JP2016110045A - 走査光学装置、画像形成装置及び補正方法 - Google Patents

Abstract

【課題】装置の小型化を実現しつつ、安価な構成で色ずれを低減すること。【解決手段】走査光学装置１１は、平面上で測定された副走査方向におけるレーザ光の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３の情報を記憶した記憶部３５０を備え、１つの走査線を形成するための照射位置ｚ１’、ｚ２’，ｚ３’を、記憶部３５０に記憶されている測定された照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３の情報と、感光ドラム１の半径Ｒと、に基づき設定する。【選択図】図５

Description

本発明は、走査光学装置、画像形成装置及び補正方法に関し、特に、電子写真プロセスを有するレーザビームプリンタやデジタル複写機等の画像形成装置に好適な画像補正方法に関する。

従来、電子写真方式のカラー画像形成装置における画像形成スピードの高速化のために、色材の数と同数の現像器及び感光ドラムを備え、画像搬送ベルト上や記録媒体上に順次異なる色の画像を転写するタンデム方式のカラー画像形成装置が提案されている。タンデム方式のカラー画像形成装置では、レジストレーションずれを生じさせる複数の要因があることが既に知られており、それぞれの要因に対して様々な対処方法が提案されている。その要因の代表例としては、画像形成装置に搭載される走査光学装置が有するレンズの光学特性や取り付け精度、走査光学装置の画像形成装置本体への組み付け位置ずれがある。この場合、感光ドラムに露光される被走査面上において、走査線には傾きや曲がりが生じ、色毎に走査線の形状が異なることで、走査線の相対差が色ずれになる。

色ずれの対処方法として、画像データにより走査線を補正する方法が提案されている。画像データにより走査線を補正するためには、走査線曲がりや等速特性を予め測定する必要がある。補正用の測定データを得る方法としては次のような構成が提案されている。例えば、走査光学装置が走査位置検出手段を有する構成や、感光ドラム上や中間転写ベルト上に形成されたトナー画像をイメージセンサで読み取る構成、予め測定した補正用データを制御手段に記憶させておく構成等である。このうち、予め工場での走査光学装置の製造工程（以下、製造工程という）で走査線を測定し補正用データを走査光学装置に記憶させておく構成が、コストや生産性で有利なためよく用いられる。具体的には、走査領域を複数の区間に分割し、走査線の曲がり特性に応じて各走査ラインの画像データのうちから各区間に適した画像データを選択して、各走査線の形状誤差となる曲がりを解消する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。

特開２００３−３２２８１１号公報

しかし、従来の走査光学装置では、走査光学装置から出射される光束が感光ドラム面上で副走査方向に傾きや曲がりを持ってずれた場合、走査線の曲がりが製造工程で測定したデータに対して更に歪んでいる場合がある。走査光学装置から出射される走査線は、一般的に、レンズの光学特性や取り付け精度によって、副走査方向にずれを生じて感光ドラムに照射される。走査光学装置の副走査方向の照射位置の測定は、走査線測定機に平面のセンサを、例えば画像中央と画像両端部に配置して行っている。ここで、走査光学装置から出射されるレーザ光による走査線を走査線測定機により測定した結果、副走査方向に傾いている場合、感光ドラム上では感光ドラムが曲面であることによって、走査線測定機の平面センサを用いて測定した傾きに対して差分が生じる。図９は、感光ドラムＤ上に傾いた走査線が照射されたときの感光ドラムＤ上での差を示す図であり、詳細は後述する。このように、副走査方向に傾いた走査線で感光ドラムを走査したときに、画像中央に対して副走査方向の傾きが変化するという課題がある。また、複数の走査線を重ね合わせたときに、副走査方向の照射位置の精度が低下することで、色ずれが発生する原因の一つになっている。

従来は、走査線測定機による照射位置の測定を平面センサで行い、測定した値に基づいて曲面を有する感光ドラム上の画像を画像形成装置にて補正していた。近年、画像形成装置の小型化に伴い、感光ドラムも小径化され、感光ドラムの曲率半径が小さくなることで、上述したレーザ光の露光位置による副走査方向の傾きや曲がりの誤差が無視できないずれ量になり、画像の歪の要因となっている。

本発明は、このような状況のもとでなされたもので、装置の小型化を実現しつつ、安価な構成で色ずれを低減することを目的とする。

上述した課題を解決するために、本発明は、以下の構成を備える。

（１）レーザ光を出射する光源と、前記光源から出射されたレーザ光を偏向し、被走査面に照射されたレーザ光のスポットを主走査方向に移動させ走査線を形成する偏向手段と、を備える走査光学装置であって、平面上で測定された前記主走査方向に直交する副走査方向における前記レーザ光の照射位置に関する情報を記憶した記憶手段を備え、１つの前記走査線を形成するための照射位置を、前記記憶手段に記憶されている前記測定された照射位置の情報と、前記被走査面の形状に関する情報と、に基づき設定することを特徴とする走査光学装置。

（２）前記被走査面を表面に有する感光体と、前記（１）に記載の走査光学装置と、前記走査光学装置を制御して前記被走査面上に潜像を形成させる制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記記憶手段から読み出した前記平面上で測定された照射位置の情報と、前記被走査面の形状に関する情報と、に基づいて、前記レーザ光が前記被走査面に照射されたときの前記被走査面上の前記副走査方向の照射位置を設定することを特徴とする画像形成装置。

（３）レーザ光を出射する光源と、前記光源から出射されたレーザ光を偏向し、被走査面に照射されたレーザ光のスポットを主走査方向に移動させ走査線を形成する偏向手段と、を備える走査光学装置であって、１つの前記走査線を形成するための前記主走査方向に直交する副走査方向における前記被走査面上の照射位置の情報を記憶した記憶手段を備え、前記記憶手段に記憶されている前記照射位置の情報は、平面上で測定された前記副走査方向における前記レーザ光の照射位置の情報と、前記被走査面の形状に関する情報と、に基づき算出されていることを特徴とする走査光学装置。

（４）前記被走査面を表面に有する感光体と、前記（３）に記載の走査光学装置と、前記走査光学装置を制御して前記被走査面上に潜像を形成させる制御手段と、を備えることを特徴とする画像形成装置。

