JP6218142B2 - 分岐光線路の特性解析装置及び特性解析方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施形態に係る分岐光線路の特性解析装置の構成を示す図である。図1に示す分岐光線路の特性解析装置は、第一試験光が被測定ファイバ中で受けたブリルアン利得の特性分布を求めることができるものである。
(条件6) 光受信器25の帯域は、(条件1)の周波数差f1を受光可能な帯域であること。
条件1は、任意の位置zのみでブリルアン利得情報を取得するための条件である。条件1は、正弦波などの一周期内に同じ周波数の値を持つ周波数変調ではなく、単調に増加または減少する周波数変調である。
この条件を満足する場合の本発明を用いた分岐光ファイバ222(#1)〜222(#N)の特性解析方法を示す。
第一試験光と第二試験光は、光スプリッタ221によりN分岐される。
第一試験光(プローブ光)と第二試験光(ポンプ光)の線形周波数変調の始点周波数がfBだけ差があり、周波数変化幅ΔFが被測定ファイバ22に想定されるブリルアン周波数シフトより大きい場合、第一試験光と第二試験光が対向伝搬すると、ブリルアン散乱が発生し、第一試験光は式(1)で表される増幅を受ける。
第一試験光の符号化をφn(t)、第二試験光の符号化をψn(t)とすると、φn(t)とψn(t)は、所望の位置zのときのみ周波数差がf1で常に一定であり、それ以外の位置zにおいて周波数差が常にf1でない符号である。
また、本実施形態の演算処理装置26は、第一試験光及び第二試験光による誘導ブリルアン散乱の測定と、複数の分岐光ファイバ222(#1)〜222(#N)それぞれの距離に対するブリルアン散乱光分布の測定とを行い、これらの測定結果から分岐光ファイバ222(#1)〜222(#N)における個別の損失分布を解析することができる。
Claims (6)
- 被測定光線路の基幹光ファイバの一方端を複数系統に分岐する光分岐器の分岐端部それぞれに一端が接続され、他端にそれぞれ試験光を反射する光反射フィルタを備えた複数の分岐光線路の損失分布を解析する分岐光線路の特性解析装置であって、
それぞれ第1の周波数を有する第1試験光、第2試験光及びローカル光を符号長の一周期内において同じ周波数の値がない周波数変調符号によって光符号化する符号化手段と、
前記符号化手段により光符号化された前記第1試験光、第2試験光及びローカル光を出力する光源モジュールと、
前記光源モジュールから出力される前記第1試験光とローカル光を、前記第1の周波数から第2の周波数へ周波数変換する光周波数変更手段と、
前記第1または第2試験光のみをパルス化する光パルス化手段と、
前記光パルス化手段から出力される前記第1試験光と前記第2試験光を合波する第1の合波素子と、
前記第1の合波素子で合波した前記第1及び第2試験光を前記被測定光線路の基幹光ファイバに入射し、当該基幹光ファイバの入射端から出射される戻り光を抽出する光サーキュレータと、
前記戻り光から誘導ブリルアン後方散乱光を抽出する光フィルタと、
前記光フィルタの出力光と前記光周波数変更手段から出力される前記ローカル光を合波する第2の合波素子と、
前記第2の合波素子の出力光を受光して電気信号に変換する光受信器と、
前記電気信号から前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定して前記被測定光線路の特性を解析する演算処理装置と
を具備し、
前記演算処理装置は、前記符号化手段で生成される前記第1試験光及び前記第2試験光及び前記ローカル光の符号を変化させつつ、前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定することを特徴とする分岐光線路の特性解析装置。 - 前記第1及び第2試験光の周波数差は、前記被測定光線路内で想定される誘導ブリルアン後方散乱光が生じるブリルアン周波数シフト量に相当することを特徴とする請求項1記載の分岐光線路の特性解析装置。
- 前記符号化手段は、光源の注入電流を任意波形変調するものとし、光源モジュールに注入する任意波形変調した電流を時間的に連続して注入して出力した連続光を、前記光パルス化手段により時間分割することを特徴とする請求項1記載の分岐光線路の特性解析装置。
- 前記演算処理装置は、
前記第1及び第2試験光による誘導ブリルアン散乱の測定と、前記複数の分岐光線路それぞれの距離に対するブリルアン散乱光分布の測定とを行い、
それらの測定結果から前記複数の分岐光線路における個別の損失分布を解析することを特徴とする請求項1記載の分岐光線路の特性解析装置。 - 被測定光線路の基幹光ファイバの一方端を複数系統に分岐する光分岐器の分岐端部それぞれに一端が接続され、他端にそれぞれ試験光を反射する光反射フィルタを備えた複数の分岐光線路の損失分布を解析する分岐光線路の特性解析方法であって、
それぞれ第1の周波数を有する第1試験光、第2試験光及びローカル光を符号長の一周期内において同じ周波数の値がない周波数変調符号によって光符号化する第1の工程と、
光符号化された前記第1試験光とローカル光を、前記第1の周波数から第2の周波数へ周波数変換する第2の工程と、
前記第1または第2試験光のみをパルス化する第3の工程と、
パルス化された前記第1試験光と前記第2試験光を合波して前記被測定光線路の基幹光ファイバに入射し、当該基幹光ファイバの入射端から出射される戻り光を抽出する第4の工程と、
前記戻り光から誘導ブリルアン後方散乱光を抽出する第5の工程と、
前記誘導ブリルアン後方散乱光と、周波数変換された前記ローカル光を合波して電気信号に変換する第6の工程と、
前記電気信号から前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定して前記被測定光線路の特性を解析する第7の工程と
を含み、
前記第7の工程では、前記第1の工程で生成される前記第1試験光及び前記第2試験光及び前記ローカル光の符号を変化させつつ、前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定することを特徴とする分岐光線路の特性解析方法。 - 前記第7の工程では、
前記第1及び第2試験光による誘導ブリルアン散乱の測定と、前記複数の分岐光線路それぞれの距離に対するブリルアン散乱光分布の測定とを行い、
それらの測定結果から前記複数の分岐光線路における個別の損失分布を解析することを特徴とする請求項5記載の分岐光線路の特性解析方法。
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