JP2017049974A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2017049974A5
JP2017049974A5 JP2016064128A JP2016064128A JP2017049974A5 JP 2017049974 A5 JP2017049974 A5 JP 2017049974A5 JP 2016064128 A JP2016064128 A JP 2016064128A JP 2016064128 A JP2016064128 A JP 2016064128A JP 2017049974 A5 JP2017049974 A5 JP 2017049974A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
images
feature
quality
whose appearance
feature amounts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016064128A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2017049974A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to US15/232,700 priority Critical patent/US20170069075A1/en
Priority to CN201610792290.7A priority patent/CN106503724A/zh
Publication of JP2017049974A publication Critical patent/JP2017049974A/ja
Publication of JP2017049974A5 publication Critical patent/JP2017049974A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2016064128A 2015-09-04 2016-03-28 識別器生成装置、良否判定方法、およびプログラム Pending JP2017049974A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/232,700 US20170069075A1 (en) 2015-09-04 2016-08-09 Classifier generation apparatus, defective/non-defective determination method, and program
CN201610792290.7A CN106503724A (zh) 2015-09-04 2016-08-31 分类器生成装置、有缺陷/无缺陷确定装置和方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015174899 2015-09-04
JP2015174899 2015-09-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017049974A JP2017049974A (ja) 2017-03-09
JP2017049974A5 true JP2017049974A5 (enrdf_load_stackoverflow) 2019-05-09

Family

ID=58279856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016064128A Pending JP2017049974A (ja) 2015-09-04 2016-03-28 識別器生成装置、良否判定方法、およびプログラム

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2017049974A (enrdf_load_stackoverflow)
CN (1) CN106503724A (enrdf_load_stackoverflow)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109685756A (zh) * 2017-10-16 2019-04-26 乐达创意科技有限公司 影像特征自动辨识装置、系统及方法
JP6955211B2 (ja) * 2017-12-14 2021-10-27 オムロン株式会社 識別装置、識別方法及びプログラム
JP7054436B2 (ja) 2017-12-14 2022-04-14 オムロン株式会社 検出システム、情報処理装置、評価方法及びプログラム
EP3762794B1 (en) 2018-03-05 2025-07-16 Omron Corporation Method, device, system and program for setting lighting condition and storage medium
CN111712769B (zh) * 2018-03-06 2023-08-01 欧姆龙株式会社 用于设定照明条件的方法、装置、系统以及存储介质
JP7015001B2 (ja) 2018-03-14 2022-02-02 オムロン株式会社 欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びそのプログラム
WO2020036082A1 (ja) * 2018-08-15 2020-02-20 味の素株式会社 検査装置、検査方法および検査プログラム
JP6795562B2 (ja) 2018-09-12 2020-12-02 ファナック株式会社 検査装置及び機械学習方法
JP6823025B2 (ja) 2018-09-12 2021-01-27 ファナック株式会社 検査装置及び機械学習方法
JP6780682B2 (ja) * 2018-09-20 2020-11-04 日本電気株式会社 情報取得システム、制御装置及び情報取得方法
CN109598605B (zh) * 2018-11-26 2020-05-12 格锐普惠(北京)金融服务外包有限公司 一种基于实体抵押物的远程智能评估及贷款自助系统
JP7119949B2 (ja) * 2018-11-28 2022-08-17 セイコーエプソン株式会社 判定装置及び判定方法
CN109817267B (zh) * 2018-12-17 2021-02-26 武汉忆数存储技术有限公司 一种基于深度学习的闪存寿命预测方法、系统及计算机可读存取介质
JP7075056B2 (ja) * 2018-12-27 2022-05-25 オムロン株式会社 画像判定装置、画像判定方法及び画像判定プログラム
JP7130190B2 (ja) 2018-12-27 2022-09-05 オムロン株式会社 画像判定装置、学習方法及び画像判定プログラム
JP7075057B2 (ja) 2018-12-27 2022-05-25 オムロン株式会社 画像判定装置、画像判定方法及び画像判定プログラム
JP6869490B2 (ja) 2018-12-28 2021-05-12 オムロン株式会社 欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びそのプログラム
JP7401995B2 (ja) * 2019-08-26 2023-12-20 株式会社 ゼンショーホールディングス 載置状態管理装置、載置状態管理方法及び載置状態管理プログラム
JP7225416B2 (ja) * 2019-08-27 2023-02-20 富士フイルム富山化学株式会社 画像処理装置、携帯端末、画像処理方法及びプログラム
CN110738237A (zh) * 2019-09-16 2020-01-31 深圳新视智科技术有限公司 缺陷分类的方法、装置、计算机设备和存储介质
JP7342616B2 (ja) 2019-10-29 2023-09-12 オムロン株式会社 画像処理システム、設定方法およびプログラム
JP7397404B2 (ja) * 2020-02-07 2023-12-13 オムロン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム
CN111507945B (zh) * 2020-03-31 2022-08-16 成都数之联科技股份有限公司 一种使用无缺陷图训练深度学习缺陷检测模型的方法
JP7681423B2 (ja) * 2020-07-17 2025-05-22 株式会社フジクラ 検査装置、検査方法、検査プログラム、機械学習装置、機械学習方法、機械学習プログラム、及び、構造体の製造方法
WO2022130814A1 (ja) * 2020-12-16 2022-06-23 コニカミノルタ株式会社 指標選択装置、情報処理装置、情報処理システム、検査装置、検査システム、指標選択方法、および指標選択プログラム
WO2022153743A1 (ja) * 2021-01-15 2022-07-21 パナソニックIpマネジメント株式会社 判定システム、判定方法及びプログラム
CN113933294B (zh) * 2021-11-08 2023-07-18 中国联合网络通信集团有限公司 浓度检测方法及装置
WO2023089846A1 (ja) * 2021-11-22 2023-05-25 株式会社Roxy 検査装置および検査方法並びにこれに用いるプログラム