（５）像担持体と、レーザ光を出射する光源と、前記光源から出射されたレーザ光を偏向し主走査方向に走査する偏向手段と、前記偏向手段により偏向されたレーザ光を前記像担持体に導く光学部材と、を有し、入力された画像データに応じた潜像を前記像担持体に形成する走査光学装置と、前記走査光学装置を制御して前記像担持体上に前記潜像を形成させる制御手段と、を備え、前記走査光学装置は、平面上で測定された前記主走査方向に直交する副走査方向における前記レーザ光の照射位置の情報を記憶した記憶手段を有し、前記制御手段は、前記記憶手段から読み出した前記平面上で測定された照射位置の情報と、前記像担持体の形状に関する情報と、に基づいて、前記レーザ光が前記像担持体に照射されたときの前記像担持体上の前記副走査方向の照射位置を算出し、算出した前記像担持体上の照射位置に基づいて、前記画像データを補正することを特徴とする画像形成装置。

本発明によれば、装置の小型化を実現しつつ、安価な構成で色ずれを低減することができる。

実施例１〜３のカラー画像形成装置の構成を示す概略図、断面図 実施例１〜３の走査光学装置の斜視図、断面図 実施例１〜３の走査光学装置と走査線測定機の主走査方向、副走査方向の位置関係を示す図 実施例１の走査線の傾きがあった場合と曲がりがあった場合の照射位置と感光ドラムの関係を示す図 実施例１の走査線測定機と走査光学装置のブロック図 実施例１の走査線の照射位置の測定処理を示すフローチャート 実施例２の画像形成装置のブロック図、副走査方向のずれの補正処理を示すフローチャート 実施例３の副走査方向のずれの補正処理を示すフローチャート 従来例の副走査方向に傾いた走査線の照射位置を示す図

以下、本発明を実施するための形態を、実施例により図面を参照しながら詳しく説明する。尚、以下の説明において、走査光学装置から出射されたレーザ光が感光ドラム上を走査する方向を主走査方向としＹ軸方向とする。また、主走査方向に直交する方向であって感光ドラムの回転方向を副走査方向としＺ軸方向とする。更に、主走査方向（Ｙ軸方向）及び副走査方向（Ｚ軸方向）に直交する方向をＸ軸方向とする。

（走査線測定機上の走査線と感光ドラム上の走査線とのずれ）
まず、製造工程で走査線測定機により測定された照射位置と、画像形成装置の感光ドラム面上での実際の照射位置について、図９を用いて説明する。図９は、感光ドラムＤに対して、レーザ光を照射している説明図である。図９（ａ）は、感光ドラムＤと、感光ドラムＤに照射されるレーザ光の関係を示す斜視図であり、図９（ｂ）は、図９（ａ）を矢印方向から見た感光ドラムＤと、感光ドラムＤに照射されるレーザ光の関係を示す断面図である。図中、一点鎖線で示すＬは、副走査方向のレーザ光の照射位置が、傾きや曲がりが生じていない理想的な状態にある場合の走査線を示す。また、二点鎖線で示すＬ’は、副走査方向のレーザ光の照射位置が傾いている場合の走査線を示す。更に、感光ドラムＤの中心をＺＸ座標のＯ（０，０）とする。尚、走査線Ｌ’は、光束Ｌ１から光束Ｌ２の範囲内で感光ドラムＤに照射される。

図９（ｂ）に示すように、傾きや曲がりのない理想的な走査線Ｌは、副走査方向のずれが生じず、光束Ｌ１から光束Ｌ２までの間、Ｘ軸上の位置が一定のＸＬとなる。ところが、走査光学装置から出射される走査線は、一般的に、レンズの光学特性や取り付け精度によって、副走査方向に照射位置ずれが生じ、図９（ａ）のＬ’に示すように副走査方向に傾いた状態で感光ドラムＤ上に照射される。例えば、走査光学装置から出射される走査線が、被走査面である感光ドラムＤ上で副走査方向に傾いているとする。この場合、感光ドラムＤは、図９に示すように円筒形状であるため、副走査方向に傾いた走査線Ｌ’は、図９（ｂ）に示すように、光束Ｌ１ではＸ軸上の位置がＸＬ１、光束Ｌ２ではＸ軸上の位置がＸＬ２となり、Ｘ軸上の位置が一定にはならない。尚、以下に説明する実施例でも感光ドラムＤは断面略円形の円筒形状としているが、例えばベルト状に形成された像担持体等、他の形状を有する像担持体であってもよい。

ここで、走査線測定機上で走査線の照射位置を測定する際、測定に用いられるセンサは平面であり、測定された照射位置（後述するｚ１、ｚ２、ｚ３）は、平面上で測定された値である。このため、光束Ｌ１、Ｌ２に対応するＸ軸上の位置は、傾いた走査線Ｌ’の照射位置を測定する場合であってもＸＬとなる。その結果、走査線測定機上で測定した照射位置と、感光ドラムＤ上に実際に照射される照射位置とでは、Ｘ軸上において、光束Ｌ１ではΔｘ１、光束Ｌ２ではΔｘ２の分の誤差が生じてしまう。そして、誤差Δｘ１、Δｘ２は、レーザ光の光路長差となってしまう。画像形成装置の小型化に伴い、感光ドラムＤの半径が小さくなるにしたがって、光路長差Δｘ１、Δｘ２が及ぼす影響は無視できなくなっている。

（画像形成装置の説明）
図１は実施例１のカラー画像形成装置を示す斜視図及び断面図である。本実施例のカラー画像形成装置（以下、プリンタとする）１００は、電子写真プロセスを用いた４色フルカラーのレーザプリンタである。プリンタ１００は、パーソナルコンピュータ、イメージリーダ、ファクシミリ装置等の不図示の外部ホスト装置から入力される電気的な画像信号に基づいて、記録媒体Ｓに対する画像形成を実行する。尚、記録媒体Ｓは、例えば、用紙、ＯＨＰシート、ラベル等であり、以下、用紙Ｓとする。

図１（ａ）は、本実施例のプリンタ１００の外観斜視図であり、ユーザがプリンタ１００の本体Ａ（以下、単に本体Ａとする）からプロセスカートリッジＰｙ、Ｐｍ、Ｐｃ、Ｐｋを引き出した状態を示している。図１（ｂ）はプリンタ１００の縦断左側面図である。画像形成時には移動部材３５が本体Ａの枠体内に収容される。ここで、プリンタ１００に関して、前側又は正面側とは本体Ａの開口部３０に対する開閉部材であるドア３１を配設した側である。後側とはドア３１が配設された側とは反対側である。前後方向とは、本体Ａの後側から前側に向かう方向（前方向）と、その逆の方向（後方向）である。左右とは、本体Ａを前側から見て左又は右である。左右方向とは、右から左に向かう方向（左方向）と、その逆の方向（右方向）である。

