JP2017004588A - 誤り訂正能力をテストするための回路および方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】回路100は、入力データワードを受け取るための入力インタフェース110を備えている。回路はさらに、変更されたデータワードを得るためにテストデータワードの1ビットまたは複数ビットを操作するためのデータマニピュレータ120も備えている。テストデータワードは、入力データワードであるか、または入力データワードから導出されたものである。さらに、回路の誤り訂正部130は、変更されたデータワードも処理する。また、誤り訂正部130による変更されたデータワードの処理に依存して当該誤り訂正部130の誤り訂正能力の正確性を評価するための評価部140も備えている。
【選択図】図1
Description
メモリの各部分がエラーフリーであることを確認するため、予め各部分をテストしておかなければならない。本来的にエラーフリーであると想定されるメモリ部分は、テスト符号に用いることができない。というのも、これを使用すると、誤り訂正符号の機能を評価するために、予測される1ビット誤りおよび2ビット誤りの正確な情報が使用できなくなるからである。
・入力インタフェースによって入力データワードを受け取るステップと、
・データマニピュレータによって、変更されたデータワードを得るために、上述の入力データワードであるかまたは当該入力データワードから導出されたものであるテストデータワードの1ビットまたは複数ビットを操作するステップと、
・前記誤り訂正部によって前記変更されたデータワードを処理するステップと、
・評価部によって、誤り訂正部による変更されたデータワードの処理に依存して当該誤り訂正部の誤り訂正能力の正確性を評価するステップと
を有する。
複数の実施形態では、誤りを有する2重プログラミングが必須ではなくなるので、不揮発性のメモリの誤り訂正符号機能性も動作中にチェックすることができる。
誤り訂正が機能しているか否かをチェックするため、強制的障害を用いる。
Claims (22)
- データの誤り訂正を行うための回路(100)であって、
前記回路(100)は、前記回路(100)の誤り訂正部(130)の誤り訂正能力の正確性のチェックを行い、
前記回路(100)は、
入力データワードを受け取るための入力インタフェース(110)と、
前記入力データワードであるかまたは前記入力データワードから導出されたものであるテストデータワードの1ビットまたは複数ビットを操作し、変更されたデータワードを取得するためのデータマニピュレータ(120)と、
前記変更されたデータワードを処理する前記誤り訂正部(130)と、
前記誤り訂正部(130)による前記変更されたデータワードの処理に依存して前記誤り訂正部(130)の誤り訂正能力の正確性を評価するための評価部(140)と、
を有することを特徴とする回路(100)。 - 前記誤り訂正部(130)は、前記変更されたデータワードが誤りを有するか否かをチェックしてフラグにより示すように構成されており、
前記評価部(140)は、前記誤り訂正部(130)により行われた、前記変更されたデータワードが誤りを有するか否かのチェックの結果に依存して、前記誤り訂正部(130)の誤り訂正能力の正確性を評価するように構成されている、
請求項1記載の回路(100)。 - 前記誤り訂正部(130)は、前記変更されたデータワードが誤りを有するか否かをチェックするように構成されており、
前記変更されたデータワードが誤りを有すると前記誤り訂正部(130)が判断した場合、前記誤り訂正部(130)は、訂正されたデータワードを得るべく前記変更されたデータワードを訂正するように構成されており、
前記評価部(140)は、前記訂正されたデータワードが、予測されたデータワードと等しいか否かを判断するように構成されており、
前記訂正されたデータワードが前記予測されたデータワードと異なる場合、前記評価部(140)は、前記誤り訂正部(130)の誤り訂正能力が不正確であると判断するように構成されている、
請求項1または2記載の回路(100)。 - 前記誤り訂正部(130)は、前記変更されたデータワードが誤りを有するか否かをチェックするように構成されており、
前記変更されたデータワードが誤りを有すると前記誤り訂正部(130)が判断した場合、前記誤り訂正部(130)は、ユーザデータビットおよび誤り訂正ビットを含む訂正されたデータワードを得るべく、前記変更されたデータワードを訂正するように構成されており、
前記評価部(140)は、前記訂正されたデータワードの前記ユーザデータビットと、前記訂正されたデータワードの前記誤り訂正ビットと、に依存して、前記訂正されたデータワードが誤りを有するか否かを判断するように構成されており、
前記訂正されたデータワードが誤りを有する場合、前記評価部(140)は、前記誤り訂正部(130)の誤り訂正能力が不正確であると判断するように構成されている、
