JP2016105103A - 半導体デバイスの同時試験のためのシステム - Google Patents

Abstract

【課題】同時試験計画を作る際に、試験エンジニアを支援するツールを提供する。【解決手段】ツールは速やかに試験システムリソースを特定のピンにマッピングし、同時試験の必要条件を満たし得る。ツールは、マッピングが可能であるとき試験時間を推定し得る。マッピングが可能でないときツールはそのユーザーに、試験システムが試験を実行するのを可能にする追加のリソースを提案すること、又はマッピングを可能にする入力パラメータにおける他の変化の提案をすることなどを伝えることができる。ツールは、各群に関して関連付けられたリソース必要条件と共に、割り当てられたピンの群が特定される割り当てプロセスを採用する。より高レベルの必要条件を満たす試験システムの群が特定され、プロセス時間を減少させるために、順序付け及びヒューリスティックスの整合を使用しながらリソースセットをリソース群にマッピングすることによって、割り当てが行われる。【選択図】図２

Description

本発明は一般に、半導体デバイスの製造に関し、詳しくは、半導体デバイスの試験プログラムの開発に関する。

半導体デバイスは一般に、それらの製造中に少なくとも１回試験される。かかる試験は、多数の刺激信号を生成し、多数の応答信号を測定することができる自動試験システムによって実行される。試験システムは、被試験デバイス内でそれが動作するときに生じ得る様々なタイプの信号を生成できる複数の機器を有する。同様に、当該機器は、デバイスによって生成され得る様々なタイプの信号を測定できる。

例えば、多くの半導体デバイスは今日、「システム・オン・チップ（ＳｏＣ）」又は「システム・インパッケージ（ＳｉＰ）」として製造される。これは、電気回路によって実行され得る複数タイプの動作を集合的に行う「コア」又は「機能ブロック」と称されることもあるサブ回路を含む。具体的な例としては、携帯電話で使用され得るチップは、無線周波（ＲＦ）信号を送信及び受信するコアを有し得る。他のコアはＲＦ回路を制御することができ、さらに他のコアは、アプリケーションを実行するようにプログラムできる汎用プロセッサとして機能することができる。そのようなＳｏＣ又はＳｉＰデバイスを完全に試験するために、試験システムは、ＲＦ信号を生成し、測定する機器と、制御コア及びプロセッサコア内で処理され得るようなデジタル信号生成し、これを測定する機器と、を有する場合がある。試験システムはまた、動作中の半導体デバイス内で生じ得るタイプの他の信号（例えばデバイス動作中に電源によって適用され得る電圧及び電流信号）又はセンサから読み取ることができる信号を生成し、かつ測定することができる機器を有する。これらの機器は試験を実行するためのリソースを集合的に提供する。

デバイスがより複雑になるにつれて、デバイスを試験するのに必要とされる試験システムの複雑性が増している。さらに、試験計画を作成し、その試験を実行するためにより多くの時間が必要とされ、デバイスメーカーにとって、試験コストに関する懸念を生んでいる。この懸念が対処される１つの方法は、同時試験プロセスの使用による。試験プロセスは、複数のコア、又はデバイスの他の領域を並列で試験することによって、特定のデバイスに関して並列で実施され得る。試験ブロックと呼ばれることがある別個の試験又は試験の群は、これらの領域のそれぞれに関して開発される場合がある。かかる試験を有効にするために、１つの試験ブロックの実行は、他の試験ブロックによって同時に試験されているデバイスのいずれか他の部分の動作に影響を与えるべきでない。したがって、同時試験計画を作成する難しさは、すべての試験ブロックが最終的に実施されるが、より多くの試験時間を節約するために一緒に実行される適切な試験ブロックを含む、適切な試験「フロー」を特定することである。

同時試験計画を作成する更なる難しさは、試験を実施する試験システムが十分なリソースを有して、試験のために同時に使用される、すべての試験ポイントに必要とされるすべての信号を生成し、かつ測定するということを確実にすることである。試験信号が適用される、又は測定されるデバイスのそれぞれの場所は、「ピン」と呼ばれることがある。同時計画を作成する１つの態様は、試験システムが十分な機器を有して、試験で含まれる各ピンにおいて必要とされるリソースを提供することを確実にすることである。必要とされるリソースを提供するための機器を設置することによって、試験システムが特定のデバイスを試験するために構成され得るように、機器は試験システムから別個に販売されることが多い。より多くの試験ブロックが同時に試験されるとき、より多くの機器が必要とされ得る。同時試験計画を作成する際に、同時に試験されるブロックの数と、試験システム構成における機器の数との間でトレードオフが生じる場合がある。

同時試験計画を確立する際における他の考慮事項は、試験システム内部の機器からの信号が、ピンにルーティングされるのを確実にすることである。多くの試験システムでは、ピンと機器との間のこのルーティングは、デバイスインターフェース基板（ＤＩＢ）によって実行され、これは試験されるデバイスのそれぞれのタイプのために特別に設計される場合がある。試験システムは、所定の数のアクセスポイントを有し、そのポイントのそれぞれは、チャネルと呼ばれることがある。各チャネルは１つの機器の１つのための１つ信号の入力部、出力部、又はこの両方として機能し得る。ＤＩＢは各チャネルを、これが被試験デバイス上の特定の試験ポイントと接続する機構と位置合わせされる点までルーティングする。

試験システムは、試験システムに設置される機器の数によって、何百又は何千ものチャネルを有する場合がある。被試験デバイスは試験システムにあるチャネルよりも少ないピンを有する場合がある。したがって、試験プロセスは、複数のデバイスを並列で試験することによって、同時に実施される場合もある。この場合では、複数の「サイト」が定義される場合があり、各サイトは、被試験デバイスの１つに接続を提供する。同じ試験プログラムはサイトのそれぞれで並列に実施されることがあり、各試験サイトにおいて、必要とされる試験リソースの対応する複製と共に、被試験デバイスのピンを効果的に複製する。

これが同時に機能するためには、試験フロー中に各ステップにおいて、適切な機器が各サイトに結合されて、試験フローでのその工程において、各サイトにおけるすべてのピン上で必要とされる信号を生成する、又は測定するように、ＤＩＢはチャネルをサイトに接続するように設計されなければならない。生成され、かつ測定される必要のあるピンの数及び信号のタイプの数が増えるにつれて、ＤＩＢを設計する時間及び複雑性もまた増加する。このプロセスを支援するために一部のツールが利用可能であるが、設計の多くは未だに、ピンまでの試験システムチャネルを指定する方法が見つけ出そうとしている試験エンジニアにより手動で実施されている。ＤＩＢ設計のコストに加えて、試験構成の開発は装置の製造を送らせ得るため、デバイス製造の遅延のコストもまた有意であり得る。

本開示は、同時試験計画を形成する際に使用するための自動化ツールに関連する。

一態様においては、本発明は、複数のピンを有するデバイスのための、かつ複数のリソースを有する試験システムによって実施される同時試験計画のための情報を生成する方法に関する。本方法は、複数群のピンと、これらの群のそれぞれのための、同時試験フロー中のリソース要求のセットとを特定することと、それぞれが集合的に要求を満たす１つ以上セットの試験システムリソースを含む、試験システムリソースの複数セットを特定することと、複数セットのセットを、複数群の対応する群と整合させることと、を含む。

かかる方法は、計算装置の少なくとも１つのプロセッサを用いて実行されて得る。本発明の態様は、システム、方法、コンピュータ、読み取り可能な媒体、又は半導体デバイスを製造する方法として実施されてもよい。

更なる態様において、本発明は、少なくとも１つのデバイスの同時試験のための計画に関する情報を生成するための計算装置を操作する方法に関し、少なくとも１つのデバイスのそれぞれは複数のピンを有し、試験は、複数のピンに接続可能な複数のリソースを有する試験システムによって実行され、同時試験は複数のブロックを含む。本方法は、反復的にプロセスを実行することを含み、これはヒューリスティックに従って候補フローを特定することを含み、候補フローは、ブロック間の事前に特定された競合を避けるためにブロックをスケジューリングする。それぞれの候補フローに関して、候補フローに従って、同時試験を実行するために、複数のリソースのリソースを、複数のピンのピンに割り当てようという試みがなされる。この割り当てようとする試みが、リソースの良好な割り当てとなったとき、候補フローを使用して同時試験を実行するための試験時間が計算される。リソースの割り当てが、試験ブロック間の競合のために成功しなかったとき、後の反復における候補フローが競合を含まないように、競合する試験ブロック間の競合が記録される。

さらに他の態様において、本発明は、複数のコンピュータ実行可能な指示を含む、少なくとも１つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に関し、この指示は、少なくとも１つのプロセッサによって実行されたとき、少なくとも１つのデバイスの同時試験計画のための情報を生成するためのツールを実行し、少なくとも１つのデバイスのそれぞれは複数のピンを有し、試験は複数のピンに接続可能な複数のリソースを有する試験システムによって実行され、同時試験は複数のブロックを含む。コンピュータ実行可能な指示は、複数のモジュールを構成し、複数のモジュールは少なくとも２つのモジュールを含み、これは２つ又はそれ以上のモジュールであってもよい。第１の可能性のあるモジュールは、第１技術を指定する入力に応答して、同時試験のための少なくとも１つのフローを、候補フローを列挙することと、複数のリソースのリソースを複数のピンのピンに割り当てて、列挙された候補フローのそれぞれに従って同時試験を実行しようと試みることと、リソースの割り当てが良好である、複数の列挙された候補フローを示す出力、及び列挙された候補フローに関する、対応する予測試験時間を提供することと、によって特定する。第２モジュールは、第２技術を指定する入力に応答して、同時試験のための少なくとも１つのフローを、第１終了条件に到達するまで、前の反復中に計算された前の候補フローの試験時間よりも短い時間で、同時試験を実行するために、ヒューリスティックによって示される特徴を有する候補フローを、各反復にランダムに生成することによって、複数の候補フローを反復的に生成することによって特定し得る。各反復しに関して、第２モジュールは、それぞれ生成された候補フローに関して、列挙された候補フローのそれぞれに従って同時試験を実行するために、複数のリソースのリソースを複数のピンのピンに割り当てようと試みることができる。第２モジュールは、リソースの割り当てが成功である、生成された候補フローの少なくとも１つを示す出力を提供することができる。第３モジュールは、第３技術を指定する入力に応答して、同時試験のための少なくとも１つのフローを、第２終了条件に到達するまで、前の反復中に計算された前の候補フローの試験時間よりも長い時間で、同時試験を実行するために、ヒューリスティックによって示される特徴を有する候補フローを、各反復に、反復的に生成することによって特定し得る。第３モジュールはまた、それぞれ生成された候補フローに関して、列挙された候補フローのそれぞれに従って同時試験を実行するために、複数のリソースのリソースを複数のピンのピンに割り当てようと試みることができる。第３モジュールの出力は、リソースの割り当てが良好である、生成された候補フローの少なくとも１つを示すことができる。

さらに他の態様において、本発明は、複数のコンピュータ実行可能な指示を含む、少なくとも１つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に関する場合があり、この指示は、少なくとも１つのプロセッサによって実行されたとき、少なくとも１つのデバイスの同時試験計画のための情報を生成するためのツールを実行し、少なくとも１つのデバイスのそれぞれは複数のピンを有し、試験は複数のピンに接続可能な複数のリソースを有する試験システムによって実行され、同時試験は複数のブロックを含む。コンピュータ実行可能な指示は、試験システム構成を特定する入力を受信し、候補フローを特定する入力を受信し、及び複数のリソースのリソースが、複数のピンのピンに良好に割り当てることができ、特定の試験システム構成を備える入力候補フローに従って同時試験を実行できるかどうかを決定し得る。

前述のものは、非限定的な発明の概要であり、これは添付の請求項によって定義されるものである。

添付の図面は等尺で描かれることを意図されていない。図面において、様々な図において図示されている、それぞれ同一若しくは、ほぼ同じ構成要素は類似の番号によって示されている。明確さを目的として、すべての構成要素がすべての図面で表示されていない場合がある。図面は以下の通りである。

本発明のいくつかの実施形態によるツールを使用して開発された同時試験計画を使用して、半導体デバイスの製造に使用され得る試験システムの略図。 本発明のいくつかの実施形態による同時試験計画を開発するためのツールの動作方法の、高レベルのフローチャート。 本発明のいくつかの実施形態による同時試験計画の開発に有用なツールへの入力及び出力の略図。 図４Ａは同時試験プログラムが、本発明のいくつかの実施形態により開発され得る、試験ブロックを備える半導体デバイスの略図である。図４Ｂは、図４Ａの半導体デバイスの試験フローの列挙の略図である。 関連付けられたピンの群のためのリソースエンジン要求と、リソースエンジンを形成する関連付けられた試験システムチャネルの群とのマッピングの略図。 リソースエンジン条件をリソースエンジン要求にマッチングさせることによって、試験システムチャネルをピンに割り当てるプロセスのフローチャート。 図６のプロセスの一部として反復的に実施され得る、候補フローに関する動作可能な割り当てを特定するように試みるためのサブブロセスのフローチャート。 関連付けられたピンの群に関して特定されたリソースエンジン要求のセットの略図。 本発明のいくつかの実施形態による、ツールのコンピュータ・システムにおける実施の略図。 それを通じて、ユーザーが、本発明のいくつかの実施形態に従って、同時試験計画を確立するのに使用されるパラメータの値を提供することができる、例示のグラフィカル・ユーザー・インターフェースのスケッチ。 それを通じて、ユーザーが、本発明のいくつかの実施形態に従って、操作状況に合わせて変化する特定の要求を入力することができる、例示のグラフィカル・ユーザー・インターフェースのスケッチ。 それを通じて、ユーザーが、発明のいくつかの実施形態に従って、同時試験計画の形成に使用されるツールからの出力を受信することができる、例示のグラフィカル・ユーザー・インターフェースのスケッチ。 それを通じて、ユーザーが、本発明のいくつかの実施形態に従って、ツールの出力を受信することができる、例示のグラフィカル・ユーザー・インターフェースのスケッチ。 それを通じて、ユーザーが、本発明のいくつかの実施形態に従って、ツールによって使用される情報を入力することができる、更なる例示のユーザー・インターフェースのスケッチ。 それを通じて、ユーザーが、本発明のいくつかの実施形態に従って、ツールによって使用される情報を入力することができる、更なる例示のユーザー・インターフェースのスケッチ。

本発明者らは、ピンに対するテスタチャンネルのマッピングの自動化ツールは、同時試験計画の開発を加速することができ、並びに、より費用効果の高い同時試験計画を生み出し得るということを認識し、理解している。効率の良い割り当てを速やかに作成することができるツールを有することによって、同時試験計画における複数のパラメータの値は、試験時間と試験機器の費用との間の適切なトレードオフを作る計画を探すのに様々であってもよい。ツールの使用は、特定のデバイスを試験するための時間とコストとの間の望ましいトレードオフを提供する、試験システム構成、試験フロー、及びチャネル割り当ての特定につながり得る。

