JP2015040853A - 光線路特性解析装置及び光線路特性解析方法 - Google Patents
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Abstract
Description
双方向OTDRでは、OTDRを光ファイバの両端で測定することで接続損失を測定する方法が提案されている。
しかしながら、遠端反射とゴースト波形を利用したOTDRでも双方向OTDRと同様に、光ファイバネットワークの主流であるPONにおいて、光スプリッタの先の光線路を測定することができない。
また、既存の所外設備を変更することなく、光分岐線路の損失分布を測定する手法として、遠端反射とブリルアン利得解析法を利用した技術が提案されている(非特許文献3、非特許文献4)。
第1の態様は、前記被試験光線路は、基幹光ファイバの一方端を光分岐器によって複数系統に分岐し、前記光分岐器の分岐端部それぞれに分岐光ファイバの一方端を光結合してなる分岐光線路である。
第2の態様は、前記演算処理装置は、前記試験光パルス生成手段で生成される第1及び第2試験光パルスの入射順序を設定する第1の手順と、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの周波数差を設定する第2の手順と、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの入射時間差を設定する第3の手順と、前記第1試験光の戻り時間によりどの被試験光線路で反射した試験光であるかを特定する第4の手順と、前記反射された第1試験光の光強度により、誘導ブリルアン後方散乱光を測定する第5の手順と、得られた誘導ブリルアン後方散乱光の特性分布の距離ごとの誘導ブリルアン散乱光強度の最大値を取得する第6の手順と、前記第1及び第2試験光パルスの入射順序を入れ替え、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの周波数差を変化させ、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの入射時間差を変化させて前記1の手順から前記第6の手順を繰り返す第7の手順と、前記第7の手順で得られた入射順序の距離ごとの誘導ブリルアン後方散乱光の最大値から算出された損失の積の平方根を取得し、光ファイバの損失分布の真値を取得する第8の手順とを備えるものである。
図1は、本発明の一実施形態に係る光線路特性解析装置の構成を示す図である。図1に示す光線路特性解析装置は、第一試験光の被測定光ファイバからの誘導ブリルアン後方散乱光の特性分布を求めることができるものである。
ある設定ブリルアン周波数シフトfBでの測定が完了した後、設定ブリルアン周波数シフトを設定ブリルアン周波数シフト間隔・fB変化させて測定を繰り返し、設定ブリルアン周波数全帯域幅FBになると測定を終了する。
上記、入射側からの距離に対する損失分布と遠端からの距離に対する損失分布の積の平方根を取得することにより、光ファイバパラメータに依存しない正確な損失分布を取得できる。
(条件1) 光周波数変更手段13による周波数シフトは、被測定光ファイバ23のブリルアン周波数シフトの距離方向の周波数変化量より大きく周波数変化可能なこと。
(条件2) 光パルス化手段15,16の、第一試験光(プローブ光)のパルス幅τは、分岐光ファイバ終端の光反射フィルタ233(#1)〜233(#n)からの戻り光の時間差2nΔL/cの最小値より狭いこと。
(条件3) 光受信器25及びA/D変換器26の帯域は、パルス幅τを受光可能な帯域であること。
条件1は、第一試験光と第二試験光が誘導ブリルアン散乱を、被測定光ファイバ23中のすべての距離で起こすために必要となる条件である。
条件2は、光パルス化手段15,16のプローブパルス幅τが各分岐光ファイバ終端の光反射フィルタ233(#1)〜233(#n)からの戻り光の時間差の最小値2nΔL/cより広いとき、心線毎の誘導ブリルアン散乱光が重なり、時間的に切り分けることができないため、心線識別のために必要となる条件である。ここで、ΔLは上記の各分岐光ファイバ232(#1)〜232(#n)の長さの差の最小値である。
条件3は、パルス幅τの光パルスを精確に測定するためには、光受光器25の帯域、A/D変換器26の帯域は1/τより広い必要がある。
波長の異なる二つの試験光(第一試験光、第二試験光)を用い、第一試験光はプローブ光であり、光周波数f0-fBとし、第二試験光はポンプ光であり、光周波数f0とする。ここで、f0はポンプ光の光周波数、fBはブリルアン後方散乱による光周波数シフト量とする。
プローブ光とポンプ光は、光スプリッタ231によりn分岐される。
(i)異種ファイバが接続された場合の接続損失の真値測定
本測定において、図2に示すように、プローブ光を先に入射する場合とポンプ光を先に入射する場合の2つのモードで測定を行う。
