JP2016511410A - プリント回路基板のテスト装置のクロスメンバユニット及びそのクロスメンバユニットを有するテスト装置 - Google Patents
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Abstract
Description
2 クロスメンバユニット
3 取り付け梁
3a,3b,3c 支持面
4 クロスメンバユニット(フレーム)
5 レール(リニアガイド)
5a 端ぐり穴
6 位置決めユニット
7 ステータユニット(リニア駆動ユニット)
8 テストフィンガ
9 クロスメンバ
9a ステータ位置付け面
9b 上縁
9c レール位置付け面
9d 段部
9e 穴
10 横材(接続片)
11 端部停止部
12 旋回ユニット
13 スライド(横断ユニット)
14 スペーサ
15 旋回アーム
16 針保持体
17 持ち上げユニット
18 ベースプレート
18a 取り付け面
19 滑りブロック
20 ロータユニット(リニア駆動ユニット)
21 位置エンコーダ
22 永久磁石
23 磁気テープ
24 テスト針(接触プローブ)
25 電機接続ユニット
26 ケーブル送りリール
27 検出ユニット
28 保持アーム
29 カメラモジュール
30 カメラ
30a 光軸
31 光ガイドユニット
32 鏡
32a 光軸
33 旋回アーム保持体
a 軸方向距離
b センサ距離
r フレーム間隔
w 走査幅
x,y,z 空間方向
x 長手方向(給送方向)
y 横断方向
z 鉛直方向
E テスト平面
P 走査点
S 旋回軸
参照番号及び符号の上記リストは、明細書の一体的な部分である。
Claims (14)
- プリント回路基板のテスト装置(1)のクロスメンバユニット(2)であって、
テストされるプリント回路基板を配置することができるテスト場にわたる少なくとも1つのクロスメンバ(9)を有し、テストフィンガ(8)の位置決めユニット(6)を直線的に横断可能に保持するように設計されており、それによって、前記テストフィンガ(8)は前記テスト場の少なくとも一部を走査することが可能であり、前記クロスメンバユニット(2)は中実ユニットを形成する三次元形状を有し、
前記クロスメンバユニット(2)は、各場合に前記位置決めユニット(6)のうちの少なくとも1つをガイドするように、少なくとも2つのリニアガイド(5)を互いに独立して保持するように設計されていることを特徴とするクロスメンバユニット。 - 前記リニアガイド(5)は各クロスメンバ(9)の側面に設けられることを特徴とする、請求項1に記載のクロスメンバユニット。
- 前記クロスメンバ(9)のうちの少なくとも1つは2つのリニアガイド(5)を有し、該2つのリニアガイド(5)は互いに平行に延びることを特徴とする、請求項1または2に記載のクロスメンバユニット。
- 前記クロスメンバユニット(2)は、前記テスト場にわたる少なくとも2つのクロスメンバ(9)を有し、該2つ以上のクロスメンバ(9)のそれぞれは、前記リニアガイド(5)のうちの少なくとも1つを有し、前記2つ以上のクロスメンバ(9)は好ましくは、互いに平行に延びることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載のクロスメンバユニット。
- 前記2つ以上のクロスメンバ(9)のうち、少なくとも1つは前記テスト場のテスト場平面(E)の一方の側に延び、少なくとも1つは前記テスト場平面(E)の他方の側に延びることを特徴とする、請求項4に記載のクロスメンバユニット。
- 前記2つ以上のクロスメンバ(9)は、好ましくは一体片の少なくとも実質的に矩形のパターンの環状の形状(4)を形成するように接続片(10)によって接合されるちょうど2つのクロスメンバ(9)であり、それによって、前記クロスメンバユニット(2)は、前記2つのクロスメンバ(9)間に前記テスト場が位置するように前記テスト場にわたることを特徴とする、請求項5に記載のクロスメンバユニット。
- 前記クロスメンバユニット(2)は、前記テスト装置(1)のスタンド(3)の規定の接続点(3a、3b、3c)において固定して取り付けられるように準備されることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一項に記載のクロスメンバユニット。
- 各位置決めユニット(6)は旋回ユニット(12)及び横断ユニット(13)を有し、各テストフィンガ(8)は、関連する位置決めユニット(6)の前記旋回ユニット(12)に接合される旋回アーム(15)と、該旋回アーム(15)に締結されるテストプローブ(24)とを有し、各横断ユニット(13)は、前記リニアガイド(5)のうちの1つに取り付けられ、駆動ユニット(7、20)によって横断させることができ、前記リニアガイド(5)は前記クロスメンバユニット(2)に取り付けられることを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載のクロスメンバユニット。
- それぞれの前記リニアガイド(5)からの前記位置決めユニット(6)の前記旋回ユニット(12)の旋回軸(A)の軸方向距離(a)、及び/又は、特定の位置決めユニット(6)の前記旋回ユニット(12)の前記旋回軸(A)からのテストプローブ(24)のプローブ距離(b)は変更可能であり、前記軸方向距離(a)及び/又は前記プローブ距離(b)は、規定のステップで好ましくは変更可能であることを特徴とする、請求項8に記載のクロスメンバユニット。
- 前記位置決めユニット(6)の2つの構造要素の接続面(12a、18a)は、前記軸方向距離(a)を変更する境界面として設計され、好ましくは規定の厚さのスペーサ(14)を装着し、前記接続面(12a、18a)間の前記軸方向距離(a)を変更できることを特徴とする、請求項9に記載のクロスメンバユニット。
- 前記プローブ距離(b)を変更する、異なる長さの旋回アーム(15)が設けられ、該旋回アームは、前記旋回軸(A)と前記テストプローブ(24)との間に取り付けることができることを特徴とする、請求項9または10に記載のクロスメンバユニット。
- 前記プローブ距離(b)は、それぞれの前記軸方向距離(a)に適合させることができ、特に、前記軸方向距離(a)を固定するスペーサ(14)及び前記プローブ距離(b)を固定する旋回アーム(15)に、合致するスペーサ厚さ及び旋回アーム長さがそれぞれ設けられることを特徴とする、請求項11に記載のクロスメンバユニット。
- テストフィンガ(8)を用いるプリント回路基板のテスト装置(1)であって、
前記テストフィンガ(8)は、テストされるプリント回路基板を位置決めすることができるテスト場を前記テストフィンガ(8)によって走査することができるように取り付けられるとともに横断可能であり、
前記テスト装置(1)は、請求項1〜12のいずれか一項に記載の少なくとも1つのクロスメンバユニット(2)を有することを特徴とするテスト装置。 - 前記テスト装置(1)は、静止したスタンド(3)を有し、該スタンド(3)は、前記テスト場に対して異なる位置への前記クロスメンバユニット(2)の締結を容易にする複数の接続点(3a、3b、3c)を有することを特徴とする、請求項13に記載のテスト装置。
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