅とし、
前記アナログ信号処理手段は、前記分岐光ファイバ毎に前記アナログ信号処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の光線路特性解析装置。 - ブリルアン時間領域解析法(BOTDA:Brillouin Optical Time Domain Analysis)で被測定光ファイバの特性を解析するときの信号処理方法であって、
前記被測定光ファイバの入射端に任意の光周波数差を持つプローブ光パルスとポンプ光パルスを任意の時間差で入射し、前記被測定光ファイバの入射端に戻る戻り光を光電変換したアナログ測定信号をデジタル信号へ変換する前に、
前記プローブ光パルスのみが前記被測定光ファイバに入射され、前記被測定光ファイバの遠端で反射して入射端に戻る光パルスを光電変換したアナログの参照信号に1未満の正の数を乗じた調整信号を算出し、前記アナログ測定信号から前記調整信号を減算するアナログ信号処理手順を行うことを特徴とする信号処理方法。 - 前記被測定光ファイバが、前記入射端の後段にある光分岐器で複数の分岐光ファイバに分岐された分岐光線路である場合、
前記プローブ光パルスを、前記分岐光ファイバの遠端で反射されたいずれの戻り光も前記光分岐器で重畳しないパルス幅とし、
前記分岐光ファイバ毎に前記アナログ信号処理手順を行うことを特徴とする請求項3に記載の信号処理方法。
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