かかるツールは、特定の試験シナリオのために達成され得る、同時フローの特定に関連する課題に対処することができる。このツールは、例えば、互いに完全に独立しているブロックか、又は反対に、同時に試験できない、相反するブロックを特定することによって、デバイスが使用可能なフローをユーザーが特定するのを支援することができる。「完全に独立している」は、ピン又は内部リソースを共有しないブロックを意味する。あるいは、又はそれに加えて、ツールはテスタが使用可能なフローをユーザーが特定するのを支援することができる。試験システムが、完全に独立しており、かつ同時に実行することができる十分なリソース含むとき、フローはテスタ使用可能であり得、これによって、リソースは、フローに従って試験プログラムを実行するように割り当てられ得る。

ツールの動作において、同時試験計画のパラメータの値は反復的に変化し得る。これらの反復は、ツールによって自動的に実行されてもよい。しかし、いくつかの実施形態では、ツールは試験システムチャネルと試験ピンとの間の適切な割り当てを、それが試験エンジニアによって反復的に使用され得るように、十分速く特定することができる。したがって、ツールは、ユーザー・インターフェースを含む場合があり、それを通じて試験エンジニアは、パラメータ値を入力し、並びに試験エンジニアに同時試験計画を選択させることができる、同時試験計画に関する情報を受信することができる。チャネルとピンとの間の適切なマッピングが見出されたとき、同時試験の実行に関する情報を試験エンジニアに提供することに加えて、ツールが適切なマッピングを特定することができない場合、マッピングを見つけることができる可能性を増加させるために変更され得る、同時試験計画のパラメータに関する情報を、ツールは試験エンジニアに提供することができる。例えば、ツールは、適切なマッピングを達成するために、試験システムに追加され得る、更なる機器を示してもよく、又は特定の試験システム構成に基づいて同時試験のために指示され得る試験サイトの数に関するフィードバックを提供することができる。この方法において、試験エンジニアはツールを使用して、試験時間と機器の費用との間の所望のトレードオフを反映する同時試験計画を速やかに特定することができる。

かかるツールの一態様は、マッピングが可能でない場合、その事実を速やかに特定し、チャネルとピンとの間の適切なマッピングを速やかに特定するのに適切である。このような速やかな実行は、ツールの反復使用を可能にし、この条件下で、ユーザーは特定の指定された試験構成下において、試験時間、又は試験実行の他の特性を決定することができる。ユーザーが、試験実行のこれらの特性に不満である場合、ユーザーは異なる試験構成を指定し、かつ試験特性における効果を決定してもよい。

ツールは、ルール及び関連性を適用し、ピンの群に関する要求を特定することによって、ピンとチャネルとの間のマッピングを作成することができる。ピン及び関連付けられた要求の群は、「リソースエンジン要求」を定義すると見なすことができる。ツールはまた、可能な要求を満たすことができる試験リソースのセットを特定することができる。試験システムリソースのセットは、「リソースエンジン」を定義すると見なすことができる。ツールは、リソースエンジン要求とリソースエンジンとの間の動作可能なマッピングを検索することができる。「リソースエンジン要求」と「リソースエンジン」のマッピングを検索することは、個々のピンとリソースとのマッチングを検索するよりも、計算効率がよい場合がある。

ツールは順序付け技術を使用して、効率の良い割り当てが速やかに特定される可能性を増加させることができる。例えば、可能な試験フローは、当該フローが実装可能な場合に達成されるであろう予定試験時間に基づいて順序付けすることができる。ツールは、最も速いものから最も遅いものまでの順序で、それがフローに対して動作可能な割り当てを見出すことができるかどうかを試験してもよい。いったん、所望される数の動作可能なオプションが特定されると、ツールは更なるフローのその解析を終了してもよい。他の例として、ツールは、そのような要求を満たすリソースエンジンの発生頻度又は当該要求を満たすマッピングの発見困難性の他の指標に基づいて、リソースエンジン要求を順序付けてもよい。ツールは、より難しい要求を満たすリソースエンジンを優先的に割り当てることによってマッピングを構築してもよい。

図１は、本発明のいくつかの実施形態が動作し得る環境を例示する。図１は、本明細書に記載のツールの使用に基づく、同時試験を実行するようにプログラムされ得る試験システム１００を例示する。図１に例示された環境において、試験システム１００は、ウエハ１３０を試験するのに適用され、これは既知のタイプのウエハであり得る。ウエハ１３０は、複数の半導体のダイを含んでもよく、そのうちのダイ１３２は番号が付けられている。しばしば、ウエハ上のダイのすべては同じ設計を有し、これによってウエハ１３０の製造中に共通のプロセス工程が実行されて、多数のダイが１枚のウエハ上に作製され得る。

図１の例は、試験シナリオを例示し、ここでは試験システムは、「プローブ」と呼ばれることもある製造操作の段階で実行され、プローブでは、デバイスは依然としてウエハの一部でありながら、試験される。半導体デバイスは、いったんデバイスがパッケージとなったときに、最終試験の一部として含む、製造操作の他の段階で試験されてもよい。したがって、本明細書に記載の技法は、その技法が適用される製造の段階によって限定されないということが理解されるべきである。

試験システム１００は、試験信号を生成し、かつこれを測定する複数の機器を含む。試験システム１００内に含まれる具体的な機器のタイプは、試験システム１００が試験するように構成される半導体デバイスの特性に基づく場合がある。例えば、いくつかの機器は、デジタル試験信号を生成し、又はこれを測定することができ、一方で、他の機器はＲＦ信号を生成し、これを測定することができる。しかしながら、試験システム１００内に設置される具体的な機器のタイプは、本発明にとって重要ではない。

図１では、機器１０２の集合体は、複数の物理的リソースを提供するものとして示されており、そのそれぞれは、試験中に試験信号を生成又は測定するために使用され得る。図１の実施例では、物理的リソース１０４Ａ、１０４Ｂ及び１０４Ｃが図示される。これらの物理的リソースは、例えばアナログ信号を生成する又は測定することができる機器を表すことができる。同様に、物理的リソース１０６Ａ、１０６Ｂ及び１０６Ｃが例示される。これらのリソースは、例えばデジタル試験信号を生成する又は測定することができる機器を表す場合がある。

図１は、試験システムの単純化した図を提供しているということ、及び６より遥かに多い物理的リソースが、試験システム１００内の機器１０２によって提供され得るということが理解されるべきである。機器の数が、試験システムを適切に構成することによって増加されるか、又は減少され得るように、試験システム１００は、モジュール式構造を用いて構築され得るということが理解されるべきである。ここで、図１は、試験システム１００が、物理的リソース１０８Ａ、１０８Ｂ及び１０８Ｃを提供するために更なる機器を提供する更なる機器を受容するスロットを含んでいるのが示されている。本発明のいくつかの実施形態に従って、同時試験計画を決定する１つの態様は、同時試験を実行する試験システム１００において、物理的リソースの所望の集合体を提供するために、所望の機器の集合体を決定するということである。

試験システム１００内の機器の数に関係なく、半導体デバイスを試験するためには、試験信号は、物理的リソースと被試験半導体デバイスとの間で連結されなければならない。例示されている実施例において、試験システム１００は、複数の接触ポイントが露出されているインターフェースを含む。この実施例では、接触ポイントはチャネル１１０を形成する。チャネルのそれぞれは、物理的リソース１０４Ａ．．．１０４Ｃ又は１０６Ａ．．．１０６Ｃに連結され得る。

いくつかの又はすべてのチャネル１１０は、被試験デバイス上の試験ポイントにおいて信号を生成し、かつこれを受信するように割り当てられてもよい。物理的リソースと関連付けられているチャネル間のマッピング、及び被試験デバイス上の試験ポイントは、以下に記載のとおり、ツールの使用を通じて確立されてもよい。いったんマッピングが確立されると、それはデバイスインターフェースボード（ＤＩＢ）１１２に示されるように、インターフェース構造体を通じて実施されてもよい。ＤＩＢ１１２は、チャネル１１０と接触するように適合された上面を含んでもよい。ＤＩＢ１１２の下面は、プローブ針１２２又は被試験デバイスと電気接続をするように適合された他の構造体を含んでもよい。

プローブ針１２２のそれぞれは、試験「ピン」と関連付けられた試験ポイントにおいて、被試験デバイスと接触するように位置決めされ得る。試験システムリソースとピンとのマッピングは、プローブ針１２２とチャネル１１０との間の電気接続によって、ＤＩＢ１１２内で実行され得る。本明細書に記載のとおり、ツールは、ＤＩＢ１１２が試験計画に従って試験を支援するように設計され得るように、試験エンジニア又は他のユーザーが、適切なマッピングを特定するのを支援するために使用され得る。

試験計画はウエハ１３０の同時試験を指定することができる。同時試験は、ウエハ１３０上の複数のダイの上で実行することができる。しかしながら、ダイ当たりの試験ポイントの数、及びウエハ当たりのダイの数は、ウエハ１３０上のダイのすべてを同時に試験するのに必要とされる試験信号のすべてを同時に生成し、かつ測定するのを実行不可能にしている。むしろ、試験システム１００は、ウエハ１３０上のダイのサブセットを同時に試験するように構成される場合がある。試験操作中に、ウエハ１３０を処理するためのデバイス（図１に図示せず）は、ウエハ１３０を移動させて、試験システム１００によって同時に試験するために、ウエハ１３０上のダイの群を連続的に位置決めすることができる。試験システムに接続された各ダイは、総じて「サイト」と呼ばれることもある、複数の試験ピンを通じて同時に接続される。

同時に試験することができるサイトの数は、複数の要因に基づく。ある方式では、同時に実行され得る試験ブロックの数は複数の要因に基づく。被試験デバイスの特性、並びに試験システム１００内で利用可能な物理的リソースは、達成され得る並行処理の量に影響を与える場合がある。さらに、試験システム１００内の物理的リソースと、被試験デバイス上の試験ポイントとのマッピングの効率はまた、可能な並行処理の量に影響を与える場合がある。

図１は、比較的少ない物理的リソースのタイプ、例えば物理的リソース１０４Ａ．．．１０４Ｃ及び物理的リソース１０６Ａ．．．１０６Ｃを例示しているが、高性能ＳＯＣ及びＳＩＰデバイスを試験する試験システムは、多くのタイプのリソースを有する場合がある。したがって、試験ピンをいずれかのリソースにマッピングするのは適切ではない。むしろ、被試験デバイスを良好に試験するために、良好なマッピングは、試験ピンにおいて生成される、又は測定される必要がある信号のタイプを生成する、又は測定することができるリソースに、各ピンを関連付ける。試験システムリソースを効率良く使用するマッピングを特定することは、多数の試験システムリソースのため、及び一部の試験システムリソースが異なるタイプの要求を満たし得る可能性の両方のために、複雑である場合がある。複数のタイプの試験システムリソースが使用されて、特定の試験ピンの要求を満たす場合があり、そのピンのために選択されたリソースは、他の試験ピンの要求を満たす試験システムリソースの可用性に影響を与える場合がある。したがって、どの試験システムリソースが特定の試験ピンにマッピングされるかという選択は、適切なリソースに関連付けることができる試験ピンの全体の数に影響を与える場合がある。

同時試験プロセスを計画する際に、サイトのための試験ピンに試験システムリソースを割り当てることができないということは、試験ピンすべてに対してリソースが提供されるように、リソースと他の試験ピンとの異なるマッピングを見出すことによって対処することができる。例えば試験システムが十分な数のリソースによって構成され、個別に操作することができる場合、試験エンジニアはこの手法を選択して、信号が個別に生成され、測定されることを必要とする各ピンに割り当てることができる。あるいは、又はそれに加えて、試験システムリソースの数は、例えばより多くの機器を試験システム１００に追加することによって増加されてもよい。更なる可能性として、試験信号が同時に生成され得る、又は測定される試験ピンの数は減少させることができる。さらに多くの試験システムリソースを追加することは、資本コストの増大を伴う。並行処理を減少させることは、試験され得るデバイスの割り当てを減少させ、これは間接的に試験のコストに影響を与える。したがって、試験中に効率良く試験システムを使用して、高レベルの並行処理を用いてフローを支援する、試験システムリソースと試験ピンとのマッピングを見出すことが望ましい場合がある。

図２は、同時試験を支援する試験システムリソースと試験ピンとの有効なマッピングの開発のプロセスを例示する。デバイスに対してマッピングが実行可能かどうかにかかわらず、試験は、使用されるフロー及び／又は試験システム構成（例えば同時に試験されるサイトの数）、又は他のパラメータに基づく場合がある。したがって、リソースマッピングを特定する代わりに、又はこれに加えて、ツールの出力は別の方法としては、又は追加として、１つ以上フローの特定を含み、これはデバイスを及び／又は試験システム構成に関する情報、又は他のパラメータを試験するために使用され得る。

より一般には、ツールはパラメータのセットに関して、マッピングが特定され得るかどうかを決定するために操作されてもよい。ツールは、これらのパラメータの一部に関する入力値として受信するために動作することができる。ツールは次いで、リソースマッピングが達成されるのを可能にする、他のパラメータの値を検索することができる。この検索は、１つ以上制約の対象となる場合があり、それらの一部又はすべては、入力値としてツールに提供され得る。

図２に示されるプロセスは、コンピュータ・システム上に実行されるツールとして実行されてもよい。かかるツールは相互作用的であるように実施されてもよく、試験エンジニアが、同時試験プロセスの設計中に有用なツールを用いて情報を生成できるようにする。いくつかの実施形態では、入力は自動又は半自動の方式で得ることができるが、出力もまた、自動又は半自動の方式で同時試験プロセスを制御するために適用され得る。

いくつかの実施形態では、ツールは複数の操作モードを支援することができる。例えば、ツールは、パラメータの入力値（例えば利用可能なリソース及び試験システム構成など）としての受信を支援することができる。これらの入力に基づいて、ツールは、指定されたデバイスに対する指定された試験が、試験システムを用いて実行できるようにする、試験フロー及び対応するリソースマッピングを特定することができる。このシナリオでは、ツールの出力はリソースマッピング、及び試験フローが見出され得る表示であってもよい。あるいは、又はそれに加えて、予測試験時間が出力されてもよい。リソースマッピングが見出されなかったシナリオにおいて、試験エンジニアに有用であり得る他の情報（例えば、リソースマッピングを見出すために、試験システムに追加されなければならないリソースなど）と共に、出力はその否定的な結果を表示することができる。

いくつかの実施形態では、候補の試験フローを特定するよりはむしろ、ツールは入力として、候補の試験フローを承認し得る。ツールは次いで、リソースのルーティングが、その候補フローに関して見出すことができるかどうかを決定し得る。見出すことができる場合は、ツールは、情報（例えば、リソースマッピング、予測される試験時間、又は他のパラメータの値）を出力することができる。操作モードの他の例として、ツールは、１つ以上の同時試験フローに対するピンへのリソース割り当てのセットの「逆チェック」を支援することができる。「逆チェック」に関して、ユーザーは既にデバイスインターフェースボード（ＤＩＢ）及びチャネルマップを有しており、いずれかの同時フローがこのチャネルマップによって使用可能であるかを見ることを所望する。

