JP2016147946A - 樹脂組成物、フィルム、基板、半導体装置、熱転写ロール用接着材、および事務機器 - Google Patents
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Abstract
Description
〔1〕(A)25℃で液状であるエポキシ樹脂、
(B)式(1):
(C)硬化触媒
を含有することを特徴とする樹脂組成物。
〔2〕(A)成分のエポキシ当量が100〜1500である、上記〔1〕記載の樹脂組成物。
〔3〕(C)成分が、ホスフィン系である、上記〔1〕または〔2〕記載の樹脂組成物。
〔4〕上記〔1〕〜〔3〕のいずれか記載の樹脂組成物から形成される、フィルム。
〔5〕配線パターンが形成された第1の基材の配線パターンと、配線パターンが形成された第2の基材の配線パターンとの間に、上記〔1〕〜〔3〕のいずれか樹脂組成物の硬化物または上記〔4〕記載のフィルムの硬化物を有する、基板。
〔6〕上記〔1〕〜〔3〕の樹脂組成物の硬化物、もしくは上記〔4〕のフィルムの硬化物、または上記〔5〕記載の基板を有する、半導体装置。
〔7〕上記〔4〕記載のフィルムを含む、熱転写ロール用接着材。
〔8〕上記〔7〕記載の熱転写ロール用接着材の硬化物を有する、事務機器。
(A)25℃で液状であるエポキシ樹脂、
(B)式(1):
(C)硬化触媒
を含有する。
表1、表2に示す配合で、樹脂成分が30〜60質量%にとなるようにメチルエチルケトンを加え、星式撹拌脱泡装置を用いて、室温で溶解するまで混合し、ワニス状の樹脂組成物を作製した。
作製した樹脂組成物の外観を目視で観察し、均一であった場合を「○」、濁りがあった場合を「△」、分離した場合を「×」とした。相溶性は、○が好ましい。表1、表2に結果を示す。
作製したワニス状の樹脂組成物を、密閉容器で1ヶ月室温放置した。1ヶ月放置したワニスを目視で観察し、作製当初とほぼ同じ液状態が保たれている場合を「○」、作製当初より5倍以上粘度が上昇した場合を「△」、固化した場合を「×」とした。ワニス安定性は、○または△が好ましい。表1、表2に結果を示す。
上述のように作製したワニスを、PETフィルムの基材上に、厚さ25μmで塗布して、塗膜を作製し、塗膜を100℃で10分間乾燥し、フィルムを得た。フィルムに可とう性がある場合を「○」、フィルムに可とう性が無く、割れやすい場合を「△」、フィルムが基材上で割れた場合を「×」とした。塗膜性状は、○または△が好ましい。表1、表2に結果を示す。
上述のように作製したフィルムを、160℃で60分間硬化させた。硬化させたフィルムに可とう性(柔軟性)があった場合を「○」、折り曲げ後のフィルムに曇りが発生した場合を「△」、フィルムに可とう性(柔軟性)が無く割れやすい場合を「×」とした。硬化膜性状は、○が好ましい。表1、表2に結果を示す。
《接着強度1》
2枚の銅箔18μm(CF−T8:福田金属箔粉工業製)の粗化面の間に、上述のように作製したフィルムを挟んだ後、160℃、30分プレス(圧力:1MPa)で貼り付けし、評価用試料を作製した。オートグラフを用い、JIS K6854に準じた条件で、2枚の銅箔のうち1枚を180°の方向に引き剥がした時の引きはがし強度を測定した。接着強度1は、7N/cm以上が好ましい。表1、表2に、結果を示す。
2枚のポリイミドフィルム(カプトン100H:東レ・デュポン製)の間に、上述のように作製したフィルムを挟んだ後、160℃、30分プレス(圧力:1MPa)で貼り付けし、評価用試料を作製した。オートグラフを用い、JIS K6854に準じた条件で、2枚のポリイミドフィルムのうち1枚を180°の方向に引き剥がした時の引きはがし強度を測定した。ポリイミドフィルムが破断した場合を「○」とした。接着強度2は、○か1N/cm以上が好ましい。表1、表2に、結果を示す。
2枚のポリイミドフィルム(カプトン100H:東レ・デュポン製)の間に、上述のように作製したフィルムを挟んだ後、160℃、30分プレス(圧力:1MPa)で貼り付けした。この後、200℃で100時間の熱処理し、評価用試料を作製した。オートグラフを用い、JIS K6854に準じた条件で、2枚のポリイミドフィルムのうち1枚を180°の方向に引き剥がした時の引きはがし強度を測定した。ポリイミドフィルムが破断した場合を「○」とした。熱処理後接着強度は、○か、1N/cm以上が好ましい。評価用試料に膨れが発生した場合を「×」とした。表1、表2に、結果を示す。
Claims (8)
- (A)成分のエポキシ当量が100〜1500である、請求項1記載の樹脂組成物。
- (C)成分が、ホスフィン系である、請求項1または2記載の樹脂組成物。
- 請求項1〜3のいずれか1項記載の樹脂組成物から形成される、フィルム。
- 配線パターンが形成された第1の基材の配線パターンと、配線パターンが形成された第2の基材の配線パターンとの間に、請求項1〜3のいずれか1項樹脂組成物の硬化物または請求項4記載のフィルムの硬化物を有する、基板。
- 請求項1〜3の樹脂組成物の硬化物、もしくは請求項4のフィルムの硬化物、または請求項5記載の基板を有する、半導体装置。
- 請求項4記載のフィルムを含む、熱転写ロール用接着材。
- 請求項7記載の熱転写ロール用接着材の硬化物を有する、事務機器。
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JP2015024846A JP6517034B2 (ja) | 2015-02-11 | 2015-02-11 | 樹脂組成物、フィルム、基板、半導体装置、熱転写ロール用接着材、および事務機器 |
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