請求項1または2記載の回路(100)。 - 前記誤り訂正部(130)は、前記入力インタフェース(110)から前記入力データワードを受け取るように設けられており、
前記誤り訂正部(130)は、前記入力データワードが誤りを有するか否かをチェックするように構成されており、
前記入力データワードが誤りを有すると前記誤り訂正部(130)が判断した場合、前記誤り訂正部(130)は、事前訂正されたデータワードを得るべく前記入力データワードを訂正するように構成されており、かつ、前記事前訂正されたデータワードを前記テストデータワードとして前記データマニピュレータ(120)へ供給するように構成されており、
前記入力データワードが誤りを有しないと前記誤り訂正部(130)が判断した場合、前記誤り訂正部(130)は、前記入力データワードを前記テストデータワードとして前記データマニピュレータ(120)へ供給するように構成されている、
請求項1から4までのいずれか1項記載の回路(100)。 - 前記回路(100)は、通常動作モードをアクティベートするためのモード切替器(150)をさらに備えており、
前記通常動作モードがアクティベートされている場合、前記モード切替器(150)が前記データマニピュレータ(120)および前記評価部(140)をディアクティベートすることにより、前記通常動作モードがアクティベートされているときに前記データマニピュレータ(120)が前記テストデータワードの1ビットまたは複数ビットを操作しないよう、かつ、前記通常動作モードがアクティベートされているときに前記評価部(140)が前記誤り訂正部(130)の誤り訂正能力の正確性を評価しないようにするよう、構成されている、
請求項1から5までのいずれか1項記載の回路(100)。 - 前記回路(100)は、ユーザインタフェース(160)をさらに有し、
前記ユーザインタフェース(160)は、ユーザが前記テストデータワードのうち操作対象の1ビットまたは複数ビットを指定できるように構成されており、
前記データマニピュレータ(120)は、前記テストデータワードのうち前記ユーザによって前記ユーザインタフェース(160)を介して指定された前記1ビットまたは複数ビットを操作するように構成されている、
請求項1から6までのいずれか1項記載の回路(100)。 - 前記テストデータワードは、誤り訂正用の誤り訂正ビットとユーザデータビットとを含み、
前記データマニピュレータ(120)は、前記テストデータワードの前記誤り訂正ビットの少なくとも1ビットを操作するように構成されている、
請求項1から6までのいずれか1項記載の回路(100)。 - 前記回路(100)は、ユーザが前記テストデータワードの前記誤り訂正ビットの前記少なくとも1ビットを指定できるように構成されたユーザインタフェース(160)をさらに有し、
前記データマニピュレータ(120)は、前記テストデータワードの前記誤り訂正ビットのうち前記ユーザによって前記ユーザインタフェース(160)を介して指定された前記少なくとも1ビットを操作するように構成されている、
請求項8記載の回路(100)。 - 前記テストデータワードは、前記ユーザデータビットと、前記誤り訂正ビットと、メモリ(200)内における前記ユーザデータビットの位置を特定するためのアドレスビットと、を含み、
前記データマニピュレータ(120)は、前記テストデータワードの前記アドレスビットの少なくとも1ビットを操作するように構成されている、
請求項8または9記載の回路(100)。 - 前記回路(100)は、ユーザが前記テストデータワードの前記アドレスビットの前記少なくとも1ビットを指定できるように構成されたユーザインタフェース(160)をさらに有し、
前記データマニピュレータ(120)は、前記テストデータワードの前記アドレスビットのうち前記ユーザによって前記ユーザインタフェース(160)を介して指定された前記少なくとも1ビットを操作するように構成されている、
請求項10記載の回路(100)。 - 前記回路(100)は、メモリ(170)をさらに備えており、
前記入力インタフェース(110)は、前記メモリ(170)から前記入力データワードをロードするように構成されている、
請求項1から9までのいずれか1項記載の回路(100)。 - 前記回路(100)は、請求項10に記載のメモリ(200)をさらに備えており、
前記入力インタフェース(110)は、前記メモリ(200)から前記入力データワードをロードするように構成されている、
請求項10または11記載の回路(100)。 - 前記メモリ(170;200)は、フラッシュメモリである、
請求項12または13記載の回路(100)。 - 前記誤り訂正部(130)の誤り訂正が不正確であることを前記評価部(140)が検出した場合、前記評価部(140)が前記回路(100)をディアクティベートするように、または警報もしくは警告メッセージを出力するように構成されている、