図２は、指定された試験システム構成に関して、フロー及びリソースマッピングを特定するためにツールが使用される実施形態を示す。この例では、ツールにより実行されるプロセスは、ブロック２１０において開始され得る。ブロック２１０において、入力が受信され得る。かかる入力は、試験エンジニア又はツールの他のユーザーから受信され得る。あるいは、又はそれに加えて、そのような入力は自動化又は半自動化の方式で、半導体デバイスの設計で使用され、それを試験するための試験プログラムを生成している他のコンピュータ化されたツールから受信され得る。

これらの入力は、その上で試験が実行され得る構成を示す。この構成は、試験を実行するために既に定位置にある物理的なハードウェアに対応するか、又は試験システムのための追加の機器又は他の構成要素を取得する必要性又は便益を決定するための、理論的なハードウェアを説明することができる。

図３は、入力３１０の集合体を例示し、これは図２のプロセスを実行するスケジューリング及び割り当てツール３５０に提供され得る、入力のタイプの代表的なものである。入力３１０は、ツール３５０に、被試験デバイス、試験を実行する試験システム、又は試験自体に関する情報を提供することができる。複数のサイトの並行試験に基づいて、並行処理が望ましい実施形態では、被試験デバイス又は試験プログラムを画定するパラメータに関する入力は、単一のダイ、例えばダイ１３２、又はサイトにおいて試験される他のデバイスに関して提供され得る。したがって、入力３１２は、ピン配列を示しながら、試験される単一デバイス、例えばダイ１３２のピン配列を示すことができる。入力３１２は、ピンを画定することができ、これに対してリソースは最終的に、ツール３５０の操作によってマッピングされ得る。

入力３１４は、試験されるデバイスのために作られている試験プログラムにおける試験ブロックを特定することができる。試験ブロックのそれぞれは、同時試験計画の一部として実行するためにスケジューリングすることができる、試験プログラムの分離可能な部分を定義する。ツール３５０は入力３１４を使用して、一部の試験ブロックが同時に実行されるように、試験ブロックの実行をスケジューリングすることができる。

入力３１６はマッピングをブロックするためのピンを提供してもよい。この情報は、入力３１２に定義されるようにどのピンが、試験ブロックのそれぞれの実行中に、入力３１４に定義されるように使用されるかということを特定することができる。いくつかのシナリオでは、単一のピンは複数の試験ブロックと関連付けられ得る。したがって、入力３１６は各ピンに関して複数の試験ブロックを特定してもよい。しかしながら、入力３１４の特定のフォーマット、又は他のインプット３１０のいずれかは、本発明にとって重要ではない。

入力３２２は、試験プログラムに関して更なる情報を提供してもよい。この例において、入力３２２は、試験ブロックのそれぞれに対して、試験ブロックの実行時間の予測を含む。この情報は、ツール３５０によって使用され、同時試験計画による試験の全体の実行時間を予測することができ、これによって効率の良い同時試験計画が生成され得る。

入力３２４は、特定の試験フローに関する試験システムリソースとピンとの動作可能なマッピング、又はピンに対するリソースの割り当てを見出すのを妨げる場合がある競合を特定することができる。より一般には、１つ以上入力が使用されて、ツールによって検討されるべき又は検討されるべきではない候補フローを特徴付けることができる。例えば、入力３２４は候補フローにおいて同時に現れるべきではないブロックを特定することができる。この入力は、試験ブロックが同じデバイスピン上に同時に入力されるべき、又は出力されるべき入力を必要とするため、被試験デバイスに基づいて特定されてもよい。あるいは、又はそれに加えて、この入力は試験システム構成に基づいて特定されてもよい。例えば、２つのブロックが集合的に、試験システムで利用可能なものよりも多いリソースを必要とする場合、これらのブロックを同時に試験するフローは、ツールによって考慮されなくてもよい。

入力３２４、又は任意の他の適した入力がツール３５０によって使用され、順序を制御することができ、ここでは候補試験フローが検討されるか、又はピンに対する候補リソース割り当てが検討される。これらの入力を使用して、ツールが解決しようと試みる問題の規模を制御することができる。例えば、いくつかの実施形態では、入力に基づいて、ツールは試験ブロックのすべての可能な固有の組み合わせを作ろうと試みる場合がある。このシナリオでは、リソースのマッピングが、単一のフロー工程において、同時に実行されるすべてのブロックを有する試験フローに関して特定され得るかどうかを、ツールは判定しようと試みることができる。ツールはまた、リソースマッピングが、連続して実行されるすべてのブロックを有する試験フローに対して、試験ブロックの数に等しいフロー工程の数において特定され得るかどうかを判定しようと試みてもよい。ツールはまた、固有の試験フローを生む各フロー工程における、試験ブロックのすべての可能な組み合わせを用いて、リソースマッピングがフロー工程の中間の数に関して特定され得るかどうかを判定しようと試みようとすることができる。

しかし、他の入力値が他の操作モードを特定してもよく、ここでは異なる技術が使用されて、より少ない数の候補フローを生成する。速やかに実行し、リソースマッピングがそれに対して見出されるフローが、限定された時間内に見出され得る高い可能性を提供するヒューリスティックによって、フローが作られてもよい。かかるヒューリスティックスは、例えば最も同時的であるものから、したがって最も速い可能性のあるものから、最も同時的でないものまでの順序で候補フローを作ることができる。別の方法としては、相互作用的な手法が使用されてもよく、ここでは候補フローはランダムに生成されるが、良好なリソースマッピングが特定されている従来の候補フローよりも、より同時であるかどうか、したがって、より速い可能性のあるものかどうかのみが考慮される。候補試験フローを生成するのに使用される技法に関わらず、入力は、作られる候補試験フローの数又は特性を限定する場合がある。

入力３２６は、試験中のリソース要求を特定する情報を含む場合がある。この情報は、試験プロセスにおける任意の好適な要素に関して特定され得る。例として、リソース要求はピン又は試験ブロックに関して特定される場合がある。入力３２６に含まれる情報は、各試験ブロックでの各ピンに関する集合リソースの使用を特定することができる。一部のピンは、例えば、試験ブロックに関して接続された、異なるタイプのリソースを必要とする場合がある。具体例として、試験の１つの工程中に、漏れ電流がピンにおいて測定され得る。試験の後に続く工程中に、デジタル信号が同じピンに適用され得る。したがって、そのピンは、デジタル信号を生成し、かつ電流を測定することができる、この両方をするリソースを必要とする場合がある。

しかし、他の要求は入力３２６の一部として特定されてもよい。例えば、一緒に動作するピンの群を特定し、したがって、これもまた一緒に動作するリソースが供給されなくてはならない情報が入力され得る。具体的な例としては、ピンの集合体は、試験中に共通タイミングでクロックされるべきバスを形成してもよい。

他の入力は、ツール３５０によって生成される所望の試験計画の特性を定義することができる。入力３１８は、例えば同時に試験されるべきサイトの望ましい数を定義することができる。ツール３５０は、この入力を使用して、リソースの割り当てがなされるべきピンの合計数を決定してもよい。

入力３２０は、ツール３５０を介して開発された同時試験計画が実行される、テスタ構成を特定することができる。この構成はとりわけ、試験システム内のリソースの数及びタイプを特定することができる。ツール３５０は、入力３２０を使用して、ピンにマッチングさせるのに利用可能なリソースを特定することができる。

図３は、ツールに提供され、いくつかの実施形態では、異なる又は追加の入力が提供され得る入力のタイプの例示であるということを理解される必要がある。ブロック２１０（図２）において受信される特定の入力にかかわらず、これらの入力は、有効なリソースマッピングが作られ得る１つ以上候補試験計画が特定されるまで、候補試験計画が生成されるプロセスで使用され得る。いくつかの実施形態にしたがって、候補の同時試験計画が生成され、有効なリソース割り当ての速やかな特定につながる順序で、又は有効な割り当てが可能でない場合は、他の候補の同時試験計画が試験され得るように、この事実を速やかに特定する順序で、有効なリソース割り当てがチェックされる。

図２に戻って、候補試験計画は複数の方法のうちの１つで開始してもよい。図２の例では、２つのオプションが例示され、選択される特定のオプションは、ユーザーの入力による。候補フローの完全なセットを生成することを含む第１のオプションが例示され、ブロック２１２で始まっている。ブロック２１２において、可能な試験フローが列挙される。いくつかの実施形態では、すべての可能な試験フローが生成され、次いでソートされる。（この手法は、組み合わせの数が、計算機にとって管理するための設定に十分小さいときに使用され得る。）図４Ａ及び４Ｂは、候補試験フローの列挙を例示する。当該技術分野において既知であるように、ダイ１３２などのデバイスは、異なる試験ブロックを使用して試験され得る複数のセクションを有してもよい。図４Ａの簡易化された例において、試験ブロックＡ、Ｂ、Ｃ及びＤが例示されている。試験ブロックのそれぞれは、デバイス１３２の一部分と関連付けられてもよい。一般に、各試験ブロックは、ダイ１３２の一部分を試験するために生成され、これは明確な機能を実行する。しかしながら、試験ブロックが生成される具体的な方法は本発明にとって重要ではない。

試験ブロックは、ダイ１３２の複数の部分の同時試験の可能性を提供する。あるブロックにおいて実行される操作が、他の試験ブロックにおいて実行される操作を妨げることなく、ダイ１３２の別個の部分が同時に試験され得るとき、これらのブロックが、リソースの有効な割り当てが、そのような同時の実行を支持するように特定され得るならば、これらのブロックは潜在的に同時して実行することができる。同時試験の「フロー」は、どの試験ブロックが同時に実行されるか、及びどれがその後に実行されるかを示す。

図４Ｂは、図４Ａにおける試験ブロックに基づいて生成される得る候補フローを示す。フロー１は、試験ブロックＡ、Ｂ、Ｃ、及びＤの後に続く実行を示す。対照的に、フロー２は、試験ブロックＡ及びＢの同時実行、試験ブロックＣ、次いでＤの連続した実行が後に続くのを示す。フロー３は、さらに別の候補フローであり、試験ブロックＡ及びＢの同時実行、試験ブロックＣ及びＤの同時実施が後に続くのを示している。図４Ｂに示されていないが、他のフローが可能であり、同時試験ブロックの異なるグループ化、及び同時して実行される異なる数の試験ブロックの形成によって生成することができる。

候補フローは、任意の好適な方法でブロック２１２（図２）において列挙されてもよい。有限数の要素の組み合わせを生成する既知の技法が、候補フローの列挙に使用されてもよい。いったん列挙されると、候補フローは、図２のプロセスにおける更なる使用のために、コンピュータメモリ内に記録されてもよい。

いったん候補フローが列挙されると、プロセスは２１４をブロックし続けてもよく、ここでは、候補フローはフィルタにかけられて、ブロック２１２において生成された候補フローのセットから、試験を実行するのに必要とされるピンに対して、試験システムリソースの有効な割り当てにつながらないと決定され得るこれらの候補フローが、取り除かれる。

候補フローは、任意の好適な基準にも基づく、ブロック２１４における検討から取り除かれるために選択されてもよい。候補フローが正確に一緒に実行することができない２つの試験ブロックの同時実施を特定する場合、候補フローは検討から排除されてもよい。１つの例として、候補フローは、それらが互いに干渉する被試験デバイスの部分の同時実行を必要とする場合、排除されてもよい。具体例として、ＲＦ送信機のコアの動作の試験は、ＲＦ受信器のコアの試験と干渉する場合がある。したがって、ＲＦ送信機及びＲＦ受信器と関連付けられている試験ブロックの同時実施を含む試験フローは排除され得る。重複するピンの使用に基づいて、他の競合も特定される場合がある。例えば、図４Ａは、試験ブロックＣが、試験ブロックＢ及びＤに含まれるピンを含む、ダイ１３２の部分を試験するのを示す。この具体例において、試験ブロックＢ又はＤのいずれかと、試験ブロックＣの同時実行を伴うフローは排除されてもよい。図４Ｂの例において、フロー３は、この理由のためにブロック２１４において排除されてもよい。他の実施例として、１つのセットのブロックが、試験システムのリソースを超える、個別にリソースを操作する集合体の試験を必要とする場合、これらのブロックは干渉するものとして特定される場合があり、これらのブロックの同時実施を必要とする候補フローは除去される場合がある。任意の他の好適な基準がブロック２１４において使用されて、動作可能な同時試験計画につながらないと特定され得る候補フローを除去してもよい。例えば、入力３２４はまた、既知の競合を特定しながら、フローを除去するためにも、ブロック２１４において適用されてもよい。また、ブロック２１４の機能は、フローの組み合わせの列挙とは別の工程として実施される必要はない、ということが理解されるべきである。いくつかのシナリオでは、例えば試験ブロックの組み合わせを形成するためのルールが適用されて、容認できないフローが、ブロック２１２において生成されるのを防ぐことができる。

候補フローが取り除かれる方式に関わらず、プロセスは、残っている候補フローがさらに処理されるブロック２１６まで進んでもよい。ブロック２１６において、候補フローがソートされ、ピンに対する試験システムのリソースの有効な割り当てを見出そうとするときに、候補フローが使用される順序を定義する。ブロック２１６において、候補フローは、最も速く予測された試験時間から最も遅いものまでのフローを順序付けるようにソートされてもよい。各フローの予測された試験時間は、入力３２２に基づいて、又は各試験ブロックが決定され得る試験実行時間からの他の好適な情報に基づいて計算されてもよい。連続して実行するブロックの実行時間が合計されて、フローの実行時間の全体予測を作ることができる。一例として、試験ブロックＡ、Ｂ、Ｃ、及び、次いでＤの連続実施を伴うフロー１として、試験実行時間は、試験ブロックＡ、Ｂ、Ｃ及びＤのそれぞれの試験実行時間の個々の予測を合計することによって計算されてもよい。試験ブロックＢが実行され、試験ブロックＣ及びＤの実行が後に続く候補のフロー２に関して、試験実行時間は、試験ブロックＢ、Ｃ及びＤのそれぞれに関して試験実行時間のための個々の予測を合計することによって計算され得る。試験ブロックＡは試験ブロックＢと同時に実行するため、試験ブロックＡの実行時間は、フロー２の全体の実行時間には含まれない。

候補フローの数に関わらず、全体の試験実行時間は、それぞれの候補フローに関して計算されてもよく、かつ候補フローを最も速いものから、最も遅い試験実行時間までの順序で使用することができる。この順序付けは、任意の好適な方法でキャプチャーされてもよい。いくつかの実施形態では、順序付けは、候補フローのそれぞれに関して、それが定義された順序で、コンピュータのメモリに物理的に保存されるような、情報の再配列を伴う場合がある。しかし、他の実施形態では、順序付けは、情報がコンピュータのメモリに保存される方式を変えることなく、順序を定義する情報のソートを伴う場合がある。