プリンタ１００の本体Ａの内側には、後側から前側にかけて、第１から第４の４つのプロセスカートリッジ（以下、単にカートリッジという）Ｐｙ、Ｐｍ、Ｐｃ、Ｐｋが水平方向（横方向）に並べられて配設されている。このような構成をインライン構成又はタンデム型という。カートリッジＰｙ、Ｐｍ、Ｐｃ、Ｐｋは、収容されている現像剤（トナー）の色が異なるだけで、互いに同様の構成である。ここで、ｙはイエロー色を、ｍはマゼンタ色を、ｃはシアン色を、ｋはブラック色をそれぞれ示す。以下の説明では、必要な場合を除き、色を表す添え字ｙｍｃｋを省略する。

本実施例のカートリッジＰは、潜像が形成される像担持体又は感光体としての感光ドラム１を有する。また、感光ドラム１に作用するプロセス手段として、カートリッジＰは、帯電手段である帯電器、現像手段である現像器、クリーニング手段であるクリーニング装置を有する。そして、これらの部材は、カートリッジＰのカートリッジ枠体１ｈに一体的に組み付けられている。カートリッジＰｙには、イエロー色（Ｙ色）のトナーが収容されており、感光ドラム１ｙ面にｙ色のトナー像が形成される。カートリッジＰｍには、マゼンタ色（Ｍ色）のトナーが収容されており、感光ドラム１ｍ面にｍ色のトナー像が形成される。カートリッジＰｃには、シアン色（Ｃ色）のトナーが収容されており、感光ドラム１ｃ面にｃ色のトナー像が形成される。カートリッジＰｋには、ブラック色（Ｂｋ色）のトナーが収容されており、感光ドラム１ｋ面にｋ色のトナー像が形成される。

カートリッジＰの上方部には、走査光学装置１１が配設されている。走査光学装置１１は、外部ホスト装置から入力される各色の画像情報に対応して、変調した光ビームを出力する。そして、走査光学装置１１から出力された光ビームＬｙ、Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋは、カートリッジ枠体１ｈの上面に設けられた露光窓６を通過して、各カートリッジＰｙ、Ｐｍ、Ｐｃ、Ｐｋの各感光ドラム１ｙ、１ｍ、１ｃ、１ｋ面を露光する。

カートリッジＰの下方部には、中間転写ベルトユニット１２が配設されている。カートリッジＰの有する感光ドラム１の下面が、中間転写ベルトユニット１２に接しており、感光ドラム１面上に形成されたトナー像が中間転写ベルト１３上に転写される。中間転写ベルト１３上に転写された未定着のトナー像は、転写ローラ対２２により、中間転写ベルトユニット１２の下方部に設けられた給送ユニット１８から給紙された用紙Ｓ上に転写される。トナー像が転写された用紙Ｓは、定着装置２３に送られ、用紙Ｓ上の未定着のトナー像が熱と圧力により用紙Ｓに定着された後、排紙ローラ対２４により本体Ａの上面に設けられた排出トレイ２５に排出される。尚、プリンタ１００の内部には、プリンタ１００内部の温度を検知するための温度検知手段である温度センサ１５が搭載されている。温度センサ１５は、例えば、プリンタ１００が動作したことにより上昇したプリンタ１００内部の温度を検知し、検知した温度に基づいて定着装置２３の定着温度等の定着条件をフィードバック制御するために用いられる。

（走査光学装置の説明）
図２（ａ）は走査光学装置１１の斜視図、図２（ｂ）は走査光学装置１１の断面図である。尚、図２（ａ）の説明においても、必要な場合を除き、色を表す添え字ｙｍｃｋを省略する。光源部３０２は、各色に対応した光源である半導体レーザと、コリメータレンズ３０１と、を有している。コリメータレンズ３０１は、半導体レーザから出射されたレーザ光Ｌを各々所定形状にするためのレンズである。複眼シリンダレンズ３０３は、コリメータレンズ３０１を介して入射されたレーザ光を、後述する回転多面鏡３０５に焦線状に結像させるためのレンズである。レーザ駆動回路基板３０４は、半導体レーザを駆動し制御するための基板である。尚、レーザ駆動回路基板３０４は、後述する記憶手段である記憶部３５０を有している。記憶部３５０は、例えば不揮発性メモリである。回転手段である偏向器３０６は、後述する回転多面鏡３０５と、回転多面鏡３０５を駆動する不図示のスキャナモータと、を有している。

回転多面鏡３０５は、複眼シリンダレンズ３０３により集光された光束の線像近傍に、複数（図２（ａ）では四面）の反射面を有している。ｆθレンズ３０７ａ、３０７ｂや走査レンズ３０８ａ、３０８ｂは、例えばトーリックレンズで構成されている。ｆθレンズ３０７ａ、３０７ｂ、走査レンズ３０８ａ、３０８ｂは、回転多面鏡３０５の反射面で反射される光束が、後述する感光ドラム１ｙ、１ｍ、１ｃ、１ｋ面上において、スポットを形成するように集光させる。また、レーザ光が被走査体である感光ドラム１上（像担持体上、被走査体上）を走査する際に、感光ドラム１ｙ、１ｍ、１ｃ、１ｋ面上に形成されたスポットの走査速度は等速に保たれるように設計されている。

反射ミラー３０９ｙ、３０９ｍ１、３０９ｍ２、３０９ｍ３、３０９ｃ１、３０９ｃ２、３０９ｃ３、３０９ｋは、走査されるレーザ光を感光ドラム１へと導くためのミラーである。集光レンズ３１０は、レーザ駆動回路基板３０４上に設けられた不図示の水平同期信号検出手段であるビームディテクトセンサ（ＢＤセンサとする）にレーザ光を導くためのレンズである。光学箱５００は、偏向器３０６によって、対向走査される走査光学系を収納する箱である。光学箱５００には、上述した各光学部品が組み込まれ、塵埃が侵入することを防止するため等の観点から、図示しない蓋によって略密閉され、一体化されて走査光学装置１１を構成している。そして、走査光学装置１１は、図１で説明した画像形成装置としてのプリンタ１００に搭載される。

