JP2016183916A - Dnaチップ画像のスポット有効性判定装置、dnaチップ画像のスポット有効性判定方法、及びdnaチップ画像のスポット有効性判定プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プローブが固定化されたDNAチップにおいて、標識された被検査物がプローブに結合された状態で、DNAチップを撮影して得られるDNAチップ画像のスポット有効性判定装置であり、画像の二値化処理に用いられる閾値として、DNAチップ画像の輝度の全体に分布する複数の閾値を用いて、DNAチップ画像から複数の二値化画像を作成する多段階二値化処理部と、二値化画像におけるスポットの形状及び位置を検出するスポット形状及び位置検出部と、スポット形状及び位置検出部により検出されたスポットの形状及び位置の良否を判定するスポット形状及び位置判定部を備える。
【選択図】図6
Description
この標識の検出は、増幅産物がプローブに結合したDNAチップを撮影して、得られたDNAチップ画像におけるスポットを検出することによって行われる。すなわち、DNAチップ画像のスポットは、増幅産物の標識に対応して画像上に現れる。
ところが、従来、DNAチップ上にゴミが存在すると、ゴミをスポットとして誤検出してしまうことがあるという問題があった。
また、DNAチップの製造上の問題や、あるいはDNAチップを用いた検査作業中にチップ表面に触れてしまったりすることなどにより、本来はスポットが形成されない場合において、ムラや形状異常のある擬似的なスポットが発生し、これがスポットとして誤検出されてしまうことがあるという問題があった。
この解析方法では、検出エリアを有するテンプレートを蛍光画像のスポットにあてはめ、検出エリアにおいて枠をnピクセルずつジャンプさせながら輝度を測定し、各検出エリアにおいて輝度が検出された枠から上下各nピクセル、左右各nピクセルのブロック内にある枠について輝度を測定することにより、スポットの有無の判定が行われている。
また、DNAチップの製造上又は検査作業中の問題で、ムラや形状異常のあるスポットが発生した場合に、その誤検出を有効に排除可能なものでもなかった。
しかしながら、この特許文献4に記載の技術も、ゴミがスポットとして誤検出されることや、ムラや形状異常のあるスポットによる誤検出を防止し得るものではなかった。
また、本実施形態のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置は、スポット形状及び位置検出部により検出されたスポットにおける輝度のムラを検出する輝度ムラ検出部と、輝度ムラ検出部により検出された輝度のムラの良否を判定する輝度ムラ判定部とをさらに備えたものとすることも好ましい。
さらに、本実施形態のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置は、スポット形状及び位置検出部により検出されたスポットにおけるS/N比値を算出するS/N比算出部と、S/N比算出部により算出されたS/N比値の良否を判定するS/N比判定部とをさらに備えたものとすることも好ましい。
また、本実施形態のDNAチップ画像のスポット有効性判定方法は、検出されたスポットにおける輝度のムラを検出するステップと、検出された輝度のムラの良否を判定するステップとをさらに備えたものとすることも好ましい。
また、本実施形態のDNAチップ画像のスポット有効性判定プログラムは、コンピュータに、検出されたスポットにおける輝度のムラを検出させ、検出された輝度のムラの良否を判定させるものとすることも好ましい。
このように、「スポット」の用語には、一般的に、「DNAチップ上に形成されたスポット」と、「DNAチップ画像に現れたスポット」の2つの意味があるが、本実施形態において、単に「スポット」と称する場合は、「DNAチップ画像に現れたスポット」を意味するものとして用いている。
本実施形態において、単に「スポット」と称する場合は、基準スポットと通常スポットの両方を含む意味として用いている。
すなわち、本実施形態における二値化処理は、DNAチップ画像の輝度の全体に分布する複数の閾値を用いて、複数の二値化画像を作成可能な点に特徴がある。
また、スポット形状及び位置検出部103は、スポットの形状として、スポットの円形度及び大きさを検出し、スポットの位置として、スポットの中心位置を検出することができる。
具体的には、二値化画像において、スポットの形状及び位置の検出処理を行う一定範囲に対してラスタスキャンを行い、縦、横、斜め方向に連続している部分を同じラベルにする8連結ラベリング処理を行って、同じラベルで示されたピクセル(pixel)にもとづきスポットを検出し、そのピクセル数を面積S(大きさ)として取得することができる。また、外側のピクセルを線で繋いだ長さを周囲長Lとして、4πS/L2の式により円形度を得ることができる。また、同じラベルで示されたピクセルの全ての座標の平均値を算出し、これを中心位置として取得することができる。
また、通常スポットについては、後述する通常スポット位置推定部110によって推定され、通常スポットを探索する一定範囲として、DNAチップ画像のスポット有効性判定装置10に記憶させたものを用いることができる。