いったん候補フローが順序付けられると、プロセスはブロック２１８（図２）に進む。実行がこのパスをたどるとき、良好なリソースの割り当てが特定され得るかどうかを判定するのであるならば、フルセットからの候補フローが順に検討される。フロー・イテレータが使用される実施形態では、候補フローは同様に、順に検討され得る。

候補フローを生成するための第２のオプションは、ブロック２１５におけるプロセスによって例示される。ブロック２１５において、フロー・イテレータを作るプロセスが実行される。フロー・イテレータは、１つ以上のヒューリスティックスに従って候補フローを生成するソフトウェアを構成することによって作られてもよい。イテレータは、フローを反復的に作ることができ、１つのフロー上でのプロセスが完了するとき、他のフローを生成するためのプロセスが実行され得るということを意味する。

ここでは、ヒューリスティックスは人間によって特定された論理をキャプチャーするためのプログラムによって実施されてもよい。その論理は、ルールエンジンによって実行されるルールによって、又は任意の他の好適な方法で、ソースコードのラインでキャプチャーされ得る。ヒューリスティックスは本明細書では、候補フローが速やかに実行される可能性、及び／又はリソースの良好なマッピングがそのフローに関して特定される可能性に関連する、候補フローの特性として論理をキャプチャーする。

ヒューリスティックの具体例は、より少ないフロー工程が、より多いフロー工程を備えるフローよりも速い可能性が高いということである。他のヒューリスティックスは、リソースマッピングが良好であるという可能性に基づいてもよい。例えば、テスタのチャネルの大きな割合を構成するピンを集合的に有する、試験ブロックを備えるフロー工程を含むフローは、各フロー工程に含まれるピンの最大数が、より少ないパーセントのチャネルの数であるフローよりも良好なルーティングとなる可能性は少ない。同様なヒューリスティックスが、リソース要求に基づいて、又はピンとリソースのマッピングを作るための試みの前に確定され得る、他の基準に基づいて定義されてもよい。これらのヒューリスティックスは別々に、又は一緒に使用されてもよい。一緒に使用される場合、任意の好適な重みを加える工程、又は他の技法が使用されてヒューリスティックスを組み合わせてもよい。

ここで２つのタイプのフロー・イテレータが支持されてもよく、並びにユーザーの入力が、１つ又は他方が使用されるということを指定してもよい。この例では、１つのタイプのイテレータが候補フロー生成に対して、「スマート−反復」手法を実行してもよい。第２のタイプのイテレータは、「スマート−ランダム」手法を実施してもよい。このスマート−反復手法は、最も同時なフローを用いる開始を伴い、連続反復において、より同時でないフローに移動する場合がある。スマート−ランダム手法は、ランダムにフローを生成することを伴う場合があるが、いったん、リソースマッピングが候補フローに関して特定されると、より速い時間で実行されると期待される後続のフローのみが供給される。

候補フローの完全なセットを作る手法は最終的に、最速の可能な試験時間の特定につながる場合がある。しかしながら、比較的少数の試験ブロックに関してさえも、潜在的に多数の候補フローが存在する。ツールが、このような候補フローのすべてを生成するために、かつリソースマッピングが、各候補フローに関して可能であるかどうかを判定するための計算を実行するために、特にツールが相互作用的な方法で動作される場合、実現可能なプロセス時間よりも多くのプロセス時間が必要とされる場合がある。この「スマート−反復」手法は、より速く実行し得るが、最も速い可能なフローほど速い、又はこれとほとんど同じくらい速いフローを特定する可能性が十分にある。したがって、「スマート−反復」は、完全なセットのプロセスが実行不可能なときに、ユーザーによって選択され得る。「スマート−ランダム」は、「スマート−反復」手法よりもさらに速い実行時間を提供することができ、さらに多数の試験ブロックを伴う試験に選択され得る。

いくつかの実施形態では、ツールは、これらのそれぞれと関連付けられた機能、又は候補フローを生成するための他のオプションを実行するモジュールを含んでもよい。ツールはモジュールの集合体、及びどの機能が実行されるべきかを示す、ユーザーのインプットを受信する、更なるモジュールと共に実行されてもよい。モジュールは、仕様に基づいて他のモジュールを選択的に起動してもよい。

いくつかの実施形態では、一部のプロセスは２つ以上のオプションにとって共通であってもよい。例えば、ブロック２１４に相当するフィルタリング工程は、フロー・イテレータがブロック２１５において構築された場合でさえも、実行される場合がある。フィルタリングは、候補フローが作られた後に適用され得る。あるいは、又はそれに加えて、比較可能な量のフィルタリングを達成する工程が適用されて、候補のフローの生成を抑制してもよい。候補フローが反復的に生成される実施形態では、候補フローが生成されるときに、候補フローに対してリソースを割り当てようと試みながら、フィルタの基準はダイナミックに変更される場合がある。例えば、１つの反復において生成された競合ブロックに関する情報は、後の候補フローの生成に使用されるフィルタ基準に影響を与える場合がある。

どのように候補フローが得られるかにかかわらず（すなわち事前に生成されたセットからの選択によるものか、又は反復的に生成されたセットからによるものなのか）、候補フローに関してリソースの割り当てを特定するために試みがなされてもよい。ブロック２１８において、ツールは、１つ以上候補フローに関して、１つ以上有効なリソース割り当てを見出そうと試みる。ツールは、フローの順序に関する情報を使用して、より速いフローに関連する有効な割り当てを優先的に検索してもよい。順序の情報はブロック２１６においてソーティングによって得ることができるか、又は候補フローがフロー・イテレータによって生成される順序によって暗示され得る。かかる順序がどのように定義されるかにかかわらず、この順序において有効な割り当てを検索することによって、いったん所望の数の有効なリソース割り当てが特定されると、ツールは有効な割り当ての検索を停止する場合があり、なぜならば、例示される実施形態において、更なる検索は、より速い同時試験計画を支持するリソース配列を特定せず、より有効な試験計画が特定されそうもないからである。しかし、いくつかの実施形態では、候補フローの完全なセットが処理されるまで、リソース割り当てをするという試みがなされ得る。他の実施形態において、候補フローは、いくつかの終了条件に到達するまで生成される。その終了点は、例えば、時間の経路、又は実行された反復の数であり得る。別の方法としては、試験実行時間に関連する測定基準、又は他の基準が使用されて、いつ十分な数の候補フローが評価されたかということを決定してもよい。

有効なリソース割り当てが特定される方法は、以下の図５〜８と合わせて、より詳細に記載される。有効な割り当てが特定される方式にかかわらず、プロセスはブロック２１８〜２２０まで進む場合がある。ブロック２２０において、ブロック２１８における有効なリソース割り当ての検索が、１つ以上有効なリソース割り当てを特定するシナリオにおいて、同時試験プロセスパラメータを特定する出力を含め、ツールは出力を提供する場合がある。ブロック２１８における検索が、いずれの有効なリソース割り当ても特定しないシナリオでは、ブロック２２０における出力は、有効なリソース割り当てが特定されなかったということを特定する場合があり、かつなぜ有効なリソース割り当てが特定され得なかったということを特定する情報を含み得る。実施例として、そのシナリオにおいて、ブロック２２０における出力は、割り当てに対して有効なリソースがないという、要求されたリソースの表示を含んでもよい。

図３は、図２のプロセスを実行するツール３５０によって提供され得る出力３７０を例示する。これらの出力は、ユーザーに同時に提供されてもよい。別の方法としては、様々な出力は、ユーザーにより要求されたときに提供され得る（例えば、グラフィカル・ユーザー・インターフェースに表示された制御部にアクセスすることによって）。

図３における例示の出力は、競合している試験ブロックの同時実行を要求するフロー、又は試験ピンの同時動作は、有効なリソース割り当てとなることができないように、ピン及び／又は試験ブロックの間の競合を特定する出力３７２を含む。反復の実施形態において、この情報の出力に加えて、ツール自体は初期の反復で生成されたかかる情報を、後の反復に使用して、更なる候補フローの生成に影響を与える場合がある。

出力３７４は、特定された候補フローを特定し得る。いくつかの実施形態では、単一の候補フローが特定され得る。出力３７４は、ブロック２１２で特定されたフローの、又はブロック２１４においてフィルタリング後に検討されるもののすべてを含んでもよい。

出力３７６は、有効なリソース割り当てがブロック２１８において特定されたフローを特定することができる。いくつかの実施形態では、ツールは、いったん有効なリソース割り当てが特定されると、ツールがプロセスを停止することができるように、単一の有効なリソース割り当てを出力してもよい。他の実施形態において、ツール３５０は、実行時間、要求されるシステム構成、又はこれらのオプションに関連付けられている他のパラメータを備える複数のフローオプションを特定してもよく、これによってユーザーは所望の特性を備えるフローを選択することができる。

出力３７８は、出力３７６で特定された候補フローと関連付けられている試験時間の予測を含んでもよい。出力３８０は、ブロック２１８において特定された有効なリソース割り当てを特定することができる。ブロック２１８における有効なリソース割り当ての検索が、いずれかの有効なリソース割り当てを特定しなかった場合、出力３８２は、競合、若しくはすべてのピンに対するリソースの有効な割り当てを完了するために欠けているリソースを特定してもよく、又はなぜ有効な割り当てが特定されなかったという理由を示すことができる、ツール３５０により生成される他の情報を提供してもよい。

ブロック２２２（図２）において提供される出力の特性に関係なく、ツール３５０のユーザーは、出力をレビューし、次いで、ツールが他のパラメータに基づいて有効なリソース割り当てを検索することができるように、出力３１０の他の値を入力してもよい。例えば、有効なリソース割り当てが、入力３１８で特定された標的サイトの数に関して達成されるシナリオでは、ユーザーは、より大きな数の標的サイトに関して、有効なリソース割り当てを達成するように試みるよう、ツール３５０に要求してもよい。

反対に、出力３８２は、候補フローの良好なリソースマッピングを伴う、競合又は制限を含み得る。フロー・イテレータが起動される実施形態において、この情報は、１つの反復において生成され、後の反復で使用されて、候補フローの生成に影響を与える場合がある。この情報は別の方法として、又は追加でユーザーに提供されてもよい。例えば、出力３８２が、有効な割り当てが見つからなかったということを示すとき、ユーザーは入力３１８を変更して、標的の試験サイトの数を減少させてもよい。

あるいは、又はそれに加えて、ユーザーは入力３２０を変更して、異なる標的テスタの構成を指定してもよい。実施例として、有効な割り当てを見出しながら、排除される特定のタイプのリソースがないということを出力３８２が示すとき、ユーザーは試験システムにおいて更なるリソースを特定してもよい。同様に、出力３７８が、所望されるよりも長い試験時間予測を提供する場合、ユーザーは、更なるリソースを伴って、入力３２０における標的試験システム構成を特定してもよい。反対に、出力３７６及び３７８が、要求されるものよりも速い試験フローの実行につながる、有効なリソース割り当てを示す場合、ユーザーは入力３２０において指定される標的試験システム構成におけるリソースの数を減少させてもよい。この方法において、ユーザーは入力を操作し、出力３７０を観察し、試験システムリソースと試験時間との間の望ましいトレードオフを提供する同時試験計画のパラメータのための値を速やかに特定し得る。

図２に示されるように、決定ブロック２２２において所望の同時試験計画が生成されているということをユーザーが示すまで、プロセスはブロック２１０までループバックし得る。このシナリオでは、プロセスはブロック２２４まで進み得る。ブロック２２４において、ツール３５０の出力は、同時試験計画を定義すると見なされ得る。リソース割り当て（例えば出力３８０において生成されているように）が使用されて、ＤＩＢの構造体（例えばＤＩＢ１１２）を特定して、試験システム１００内のリソースを試験プローブに接続してもよく、この試験プローブは同時試験計画が実行されている間、被試験デバイスに信号を結合し得る。ブロック２２６において、この同時試験計画は次いで、半導体デバイスの製造に適用され得る。例えば、半導体デバイスメーカーは、同時試験計画にしたがって複数の試験システムを、そして、デバイスが製造されるとき、同時試験計画に従って試験デバイス構成し得る。試験に合格したデバイスは、さらに処理され、顧客に出荷される。試験に合格しないデバイスは処分され、リワークされ、不良品として販売され、ないしは別の方法で廃棄され得る。

図２のプロセスの有効な実行は、ブロック２１８における有効なリソース割り当ての迅速な特定に基づくことができ、有効なリソース割り当てが利用可能でない場合には、その事実の迅速な特定に基づくことができる。いくつかの実施形態では、ツール３５０は有効な割り当てが可能かどうかを迅速に特定することができ、可能である場合は、関連付けられたピンをグループ化することによって、及びそれぞれの群に対するリソース要求を特定することによって、割り当てを迅速に特定することができる。これらの要求は、リソースエンジン要求の形態で表現され得る。さらに、試験システム内の機器は、リソースエンジンとして表記されてもよく、各リソースエンジンは、集合的に共通の機能を実施する個々のリソースのセットから構成される。

リソースエンジン要求とリソースエンジンとのマッピングの例は図５に提供されている。図５の例において、３つの機器、デジタル機器５１０Ａ、５１０Ｂ及び５１０Ｃが例示されている。デジタル機器のそれぞれは、Ｉ／Ｏピンの集合体を含み、集合体のそれぞれは、試験システムチャネル１１０に接続される。これらの入力／出力（Ｉ／Ｏ）チャネルのそれぞれは、試験システムリソースとして見なされ得る。かかるリソースのそれぞれは、デジタル信号を生成する、又はこれを測定することができる。

しかし、図５は、テスタチャネル１１０が完全に互換可能でないということを示しており、これは、デジタル機器５１０Ａ、５１０Ｂ及び５１０Ｃの出力の一部が、他の試験システムチャネルによって実行できない機能を実行し得るからである。リソースエンジンは、これらのチャネルに接続された機器によって実行され得る機能に基づいて、チャネル１１０の群を含むとして定義されてもよい。

図５の簡易化された例は、デジタル機器５１０Ａ、５１０Ｂ及び５１０Ｃと関連付けられているチャネルが、機能に基づいた群であり得る複数の方法を示す。これらのグループ化のそれぞれは、「リソースエンジン」として処理されてもよい。チャネル１１０をリソースエンジンにグループ化するための１つのパラメータは、時間ドメインによってでもよい。デジタル機器５１０Ａ、５１０Ｂ及び５１０Ｃのそれぞれは、関連付けられたパターン生成器５１２Ａ、５１２Ｂ及び５１２Ｃをそれぞれ含む。パターン生成器５１２Ａ、５１２Ｂ及び５１２Ｃは、別個の時間領域において動作するようにプログラムされてもよい。しかし、例示される実施形態において、デジタル機器５１０Ａ、５１０Ｂ及び５１０Ｃの異なるものと関連付けられているチャネルが、同じ時間領域で動作し得るように、一部のパターン生成器、例えばパターン生成器５１２Ａ及び５１２Ｃが同期されてもよいが、同じデジタル機器のための個々のＩ／Ｏは、異なる時間領域において動作するように制御することはできない。したがって、デジタル機器５１０Ａに関連付けられたチャネルのセット５２０Ａは、共通の時間領域において信号を提供するリソースエンジンを定義してもよい。同様に、セット５２０Ｂ及び５２０Ｃは、共通の時間領域における入力／出力のセットを有するリソースエンジンをそれぞれ定義してもよい。