プローブ光とポンプ光の周波数がfBだけ差がある場合、プローブ光とポンプ光がインタラクションすると、誘導ブリルアン散乱が発生し、プローブ光は式(1)で表される増幅を受ける。
ポンプパルスとプローブパルスの入射順序を入れ替えて、上記と同様にプローブ光のブリルアン利得スペクトルを取得し、強度ピークを求める。この場合、z1地点で衝突したポンプパルスの受けた損失はIpump(z)は、式(7)の通りである。
被測定光ファイバ23の入射端から分岐下部の分岐光ファイバ232(#a)(1≦a≦Nの整数)の終端までの長さをLaとする。第一試験光は、分岐下部の分岐光ファイバ232(#a)の終端に設置された光反射フィルタ233(#a)により反射される。ここで、分岐光ファイバ終端からの距離をl、被測定光ファイバ23の屈折率をn、真空中の光速をcとすると、反射された第一試験光はt1/2秒後にl=c/n×t1/2だけ進むので、入射端からの距離をlx1とすると、式(12)となる。
第一試験光が光受信器25に到達する時間をtdaとする。第一試験光は、分岐下部の分岐光ファイバ終端の光反射フィルタ233(#a)により反射され、光受信器25へ戻ってくるので、到達時間は、式(15)で表される。
ここで、第一試験光のパルス幅をτとすると、式(18)のとき(条件2)、各分岐光ファイバ232(#1)〜(#n)から戻った第一試験光は光スプリッタ231で重ならず、受光器の到達時間を測定することで、どの分岐光ファイバ232(#1)〜232(#n)からの第一試験光であるかを時間的に切り分けることができる。
なお、本発明は、分岐していない被測定線路においても損失分布の真値を測定可能である。
図3は、測定結果の一例を示す。測定結果は、8分岐スプリッタ下部に通常のシングルモードファイバ(SSMF)同士を接続した場合(図3(a))とSSMFと曲げに強いファイバ(BIF)を接続した場合(図3(b))を同時に測定した結果である。図3(b)に示すように、SSMFとBIFを接続した場合は、過剰な損失を与えていないにもかかわらず、プローブ光を先に入射した波形(図3中ではW1)を見ると、3000m地点に損失ではなくゲインがあるような波形になっている。また、ポンプ光を先に入射した波形(図3中ではW2)では3000m地点で損失があるように見える。これらの見かけ上の損失の積の平方根を、SSMFとBIFの接続点の損失を変化させながら測定した結果を図4に示す。縦軸はポンプ−プローブの入射順序を変更して演算により求めた損失の値であり、横軸は8分岐スプリッタから取り外して双方光OTDRにより測定した値である。図4より、双方向OTDRの値と良い一致を示していることが分かる。そのため、ポンプ−プローブの入射順序を変更したブリルアン利得解析により、分岐の下流側においても正確な接続損失を測定できる。
まず、第一試験光と第二試験光の入射順序を、第一試験光・第二試験光の順に設定する(ステップS1)。次に第一試験光と第二試験光の周波数差fをfBに設定する(ステップS2)。次に、第1試験光と第2試験光の入射時間差t1を設定する(ステップS3)。
Claims (6)
- 波長の異なる第1及び第2試験光を発生し、当該第1及び第2試験光から互いに任意の時間差をもって第1及び第2試験光パルスを生成し合成する試験光パルス生成手段と、
被試験光線路の光ファイバの他方端に配置され、前記第1及び第2試験光の波長の光を反射し、それ以外の波長の光を透過する光反射フィルタと、
前記試験光パルス生成手段で生成される試験光パルスを前記被試験光線路の光ファイバに入射し、当該光ファイバの入射端から出射される戻り光を抽出する光サーキュレータと、
前記戻り光から誘導ブリルアン(Brillouin)後方散乱光を抽出する光フィルタと、
前記光フィルタで抽出された散乱光を受光して電気信号に変換する光受信器と、
前記電気信号をデジタル信号に変換する変換手段と、
前記デジタル信号から前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定して前記被試験光線路の特性を解析する演算処理装置と
を具備し、
前記演算処理装置は、
前記試験光パルス生成手段で生成される第1及び第2試験光パルスの入射順序を入れ替え、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの周波数差及び時間差を変化させながら、前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定し、得られた誘導ブリルアン後方散乱光の特性分布の距離ごとの誘導ブリルアン散乱光強度の最大値を取得し、それぞれの入射順序の距離ごとの誘導ブリルアン後方散乱光の最大値から算出された損失の積の平方根を取得することで、光ファイバの損失分布の真値を取得することを特徴とする光線路特性解析装置。 - 前記被試験光線路は、基幹光ファイバの一方端を光分岐器によって複数系統に分岐し、前記光分岐器の分岐端部それぞれに分岐光ファイバの一方端を光結合してなる分岐光線路であることを特徴とする請求項1記載の光線路特性解析装置。
