JP2017049974A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017049974A5 JP2017049974A5 JP2016064128A JP2016064128A JP2017049974A5 JP 2017049974 A5 JP2017049974 A5 JP 2017049974A5 JP 2016064128 A JP2016064128 A JP 2016064128A JP 2016064128 A JP2016064128 A JP 2016064128A JP 2017049974 A5 JP2017049974 A5 JP 2017049974A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- images
- feature
- quality
- whose appearance
- feature amounts
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 24
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 18
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 230000006870 function Effects 0.000 claims 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims 1
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/232,700 US20170069075A1 (en) | 2015-09-04 | 2016-08-09 | Classifier generation apparatus, defective/non-defective determination method, and program |
CN201610792290.7A CN106503724A (zh) | 2015-09-04 | 2016-08-31 | 分类器生成装置、有缺陷/无缺陷确定装置和方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015174899 | 2015-09-04 | ||
JP2015174899 | 2015-09-04 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017049974A JP2017049974A (ja) | 2017-03-09 |
JP2017049974A5 true JP2017049974A5 (enrdf_load_stackoverflow) | 2019-05-09 |
Family
ID=58279856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016064128A Pending JP2017049974A (ja) | 2015-09-04 | 2016-03-28 | 識別器生成装置、良否判定方法、およびプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017049974A (enrdf_load_stackoverflow) |
CN (1) | CN106503724A (enrdf_load_stackoverflow) |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109685756A (zh) * | 2017-10-16 | 2019-04-26 | 乐达创意科技有限公司 | 影像特征自动辨识装置、系统及方法 |
JP6955211B2 (ja) * | 2017-12-14 | 2021-10-27 | オムロン株式会社 | 識別装置、識別方法及びプログラム |
JP7054436B2 (ja) | 2017-12-14 | 2022-04-14 | オムロン株式会社 | 検出システム、情報処理装置、評価方法及びプログラム |
EP3762794B1 (en) | 2018-03-05 | 2025-07-16 | Omron Corporation | Method, device, system and program for setting lighting condition and storage medium |
CN111712769B (zh) * | 2018-03-06 | 2023-08-01 | 欧姆龙株式会社 | 用于设定照明条件的方法、装置、系统以及存储介质 |
JP7015001B2 (ja) | 2018-03-14 | 2022-02-02 | オムロン株式会社 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びそのプログラム |
WO2020036082A1 (ja) * | 2018-08-15 | 2020-02-20 | 味の素株式会社 | 検査装置、検査方法および検査プログラム |
JP6795562B2 (ja) | 2018-09-12 | 2020-12-02 | ファナック株式会社 | 検査装置及び機械学習方法 |
JP6823025B2 (ja) | 2018-09-12 | 2021-01-27 | ファナック株式会社 | 検査装置及び機械学習方法 |
JP6780682B2 (ja) * | 2018-09-20 | 2020-11-04 | 日本電気株式会社 | 情報取得システム、制御装置及び情報取得方法 |
CN109598605B (zh) * | 2018-11-26 | 2020-05-12 | 格锐普惠(北京)金融服务外包有限公司 | 一种基于实体抵押物的远程智能评估及贷款自助系统 |
JP7119949B2 (ja) * | 2018-11-28 | 2022-08-17 | セイコーエプソン株式会社 | 判定装置及び判定方法 |
CN109817267B (zh) * | 2018-12-17 | 2021-02-26 | 武汉忆数存储技术有限公司 | 一种基于深度学习的闪存寿命预测方法、系统及计算机可读存取介质 |
JP7075056B2 (ja) * | 2018-12-27 | 2022-05-25 | オムロン株式会社 | 画像判定装置、画像判定方法及び画像判定プログラム |
JP7130190B2 (ja) | 2018-12-27 | 2022-09-05 | オムロン株式会社 | 画像判定装置、学習方法及び画像判定プログラム |
JP7075057B2 (ja) | 2018-12-27 | 2022-05-25 | オムロン株式会社 | 画像判定装置、画像判定方法及び画像判定プログラム |
JP6869490B2 (ja) | 2018-12-28 | 2021-05-12 | オムロン株式会社 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びそのプログラム |