機器の他の機能は、他のリソースエンジンを定義してもよい。例えば、デジタル機器５１０Ａ及び５１０Ｃはそれぞれ、スキャンコントローラ５１４Ａ及び５１４Ｃをそれぞれ用いて構成されている。スキャンコントローラ５１４Ａ及び５１４Ｃは、スキャン試験において使用され得るシリアルＩ／Ｏピンのタイプなど、チャネル１１０の関連付けられたもの上で動作するように制御され得る。したがって、スキャンコントローラ５１４Ａ及び５１４Ｃと関連付けられたチャネルはそれぞれ、更なるリソースエンジンとして見なされ得る。したがって、図５はスキャンコントローラ５１４Ａに連結され得る、チャネル１１０のセットを含むリソースエンジン５２２Ａを示す。同様に、リソースエンジン５２２Ｃは、スキャンコントローラ５１４Ｃに連結され得るチャネルを含む。リソースエンジン５２２Ａ及び５２２Ｃのそれぞれは、デジタルピン又はスキャンコントローラのいずれかとして動作する、リソースエンジンとして取り扱われてもよい。

リソースエンジンの他の実施例として、図５は、デジタル機器５１０Ｂもまたバス・コントローラ５１６Ｂを含むということを示す。バス・コントローラ５１６Ｂは、試験中に操作されて、チャネルの集合体がバス・コントローラに従って同期して動作するようされてもよい。したがって、図５は、リソースエンジン５２４として操作することができる、バス・コントローラ５１６Ｂに連結されたチャネル１１０のセットを示す。この場合、リソースエンジン５２４は、バスとしても動作することができるデジタルＩ／Ｏチャネルのセットを提供する。４つのタイプのリソースエンジンが図５に例示されているが、任意の数及びタイプのリソースエンジンが、試験システム内の物理的機器に基づいて定義されてもよい。図５に例示されているこれらのリソースエンジンに加えて、リソースエンジンは、他のテスタのチャネルとは別個に、又はこれと共に関連付けられているかのいずれかで、テスタのチャネルに関連付けられている場合があり、テスタチャネルは任意の望ましいタイプの信号を生成する、又は測定することができる。かかるリソースエンジンの例は、ＤＣ信号、特定の周波数の信号を生成することができるアナログチャネル、又は任意の形状の波形を備える信号を静止することができるアナログチャネルを生成する、又は測定することができるデジタルチャネルを含んでもよい。

リソースエンジンによって処理された信号は、試験システム１００内に設置された機器によって最終的には生成され、測定されるということを理解される必要がある。しかしながら、リソースエンジンは、入力３２０（図３）によって特定され得るように、ある構成に従って、標的の試験システムの容量を表すものとしてツール３５０によって作られる。したがって、リソースエンジンは、任意の好適な方法でツール３５０によって、例えばコンピュータのメモリ内で情報をソートすることによって定義されてもよい。同様に、リソースエンジン要求は、デバイスに関する入力のプロセス、及び標的試験システムにおける物理的リソースに関する情報と併用した試験に基づいて、ツール３５０によって定義される。リソースエンジン要求は同様に、コンピュータメモリ内のメモリ構造体に含まれる、任意の好適な方法で表されてもよい。

図５はまた、試験ピンのグループ、及び試験システムチャネルの群に関して定義されたリソースエンジンと関連付けられているリソースエンジン要求に基づいて、試験ピンと試験システムチャネルとの間に割り当てがなされている方法を示す。図５は、割り当てがなされようとしている３つの試験サイト５３２Ａ、５３２Ｂ及び５３２Ｃを例示する。かかる構成は、入力３１８（図３）が３つのサイトの標的サイトカウントを示すシナリオの代表的なものである。しかし、割り当てが同時になされるサイトの数は本発明にとって重要ではない。

サイト５３２Ａ、５３２Ｂ及び５３２Ｃのそれぞれは、複数のピンを含み、ピンのそれぞれは、有効な割り当てが特定され得る場合、テスタチャネル１１０にマッピングされる。ツール３５０は、サイトのそれぞれに関連付けられた試験ピンの群を特定し、次いで群のリソースエンジン要求を特定することによって、動作することができる。関連付けられたピンは、ピンアウト３１２を含め、入力３１０に基づいて特定することができ、ピンアウト３１２は、恐らく被試験デバイスの様々な試験ピンにおいて提供され、又は検出される信号の機能を特定する。ツール３５０は協会基準を適用してもよく、これはツール３５０に事前にプログラミングされるか、ないしは別の方法で、ツールによって適用するために利用可能であってもよい。協会基準のそれぞれは、一緒にグループ化されなくてはならないピンの特性を指定することができ、これらの特性を満たす群のピンが特定された場合、それらはリソースエンジン要求を特定する目的でグループ化され得る。

例えば、それと共に各ピンが関連付けられる時間領域に関する情報は、時間領域に基づいて関連付けられているピンの群を、ツール３５０が特定するのを可能にし得る。そのような関連性は、リソースエンジン要求（すなわち群において関連付けられたピンが、同じ時間領域において信号を提供するリソースエンジンにマッピングされる）を特定するのに有用であり得る。

他の例として、ピンの群がバス上の信号にアクセスを提供するということを示す情報が使用されて、関連付けられたピンの群を形成してもよい。かかる情報はまた、その群に関するリソースエンジン要求の特定を可能にし、すなわち、ピンの群は、バス上に生じ得る信号の代表である、関連する信号を生成する又は測定することができるリソースエンジンにマッピングされる。

更なる例として、情報は、被試験デバイス内の差分ペアの対応するレッグ部に連結された２つのピンが関連付けられるのを可能にし得る。そのような関連ピンの群に関して、リソースエンジン要求が定義されてもよく、ピンの群が、差動信号ペアをシミュレーションし、又はこれを測定する容量を備えて、リソースエンジンを形成するチャネルと関連付けられるべきであるということを示している。

更なる例として、ピンはシリアルテストポートに連結されているとして特定されてもよい。そのような群に関して、群が１つのピンのみを含んでいるとしても、リソースエンジン要求は定義したものと同様であってもよい。この場合、リソースエンジン要求は、ピンの群が、スキャン制御機能を提供することができる機器のデジタルソース及び／又はキャプチャー機能性と関連付けられたチャネルに、割り当てられるべきであるということを示す。

ピンの関連付けられた群の数及びタイプは、被試験デバイスの設計及び動作による場合があり、本発明にとっては重要ではない。さらに、図５は、各ピンが１つのみのリソースエンジン要求と関連付けられているのを示しているが、本発明はこの方法に限定されない。一部の被試験デバイスに関して、単一ピンは複数のリソースエンジンに関する要求を有し得る。また、図５は、時間における１つのインスタンスでのリソースエンジン割り当てを例示する。リソースエンジン要求は、その時間におけるピンによって実行される機能に基づく。したがって、異なるリソースマッピングが、試験フロー中に異なる回数指定されてもよい。いくつかの実施形態において、この時間依存状態は、リソースエンジンをピン群に割り当てることによって反映することができ、その一方で、その群におけるピンは第１の機能を実行するのに使用される。その後、これらのピンが異なる機能を実行するのに使用されるとき、これらのリソースは解放されてもよい。これらの解放されたリソースは他のピンに割り当てられてもよく、他のリソースがこのピンに割り当てられてもよい。いくつかの実施形態では、割り当てはフロー工程の持続時間のために作製されてもよい。試験の実施中に、例えば、試験システムはリソースをフロー工程の開始に割り当ててもよく、かつこれはフロー工程の終わりにおいて、対応するリソースを解放してもよい。リソースの割り当てがなされるインターバルは任意の好適な持続時間であってもよく、並びに、フロー工程よりも、より粗くても又はよりきめ細かくてもよいということが理解される必要がある。

被試験デバイスに関して特定された、関連付けられたピンの群の数及びタイプに関係なく、群及び関連付けられたリソースエンジン要求の特定は、ピンとチャネルとのすべての可能なマッピングを検討することを必要とせずに、ピンとチャネルの適切なマッピングの検索を可能にする。そのようなマッピングを見つけるために、物理的リソース（例えば機器）の動作に関するいずれかのルール又は他の基準が満たされるような方法で、リソースエンジンの割り当ての機能性を提供しながら、ツール３５０は、リソースエンジンを各リソースエンジン要求に整合させようと試みる。これらの要求は、ルール若しくは関連付け、又は任意の他の好適な形態で提供され得る。

例えば、関連付けられたピンの群５５０Ａがいったん特定され、その群に関するリソースエンジン要求が定義されると、有効なマッピングは、リソースエンジン要求を満たすリソースエンジンと関連付けられたチャネルに対する、群５５０Ａにおけるピンの割り当てを含む。この例では、かかるリソースエンジンはバス・コントローラを含む。図５の単純な例において、群５５０Ａのピンは、この情報に基づいて、リソースエンジン５２４に関連付けられたチャネルとすぐに関連付けられる。

同様なマッピングが群５５０Ｂ及び５５０Ｃに関して作成することができる。図５の試験システム構成が、バス・コントローラを備える１つのリソースエンジンのみを含むため、ツール３５０はすぐに、群５５０Ｂ及び５５０Ｃのピンが同様に、リソースエンジン５２４のチャネルにマッピングされる必要があるということを特定する。かかるマッピングは、リソースエンジン５２４を実施する物理的機器の容量にもよって、有効な割り当てとなり得る。機器５１０と合わせて特定されたルールが、リソースエンジン５２４が、３未満の最大論理出力数を有するということを示す場合（各チャネルは３つのピンに同時に接続することができないということを意味する）、ツール３５０は速やかに、ピンとチャネルとの間の有効なマッピングは、図５に示される試験システム構成に基づいて、３つのサイトの同時試験計画において可能ではないということを特定することができる。このシナリオにおいて、ツール３５０は、試験システムが不十分な数のバスコントーラを有するために、割り当てが失敗であったという表示を出力し得る。逆に、リソースエンジン５２４のチャネルが３つ以上のピンに論理出力できる場合、リソースエンジン５２４のチャネルに対するピン群５５０Ａ、５５０Ｂ及び５５０Ｃからのマッピングが速やかに作られ得る。他のピンの割り当てが次いで検討され得る。

リソースエンジン、及び関連付けられたリソースエンジン要求を備えるピンの群を特定し、次いでこの情報に基づいてマッピングを作成する手法は、被試験デバイスの他のピンのマッピングを速やかに特定するために拡張されてもよい。図６は、この手法が使用され得るプロセスを例示する。

図６は、ブロック２１８（図２）におけるように、有効なリソース割り当てを検索するために使用され得るプロセスを例示する。このプロセスは、ツール３５０又は任意の他の好適な方法で実施されてもよい。

図６のプロセスは、ブロック６００においてループを開始してもよい。ブロック６００において、候補フローが選択される。かかる選択はブロック２１６において決定された順序に基づいてもよい。しかし、フローのイテレータが使用される実施形態では、候補フローは、フロー・イテレータから候補フローを入手することによって選択され得る。更なる可能性として、候補フローはユーザー入力として提供されてもよい。かかる入力は、例えば、良好なリソース割り当てが、候補フローに関してすることができるかどうかという表示をツールが出力するのを可能にするために、図６のプロセスが使用されるシナリオにおいて提供され得る。

どのような候補フローがループにおいて選択されるかに関わらず、リソースの割り当てが試される。割り当てが有効になるには、選択された候補フローの実行を可能にする必要がある。ブロック６００において開始するループは、１つの候補フローに関して、又は、いくつかの実施形態においては、望ましい数の候補フローに関して、良好な割り当てが特定されるまで、繰り返され得る。

選択された候補フローに基づいて、プロセスは、試験システムリソース及びリソースエンジンの特定と共に、ブロック６１０まで進む。リソースエンジンを特定するための、ブロック６１０におけるプロセスは、ブロック２１０（図２）において受信される、試験システム構成を定義する入力３２０を含む入力に基づくことができる。ブロック６１０において実行される特定は、任意の好適な方法で実行されてもよい。しかしながら、１つの単純な例として、ブロック６１０におけるプロセスは、標的の試験システム構成に含まれる機器の機能能力を説明する、保存された情報に基づいてもよい。例えばデジタル機器の特定のモデル、例えばデジタル機器５１０Ａ又は５１０Ｃがスキャンコントローラを含むということは事前に周知であり得る。標的のテスタ構成におけるこのタイプのデジタル機器の数に基づいて、スキャンコントロールを提供するリソースエンジンの数が決定され得る。同様に、デジタル機器の特定のモデル、例えばデジタル機器５１０Ｂは、バスコントーラを用いて構成されてもよい。そのような機器の数は、バスコントロール機能性を提供するリソースエンジンの数を定義することができる。標的のテスタ構成における機器の他の特性は、他のリソースエンジンを定義してもよく、並びに、図５は、標的のテスタ構成に基づいて存在し得る、リソースエンジンの数及びタイプの単なる例であるということが理解されるべきである。

標的の試験システムに関して存在するリソースエンジンの数及びタイプに関わらず、いったんリソースエンジンが特定されると、プロセスはブロック６１２まで進むことができる。ブロック６１２において、ピンの群が特定されてもよい。ピンの群は、ピンのグループ化に関して、事前に定義された関連性に基づいて特定されてもよく、それぞれの関連性はピンをグループ化するための基準を示す。各関連性は、１つ以上ピンの関係を、かかる関係が被試験デバイス内のピンの群に関して存在する場合に特定することができ、ピンは群の一部として関連付けられるべきである。関連性は、ツールの一部としてプログラミングされてもよく、又はユーザーの入力に基づいて追加されてもよく、又は更新されてもよい。関連性は、この関連性が操作において、ツールによってアクセスされ得るように、コンピュータメモリに記録されてもよい。コンピュータメモリに記録されるとき、関連性は「ｉｆ−ｔｈｅｎ」ルールを含め、任意の好適な形態、又は関連付けられるピンの特性のリストを有してもよい。

ツール３５０に利用可能な特定の関連性は、被試験デバイスの性質に基づいてもよい。一般に、関連性は、動作を実行するコースにおいて一緒に操作するピンの群を特定してもよい。例えば、バス上に現れ得るような信号を入力又は出力するピンが、関連付けられてもよい。差動信号を入力又は出力するピンもまた、関連付けられてもよい。更なる実施例として、被試験デバイス上のスキャンポートへの入力又は出力であり得る信号を、入力する又は出力するピンが同様に、関連付けられてもよい。単一の時間領域内で信号に連結されたピンもまた関連付けられてもよい。しかし、ツール３５０が認識し得る関連性の数及びタイプは、本発明に関して重要ではないということが理解される必要がある。