図２（ｂ）に示すように、光源部３０２の半導体レーザから出射されるレーザ光Ｌｙ、Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋは、複眼シリンダレンズ３０３を通過し、回転多面鏡３０５によってそれぞれ異なる方向に対向走査される。回転多面鏡３０５によって走査されたレーザ光Ｌｙ、Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋは、それぞれｆθレンズ３０７ａ、３０７ｂ、及び走査レンズ３０８ａ、３０８ｂを透過する。ｆθレンズ３０７ａ、３０７ｂ、走査レンズ３０８ａ、３０８ｂを透過したレーザ光Ｌｙ、Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋは、反射ミラー３０９ｙ、３０９ｍ１、３０９ｍ２、３０９ｍ３、３０９ｃ１、３０９ｃ２、３０９ｃ３、３０９ｋによって方向を折り返される。ｆθレンズ３０７ａ、３０７ｂ、走査レンズ３０８ａ、３０８ｂ、反射ミラー３０９ｙ〜３０９ｋは、回転多面鏡３０５により偏向されたレーザ光Ｌを感光ドラム１に導く光学部材である。そして、レーザ光Ｌｙ、Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋは、各色の感光ドラム１ｙ、１ｍ、１ｃ、１ｋの面上をそれぞれ走査する。

このように、走査光学系は、４つの感光ドラム１上にレーザ光Ｌを導いて画像形成を行っている。感光ドラム１に結像するレーザ光Ｌｙ、Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋが、回転多面鏡３０５の回転方向（主走査方向）に走査されることで、走査線が形成される。そして、感光ドラム１ｙ、１ｍ、１ｃ、１ｋが回転する（副走査方向）ことにより、感光ドラム１の表面に静電潜像が形成される。

また、感光ドラム１ｙに対応した半導体レーザから出射されたレーザ光Ｌｙは、回転多面鏡３０５によりｆθレンズ３０７ａに偏向入射する位置より上流側で、集光レンズ３１０を通過し、集光レンズ３１０によってＢＤセンサに導光される。これにより画像書き出しタイミングが得られる。尚、本実施例の走査光学装置１１は、集光レンズ３１０及びＢＤセンサは、感光ドラム１ｙに対応した半導体レーザ側にのみ有している。他の色に対応した半導体レーザの発光制御は、それぞれの色の書き出し位置になるように電気的に制御されている。

（走査線測定機による照射位置の測定）
図３に走査光学装置１１の走査線位置を測定する測定用センサ４１−１〜４１−３を配置した後述する走査線測定機１０００（図５参照）と走査光学装置１１の位置関係を示す。図３（ａ）は、走査光学装置１１の主走査方向を示す図であり、図３（ｂ）は副走査方向を示す図で、図３（ａ）の矢印方向から見た図である。測定用センサ４１−１〜４１−３は、走査光学装置１１と、走査光学装置１１が搭載されるプリンタ１００の感光ドラム１との実際の位置関係となるように、所定の距離に配置されている。そして、実際の感光ドラム１上に形成される画像の主走査方向における中央（以下、画像中央という）に対応する位置には、測定用センサ４１−２が配置されている。尚、画像中央を、０ｍｍ像高ともいう。ここで、像高とは、走査光学装置１１と感光ドラム１とが上述した所定の距離に配置されているときの主走査方向における位置を表しており、画像中央を０ｍｍ、主走査方向の上流側をマイナス、主走査方向の下流側をプラスとして表す。

また、実際の感光ドラム１上に形成される画像の主走査方向における上流側の端部近傍に対応する位置には、測定用センサ４１−１が配置されている。尚、測定用センサ４１−１が配置されている位置を、−１００ｍｍ像高ともいう。更に、実際の感光ドラム１上に形成される画像の主走査方向における下流側の端部近傍に対応する位置には、測定用センサ４１−３が配置されている。尚、測定用センサ４１−３が配置されている位置を、＋１００ｍｍ像高ともいう。本実施例では、測定用センサ４１−１、４１−３が配置されている像高を、±１００ｍｍとしている。しかし、この値は、走査光学装置１１が搭載されるプリンタ１００で使用可能な用紙Ｐの主走査方向の長さに応じて決定される値であり、±１００ｍｍに限定されない。

このように、本実施例の走査線測定機１０００による走査線の測定の際には、主走査方向の３か所に、走査線の副走査方向の照射位置を測定するための測定用センサ４１−１、４１−２、４１−３が設けられている。測定用センサ４１−１〜４１−３は、例えばラインセンサであり、ラインセンサの受像素子が並んでいる方向である長手方向が、主走査方向に直交しかつ副走査方向に平行になるように配置されている。このため、ラインセンサのどの受像素子にレーザ光が照射されたかを検知することによって、各像高における副走査方向の照射位置を検知することができる。以降、測定用センサ４１−１〜４１−３を、ラインセンサ４１−１〜４１−３とする。ラインセンサ４１−１〜４１−３は、レーザ光Ｌｙ、Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋそれぞれに対応して設けられているが、各レーザ光について行われる処理は同様であり、以下では、一つのレーザ光について説明する。走査光学装置１１から出射されたレーザ光は、−１００ｍｍ像高側から＋１００ｍｍ像高側へと走査される。

走査線測定機１０００による副走査方向の照射位置の測定では、ラインセンサ４１−１により−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１を測定している。また、ラインセンサ４１−２により０ｍｍ像高の照射位置ｚ３を、ラインセンサ４１−３により＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２を、それぞれ測定している。本実施例では、製造工程において、走査線測定機１０００により測定された照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３を用いて走査線の傾きと曲がりを算出しておき、画像データの処理に応じて発光タイミングを制御することにより画像の歪を補正する。

図３に示した走査線測定機１０００上の測定用センサであるラインセンサ４１−１〜４１−３は平面であり、測定された照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３は、平面上で測定された値である。このため、図３（ｂ）に示した光束Ｌ１と光束Ｌ２のように、被走査面上で−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１と＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２に差がある場合、走査線の傾きはｚ１とｚ２を結ぶ直線になる。しかし、図２（ｂ）に示すように、走査光学装置１１から照射されたレーザ光は画像形成時には感光ドラム１面上を走査するため、被走査面が曲面となる。そのため、感光ドラム１上の照射位置ｚ１’と照射位置ｚ２’を結ぶ直線の傾きは、走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１と照射位置ｚ２を結ぶ直線の傾きとは異なる。また、走査線測定機１０００上の０ｍｍ像高の照射位置ｚ３が照射位置ｚ１と照射位置ｚ２を結ぶ線上にない場合、走査線に曲がりが発生する。曲がりが発生している走査線の曲がりの度合いも、走査線測定機１０００上と感光ドラム１上では異なる。