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4607616B2 (ja) * 2005-02-15 2011-01-05 ヤマハ発動機株式会社 画像取得方法、画像取得装置、表面実装機、プリント配線板用はんだ印刷機、ウエハチップ供給装置、電子部品移載装置および電子部品用外観検査装置
JP2007240432A (ja) * 2006-03-10 2007-09-20 Omron Corp 欠陥検査装置および欠陥検査方法
CN101063660B (zh) * 2007-01-30 2011-07-13 蹇木伟 一种纺织品缺陷检测方法及其装置
JP5156452B2 (ja) * 2008-03-27 2013-03-06 東京エレクトロン株式会社 欠陥分類方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び欠陥分類装置
JP5260183B2 (ja) * 2008-08-25 2013-08-14 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法及びその装置
JP5414416B2 (ja) * 2008-09-24 2014-02-12 キヤノン株式会社 情報処理装置及び方法
US8223327B2 (en) * 2009-01-26 2012-07-17 Kla-Tencor Corp. Systems and methods for detecting defects on a wafer
KR101118210B1 (ko) * 2009-03-12 2012-03-16 아주하이텍(주) 인쇄회로기판의 외관 검사 시스템 및 방법
CN101644657B (zh) * 2009-09-03 2011-03-23 浙江大学 大口径精密光学元件表面缺陷检测的旋转照明方法及装置
JP4726983B2 (ja) * 2009-10-30 2011-07-20 住友化学株式会社 欠陥検査システム、並びに、それに用いる、欠陥検査用撮影装置、欠陥検査用画像処理装置、欠陥検査用画像処理プログラム、記録媒体、および欠陥検査用画像処理方法
CN102288613B (zh) * 2011-05-11 2014-03-26 北京科技大学 一种灰度和深度信息融合的表面缺陷检测方法
JP5261540B2 (ja) * 2011-06-24 2013-08-14 シャープ株式会社 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2013016909A (ja) * 2011-06-30 2013-01-24 Lintec Corp 同期検波回路、受信装置及び検波方法
JP2015513135A (ja) * 2012-02-01 2015-04-30 エコエーティーエム,インク. 電子デバイスのリサイクルのための方法および装置
CN103377373A (zh) * 2012-04-25 2013-10-30 佳能株式会社 图像特征产生方法及设备、分类器、系统和捕获设备
TWI608230B (zh) * 2013-01-30 2017-12-11 住友化學股份有限公司 圖像產生裝置、缺陷檢查裝置及缺陷檢查方法
JP6351271B2 (ja) * 2014-01-17 2018-07-04 オリンパス株式会社 画像合成装置、画像合成方法、およびプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2017049974A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2015219603A5 (enrdf_load_stackoverflow)
Anandan et al. Fabric defect detection using discrete curvelet transform
JP2019012426A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2014138691A5 (ja) 画像処理装置、電子機器、内視鏡装置、プログラム及び画像処理装置の作動方法
RU2017143919A (ru) Устройство и способ для измерения параметров движения мяча
JP2019134269A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2018004310A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2019036790A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2014029287A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2015197745A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2014137756A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2012195668A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2018071994A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2019045991A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2017150878A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2018101982A5 (ja) 画像処理方法、画像処理装置、プログラム、および記録媒体
JP2018068748A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2019159593A5 (ja) 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
CN107529963A (zh) 图像处理装置、图像处理方法和图像处理程序
CN107451608B (zh) 基于多视幅度统计特性的sar图像无参考质量评价方法
JP2013176468A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2016127342A5 (enrdf_load_stackoverflow)
JP2018006981A5 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム
JP2019040229A5 (enrdf_load_stackoverflow)