いくつかの実施形態では、各ピンは単一の群と関連付けられてもよい。しかし、他の実施形態では、ピンは複数の群と関連付けられてもよいということが理解される必要がある。しかし、更なる実施形態では、同じ試験ブロック中に複数の機能性の要求を有し得るピンは、集合的に機能性の要求のすべてと関連付けられた単一のピンの群として表され得る。これらの要求もまた、試験フロー中に異なる回数に関して、異なっていてもよい。

いくつかのシナリオでは、ピンの群はわずか１つのピンを含む場合があり、これは「フラット」ピンとして見なされ得る。いくつかの実施形態では、フラットピンは、ピン群とは別に処理されてもよく、リソースの割り当てはピン一本ずつのベースで実施される。フラットピンは、それらが異なるリソース要求を有するか、又は異なる回数で１つ以上ピン群に参加するように、異なる機能を異なる試験ブロックに有するピンを呈するために使用されてもよい。したがって、ツールは、適切な回数において、そのようなフラットピンに対するリソースの割り当て及び解放を含む、リソースマッピングを定義することを支援することができる。１つの群におけるピンの数、及びその群に対するリソースの割り当てが続く試験フロー中のインターバルの長さは、本発明にとって重要ではない。したがって、ピンに対してリソースの割り当てをする際に、ピンの群と共に「フラット」ピンが処理され得る。

フローの間に複数のサイトが試験される実施形態では、群は、サイトのそれぞれにおけるピンのインスタンスを呈するために形成されてもよい。しかし、サイトのそれぞれにおいて対応するデバイスは、対応する機能を有しているため、対応する群はサイトのそれぞれに存在する。

図８は、関連性に基づくピン群の形成を示す。３つの試験サイト８３２Ａ、８３２Ｂ及び８３２Ｃが図８に示される。しかしながら、試験サイト８３２Ｂ及び８３２Ｃにおける群は、試験サイト８３２Ａに関して特定された群に対応し、簡略化のために、試験サイト８３２Ａ内の群のみが例示される。試験サイト８３２Ａでは、ピン間の関連性が特定される。図８における実施例は、ピンが、２つ以上の関連の部分であり得るということを例示する。したがって、関連付けられているすべてのピンが同じ群内であるように、群が形成される。具体的な実施例として、各群が、群におけるいずれかのピンが関連付けられる、１つおきのピンを含むという基準を満たす、可能なピンの最小数を含むように各群は形成され得る。

任意の好適な計算技法が使用されて、かかる記述を満たすピンの群を特定することができる。図８の実施例では、関連性８４０、８４２、８４４、８５０、８５２、８５４及び８５６が例示される。これらの関連性は、ピンの間の任意の好適な関係、例えばピンに適用された信号の要求されるタイミングの関係、又はピンによって実行される機能に関する関連性を定義してもよい。試験サイト８３２Ａにおいて、ピンに関して特定された関連性は、３つの群のピンを形成する。第１の群は、関連性８４０によって関連付けられたピンによって特定される。この場合では、関連性８５０及び８５２によって関連付けられたピンは群１内にのみ含まれる。群２は、関連性８５４によって関連付けられたピンによって定義される。群３は、関連性８４２によって関連付けられたピン、及び関連性８５４及び８５６によってこれらのピンに関連付けられた追加のピンを含む。この方法では、群のそれぞれはピンを含み、ピンのそれぞれは、群内の少なくとも１つの他のピンに関連付けられ、群の外のピンとは関連付けられない。同様な群を、試験サイト８３２Ｂ及び８３２Ｃのそれぞれに適用するが、図８においては明示的に例示されていない。

図６のプロセスに戻って、いったん群がブロック６１２において特定されると、リソースエンジン要求が、群のそれぞれに関して特定され得る。各群は、群内に含まれたピンの数及びタイプに基づいて、複数のリソースエンジン要求を含んでもよい。図８は、群１、群２及び群３にそれぞれ関連付けられたリソースエンジン要求８７０、８７２及び８７４を概略的に例示する。リソースエンジン要求は、ツール３５０の操作によって形成され、ツールによって実行される、後に続く動作で使用するためのコンピュータのメモリに保存されてもよい。リソースエンジン要求を保存するために使用される具体的なフォーマットは、本発明にとって重要ではなく、任意の好適な表示が使用されてもよい。

リソースエンジン要求は、群内のピンのそれぞれと関連付けられた機能に基づいて特定されてもよい。これらの要求はまた、被試験デバイスに関連する入力（例えば、試験ピンのそれぞれの構造及び機能を定義する情報、又は評価される試験プログラム若しくは候補の試験フローの操作に関連する情報）に基づいて特定されてもよい。かかる情報は、ツール３５０内にプログラミングされた情報を適用することによって、具体的なリソースエンジン要求にマッピングされてもよい。具体的な実施例として、群１に関して、有効な割り当てが存在するために、群１内のピンのすべてが、単一の時間領域（時間領域１として特定される）において動作している機器からの信号を受信しなければならないということを示すために、リソースエンジン要求８７０が特定されている。時間領域は、当該技術分野において既知であり、特定の時間領域にあるピンが、特定のタイミングソースと合致している信号に作用するということを示してもよく、これはプログラム可能であってもよい。複数の時間領域を提供することにより、異なるピンが異なるタイミングで動作してもよく、そのタイミングは同期される必要はない。

追加で、群１は、１２のデジタルピンを必要とし、これは、３つがバスピンであり、２つが差動ペアを形成し、１つがスキャンピンである「重複要求」を満たさなければならない。これらの具体的な実施例は、ある群に関して存在するリソースエンジン要求の特性の例示であり、異なる又は追加のリソースエンジン要求が、異なる群に関して、及び被試験デバイスの異なるタイプに関して存在し得るということが、理解されなければならない。また、ピンのリソースエンジン要求は、そのピンに単一のリソースエンジンが割り当てられることによって示されているが、各要求が単一のソースによって満たされる、という必要はないということが理解されるべきである。リソースエンジン要求は、複数のリソースエンジンによって満たされてもよく、これは同じ物理的リソースの一部（例えば機器）であってもよく、又は複数の物理的リソースにわたって分散されてもよい。かかる複数のリソースエンジンは、試験フローの持続時間、又はフローの間の任意のインターバルに対して、ピンに割り当てられてもよい。

要求８７２は、有効な割り当てが存在するために、群２内のピンに対する試験システムチャネルの割り当てによって満たされなければならない。この例では、リソースエンジン要求８７２は、時間領域１又は時間領域２でない４つのデジタルＩ／Ｏを必要とする。リソースエンジン要求８７４は、群３内のピンが集合的に、時間領域２において９つのデジタルＩ／Ｏを必要とする。

しかし、リソースエンジン要求は任意の好適な形態であることができ、かつ任意の数のリソースエンジン要求であってもよいということが理解されるべきである。ブロック６１２において、どのように各ピンがフローの間で、他のピンと相互作用することができるか、又は相互作用できないか、を含め、各サイトにおける各ピンに関する要求をキャプチャーする要求のセットが定義されてもよい。これらの要求は、各サイトにおける各ピンに関して要求される特性、又は禁じられた割り当てを定義することができる。

複数のピン群、及び、ある群内の他のピント関連付けられていない単一ピンに関して特定された、リソースエンジン要求の数及びタイプに関わらず、いったん、リソースエンジン要求が特定されると、プロセスはブロック６１６まで進むことができる。ブロック６１６において、単一又は複数のピン群のそれぞれに関するリソースエンジン要求のセットがスコア化され得る。例示される実施形態では、スコアはリソースエンジンを、群のリソースエンジン要求に整合させる難度を示す。例示される実施形態では、スコアは、重みが付けられたヒューリスティックス及びリソースの有効性に基づいて割り当てられる。しかし、スコアは任意の好適な方法で割り当てられてもよい。例として、値は、要求を満たすことができる、標的の試験システムにおけるリソースエンジンの数に比例する、各リソースエンジン要求に割り当てられてもよい。値は、別の方法としては、又は追加として、同じタイプのリソースエンジンによって満たされるリソース要求を有する群の数に基づいた規模とされてもよい。この方法では、各リソースエンジン要求に割り当てられた値は、リソースエンジンのタイプの希少性との関係で、及びリソースエンジン要求を満たすリソースエンジンのタイプに対する要求と比例して、増加し得る。

さらに、これらの値は、リソースエンジンのタイプに基づいて重み付けされてもよい。かかる重み付けは、リソースエンジン割り当てが試される順序に影響を与える場合がある。そのような重み付けを変えることによって、リソースエンジンが試される順序は様々であってもよい。したがって、かかる重み付けは、リソースエンジン要求に対して、リソースエンジンの有効な割り当てを検索する反復プロセスにおいて使用されてもよく、この重み付けは変更され、試された割り当ての性質を変える。順序を好適に変更するいずれかの重み付けは、スコアの計算において、代替として又は追加で適用されてもよい。

スコアを計算するのに使用するための適切な値は、任意の好適な方法において決定されてもよい。いくつかの実施形態では、値は、ブロック６１２において計算されるリソースエンジン要求の集合体、及びブロック６１４において特定されるすべてのリソースエンジンの集合体に基づいて動的に計算されてもよい。他の実施形態において、値は、テストシステム構成の履歴データ、及び他のデバイスを試験するためのリソースエンジン要求を示す履歴データに基づいて、ツール３５０と共に使用するために、事前に計算され、コンピュータメモリに保存されてもよい。

値がリソースエンジン要求と関連付けられる具体的な方法に関係なく、群のそれぞれにおける要求に関する値が組み合わされて、群の全体的なスコアを生み出すことができる。１つの実施例として、各群と関連付けられた要求の値は、個々の値を合計することによって組み合わされてもよい。しかし、例えば重み付けされた平均値を形成することによって、又は群のためのスコアとして最大値を選択することによって、値を組み合わせるための他の手法が可能である。

各群のためのスコアを算出するのに使用される特定の手法に関係なく、いったんスコアが計算されると、プロセスはブロック６１８まで進み得る。ブロック６１８において、フラットピンを含め、群のための要求のセットは、それらの対応するスコアに関して順序付けられてもよい。ブロック６１８において順序付けることは、リソースがランダムな順序でピンに割り当てられる場合、有効なリソース要求が最も可能でない可能性が高い群を特定することができる。後に続くプロセスにおいて、ブロック６１８において実行される順序付けは、リソースを最も難しい群に最初に割り当てることによって、候補のリソース割り当てを構築するために使用されてもよい。

スコアに加えて、ブロック６１８においてスコアが使用されてもよい。１つの実施例として、複数のサイトに関連付けられる、対応する群は、連続したものであるように順序付けられ得る。かかる手法は、すべての試験サイトにおいて対応する群の同様なプロセスにつながる、特定の割り当てヒューリスティックスの使用を促進し得る。

ブロック６１８において、いったん群が順序付けされると、プロセスはサブブロセス６３０まで進んでもよく、ここではツール３５０が、リソースエンジンを割り当て、リソースエンジン要求を満たそうと試みる。サブプロセス６３０で実行されるプロセスは、以下の図７に関してさらに詳細に記載される。しかし、簡潔に、サブプロセス６３０におけるプロセスは、リソースエンジン要求に対するリソースエンジンの候補の割り当てを作る反復プロセスを伴い、これによってリソースエンジンを実行する物理的リソースは、リソースエンジン要求と関連付けられた各試験サイトにおけるピンにマッピングされ得る。候補の割り当ては、リソースエンジン要求がブロック６１８において順序付けられる順序でなされる。各リソースエンジン要求が検討されるとき、要求を満たすリソースエンジンが利用可能である場合、候補の割り当てがなされる。複数のリソースエンジンが要求を満たすために割り当てられ得る場合、ヒューリスティックスが適用され、可能なリソースエンジンのなかから選択する。候補の割り当てがすべてのリソースエンジン要求に対してなされた場合、サブブロセス６３０は、リソースエンジンの良好な割り当てと共に終了し、これはピンと、個々のリソースと関連付けられた試験システムのチャネルとのマッピングを定義するのに使用され得る。かかる手法は、有効なリソースの割り当てが存在する場合、それは速やかに特定され得る高い可能性を提供する。

したがって、サブプロセス６３０が良好な割り当てと共に終了する場合、プロセスは決定ブロック６４０から、結果が出力されるブロック６５０まで進んでもよい。ブロック６５０における結果の出力は、上記の出力３７０（図３）などを含め、任意の好適な形態であってもよい。

例示される実施形態では、サブプロセス６３０は、リソースエンジン要求の特定の順序付けに基づいて、有効なリソース割り当てを見つけるためになされる試みの数を限定するように構築される。特定の実施例として、リソースエンジン要求の特定の順序付けに基づいて、リソースエンジンに対して、リソースエンジン要求を整合させるために、２回又は３回の試みがなされてもよい。試みの数に関係なく、サブプロセス６３０におけるプロセスが、リソースエンジン要求を、標的の試験システム構成におけるリソースエンジンに良好にマッピングする割り当てを特定しない場合、サブプロセス６３０は、良好な割り当てを有することなく終了する場合がある。このシナリオでは、プロセスは決定ブロック６４０から決定ブロック６４１まで分岐してもよい。

決定ブロック６４１において、候補フローに関する有効なマッピングを見出そうとする試みの数の考慮がなされる。上記のとおり、リソースエンジン要求は、有効なリソースマッピングの速やかな特定（存在する場合は）につながるように意図された方法で、ブロック６１８において順序付けされる。いくつかの実施形態では、有効なリソースマッピングが第１の順序付けを見出すことができない場合、異なる順序に基づいた有効な割り当てがなされるように任意の試みがなされてもよい。しかし、試みの数が限定される場合があり、なぜならば有効な割り当てが最初の数回の好ましい順序付けで見出すことができない場合、有効なマッピングの発見の可能性は減少するからである。したがって、決定ブロック６４１におけるプロセスは、リソースエンジン要求の更なる順序付けが試みられるべきであるかどうかの決定を伴う。

試されるべきである場合、プロセスはブロック６１６までループバックしてもよく、ここではソースエンジンのタイプの異なる重み付けが適用され、リソースエンジン要求の順序付けが再度計算される。異なる重み付けは、例えば両方が比較的少ない、２つのリソースエンジンタイプの相対的な重み付けを逆転させる場合がある。この方法では、各反復において、指示されたリソースエンジンのタイプの異なる順列が使用されてもよい。

反対に、それが、試みがなされるべきリソースエンジン要求の更なる順序付けがないということが、決定ブロック６４１において決定された場合、試みの数は閾値を超えるため、プロセスは決定ブロック６４２に分岐してもよい。