（走査線の傾き及び曲がりによる照射位置への影響）
図４に走査線に傾きがあった場合と曲がりがあった場合の感光ドラム１上の照射位置への影響を示す。図４（ａ）は走査線の傾きがあった場合を示し、図４（ｂ）は走査線の曲がりがあった場合を示す。ここで、感光ドラム１の半径をＲ、感光ドラム１上の副走査方向の照射位置をｚとする。尚、感光ドラム１ｙの半径をＲｙ、感光ドラム１ｍの半径をＲｍ、感光ドラム１ｃの半径をＲｃ、感光ドラム１ｋの半径をＲｋとする。ここで、感光ドラム１の中心Ｏ（図９（ａ）参照）を通り、感光ドラム１の表面に照射されるレーザ光に平行な直線（Ｘ軸）と、感光ドラム１の表面が交わる点をｚ０とする。このｚ０から、感光ドラム１上の所定の照射位置ｚまでの感光ドラム１の面に沿った距離ＬＸＬは、次の式（１）で表わされる。
ＬＸＬ＝Ｒ×ａｒｃｓｉｎ（ｚ／Ｒ） （１）

＜走査線に傾きがあった場合＞
まず、走査線に傾きがあった場合について説明する。平面であるラインセンサ４１−１、４１−３上では、走査線測定機１０００上の走査線の傾き量ＴＬＴは、次式のようになる。ここで、傾き量ＴＬＴは、走査線測定機１０００上の−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１と走査線測定機１０００上の＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２により発生するものである。
ＴＬＴ＝ｚ１−ｚ２ （２）

一方、ｚ０から感光ドラム１上の照射位置ｚ１までの感光ドラム１の面に沿った距離をＬＸＬ１、ｚ０から感光ドラム１上の照射位置ｚ２までの感光ドラム１の面に沿った距離をＬＸＬ２とする。そうすると、走査線測定機１０００上の−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１と、走査線測定機上の＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２により、感光ドラム１面上で発生する傾き量ＴＬＴ’は、式（１）を用いて次の式（３）のようになる。
ＴＬＴ’＝ＬＸＬ１−ＬＸＬ２
＝Ｒ×（ａｒｃｓｉｎ（ｚ１／Ｒ）−ａｒｃｓｉｎ（ｚ２／Ｒ）） （３）
ここで、感光ドラム１の形状が曲面を有する形状であるために発生した、走査線測定機１０００上の傾き量ＴＬＴと感光ドラム１上の傾き量ＴＬＴ’との誤差をΔＴＬＴとする。そうすると、走査線の傾き量の補正すべき誤差ΔＴＬＴは、式（２）、式（３）を用いて、次の式（４）のようになる。
ΔＴＬＴ＝ＴＬＴ’−ＴＬＴ
＝Ｒ×（ａｒｃｓｉｎ（ｚ１／Ｒ）−ａｒｃｓｉｎ（ｚ２／Ｒ））
−（ｚ１−ｚ２） （４）

感光ドラム１面上での−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１’と＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２’は、式（４）を用いて次の式（５）、式（６）のようになる。
ｚ１’＝ｚ１＋ΔＴＬＴ／２ （５）
ｚ２’＝ｚ２−ΔＴＬＴ／２ （６）
このように、走査線に傾きがある場合、感光ドラム１面上での各像高の照射位置ｚ１’、ｚ２’は、走査線測定機により測定した各像高の照射位置ｚ１、ｚ２と感光ドラム１の半径Ｒに基づき求めることができる。尚、本実施例では、像担持体である感光ドラム１の形状に関する情報として感光ドラム１の表面である円弧面の半径Ｒを用いているが、例えば曲率等の他の物理量によって像担持体の形状に関する情報としてもよい。

＜走査線に曲がりがあった場合＞
次に、走査線に曲がりがあった場合について説明する。平面であるラインセンサ４１−１〜４１−３上では、走査線測定機１０００上での−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１と＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２と０ｍｍ像高の照射位置ｚ３により発生する曲がり量ＢＯＷは次の（７）のようになる。
ＢＯＷ＝（ｚ１＋ｚ２）／２−ｚ３ （７）

一方、走査線測定機１０００上の−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１と＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２と０ｍｍ像高の照射位置ｚ３により、感光ドラム１の面上で発生する走査線の曲がり量ＢＯＷ’は、式（１）を用いて次の式（８）のようになる。
ＢＯＷ’＝（ＬＸＬ１＋ＬＸＬ２）／２−ＬＸＬ３
＝Ｒ×（（ａｒｃｓｉｎ（ｚ１／Ｒ）＋ａｒｃｓｉｎ（ｚ２／Ｒ））／２
−ａｒｃｓｉｎ（ｚ３／Ｒ）） （８）
ここで、感光ドラム１の形状が曲面を有する形状であるために発生した、走査線測定機１０００上の曲がり量ＢＯＷと感光ドラム１上の曲がり量ＢＯＷ’との誤差をΔＢＯＷとする。そうすると、走査線の曲がり量の補正すべき誤差ΔＢＯＷは、式（７）、式（８）から次の式（９）のようになる。
ΔＢＯＷ＝ＢＯＷ’−ＢＯＷ
＝Ｒ×（（ａｒｃｓｉｎ（ｚ１／Ｒ）＋ａｒｃｓｉｎ（ｚ２／Ｒ））／２
−ａｒｃｓｉｎ（ｚ３／Ｒ））−（（ｚ１＋ｚ２）／２−ｚ３） （９）
感光ドラム１面上での０ｍｍ像高の照射位置ｚ３’は、式（９）を用いて次の式（１０）のようになる。
ｚ３’＝ｚ３＋ΔＢＯＷ （１０）
このように、走査線に曲がりがある場合、感光ドラム１面上での各像高の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’は、走査線測定機１０００により測定した各像高の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３と感光ドラム１の半径Ｒに基づき求め、設定することができる。

そして、副走査方向の照射位置を補正するために、走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３ではなく、感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を用いる。これにより、本実施例では、感光ドラム１の形状を考慮した高精度な位置ずれの補正を行うことが可能となる。

（走査線測定機のブロック図）
図５は、走査線測定機１０００のブロック図である。走査線測定機１０００は、上述したラインセンサ４１−１、４１−２、４１−３、ＣＰＵ１０５０、ＲＯＭ１０５１、ＲＡＭ１０５２を備えている。ＣＰＵ１０５０は、ＲＯＭ１０５１に記憶された各種プログラムにしたがって、ＲＡＭ１０５２を作業領域として使用しながら各種処理を実行する。ＣＰＵ１０５０は、ラインセンサ４１−１〜４１−３によって走査光学装置１１から照射されたレーザ光の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３を測定する。尚、ＣＰＵ１０５０は、各色（本実施例では４色）について、それぞれ走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３を測定する。

