JP2016524041A - 金属材料を処理する製造ラインの焼鈍炉若しくは熱処理炉を開ループ制御及び/又は閉ループ制御する装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (23)
- 金属材料を処理する製造ライン(1)の焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)を開ループ制御及び/又は閉ループ制御する装置であって、前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)と、少なくとも一つの測定装置(7,8)とを備え、前記測定装置は、製造ライン(1)にあるストリップ材(6)の少なくとも一つの材料特性を検出し、前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)と、少なくとも一つの測定装置(7,8)とは、自動プロセス制御の閉ループ制御回路及び/又は開ループ制御回路内で協働し、前記回路が、炉の制御の範囲で前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)を閉ループ制御及び/又は開ループ制御する装置において、
前記少なくとも一つの測定装置(7,8)は、ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の下流に配置されており、前記ストリップ材(6)の機械的材料特性を再現し且つ/又は反映した測定値をオンラインで検出し、当該測定値を特に情報伝達信号として閉ループ制御ユニット及び/又は開ループ制御ユニット(18)に伝達することを特徴とする装置。 - 請求項1に記載の装置において、
前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)に後置された圧延スタンドやレベラースタンド(3,4)を備え、当該圧延スタンドやレベラースタンド(3,4)が、前記自動プロセス制御の前記閉ループ制御回路及び/又は開ループ制御回路内で前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)と協働するとともに前記少なくとも一つの測定装置(7,8)と協働することを特徴とする装置。 - 請求項2に記載の装置において、
前記少なくとも一つの測定装置(8)は、ストリップ処理方向(5)において前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の下流に配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項2に記載の装置において、
前記少なくとも一つの測定装置(7)は、ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の下流且つ前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の上流に配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項2又は3に記載の装置において、
前記少なくとも一つの測定装置(8)は、ストリップ材処理方向(5)において前記製造ライン(1)の最後の機械的な処理装置の下流に配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項2又は4に記載の装置において、
第一の測定装置(7)が、ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の下流且つ前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の上流に配置されており、第二の測定装置(8)が、前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の下流に配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項2,4,6のいずれか一項に記載の装置において、
第一の測定装置(7)が、ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の下流且つ前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の上流に配置されており、さらに他の測定装置(17)が、ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の上流に配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項2,3,5のいずれか一項に記載の装置において、
(第二の)測定装置(8)が、ストリップ材処理方向(5)において前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の下流に配置され、さらに他の測定装置(17)が、ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の上流に配置されていることを特徴とする装置。 - 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の装置において、
ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の下流に配置された前記第一の測定装置(7)及び/又はストリップ材処理方向において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉の上流に配置された他の測定装置(17)が、還元(9,12)により炉の制御に対して作用を及ぼすことを特徴とする装置。 - 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の装置において、
ストリップ材処理方向(5)において少なくとも一つの圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の下流か或いは一つの圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の下流に配置された前記の、特に第二の、測定装置(8)、及び/又は、ストリップ材処理方向(5)における前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の上流若しくは直ぐ下流に配置されている前記第一の若しくは他の測定装置(7,17)が、還元(10,11,13)により、前記炉の制御に対して作用を及ぼし且つ/又は前記少なくとも一つの或いは対応して設けられた圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の前記制御に対して作用を及ぼすことを特徴とする装置。 - 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の装置において、