具体的には、例えば円形度が0.6以上、大きさが50ピクセル以上かつ300ピクセル以下、中心位置が推定された位置に対して半径10ピクセル以内の場合に、良好と判定することができる。このような場合、スポットの形状が異常ではなく、位置も良好と判定することができる。
ただし、本実施形態は、これらの数値に限定されるものではなく、判定基準は適宜変更することができる。特に、この具体例では単位としてピクセルを用いているところ、大きさと中心位置は、撮影に用いるカメラの画素数やレンズ倍率によって大きく変わるため、これらの数値はあくまでも参考として示したものである。
このようなズレが生じる主たる原因は、DNAチップの製造工程においてプローブをDNAチップにスポッティングする時、製造装置の機械精度とプローブを含む薬品の表面張力の状態によって、スポットの位置の精度が左右されることにある。
本実施形態によれば、スポットの中心位置を判定することによって、スポットの有効性を高い精度で判定することが可能になっている。
このとき、輝度ムラ検出部106は、DNAチップ画像入力部101により入力されたDNAチップ画像における当該スポットの輝度のムラを検出する。
また、輝度ムラ検出部106は、図3に示すように、スポットの大きさより小さい範囲を輝度解析範囲4として設定して、この解析範囲における輝度のムラを検出する。このように、解析範囲をスポットの大きさより小さい範囲にすることで、スポットにおける最も輝度の高い部分を検出対象とすることができ、安定した検出結果を得ることが可能となる。
まず、第一の輝度ムラ指標として、変動値(CV値)、すなわちスポットにおける輝度の標準偏差を輝度の平均値で割った値を用いることができる。
また、第二の輝度ムラ指標として、スポットにおける輝度から最小値、最大値、及び平均値を取得して、次の式(1)にもとづき算出した値を用いることができる。
(輝度の最大値−輝度の最小値)/輝度の平均値・・・式(1)
具体的には、例えば変動値が20以下の場合に、ムラがなく、良好であると判定できる。より好ましくは、変動値が15以下、さらに好ましくは10以下の場合に良好であると判定できる。
また、例えば第二の輝度ムラ指標が0.5以下の場合に、ムラがなく、良好であると判定できる。より好ましくは、第二の輝度ムラ指標が0.3以下の場合に良好であると判定できる。
このとき、S/N比算出部108は、DNAチップ画像入力部101により入力されたDNAチップ画像における当該スポットのS/N比値を算出する。
具体的には、S/N比算出部108は、スポットにおける輝度の中央値を取得すると共に、バッググラウンド値としてスポットの周辺における輝度の中央値を取得し、次の式(2)にもとづきS/N比値を算出することができる。
(輝度の中央値−バッググラウンド値)/バッググラウンド値・・・式(2)
バッググラウンド値は、例えば図3に示すように、スポットを囲む四角形におけるスポットの外側四隅を対象として、取得することができる。
具体的には、例えばS/N比値が3以上の場合に、良好であると判定することができる。ただし、S/N比値は、DNAチップの種類によって、閾値が変動するものであるため、DNAチップの種類毎に輝度が十分に検出できたと判定可能な値であれば良く、当該閾値に限定されないことは言うまでもない。
その方法は特に限定されないが、例えば検出された基準スポットの中心位置にもとづいて、通常スポットが配置されると想定される位置の座標(グリッド)を算出することにより行うことができる。
また、判定結果出力部111は、輝度ムラ判定部107による判定結果、及び/又は、S/N比判定部109による判定結果を出力することもできる。
さらに、判定結果出力部111は、これら全ての判定結果にもとづいて、スポットの有効性を判定する総合判定結果を出力することもできる。
判定結果の具体的な出力方法は、特に限定されないが、例えばDNAチップ画像のスポット有効性判定装置10に接続されたディスプレイなどの表示装置に出力することができる。
次に、基準スポットの検出処理が実行され(ステップ20)、次いで通常スポットの検出処理が実行され(ステップ30)、最後に判定結果出力部111により、スポットの有効性の判定結果が出力される(ステップ40)。
まず、多段階二値化処理部102が、DNAチップ画像に対して、二値化処理を実行して、二値化画像を作成する(ステップ200)。
そして、多段階二値化処理部102は、まずは最初の閾値を用いて、DNAチップ画像にもとづき最初の二値化画像を作成する。
例えば、図2に示される二値化処理1回目,閾値b1のDNAチップ画像1における一方の基準スポット2aを探索するための一定範囲2−1に対して、スポットの形状及び位置の検出処理が実行される。
基準スポットの円形度、大きさ、及び中心位置のいずれかが設定範囲内でなければ(ステップ202のNO)、全ての閾値に対応する、全ての二値化画像について、スポットの形状及び位置の検出処理が実行されたか否かを確認する(ステップ203)。