ＣＰＵ１０５０は、測定した照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３の情報を、走査光学装置１１が備える記憶手段である記憶部３５０に記憶する。尚、走査線測定機１０００のＣＰＵ１０５０は、測定対象の走査光学装置１１が搭載されるプリンタ１００の感光ドラム１の半径Ｒが既知であり、予め感光ドラム１の半径Ｒの情報がＲＯＭ１０５１に記憶されている場合には、次のようにしてもよい。即ち、ＣＰＵ１０５０は、走査線測定機１０００の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３から、傾き量の誤差ΔＴＬＴや曲がり量の誤差ΔＢＯＷを求めて、これらの情報を記憶部３５０に記憶してもよい。更に、ＣＰＵ１０５０は、感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を求めて、これらの情報を記憶部３５０に記憶してもよい。尚、ＲＯＭ１０５１に記憶される感光ドラム１の半径Ｒは、走査光学装置１１が走査する色数分（例えば、４色分）の情報が記憶されるものとする。

（走査線測定機による各像高における照射位置の測定）
図６は、製造工程において、走査線測定機１０００のＣＰＵ１０５０が実行する処理を説明するフローチャートである。走査線測定機１０００上に測定対象となる走査光学装置１１が設置されると、走査線測定機１０００上のレーザ光の照射位置の測定が開始される。尚、図６は一つの色に対する測定を示しており、実際には４色分の測定が行われるものとする。ステップ（以下、Ｓとする）１０１でＣＰＵ１０５０は、ラインセンサ４１−１〜４１−３により、走査光学装置１１から照射されるレーザ光の副走査方向の各像高における照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３を測定する。Ｓ１０２でＣＰＵ１０５０は、Ｓ１０１で測定した走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３の情報を、走査光学装置１１の記憶部３５０に記憶し、処理を終了する。

以上、本実施例によれば、装置の小型化を実現しつつ、安価な構成で色ずれを低減することができる。

実施例２では、実施例１で説明した走査線測定機１０００によって記憶部３５０に照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３の情報が記憶されている走査光学装置１１が、プリンタ１００に搭載された場合について説明する。

（プリンタのブロック図）
図７（ａ）に本実施例のプリンタ１００のブロック図を示す。プリンタ１００は、処理部１０５と、走査光学装置１１と、温度センサ１５を備えている。処理部１０５は、ＣＰＵ１０６、ＲＯＭ１０７、ＲＡＭ１０８を有しており、ＣＰＵ１０６は、ＲＯＭ１０７に記憶された各種プログラムにしたがって、ＲＡＭ１０８を作業領域として使用しながら各種処理を実行する。温度センサ１５は、プリンタ１００内の所定の位置に配置されている。温度センサ１５については後述する。尚、走査光学装置１１の構成は、図２、図５で説明した構成と同様であり、同じ構成には同じ符号を用い、説明を省略する。

走査光学装置１１の記憶部３５０には、実施例１で説明した走査線測定機１０００によって測定された−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１、＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２、０ｍｍ像高の照射位置ｚ３の情報が記憶されている。また、記憶媒体であるプリンタ１００のＲＯＭ１０７には、各色分の感光ドラム１の半径Ｒの情報が記憶されている。尚、記憶媒体としては一般的に用いられている半導体メモリを用いているが、プリンタ１００がハードディスクを備えており、そのハードディスクに記憶される構成等としてもよい。

ＣＰＵ１０６は、走査光学装置１１の記憶部３５０から読み出した走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３と、ＲＯＭ１０７から読み出した感光ドラム１の半径Ｒを用いて、各誤差（以下、補正量ともいう）ΔＴＬＴとΔＢＯＷを算出する。ここで、ＣＰＵ１０６は、実施例１で説明した式（４）からΔＴＬＴを、式（９）からΔＢＯＷを、それぞれ算出する。そして、ＣＰＵ１０６は、実施例１で説明した式（５）、式（６）、式（１０）から感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を算出する。そして、ＣＰＵ１０６は、算出したｚ１’、ｚ２’、ｚ３’に基づいて、入力された画像データについて、走査線の副走査方向に画像処理を施すことにより、補正を行っている。

ＣＰＵ１０６は、走査線の傾きや曲がりを補正した画像データを画像信号として走査光学装置１１のレーザ駆動回路基板３０４に出力する。そして、レーザ駆動回路基板３０４は、入力された補正後の画像信号にしたがって、光源部３０２の半導体レーザを駆動する。このように、レーザ光の副走査方向の照射位置を補正するために、走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３ではなく、感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を用いる。これにより、高精度な画像補正を行うことが可能となる。

（補正処理）
図７（ｂ）は、本実施例のプリンタ１００のＣＰＵ１０６が実行する走査光学装置１１の走査線の傾きや曲がりを補正する処理を説明するフローチャートである。Ｓ２０１でＣＰＵ１０６は、走査光学装置１１の記憶部３５０から、走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３の情報を読み出す。また、ＣＰＵ１０６は、ＲＯＭ１０７から感光ドラム１の半径Ｒの情報を読み出す。Ｓ２０２でＣＰＵ１０６は、Ｓ２０１で読み出した走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３、感光ドラム１の半径Ｒを用いて、レーザ光の副走査方向の補正値ΔＴＬＴを、実施例１で説明した式（４）を用いて算出する。また、ＣＰＵ１０６は、Ｓ２０１で読み出した走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３、感光ドラム１の半径Ｒを用いて、補正値ΔＢＯＷを、実施例１で説明した式（９）を用いて算出する。

Ｓ２０３でＣＰＵ１０６は、Ｓ２０２で算出した補正値ΔＴＬＴ、ΔＢＯＷに基づき、走査線の傾きや曲がりを補正した感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を算出する。そして、ＣＰＵ１０６は、感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を用いて画像データを補正し、補正した画像データを画像信号として走査光学装置１１に出力する。

（その他の補正について）
プリンタ１００は、画像形成動作を実行する際に、プリンタ１００内の各部が動作することによって、プリンタ１００内の温度が上昇する。プリンタ１００内の温度が上昇すると、走査光学装置１１が影響を受けて、レーザ光の照射位置が変化する。このため、製造工程において、予め温度と走査線測定機１０００上での照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３との関係を測定しておき、この情報を例えばテーブルとして走査光学装置１１の記憶部３５０に記憶しておく構成としてもよい。