前記少なくとも一つの測定装置(7,8)、好ましくは全ての測定装置(7,8,17)が、前記ストリップ材(6)の前記機械的材料特性を再現し且つ/又は反映した前記測定値を実時間オンライン測定により検出することを特徴とする装置。 - 請求項1乃至11のいずれか一項に記載の装置において、
前記ストリップ材(6)の前記機械的材料特性を再現し且つ/又は反映する前記測定値は、学習プロセスにおいて、前記閉ループ制御回路及び/又は開ループ制御回路に、特には前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の炉開ループ制御及び/又は炉閉ループ制御に還元されることを特徴とする装置。 - 請求項1乃至12のいずれか一項に記載の装置において、
前記閉ループ制御回路及び/又は開ループ制御回路は、その内部に再現された及び/又は格納された炉モデル制御を有することを特徴とする装置。 - 請求項1乃至13のいずれか一項に記載の装置において、
前記閉ループ制御回路及び/又は開ループ制御回路は、材料モデルを有することを特徴とする装置。 - 請求項1乃至14のいずれか一項に記載の装置において、
一又は二以上の炉パラメータが、前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の加熱領域及び/又は冷却領域におけるストリップ目標温度、当該ストリップ目標温度のプロセスウィンドウ、ストリップ速度、当該ストリップ速度のプロセスウィンドウ、炉温度、当該炉温度のプロセスウィンドウ、炉温度パターン、炉出力、冷却速度、冷却剤の供給、或いは冷却剤の種類の値のうち少なくとも一つを含むことを特徴とする装置。 - 請求項1乃至15のいずれか一項に記載の装置において、
前記少なくとも一つの測定装置(7,8)、好ましくは全ての測定装置(7,8,7)は、それぞれ、測定値として磁気的な量を検知する残留磁気計測器であることを特徴とする装置。 - 請求項1乃至16のいずれか一項に記載の装置において、
鋼材やアルミニウム材料のための連続的な焼鈍及び/又は亜鉛メッキラインの構成要素であることを特徴とする装置。 - 金属材料を処理する製造ライン(1)の焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)を開ループ制御及び/又は閉ループ制御する方法であって、前記製造ラインは、前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)、好ましくはストリップ材処理方向(5)において前記炉に後置された少なくとも一つの圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)、及び少なくとも一つの測定装置(7,8)を備え、当該測定装置は、製造ライン(1)にあるストリップ材(6)の少なくとも一つの材料特性を検出し、前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)、当該炉に後置された好ましくは既存の前記少なくとも一つの圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)、及び前記少なくとも一つの測定装置(7,8)は、自動プロセス制御の閉ループ制御回路及び/又は開ループ制御回路内で協働し、当該回路により、前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)が、炉の制御の範囲で開ループ制御され且つ/又は閉ループ制御される方法において、
前記少なくとも一つの測定装置(7,8)を用いてオンラインでストリップ材(6)の機械的材料特性を再現し且つ/又は反映した測定値が検出され、この測定値を特に情報伝達信号として閉ループ制御ユニット及び/又は開ループ制御ユニットに伝達されることを特徴とする方法。 - 請求項18に記載の方法において、
前記閉ループ制御回路及び/又は開ループ制御回路は、ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の下流或いは前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の下流に配置された測定装置(7,8)を用いて検出され且つ前記ストリップ材(6)の機械的材料特性を再現し且つ/又は反映した少なくとも一つの測定値により、前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の炉開ループ制御及び/又は炉閉ループ制御、及び/又は、前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の閉ループ制御及び/又は開ループ制御に対して還元により作用を及ぼすことを特徴とする方法。 - 請求項18又は19に記載の方法において、
ストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の下流且つ前記の又は一つの圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の上流に配置された第一の測定装置(7)、及びストリップ材処理方向(5)において前記圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の下流に配置された第二の測定装置(8)、及び/又はストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の上流に配置されたさらに他の測定装置(17)により、前記ストリップ材(6)の機械的材料特性を再現し且つ/又は反映した一つの測定値がオンラインでそれぞれ検出されるとともに前記閉ループ制御ユニット及び/又は開ループ制御ユニット(18)に伝達されることを特徴とする方法。 - 請求項18又は19に記載の方法において、
ストリップ材処理方向(5)において前記の又は一つの圧延スタンド及び/又はレベラースタンド(3,4)の下流に配置された(第二の)測定装置(8)、及びストリップ材処理方向(5)において前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の上流若しくは直ぐ下流に配置された第二の測定装置若しくはさらに他の測定装置(7,17)により、前記ストリップ材(6)の機械的材料特性を再現し且つ/又は反映する測定値がオンラインで検出されるとともに前記閉ループ制御ユニット(18)及び/又は開ループ制御ユニットに伝達されることを特徴とする方法。 - 請求項18乃至21のいずれか一項に記載の方法において、
前記ストリップ材(6)の機械的材料特性を再現し且つ/又は反映する測定値が、実時間オンライン測定により検出され且つ/又は学習プロセスにおいて前記閉ループ制御回路及び/又は開ループ制御回路に、特に前記焼鈍炉若しくは熱処理炉(2)の炉開ループ制御及び/又は炉閉ループ制御に対して還元されることを特徴とする方法。 - 請求項18乃至22のいずれか一項に記載の方法において、
請求項1乃至17のいずれか一項に記載の装置により実行されることを特徴とする方法。
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