JP7401995B2 (ja) * | 2019-08-26 | 2023-12-20 | 株式会社 ゼンショーホールディングス | 載置状態管理装置、載置状態管理方法及び載置状態管理プログラム |
JP7225416B2 (ja) * | 2019-08-27 | 2023-02-20 | 富士フイルム富山化学株式会社 | 画像処理装置、携帯端末、画像処理方法及びプログラム |
CN110738237A (zh) * | 2019-09-16 | 2020-01-31 | 深圳新视智科技术有限公司 | 缺陷分类的方法、装置、计算机设备和存储介质 |
JP7342616B2 (ja) | 2019-10-29 | 2023-09-12 | オムロン株式会社 | 画像処理システム、設定方法およびプログラム |
JP7397404B2 (ja) * | 2020-02-07 | 2023-12-13 | オムロン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム |
CN111507945B (zh) * | 2020-03-31 | 2022-08-16 | 成都数之联科技股份有限公司 | 一种使用无缺陷图训练深度学习缺陷检测模型的方法 |
JP7681423B2 (ja) * | 2020-07-17 | 2025-05-22 | 株式会社フジクラ | 検査装置、検査方法、検査プログラム、機械学習装置、機械学習方法、機械学習プログラム、及び、構造体の製造方法 |
WO2022130814A1 (ja) * | 2020-12-16 | 2022-06-23 | コニカミノルタ株式会社 | 指標選択装置、情報処理装置、情報処理システム、検査装置、検査システム、指標選択方法、および指標選択プログラム |
WO2022153743A1 (ja) * | 2021-01-15 | 2022-07-21 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 判定システム、判定方法及びプログラム |
CN113933294B (zh) * | 2021-11-08 | 2023-07-18 | 中国联合网络通信集团有限公司 | 浓度检测方法及装置 |
WO2023089846A1 (ja) * | 2021-11-22 | 2023-05-25 | 株式会社Roxy | 検査装置および検査方法並びにこれに用いるプログラム |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4607616B2 (ja) * | 2005-02-15 | 2011-01-05 | ヤマハ発動機株式会社 | 画像取得方法、画像取得装置、表面実装機、プリント配線板用はんだ印刷機、ウエハチップ供給装置、電子部品移載装置および電子部品用外観検査装置 |
JP2007240432A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Omron Corp | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
CN101063660B (zh) * | 2007-01-30 | 2011-07-13 | 蹇木伟 | 一种纺织品缺陷检测方法及其装置 |
JP5156452B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2013-03-06 | 東京エレクトロン株式会社 | 欠陥分類方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び欠陥分類装置 |
JP5260183B2 (ja) * | 2008-08-25 | 2013-08-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥検査方法及びその装置 |
JP5414416B2 (ja) * | 2008-09-24 | 2014-02-12 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置及び方法 |
US8223327B2 (en) * | 2009-01-26 | 2012-07-17 | Kla-Tencor Corp. | Systems and methods for detecting defects on a wafer |
KR101118210B1 (ko) * | 2009-03-12 | 2012-03-16 | 아주하이텍(주) | 인쇄회로기판의 외관 검사 시스템 및 방법 |
CN101644657B (zh) * | 2009-09-03 | 2011-03-23 | 浙江大学 | 大口径精密光学元件表面缺陷检测的旋转照明方法及装置 |
JP4726983B2 (ja) * | 2009-10-30 | 2011-07-20 | 住友化学株式会社 | 欠陥検査システム、並びに、それに用いる、欠陥検査用撮影装置、欠陥検査用画像処理装置、欠陥検査用画像処理プログラム、記録媒体、および欠陥検査用画像処理方法 |
CN102288613B (zh) * | 2011-05-11 | 2014-03-26 | 北京科技大学 | 一种灰度和深度信息融合的表面缺陷检测方法 |
JP5261540B2 (ja) * | 2011-06-24 | 2013-08-14 | シャープ株式会社 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
JP2013016909A (ja) * | 2011-06-30 | 2013-01-24 | Lintec Corp | 同期検波回路、受信装置及び検波方法 |
JP2015513135A (ja) * | 2012-02-01 | 2015-04-30 | エコエーティーエム,インク. | 電子デバイスのリサイクルのための方法および装置 |
CN103377373A (zh) * | 2012-04-25 | 2013-10-30 | 佳能株式会社 | 图像特征产生方法及设备、分类器、系统和捕获设备 |
TWI608230B (zh) * | 2013-01-30 | 2017-12-11 | 住友化學股份有限公司 | 圖像產生裝置、缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法 |
JP6351271B2 (ja) * | 2014-01-17 | 2018-07-04 | オリンパス株式会社 | 画像合成装置、画像合成方法、およびプログラム |
-
2016
- 2016-03-28 JP JP2016064128A patent/JP2017049974A/ja active Pending
- 2016-08-31 CN CN201610792290.7A patent/CN106503724A/zh active Pending