この場合、ＣＰＵ１０６は、プリンタ１００内に設けられた温度センサ１５によりプリンタ１００内の温度を検知する。そして、ＣＰＵ１０６は、温度センサ１５により検知したプリンタ１００内の温度に対応する照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３を、記憶部３５０から読み出す。ここで、ＣＰＵ１０６は、走査光学装置１１の記憶部３５０に記憶された温度と照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３とを関連付けた情報に基づいて、検知した温度に対応する照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３を読み出す。ＣＰＵ１０６が行うこの処理は、温度センサ１５により検知した温度に基づき、走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３を補正する処理ともいえる。このように、ＣＰＵ１０６は、温度センサ１５の検知結果に応じて走査線測定機１０００上の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３の値を補正し、温度によって補正した後の照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３に応じて、補正量ΔＴＬＴ、ΔＢＯＷを算出する構成としてもよい。このように構成することで、プリンタ１００内部の昇温による色ずれを低減することが可能となる。尚、温度センサ１５は、例えば走査光学装置１１の近傍等、温度センサ１５により検知される温度と光源部３０２の半導体レーザから出射されるレーザ光の照射位置との相関が得られる位置に配置される。

以上、本実施例によれば、装置の小型化を実現しつつ、安価な構成で色ずれを低減することができる。

実施例３では、走査線測定機１０００のＣＰＵ１０５０が、感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’まで求めて、走査光学装置１１の記憶部３５０に記憶させておく構成について説明する。尚、走査光学装置１１の構成は、図２と同様であり、同じ構成には同じ符号を用い、説明を省略する。また、本実施例は、実施例１、実施例２とは、走査光学装置１１の記憶部３５０に記憶されている情報が異なり、その他の構成については、図５、図７（ａ）のブロック図を援用することとする。

（走査線測定機による各像高における照射位置の測定）
本実施例では、図６のＳ１０２で、走査線測定機１０００のＣＰＵ１０５０は、ラインセンサ４１−１〜４１−３により測定した照射位置ｚ１、ｚ２、ｚ３を用いて、補正値ΔＴＬＴ、ΔＢＯＷを算出する。ＣＰＵ１０５０は、算出した補正値ΔＴＬＴ、ΔＢＯＷから、補正後の感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を算出する。尚、走査光学装置１１が搭載されるプリンタ１００の感光ドラム１の半径Ｒの情報は、予めＲＯＭ１０５１に記憶されているものとする。そして、ＣＰＵ１０５０は、算出した感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’の情報を、走査光学装置１１の記憶部３５０に記憶する。

（補正処理）
図８は、本実施例のプリンタ１００のＣＰＵ１０６が実行する走査光学装置１１の走査線の傾きや曲がりを補正する処理を説明するフローチャートである。Ｓ３０１でＣＰＵ１０６は、走査光学装置１１の記憶部３５０から、走査線測定機１０００のＣＰＵ１０５０が算出した感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を読み出す。ここで、感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’は、予め走査線測定機１０００のＣＰＵ１０５０が、補正量ΔＴＬＴ、ΔＢＯＷを用いて算出した値である。また、補正量ΔＴＬＴ、ΔＢＯＷも、走査線測定機１０００がラインセンサ４１−１〜４１−３により測定した−１００ｍｍ像高の照射位置ｚ１、＋１００ｍｍ像高の照射位置ｚ２、０ｍｍ像高の照射位置ｚ３と感光ドラム１の半径Ｒを用いて算出した値である。

Ｓ３０２でＣＰＵ１０６は、Ｓ３０１で走査光学装置１１の記憶部３５０から読み出した感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’に基づいて、画像データに対して走査線の副走査方向に処理（画像処理）を施し、画像データの補正を行う。ＣＰＵ１０６は、補正した画像データを画像信号として走査光学装置１１のレーザ駆動回路基板３０４に出力する。

このように、本実施例では、走査光学装置１１の記憶部３５０に予め感光ドラム１上の照射位置ｚ１’、ｚ２’、ｚ３’を記憶させておく構成とする。これにより、走査光学装置１１を交換する必要が発生した場合でも、高精度な副走査方向の補正を行うことが可能となる。尚、上述した実施例１〜３では、走査線測定機１０００における主走査方向の照射位置の測定点は３か所であるが、測定点は３か所に限られるものではなく、より多くの測定点を用いることでより高精度の補正が可能となる。

以上、本実施例によれば、装置の小型化を実現しつつ、安価な構成で色ずれを低減することができる。

１１ 走査光学装置
３０２ 光源部
３０５ 回転多面鏡
３０７ ｆθレンズ
３０８ 走査レンズ
３０９ 反射ミラー
３５０ 記憶部

Claims (27)