そして、全ての閾値に対応する、全ての二値化画像について、スポットの形状及び位置の検出処理が実行されていた場合(ステップ203のYES)、検出エラー処理部105により、エラー処理が実行される(ステップ204)。
したがって、この場合、二値化処理に用いられていない閾値がまだ存在している場合であっても、次の閾値を用いた二値化画像の作成、スポットの形状及び位置の検出並びに判定処理は行われない。すなわち、一つの二値化画像で基準スポットの形状又は位置が良好であると判定されると、以降は当該基準スポットについて二値化処理を行うことなく、次にその基準スポットの輝度に関する検出及び判定処理が行われる。
そして、輝度のムラが設定範囲内でなければ(ステップ206のNO)、検出エラー処理部105により、エラー処理が実行される(ステップ204)。
次に、S/N比判定部109により、S/N比値が、良好な範囲としてDNAチップ画像のスポット有効性判定装置10に予め記憶された設定範囲内にあるか否かが判定される(ステップ208)。
そして、S/N比値が設定範囲内でなければ(ステップ208のNO)、検出エラー処理部105により、エラー処理が実行される(ステップ204)。
そして、探索する基準スポットがまだ残っている場合(ステップ209のNO)、次の基準スポットについて、二値化画像の作成以降の処理を再度実行する(ステップ200〜209)。
最初に、通常スポット位置推定部110が、スポット形状及び位置検出部103によって検出された基準スポットの位置にもとづいて、DNAチップ画像における通常スポットの位置(座標)を推定する(ステップ300)。推定された通常スポットの位置は、DNAチップ画像のスポット有効性判定装置10に記憶され、各通常スポットについて、以下の処理が行われる。
多段階二値化処理部102は、基準スポットの検出処理の場合と同様に、まずは最初の閾値を用いて、DNAチップ画像にもとづき最初の二値化画像を作成する。
例えば、図2に示される二値化処理1回目,閾値b1のDNAチップ画像1における通常スポット3aを探索するための一定範囲3−1に対して、スポットの形状及び位置の検出処理が実行される。
通常スポットの円形度、大きさ、及び中心位置のいずれかが設定範囲内でなければ(ステップ303のNO)、全ての閾値に対応する、全ての二値化画像について、スポットの形状及び位置の検出処理が実行されたか否かを確認する(ステップ304)。
そして、全ての閾値に対応する、全ての二値化画像について、スポットの形状及び位置の検出処理が実行されていた場合(ステップ304のYES)、当該通常スポットの形状又は位置は良好でないと判定され、次に輝度のムラの検出処理が行われる(ステップ305)。
したがって、この場合、二値化処理に用いられていない閾値がまだ存在している場合であっても、次の閾値を用いた二値化画像の作成、スポットの形状及び位置の検出並びに判定処理は行われない。すなわち、一つの二値化画像で通常スポットの形状又は位置が良好であると判定されると、以降は当該通常スポットについて二値化処理を行うことなく、次にその通常スポットの輝度に関する検出及び判定処理が行われる。
そして、S/N比判定部109により、S/N比値が、良好な範囲としてDNAチップ画像のスポット有効性判定装置10に予め記憶された設定範囲内にあるか否かが判定される(ステップ308)。なお、この場合も、前述の通り、基準スポットの場合と異なり、通常スポットについては、S/N比値が良好でないと判定されてもエラー処理は行わない。
全ての基準スポットについて探索が終了した場合(ステップ309のYES)、判定結果出力部111によって、判定結果の出力処理を実行する(ステップ40)。
この判定結果は、判定結果出力部111によって、DNAチップ画像のスポット有効性判定装置10のディスプレイに出力したり、あるいはプリンターから帳票として出力することなどが可能である。
例えば、図5,6に示すフローチャートでは、各種検出処理の後、直ちにその判定処理を行っているが、判定処理を判定結果出力処理の前にまとめて実行してもよい。
具体的には、輝度のムラの検出とS/N比値の検出の両方を先に行った後に、輝度のムラとS/N比値の判定を行うようにすることができる。また、多段階二値化処理によって、最初に全ての閾値の二値化画像を作成して、スポットの形状及び位置の検出を行い、その判定を輝度のムラとS/N比値の判定と共に行うようにすることも可能である。
したがって、特定の最適な閾値を考慮することなく、スポットの形状及び位置の検出並びに判定を高い精度で行うことが可能となっている。
また、スポットの輝度のムラとS/N比値が良好であるか否かの判定を併せて行うことができるため、スポットの有効性の判定精度をより向上させることが可能になっている。
実施例1〜4のスポットは、スポットの形状及び位置、輝度のムラ、S/N比値が全て良好であり、いずれも正常なものである。
また、比較例1,5のスポットは、変形したものであり、比較例2のスポットは、中心位置がずれたものであり、比較例3のスポットは、輝度にムラがあり、比較例4のスポットは、S/N比値が小さいものである。
一方、比較例1は、S/N比値以外の全ての結果が良好でないと判定され、総合判定として有効なものでないと判定された。