- 前記演算処理装置は、
前記試験光パルス生成手段で生成される第1及び第2試験光パルスの入射順序を設定する第1の手順と、
前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの周波数差を設定する第2の手順と、
前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの入射時間差を設定する第3の手順と、
前記第1試験光の戻り時間によりどの被試験光線路で反射した試験光であるかを特定する第4の手順と、
前記反射された第1試験光の光強度により、誘導ブリルアン後方散乱光を測定する第5の手順と、
得られた誘導ブリルアン後方散乱光の特性分布の距離ごとの誘導ブリルアン散乱光強度の最大値を取得する第6の手順と、
前記第1及び第2試験光パルスの入射順序を入れ替え、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの周波数差を変化させ、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの入射時間差を変化させて前記1の手順から前記第6の手順を繰り返す第7の手順と、
前記第7の手順で得られた入射順序の距離ごとの誘導ブリルアン後方散乱光の最大値から算出された損失の積の平方根を取得し、光ファイバの損失分布の真値を取得する第8の手順と
を備えることを特徴とする請求項1記載の光線路特性解析装置。 - 波長の異なる第1及び第2試験光を発生し、当該第1及び第2試験光から互いに任意の時間差をもって第1及び第2試験光パルスを生成して合成し、
被試験光線路の光ファイバの他方端に光反射フィルタを配置して、前記第1及び第2試験光の波長の光を反射させ、それ以外の波長の光を透過させ、
前記合成された第1及び第2試験光パルスを前記被試験光線路の光ファイバに入射し、当該光ファイバの入射端から出射される戻り光を抽出し、
前記戻り光から誘導ブリルアン(Brillouin)後方散乱光を抽出し、
前記抽出された散乱光を受光して電気信号に変換し、
前記電気信号をデジタル信号に変換し、
前記デジタル信号から前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定して前記被試験光線路の特性を解析するものとし、
前記第1及び第2試験光パルスの入射順序を入れ替え、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの周波数差及び時間差を変化させながら、前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定し、得られた誘導ブリルアン後方散乱光の特性分布の距離ごとの誘導ブリルアン散乱光強度の最大値を取得し、それぞれの入射順序の距離ごとの誘導ブリルアン後方散乱光の最大値から算出された損失の積の平方根を取得することで、光ファイバの損失分布の真値を取得することを特徴とする光線路特性解析方法。 - 前記被試験光線路は、基幹光ファイバの一方端を光分岐器によって複数系統に分岐し、前記光分岐器の分岐端部それぞれに分岐光ファイバの一方端を光結合してなる分岐光線路であることを特徴とする請求項4記載の光線路特性解析方法。
- 前記解析の手順として、
前記試験光パルス生成手段で生成される第1及び第2試験光パルスの入射順序を設定する第1の手順と、
前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの周波数差を設定する第2の手順と、
前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの入射時間差を設定する第3の手順と、
前記第1試験光の戻り時間によりどの被試験光線路で反射した試験光であるかを特定する第4の手順と、
前記反射された第1試験光の光強度により、誘導ブリルアン後方散乱光を測定する第5の手順と、
得られた誘導ブリルアン後方散乱光の特性分布の距離ごとの誘導ブリルアン散乱光強度の最大値を取得する第6の手順と、
前記第1及び第2試験光パルスの入射順序を入れ替え、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの周波数差を変化させ、前記第1試験光パルスと前記第2試験光パルスとの入射時間差を変化させて前記1の手順から前記第6の手順を繰り返す第7の手順と、
前記第7の手順で得られた入射順序の距離ごとの誘導ブリルアン後方散乱光の最大値から算出された損失の積の平方根を取得し、光ファイバの損失分布の真値を取得する第8の手順と
を備えることを特徴とする請求項4記載の光線路特性解析方法。
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