決定ブロック６４２において、試された割り当てに関して更なる候補フローが残っているかどうかによって、プロセスは再び分岐する場合がある。割り当てが試みられるフローの数は、ツールのオペレータ又は他の入力によって選択される特定の手法による場合がある。

フロー・イテレータが作られているシナリオにおいて、条件（例えば、検討される候補フローの数、ツールが反復される時間、有効なフローが特定された候補フローの数及び／又は適合性など）に基づいて、ブロック６００にループバックしてもよい。

いくつかの実施形態では、有効な割り当てが最初の最も速いフローに関してすることができなかった場合、新しいフローに基づいて割り当てがなされる場合がある。図２に関して上記のように、候補フローは、最も速いものから最も遅いものまで順序付けられてもよく、これは一般に、試験プロセスにおいて、より多くの並行性から、より少ない並行性へと順序付けを作る。並行性が減少するにつれ、群の数、及び群の関連付けられた要求は減少する場合がある。例えば、図８に例示されている群１及び２のピンは、同時に試験されるとき、群１におけるピンは、群３におけるピンに連結されるリソースエンジンとは異なる時間領域で動作するリソースエンジンに連結すべきという要求が存在する。この要求は、リソースエンジンのタイプを限定する場合があり、これは群１におけるピン及び群３におけるピンに試験信号提供することができる。しかしながら、群１及び群３のピンが連続して試験された場合、異なる時間領域で動作するリソースエンジンに関する要求はもはや適用しない。同じデジタル機器の一部であるリソースエンジンによって、群１及び群３に関する要求が満たされる場合がある。したがって、異なるフローを選択することによって、及びサブプロセス６３０を含むプロセスを繰り返すことによって、良好な割り当てが特定され得る。

したがって、良好な割り当てがなされるまで、又は更なるフローが存在しなくなるまで、プロセスは決定ブロック６４２からブロック６００までループバックしてもよい。更なる候補フローが残っていない場合、又はタイムアウト若しくは終了条件に到達した場合、プロセスはブロック６４２から６５０まで分岐し得る。決定ブロック６５０において、出力３７０（図３）などの出力が提供され得る。しかしながら、プロセスが、決定ブロック６４２からの分岐に基づいて、ブロック６５０に到達し、いずれかの可能なフローに関して、いずれの良好な割り当てが特定されないということを示すとき、ブロック６５０における結果の出力は、この事実を示し得る。例えば、出力３８２は、満たされていないリソースエンジン要求につながる、システムリソースにおける競合又は制限を示し得る。

図７を参照すると、サブプロセス６３０の更なる詳細が例示される。図７は、ブロック２１４において特定される可能なフローの具体的な１つに関して特定された、リソースエンジン要求を満たすための割り当てをするために実行される得るプロセスを示す。

図７のプロセスにおいて、今度はピンが処理される。したがって、図７のプロセスはブロック７１０において開始し、各ピンに対して繰り返されるループの開始を示す。ブロック７１０において開始するループを実行する際に、ピンはブロック６１８において確立された順序で処理される。

ブロック７１０から、決定ブロック７１１。選択されたピンが、割り当てが既になされているマルチピン群の一部であるかどうかによって、決定ブロック７１１におけるプロセスが分岐する。分岐しない場合は、プロセスはブロック７１２まで進む。ブロック７１２において、ピンが処理されるために、候補リソースのセットが特定され、その関連付けられた群において、ピン及び他のピンに関するセットの要求を満たす。例示される実施形態では、候補リソースのセットは、ピンのセットのリソースエンジン要求を満たす、１つ以上有効なリソースエンジンを特定することによって選択される。これに関して、リソースエンジンが候補の割り当ての一部として含まれない場合、リソースエンジンは利用可能であると考えられる。いくつかのシナリオにおいて、リソースエンジンは２つ以上のリソースエンジン要求を満たすように割り当てられる容量を有してもよい。このシナリオでは、リソースエンジンはまた、それが、その容量と等しいリソースエンジン要求を満たすように割り当てられていない場合は、利用可能であり得る。具体的な実施例として、リソースエンジンは複数のピンを駆動させるために論理出力の容量を有してもよい。フロー工程中に、それが駆動することができるピンの合計数を駆動するために、リソースエンジンがまだ割り当てられていない場合、リソースエンジンは、それがその試験フロー工程中に、更なるリソースエンジン要求を満たすための割り当てのために選択され得るように検討され得る。

しかし、リソースエンジンが利用可能である場合でさえも、要求のセットが処理されるという要求を、リソースエンジンが満たすことが出来る場合、リソースエンジンはブロック７１２においてのみ選択される。リソースエンジンが論理出力できるピンの数に、リソースエンジンがまだ割り当てられていないためにリソースエンジンが利用可能である実施例では、リソースエンジンは、それでもなお要求のセットの、１つ以上要求を満たすことができないため、選択されない場合がある。一例として、リソースエンジンは、リソースエンジンが、ブロック７１２で処理される要求のセットの要求を満たす必要があるもとのとは異なる時間群で、動作することを必要とするピンに割り当てられてもよい。このシナリオでは、リソースエンジンはブロック７１２において選択される候補リソースエンジンとして不適格と見なされ得る。

いくつかのシナリオにおいて、これは処理されるセットのリソースエンジン要求を満たす、２つ以上の利用可能なリソースエンジンが存在してもよい。このシナリオでは、候補リソースエンジンのうちの１つは、ブロック７１２において選択されてもよい。リソースエンジンの選択は、１つ以上のヒューリスティックス、又はすべてのセットの要求に関して動作可能な割り当てに到達するのを促進する他の基準に基づいてもよい。例えば、ソースエンジンの２つのタイプがリソースエンジン要求を満たすことが出来る場合、より多くの利用可能なタイプのリソースエンジンが選択されてもよい。他のヒューリスティックスの例として、リソースエンジンが、複数のサイトの同時試験に選択される実施形態では、リソースエンジンは、同じリソースエンジンが、可能である場合は、サイトのそれぞれにおいて対応するピンにマッピングされるように選択され得る。具体例として、リソースエンジンが、３つの差動ペアと関連付けられる信号を供給することができるが、処理される要求のセットは、リソースエンジンに１つの差動ペアを供給することを必要とする場合、同じリソースエンジンが他のサイトのそれぞれにおけるピンの、対応するペアに割り当てられ得るように、３つの異なるペアを供給することができるリソースエンジンが優先的に選択され得る。対応するヒューリスティックスは、他のサイトにおける群と関連付けられた、対応する要求に関してリソースの選択を適用し、すなわち、リソースエンジンが、他のサイトにおいて対応する群に事前に割り当てられているが、まだ利用可能な容量を有する場合、そのリソースエンジンは優先的に選択される。リソースエンジン要求の群を、異なるサイトにおけるピンの群に対応する位置に、その順序で連続して順序付けることは、複数のサイトのそれぞれにおいて、対応する群に対する割り当てが、リソースエンジンをリソースエンジン要求に割り当てる際に考慮される、そのようなヒューリスティクスの適用を促進する。

他のヒューリスティックス又は他の基準は、選択された要求のセットのリソースエンジン要求を満たす、複数の利用可能なリソースエンジンから選択する際に使用され得る。更なる例として、要求を満たす最も小さいリソースエンジンが選択され得る。このヒューリスティックスの例として、リソースエンジン要求は単一のデジタルピンに関してであり得る。第１の利用可能なリソースが１つの割り当てられていないデジタルピンを含み、第２の利用可能なリソースが８つの割り当てられていないデジタルピンを含む場合、ブロック７１２としての選択は、１つの割り当てられていないデジタルピンを有するリソースエンジンを好む。

特定の基準の適用は、競合する選択となり得るということを理解する必要がある。例えば、最小のリソースエンジンを選択するためのヒューリスティックスは、複数のサイトにおいて対応する群の要求を満たすリソースエンジンの選択を示すヒューリスティックと競合し得る。したがって、ルール又は他の基準が使用されて、他の選択基準に対する優先順位を決定してもよい。

ブロック７１２においてリソースエンジンを選択するのに使用される基準に関係なく、ブロック７１２の実行に続いて、プロセスは、ブロック７１２において選択可能かどうかに基づいて、決定ブロック７１４において分岐する場合がある。選択が可能である場合、プロセスはブロック７２０に分岐することができ、そこでは、選択されたリソースエンジンと関連付けられた試験システムリソースが、処理される要求のセットと関連付けられた群のピンに割り当てられ得る。ブロック７２２において、この割り当てはリソースの候補の割り当ての開発の一部として記録され得る。割り当ては任意の好適な方法で記録されてもよい。例えば、割り当てを特定する情報は、コンピュータメモリにおけるデータ構造に記録されてもよい。

ブロック７２２で記録された情報は、すべてのセットのすべての要求が満たされた場合、最終的な割り当てを定義するのに使用され得る。さらに、図７のプロセスが実行されている間、記録された情報は利用可能なリソースエンジンをたどるのに使用され得る。さらに、ブロック７２２において保存された情報は、選択されなかった利用可能なリソースの特定を含み得る。ブロック７３２に関して以下に記載されるように、プロセスにおけるポイントが、リソース要求を満たすリソースが見つけることができないプロセスが達成した箇所に到達した場合、プロセスは「ロールバック」され、プロセスにおいて、先にリソースの異なる選択が有効な割り当てとなるかどうかを試験してもよい。

処理することはまた、ブロック７１３を通過することによって、決定ブロック７１１から決定ブロック７２２に到達し得る。プロセスのために選択されたピンが、群における他のピンのプロセスの一部として、割り当てが先になされている群の一部であるときに、この分岐が取られる場合がある。このシナリオにおいて、ブロック７１３におけるプロセスは、そのピン群に関して次に利用可能なチャネルに割り当てられる選択されたピンとなる。しかしながら、追加のリソースは、例示の実施形態では割り当てられない。

ブロック７２２から、プロセスは決定ブロック７２４まで進んでもよい。決定ブロック７２４において、プロセスは、要求のセットのすべてが満たされているかどうかに基づいて分岐してもよい。要求の、より多くのセットが残っている場合、プロセスは決定７２４からブロック７１０までループバックし、ブロック７１０では、要求の次のセットは、要求のセットを満たすリソースエンジンを特定するために処理される。反対に、要求のすべてのセットが候補のリソースエンジンの割り当てによって満たされている場合、プロセスは終了ポイント７２４において終了してもよい。プロセスが終了ポイント７２４に達した場合、サブプロセス６３０（図６）が終了し、良好な割り当てが特定されているということを意味する。

反対に、要求のセットを満たすリソースエンジンの選択が、ブロック７１２において可能ではない場合、プロセスはブロック７１４で、決定ブロック７３０まで分岐し得る。決定ブロック７３０において、候補のリソースとして事前に選択されていない、候補のリソースエンジンとして選択される、リソースエンジンのいずれかかに利用可能な代替が存在するかによって、プロセスは再び分岐する場合があり、選択されたリソースエンジンの代わりに、代替のリソースエンジンのうちの１つの選択に基づいて、割り当てが試され得る。したがって、このシナリオにおいて、プロセスは決定ブロック７３０からブロック７３２まで分岐してもよい。ブロック７３２において、ブロック７２２で記録された割り当ての状態は、代替の選択が試験される、候補のリソースエンジンの選択前の状態にロールバックされてもよい。

代替によって交換される、選択された候補リソース、及び、したがってプロセスがロールバックされるポイントは、任意の好適な方法で決定されてもよい。いくつかの実施形態では、試されていない代替のリソースエンジンが存在する、ごく最近選択された候補のリソースが交換され得る。別の方法としては、試されていない代替が存在する、第１に選択された候補のリソースエンジンが選択されて、交換され得る。しかし、任意の好適な技法が使用されて、代替の選択によって交換されるべき候補のリソースを特定してもよい。例えば、交換されるべき候補のリソースの選択は、交換の時間において、リソースエンジンの利用可能性に基づく場合がある。しかし、他のヒューリスティックスが使用されて、交換されるべきリソースエンジンを選択してもよい。例えば、交換されるべき候補リソースエンジンが、リソースエンジンと、それらが割り当てられた群内のピンとの間のフィットの度合いに基づいて選択されてもよい。他のピンに供給するための追加の容量を有さず、群の要求を十分に満たすリソースエンジンを保持する割り当ては、１つのリソースエンジンが、群の要求を十分に満たさない、又は割り当てられたリソースエンジンが使用されていない容量を有する他の割り当てよりも優先的に維持され得る。あるいは、又はそれに加えて、同様な基準がリソースエンジン割り当てに適用されてもよく、ここではリソースエンジンは、サイトのすべてにおいて、対応するピン群の要求を満たす。

候補のリソースエンジンが特定される方法に関係なく、その候補リソースの割り当て前の時間において、ブロック７２２において作られたままの、割り当て記録の状態が再び作られ得る。割り当ての状態の追跡に関する任意の好適な技法は、ブロック７２２において採用されてもよく、割り当ての記録の状態をロールバックするために、ブロック７３２において使用される特定のプロセスは、割り当ての記録が保存されている特定のフォーマットに基づく場合がある。簡単な例として、ブロック７２２で記録される情報は、フレーム内に記録されてもよく、各フレームは処理状態の情報（例えば、既に作成された割り当て、利用可能なリソース、及び試された代替物）を定義する。ロールバックは、適切なフレームが見つけられるまで、フレームの削除を伴う場合がある。しかし、他の実施形態では、ロールバックは再帰を伴って、スタックを使用しながら実施されてもよい。

事前に割り当てられたリソースが交換のために特定される方法に関わらず、いったん適切なプロセス条件が確立されると、プロセスは終了ポイント７３４まで進んでもよい。終了ポイント７３４から、プロセスはブロック７１２までジャンプして戻ってもよく、ここでプロセスは、代替のリソースエンジンの選択に基づいてレジュームし、リソース要求に対してリソースエンジンの割り当てを形成しようと試みる。

反対に、試すべき更なる代替の候補のリソースエンジンが存在しない場合、又は終了条件が別の方式で到達してしまった場合は、プロセスは決定ブロック７３０からブロック７４０まで分岐し得る。ブロック７４０において、そのための候補のリソースエンジンの選択が可能でなかったリソースエンジン要求の記録が取られ得る。この情報は、割り当てが作られるのを防止した標的のテスタ構成の限定を示す出力３８２など、出力３７０などの一部として使用されてもよい。

プロセスは次いで、終了ポイント７４２まで進んでもよい。終了ポイント７４２において、図７のプロセスは終わってもよく、失敗状態で終わるサブブロセス６３０となる。このシナリオにおいて、図６のプロセスは、決定ブロック６４１までの失敗パスに沿って、決定ブロック６４０において分岐されてもよく、ここでは、プロセスは、異なる重み付けを用いて繰り返す場合があり、又は異なる可能なフロー若しくは他の好適なプロセスを用いて繰り返し得る決定ブロック６４２まで分岐し得る。プロセスは、この方式で、リソースエンジン要求に対してリソースエンジンの良好な割り当てが特定されるまで、又は割り当てが、各可能なフローに対して試みられ、かつ有効な割り当てが特定することができなくなるまで反復し得る。