また、比較例2は、中心位置と輝度ムラが良好でないと判定され、総合判定として有効なものでないと判定された。
また、比較例4は、円形度、大きさ、中心位置及びS/N比値が良好でないと判定され、総合判定として有効なものでないと判定された。
また、比較例5は、円形度、大きさ、及び中心位置が良好でないと判定され、総合判定として有効なものでないと判定された。
例えば、図1のブロック図に示される各構成をまとめたり、あるいはより詳細な機能毎に分割したりすることが可能である。また、本発明を、基準スポットを備えていないDNAチップに適用するために、図4〜6から基準スポットの検出処理を省略し、通常スポットの推定位置を予めDNAチップ画像のスポット有効性判定装置に記憶させて実行するものとするなど適宜変更することが可能である。
2(2−1,2−2,・・・) 基準スポットの探索範囲
2a 基準スポット
3(3−1,3−2,・・・) 通常スポットの探索範囲
3a 通常スポット
4 輝度解析範囲
5 バックグラウンド解析範囲
10 DNAチップ画像のスポット有効性判定装置
101 DNAチップ画像入力部
102 多段階二値化処理部
103 スポット形状及び位置検出部
104 スポット形状及び位置判定部
105 検出エラー処理部
106 輝度ムラ検出部
107 輝度ムラ判定部
108 S/N比算出部
109 S/N比判定部
110 通常スポット位置推定部
111 判定結果出力部
Claims (15)
- プローブが固定化されたDNAチップにおいて、標識された被検査物が前記プローブに結合された状態で、前記DNAチップを撮影して得られるDNAチップ画像のスポット有効性判定装置であって、
画像の二値化処理に用いられる閾値として、DNAチップ画像の輝度の全体に分布する複数の閾値を用いて、前記DNAチップ画像から複数の二値化画像を作成する多段階二値化処理部と、
前記二値化画像におけるスポットの形状及び位置を検出するスポット形状及び位置検出部と、
スポット形状及び位置検出部により検出されたスポットの形状及び位置の良否を判定するスポット形状及び位置判定部と、を備えた
ことを特徴とするDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。 - スポット形状及び位置検出部により検出されたスポットにおける輝度のムラを検出する輝度ムラ検出部と、
前記輝度ムラ検出部により検出された輝度のムラの良否を判定する輝度ムラ判定部と、をさらに備えた
ことを特徴とする請求項1記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。 - 前記多段階二値化処理部が、前記DNAチップ画像の輝度の最小値と最大値にもとづいて、前記最小値から前記最大値までの間に網羅的に設定された複数の閾値を用いて、複数の二値化画像を作成する
ことを特徴とする請求項1又は2記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。 - 前記複数の閾値が、前記最小値から前記最大値までの間に等間隔に設定されたことを特徴とする請求項3記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。
- 前記スポット形状及び位置検出部が、スポットの形状として、スポットの円形度及び大きさを検出し、スポットの位置として、スポットの中心位置を検出する
ことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。 - 前記輝度ムラ検出部が、スポットの輝度のムラとして、スポットにおける輝度の標準偏差を輝度の平均値で割った値、又は、スポットにおける輝度から最小値、最大値、及び平均値を取得して、次の式(1)にもとづき算出する
ことを特徴とする請求項2記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。
(輝度の最大値−輝度の最小値)/輝度の平均値・・・式(1) - スポット形状及び位置検出部により検出されたスポットにおけるS/N比値を算出するS/N比算出部と、
前記S/N比算出部により算出されたS/N比値の良否を判定するS/N比判定部と、をさらに備えた
ことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。 - 前記S/N比算出部が、スポットにおける輝度の中央値を取得すると共に、バッググラウンド値としてスポットの周辺における輝度の中央値を取得し、次の式(2)にもとづきS/N比値を算出する
ことを特徴とする請求項7記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。
(輝度の中央値−バッググラウンド値)/バッググラウンド値・・・式(2) - 前記スポット形状及び位置検出部が、前記DNAチップ画像における各スポットの位置を推定するための基準となる基準スポットの位置に対応する一定範囲に対して、スポットの形状及び位置を検出することにより、基準スポットを検出する