1. レーザ光を出射する光源と、
   前記光源から出射されたレーザ光を偏向し、被走査面に照射されたレーザ光のスポットを主走査方向に移動させ走査線を形成する偏向手段と、
   を備える走査光学装置であって、
   平面上で測定された前記主走査方向に直交する副走査方向における前記レーザ光の照射位置に関する情報を記憶した記憶手段を備え、
   １つの前記走査線を形成するための照射位置を、前記記憶手段に記憶されている前記測定された照射位置の情報と、前記被走査面の形状に関する情報と、に基づき設定することを特徴とする走査光学装置。
2. 前記記憶手段には、複数の測定された照射位置の情報が記憶されていることを特徴とする請求項１に記載の走査光学装置。
3. 前記測定された照射位置は、ラインセンサにより測定されたことを特徴とする請求項１又は２に記載の走査光学装置。
4. 前記被走査面は円弧面であり、前記被走査面の形状に関する情報とは、前記円弧面の半径であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の走査光学装置。
5. 前記被走査面を表面に有する感光体と、
   請求項１乃至４のいずれか１項に記載の走査光学装置と、
   前記走査光学装置を制御して前記被走査面上に潜像を形成させる制御手段と、
   を備え、
   前記制御手段は、前記記憶手段から読み出した前記平面上で測定された照射位置の情報と、前記被走査面の形状に関する情報と、に基づいて、前記レーザ光が前記被走査面に照射されたときの前記被走査面上の前記副走査方向の照射位置を設定することを特徴とする画像形成装置。
6. 前記制御手段は、前記測定された照射位置の情報と前記被走査面の形状に関する情報とに基づき前記被走査面上におけるレーザ光の走査線の傾き量を算出し、算出した前記傾き量に基づき前記被走査面上の照射位置を算出することを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
7. 前記制御手段は、前記測定された照射位置の情報と前記被走査面の形状に関する情報とに基づき前記被走査面上におけるレーザ光の走査線の曲がり量を算出し、算出した前記曲がり量に基づき前記被走査面上の照射位置を算出することを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
8. 温度を検知する温度検知手段を備え、
   前記制御手段は、前記測定された照射位置の情報と、前記温度検知手段により検知された温度とに基づき、前記測定された照射位置を補正することを特徴とする請求項５乃至７のいずれか１項に記載の画像形成装置。
9. レーザ光を出射する光源と、
   前記光源から出射されたレーザ光を偏向し、被走査面に照射されたレーザ光のスポットを主走査方向に移動させ走査線を形成する偏向手段と、
   を備える走査光学装置であって、
   １つの前記走査線を形成するための前記主走査方向に直交する副走査方向における前記被走査面上の照射位置の情報を記憶した記憶手段を備え、
   前記記憶手段に記憶されている前記照射位置の情報は、平面上で測定された前記副走査方向における前記レーザ光の照射位置の情報と、前記被走査面の形状に関する情報と、に基づき算出されていることを特徴とする走査光学装置。
10. 前記記憶手段には、複数の前記被走査面上の照射位置の情報が記憶されていることを特徴とする請求項９に記載の走査光学装置。
11. 前記平面上で測定された照射位置は、ラインセンサにより測定されたことを特徴とする請求項９又は１０に記載の走査光学装置。
12. 前記被走査面は円弧面であり、前記被走査面の形状に関する情報とは、前記円弧面の半径であることを特徴とする請求項９乃至１１のいずれか１項に記載の走査光学装置。
13. 前記被走査面を表面に有する感光体と、
    請求項９乃至１２のいずれか１項に記載の走査光学装置と、
    前記走査光学装置を制御して前記被走査面上に潜像を形成させる制御手段と、
    を備えることを特徴とする画像形成装置。
14. 像担持体と、
    レーザ光を出射する光源と、前記光源から出射されたレーザ光を偏向し主走査方向に走査する偏向手段と、前記偏向手段により偏向されたレーザ光を前記像担持体に導く光学部材と、を有し、入力された画像データに応じた潜像を前記像担持体に形成する走査光学装置と、
    前記走査光学装置を制御して前記像担持体上に前記潜像を形成させる制御手段と、
    を備え、
    前記走査光学装置は、平面上で測定された前記主走査方向に直交する副走査方向における前記レーザ光の照射位置の情報を記憶した記憶手段を有し、
    前記制御手段は、前記記憶手段から読み出した前記平面上で測定された照射位置の情報と、前記像担持体の形状に関する情報と、に基づいて、前記レーザ光が前記像担持体に照射されたときの前記像担持体上の前記副走査方向の照射位置を算出し、算出した前記像担持体上の照射位置に基づいて、前記画像データを補正することを特徴とする画像形成装置。
15. 前記記憶手段には、複数の測定された照射位置の情報が記憶されていることを特徴とする請求項１４に記載の画像形成装置。
16. 前記記憶手段に記憶された測定された照射位置は、ラインセンサにより測定されたことを特徴とする請求項１４又は１５に記載の画像形成装置。
17. 前記像担持体の形状に関する情報とは、前記像担持体の半径であることを特徴とする請求項１４乃至１６のいずれか１項に記載の画像形成装置。
18. 前記制御手段は、前記測定された照射位置の情報と前記像担持体の半径とに基づき前記像担持体上におけるレーザ光の走査線の傾き量を算出し、算出した前記傾き量に基づき前記像担持体上の照射位置を算出することを特徴とする請求項１７に記載の画像形成装置。
19. 前記制御手段は、前記測定された照射位置の情報と前記像担持体の半径とに基づき前記像担持体上におけるレーザ光の走査線の曲がり量を算出し、算出した前記曲がり量に基づき前記像担持体上の照射位置を算出することを特徴とする請求項１７に記載の画像形成装置。
20. 温度を検知する温度検知手段を備え、
    前記制御手段は、前記測定された照射位置の情報と、前記温度検知手段により検知された温度とに基づき、前記測定された照射位置を補正することを特徴とする請求項１４乃至１９のいずれか１項に記載の画像形成装置。
21. レーザ光を出射する光源と、前記光源から出射されたレーザ光を偏向し、被走査面に照射されたレーザ光のスポットを主走査方向に移動させ走査線を形成する偏向手段と、を備え、入力された画像データに応じた潜像を前記被走査面に形成する走査光学装置の前記走査線を補正する補正方法であって、
    前記光源から出射されるレーザ光の照射位置を平面上で検知手段により測定する測定工程と、
    前記測定工程で測定された照射位置と、前記被走査面の形状に関する情報と、に基づき、前記測定された照射位置と前記被走査面上の照射位置との誤差を算出する第一の算出工程と、
    前記第一の算出工程で算出された前記誤差に基づき前記被走査面上の照射位置を算出する第二の算出工程と、
    前記第二の算出工程で算出された前記被走査面上の照射位置に基づいて、前記画像データを補正する補正工程と、
    を備えることを特徴とする補正方法。
22. 前記測定工程では、前記検知手段により複数の照射位置が測定されることを特徴とする請求項２１に記載の補正方法。
23. 前記検知手段は、ラインセンサであることを特徴とする請求項２１又は２２に記載の補正方法。
24. 前記被走査面は円弧面を備え、前記被走査面の形状に関する情報とは、前記円弧面の半径であることを特徴とする請求項２１乃至２３のいずれか１項に記載の補正方法。
25. 前記第一の算出工程では、前記測定された照射位置の情報と前記被走査面の半径とに基づき前記被走査面上におけるレーザ光の走査線の傾き量を算出し、
    前記第二の算出工程では、前記第一の算出工程で算出した前記傾き量に基づき前記被走査面上の照射位置を算出することを特徴とする請求項２４に記載の補正方法。
26. 前記第一の算出工程では、前記測定された照射位置の情報と前記被走査面の半径とに基づき前記被走査面上におけるレーザ光の走査線の曲がり量を算出し、
    前記第二の算出工程では、前記第一の算出工程で算出した前記曲がり量に基づき前記被走査面上の照射位置を算出することを特徴とする請求項２４に記載の補正方法。
27. 温度検知手段により温度を検知する検知工程を備え、
    前記第一の算出工程では、前記測定工程で前記測定された照射位置の情報と、前記検知工程で検知された温度とに基づき、前記測定された照射位置を補正することを特徴とする請求項２１乃至２６のいずれか１項に記載の補正方法。

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