請求項1から14までのいずれか1項記載の回路(100)。 - 前記データマニピュレータ(120)は、2つ以上の変更されたデータワードの各変更されたデータワードが、前記2つ以上の変更されたデータワードの他の各変更されたデータワードとは相違するように、前記2つ以上のデータワードのうちいずれかである前記2つ以上の変更されたデータワードを生成すべく構成されており、
前記データマニピュレータ(120)は、前記2つ以上の各変更されたデータワードを、前記テストデータワードの少なくとも1ビットの変更により生成するように構成されており、
前記2つ以上の変更されたデータワードの各変更されたデータワードごとに、前記誤り訂正部(130)は、前記変更されたデータワードが誤りを有するか否かをチェックするように構成されており、
前記評価部(140)は、前記2つ以上の変更されたデータワードのチェックの結果に依存して、前記誤り訂正部(130)の誤り訂正能力の正確性を評価するように構成されている、
請求項1から15までのいずれか1項記載の回路(100)。 - 前記評価部(140)は、前記2つ以上の変更されたデータワードのうち前記誤り訂正部が誤りを有すると判定した数を示す、誤りを有するワード数を特定するように構成されており、
前記評価部(140)は、前記誤りを有するワード数が、前記2つ以上の変更されたデータワードのうち実際に誤りを有する数を示す予測された誤り数と等しいか否かを判断するように構成されている、
請求項16記載の回路(100)。 - 前記データマニピュレータ(120)は、前記2つ以上の各変更されたデータワードを、前記テストデータワードのちょうど1ビットの変更により生成するように構成されている、
請求項16または17記載の回路(100)。 - 前記データマニピュレータ(120)は、前記2つ以上の各変更されたデータワードを、前記テストデータワードのちょうど2ビットの変更により生成するように構成されている、
請求項16または17記載の回路(100)。 - 前記データマニピュレータ(120)は、XOR回路要素(122)と、他の回路要素(124)と、ビットレジスタ(126)と、を備えており、
前記ビットレジスタ(126)は、前記テストデータワードの各ビット位置ごとにビットを有し、
前記2つ以上の変更されたデータワードのうち第1の変更されたデータワードを生成するために反転すべき、前記テストデータワードのビット位置に割り当てられた、前記ビットレジスタ(126)内の各ビットが、前記ビットレジスタ(126)内にて第1のビット値を示すように、前記ビットレジスタ(126)は構成されており、
前記第1の変更されたデータワードを生成するために反転すべきでない、前記テストデータワードのビット位置に割り当てられた、前記ビットレジスタ(126)内の各ビットが、前記ビットレジスタ(126)内にて、第1のビット値とは異なる第2のビット値を示すように、前記ビットレジスタ(126)が構成されており、
前記XOR回路要素(122)は、前記テストデータワードを第1の入力として受け取るように配置されており、
前記XOR回路要素(122)は、前記2つ以上の変更されたデータワードの前記第1の変更されたデータワードを生成するための元の第2の入力として、前記ビットレジスタ(126)内のビットのビット値を受け取るように配置されており、
前記第1の変更されたデータワードが生成された後、前記他の回路要素(124)は、前記ビットレジスタ(126)内のビットの更新されたビット値を得るために、前記ビットレジスタ(126)内のビットのビット値を1ビット位置ずつシフトまたは回転させるように構成されており、
前記XOR回路要素(122)は、前記2つ以上の変更されたデータワードの第2の変更されたデータワードを生成するための更新された第2の入力として、前記ビットレジスタ(126)内のビットの前記更新されたビット値を受け取るように配置されている、
請求項16から19までのいずれか1項記載の回路(100)。 - データの誤り訂正と、誤り訂正部の誤り訂正能力の正確性のチェックと、を行う方法であって、
入力インタフェースによって入力データワードを受け取るステップと、
データマニピュレータによって、前記入力データワードであるかまたは前記入力データワードから導出されたものであるテストデータワードの1ビットまたは複数ビットを操作し、変更されたデータワードを取得するステップと、
前記誤り訂正部によって前記変更されたデータワードを処理するステップと、
評価部によって、前記誤り訂正部による前記変更されたデータワードの処理に依存して前記誤り訂正部の誤り訂正能力の正確性を評価するステップと、
を有することを特徴とする方法。 - コンピュータまたは信号プロセッサ上にて実行されるときに請求項21記載の方法を実施するためのコンピュータプログラム。
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