ことを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。 - 検出された前記基準スポットの位置にもとづいて、前記DNAチップ画像における前記基準スポット以外のスポットの位置を推定するスポット位置推定部を、さらに備え、
前記スポット形状及び位置検出部が、前記スポット位置推定部により推定されたスポットの位置に対応する一定範囲に対して、スポットの形状及び位置を検出することにより、スポットを検出する
ことを特徴とする請求項9記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。 - 少なくとも前記スポット形状及び位置判定部による判定結果を出力する判定結果出力部を、さらに備えたことを特徴とする請求項1〜10のいずれかに記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定装置。
- プローブが固定化されたDNAチップにおいて、標識された被検査物が前記プローブに結合された状態で、前記DNAチップを撮影して得られるDNAチップ画像のスポット有効性判定方法であって、
画像の二値化処理に用いられる閾値として、前記DNAチップ画像の輝度の全体に分布する複数の閾値を用いて、前記DNAチップ画像から複数の二値化画像を作成するステップと、
前記二値化画像におけるスポットの形状及び位置を検出するステップと、
検出されたスポットの形状及び位置の良否を判定するステップと、を有する
ことを特徴とするDNAチップ画像のスポット有効性判定方法。 - 検出されたスポットにおける輝度のムラを検出するステップと、検出された輝度のムラの良否を判定するステップと、をさらに備えたことを特徴とする請求項12記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定方法。
- プローブが固定化されたDNAチップにおいて、標識された被検査物が前記プローブに結合された状態で、前記DNAチップを撮影して得られるDNAチップ画像のスポット有効性判定プログラムであって、
コンピュータに、
前記DNAチップ画像を入力させ、
画像の二値化処理に用いられる閾値として、前記DNAチップ画像の輝度の全体に分布する複数の閾値を用いて、前記DNAチップ画像から複数の二値化画像を作成させ、
前記二値化画像におけるスポットの形状及び位置を検出させ、
検出されたスポットの形状及び位置の良否を判定させる
ことを実行させるためのDNAチップ画像のスポット有効性判定プログラム。 - コンピュータに、検出されたスポットにおける輝度のムラを検出させ、検出された輝度のムラの良否を判定させることを特徴とする請求項14記載のDNAチップ画像のスポット有効性判定プログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015064549A JP6609954B2 (ja) | 2015-03-26 | 2015-03-26 | Dnaチップ画像のスポット有効性判定装置、dnaチップ画像のスポット有効性判定方法、及びdnaチップ画像のスポット有効性判定プログラ |
PCT/JP2016/001688 WO2016152159A1 (ja) | 2015-03-26 | 2016-03-23 | Dnaチップ画像のスポット有効性判定装置、dnaチップ画像のスポット有効性判定方法、及びdnaチップ画像のスポット有効性判定プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015064549A JP6609954B2 (ja) | 2015-03-26 | 2015-03-26 | Dnaチップ画像のスポット有効性判定装置、dnaチップ画像のスポット有効性判定方法、及びdnaチップ画像のスポット有効性判定プログラ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016183916A true JP2016183916A (ja) | 2016-10-20 |
JP6609954B2 JP6609954B2 (ja) | 2019-11-27 |
Family
ID=56977201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015064549A Active JP6609954B2 (ja) | 2015-03-26 | 2015-03-26 | Dnaチップ画像のスポット有効性判定装置、dnaチップ画像のスポット有効性判定方法、及びdnaチップ画像のスポット有効性判定プログラ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6609954B2 (ja) |
WO (1) | WO2016152159A1 (ja) |
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JP6609954B2 (ja) | 2019-11-27 |
WO2016152159A1 (ja) | 2016-09-29 |
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