しかし、他の終了条件が可能であるということを理解する必要がある。例えば、図６及び７の組み合わされたプロセスは、プリセット時間帯後に終了されてもよい。同様に、図６及び７のプロセスの任意の部分は、規定の時間帯の後に終了されてもよい。例として、決定ブロック７３０におけるプロセスは、代わりの又は所定量のプロセス時間を試すための、プロセス時間の所定の回数の試みの後に、試されていない利用可能なリソースエンジンが、セットの要求条件を満たす場合でさえも、決定ブロック７３０における処理はブロック７４０を分岐してもよい。

図９を参照すると、本発明のいくつかの実施形態に従って、ツールを実施するコンピュータ・システムが概略的に例示されている。ツールを実施するコンピュータ・システムは、当該技術分野において既知のハードウェア構成要素を含み得る。例えば、１つ以上のプロセッサ及び入力／出力デバイスが、かかるコンピュータ・システムの一部として提供されてもよい。さらに、コンピュータ記憶媒体は、データプロセスを保存するために提供されてもよく、又はツールによって生成されてもよい。

例示される実施形態では、ツール９００が、１つ以上のプロセッサで実行され得る、任意の好適なコンピュータ言語で準備されたコンピュータ実行可能な機器として実施されてもよい。これらのコンピュータ実行可能な指示は、マッピングが、被試験デバイスの試験ピンと、同時試験計画を支持する試験システムのチャネルとの間に確立され得るかどうかを定義するマッピング構成要素９１０を含み得る。マッピング構成要素９１０は、図６及び７に関して上記のようにプロセスを実施して、有効なマッピングが存在するかどうか、存在する場合はそのマッピングを決定するという両方を行う。

マッピング構成要素９１０の動作は、インターフェース構成要素９１２を通じて提供される入力に基づいてもよい。インターフェース構成要素９１２は、１つ以上のソースからの入力を受信することができ、その上でツール９００が実施されるコンピュータ・システムのユーザーからの入力を受信するためのグラフィカルユーザーインターフェイとして実施されてもよい。あるいは、又はそれに加えて、インターフェース構成要素９１２は、１つ以上アプリケーション・プログラミング・インターフェース（ＡＰＩ）を含んで、ツール９００が、デバイス又は試験プロセスの設計に使用される他の計算されたツールからの入力を受信するのを可能にし得る。

図９は、インターフェース構成要素９１２を通じて入力され得るデータのタイプの例を提供する。例えば、デバイスのピン配列はデバイスのピンを特定するために提供されてもよい。ピン配列は、グラフィカル・ユーザー・インターフェースを通じて、ユーザーに手動で入力されてもよい。しかし、いくつかの実施形態では、ピン配列は、ファイル、又はアプリケーション・プログラミング・インターフェースを通じたファイルを提供することによって入力されてもよい。この実施例では、デバイス入力は、「Ｐｉｎｍａｐ．ｔｘｔ」と名前の付けられたファイルにエンコードされてもよい。

標的のテスタの構成に関連する情報が、グラフィカル・ユーザー・インターフェース又はアプリケーション・プログラム・インターフェースを通じて提供されてもよい。この実施例では、標的のテスタ構成は、「ＣｕｒｒｅｎｔＣｏｎｆｉｇ．ｔｘｔ」と名前の付けられたファイルにエンコードされ得る。入力３１０（図３）のような他の入力は、インターフェース構成要素９１２を通じて同様に入力されてもよい。これらの値は同様に、グラフィカル・ユーザー・インターフェース又はＡＰＩを通じて入力されてもよい。

インターフェース構成要素９１４は、ツール９００のための出力機構を提供する。任意の好適なデータが、任意の出力３７０（図３）を含む、インターフェース構成要素９１４を通じて出力されてもよい。この情報は、情報をコンピュータスクリーン上に表示しながら、又はその上でツール９００が実行するコンピュータに接続された、デバイス上のプリントアウトなどによって、グラフィカル・ユーザー・インターフェースを通じて出力されてもよい。あるいは、又はそれに加えて、情報は、ファイルに情報を記録し得るアプリケーション・プログラミング・インターフェースを通じて、又は他のコンピュータ化されたシステムによってアクセスされ得る他の好適なデータ構造を通じて出力されてもよく、あるいは、インターフェース構成要素９１４内のＡＰＩを通じて他のコンピュータ化されたツールに直接パスされ得る。ＡＰＩを通過する情報の例として、図９は、特定された同時試験計画に従って製造されている、デバイスなどの試験デバイスに関する試験環境の作製に使用され得る複数のファイルをツール９００が生成するということを示す。この情報は、試験開発環境、例えばＩＧ−ＸＬ（商標）試験開発環境によって使用されるフォーマットで記録され得る。図９の例では、「ＳｉｍｕｌａｔｅｄＣｏｎｆｉｇ．ｔｘｔ」及び「Ｐｉｎｍａｐ．ｔｘｔ」、並びに「Ｃｈａｎｎｅｌｍａｐ．ｔｘｔ」はＸＭＬ、又は試験開発環境ツールによってアクセスされ得る、他の好適な言語で生成されてもよい。

ツールの実行の結果は、人間が解読可能かつ編集可能なフォーマットのドキュメントに、例えば図９に示される「リポート」（．ｄｏｃ）などにキャプチャーされ得る。このリポートは、ツール９００によって生成されたいずれかの情報、例えば、試されたフロー、特定のフローに関するマッピングを完了するために利用可能でなかったリソース、マッピングが作られ得るフローと関連付けられた、予定試験実行時間、又は生成され得る任意の他の情報を含み得る。

図９の実施例において、ユーザー又は他のコンピュータが実施したツールのいずれかによる、後でのアクセスのために、１つ以上のファイルに情報を保存することの代わりに、又はこれに加えて、インターフェース構成要素９１４は、ユーザーによってレビューされるグラフィカル・ユーザー・インターフェースを通じて情報を出力してもよい。ツール９００の出力は、例えばツール９００によって見出された、又は良好なリソースの割り当てを伴って候補フローのセットからユーザーによって選択された最良の結果を説明する情報を含み得る。最良の結果は、フロー、及びこのフローを達成するために特定されたリソース割り当てに基づいて説明されてもよい。この最良のフローと併用して、ツール９００は、特定されたフローに関する予測試験時間を提供してもよい。

同様な情報が、発見された最良の結果以外の、特定され得る他の結果のオプションに関して出力されてもよい。かかる出力は、第１の結果が特定された後、図６に示されるプロセスなど、ツール９００がプロセスを繰り返すシナリオに提供されてもよい。第１の結果は、発見された最良の結果と相関を取り得る。他のフローに関して動作可能なマッピングを特定するためにプロセスを続けることによって、他の結果もまた特定され得る。

図９もまた、その上でツール９００が実行するコンピュータ・システムが、ツール９００によって、ツール９００が実行するときに使用され得る、又はこれによって生成される情報を保持しながら、１つ以上のデータ格納部を含み得るコンピュータ・システムを示す。データ格納部９３０、９３２、９３４及び９３６が例示される。この実施例では、データ格納部９３０及び９３２が、ツールによって、それが動作するときに生成されるデータを保存してもよい。データ格納部９３４及び９３６は、ツールへの入力を保存してもよい。例えば、データ格納部９３０は、ブロック６１０及び６１２におけるプロセスに基づいて特定され得るような、リソースエンジン要求を保存し得る。データ格納部９３２は、例えばブロック７２２又は７４４において記憶され、ブロック７３２において変更され得るように、候補マッピング上の情報を保存することができる。

データ格納部９３６は、被試験デバイス若しくは試験システム、又は試験プログラムに関する情報を保存してもよい。データ格納部９３４は、ツール９００の動作の様々な段階で使用されるルール及び関連性を保存してもよい。データ格納部９３４は例えば、利用可能なリソースを特定し、利用可能なリソースから選択し、ピンの群を形成し、他の選択を行い、又はツールの実行中にいずれか他の動作を実施するためのルールを保存することができる。

ここで図１０を参照すると、インターフェース要素９１２及び９１４によって、コンピュータのディスプレイ上で実行され得る、グラフィカル・ユーザー・インターフェースの実施例が提供されている。グラフィカル・ユーザー・インターフェース１０１０は、複数のディスプレイ領域を含み、これらの一部はユーザーの入力を受信するために適用されてもよく、これらの一部は出力を提供するために適用され得る。情報は、グラフィカル・ユーザー・インターフェースを実施するための当該技術分野において既知のタイプの制御要素を使用してグラフィカル・ユーザー・インターフェース１０１０を通じて入力又は出力され得る。これらの制御要素は、カラム、テーブル、ドロップダウンリスト、チェックボックス、スライダー、又は任意の好適なタイプのディスプレイ制御オブジェクトを含み得る。

図１０の実施例では、グラフィカル・ユーザー・インターフェース１０１０は一般に、入力領域１０２０及び出力領域１０５０に分けられ得る。入力領域１０２０は、複数のサブ領域、例えばサブ領域１０２２を含んでもよく、それを通じて、ユーザーは試験ブロックに関する情報を入力することができる。サブ領域１０２２に表示される情報のすべては、ユーザーによって入力されてもよい。しかし、いくつかの実施形態では、試験ブロックに関する情報は試験生成プログラム、又は他のコンピュータ化されたリソースから最初は得ることができる。その情報は、ユーザーが見て、修正するためにサブ領域１０２２に表示され得る。

さらに、サブ領域１０２２の表示は、それを通じてユーザーが特定の試験ブロックを特定し、同時試験計画を含むことができる制御部を含み得る。この実施例では、特定された各試験ブロックに関して、チェックボックススタイルの制御部が含まれて、ユーザーが、そこから同時試験計画が構築される候補フローに試験ブロックが含まれるべきかどうかを、特定できるようにする。

サブ領域１０２２はまた、試験ブロックのそれぞれに関する情報を提供するフィールドを含み得る。これらのフィールドは、例えば、推定された試験時間、又は試験ブロックに関する他のパラメータの値を特定することができる。いくつかのシナリオでは、これらのフィールドは、データを見ることに加えて、ユーザーがデータを変更し、これによってツール９００（図９）への入力を変更することができるような編集可能な制御部であり得る。

入力領域１０２０は、サブ領域１０３０をさらに含んでもよく、ここではピンに関する情報が入力されてもよい。被試験デバイスに関連付けられている各ピンに関して、そのピンにおける試験信号を生成し、測定するために使用されるリソースが特定され得る。この実施例では、サブ領域１０３０はグリッドとして実行され、各ピンは、グリッド内のラインとして表される。各ラインにわたって、ピンを試験するのに必要であり得る１つ以上のタイプのリソースに関する情報が入力されてもよい。サブ領域１０２２と同様に、サブ領域１０３０内のデータは、完全にユーザーによって入力されてもよく、又は試験プログラムの開発に使用される他のコンピュータ化されたツールから得られてもよい。これらの値は、次いでユーザーによって編集されてもよい。

更なるサブ領域１０３４は、グラフィカル・ユーザー・インターフェース１０１０の一部として表示されてもよい。この実施例では、サブ領域１０３４は、標的のテスタの構成、及びサイトの標的の数に関する情報を提供する。サブ領域１０２２及び１０３０と同様に、サブ領域１０３４に表示される情報は、ファイル、又は試験プログラムの開発に使用される、他のコンピュータ化されたツールによって生成される任意の好適な形態における出力から得ることができる。この情報は、ユーザーに表示することができ、ユーザーのオプションで変更され得る。この実施例では、テスタ構成はユーザーにテーブルとして表示され、テーブル内の各列は、標的の試験システム構成で表示され得る機器に関連している。この実施例では、有限数の機器のタイプが、試験システムに設置するのに利用可能であり得る。機器のタイプのオプションは、ドロップダウンリスト１０３６に反映されてもよく、これによってユーザーは構成のオプションを容易に選択することができる。テーブルの各列は、フィールド１０３８をさらに含んでもよく、ここでは指定されたタイプの機器の数が示され得る。ドロップダウンリスト制御部１０３６の操作、又はフィールド１０３８における値の入力によって、ユーザーは、標的の試験システム構成を容易に修正することができる。

ユーザーが、ツール９００による入力として使用され得る任意のパラメータの値を見る、又はこれを修正するために他の領域が提供されてもよい。サブ領域１０４０は、ユーザーが、例えば競合を定義するのを可能にし得る。この実施例では、サブ領域１０４０は、一緒に試験することができないブロックを特定する入力を容認する。この情報は、ツール９００によって使用されてもよく、これによって、フィルタ候補は、ブロック２１４（図２）に関して上記のように流れる。

競合に関する情報も、ユーザーに呈され得る。図１０の実施例において、出力領域１０５０は、特定された競合のグラフィック表現を提供するサブ領域１０６０を含む。サブ領域１０６０に示された競合は、サブ領域１０４０及び／又は１０２４を通じて入力されたユーザーの入力、すなわちツール９００の操作によって特定された競合、又は任意の他の好適な方法によって特定された競合に基づく場合がある。しかし、サブ領域１０６０が、複数のソースによって特定された競合を含みとき、この競合は、コード化された色であってもよく、ないしは別の方法で、競合の情報のソースを視覚的に示す方法で表されても良い。例えば、異なる色のコーディングが使用されて、ユーザーによって特定された競合を特定することができ、これは、ブロック２１４（図２）における候補の試験フローの排除となり、ツール９００の操作によって特定された競合は、例えば、ツール９００の操作中に決定ブロック６４０（図６）において特定されている場合がある。かかる情報は、試験エンジニアが、標的の試験システム構成に対する変更、又はより効果的な同時試験プログラムにつながり得る試験プログラムを特定するのを助けるのに有用であり得る。

サブ領域１０７０は、候補の試験フローに関する有効なリソース割り当てを見出す試みの結果を出力するのに使用され得る。この例において、マトリックスに情報が表示される。マトリックス内の各行は、１つの候補試験フロー、及びそのフローに関する有効なリソース割り当てを見出す試みの結果に関する情報を含む。候補試験フローに関する情報は、この実施例では任意の好適な方法で表示されてもよいが、候補試験フローは、シリーズのカラム１０７２において定義される。シリーズ１０７２内のカラムのそれぞれは、フローの各工程における同時実行のために含まれる試験ブロックに関する情報を提供する。

列のそれぞれは、フローに関連付けられて、フローに関する有効なリソース割り当てを見出す試みの結果を示すことができる。リソース要求を満たす具体的なタイプの利用可能なリソースが存在しなかったためにフローが失敗したシナリオでは、リソースタイプが表示され得る。フロー、及びこのフローに対してなされた又は試されたリソースの割り当てに関する、任意の他の好適な情報が、代わりに又は追加として呈されてもよい。

グラフィカル・ユーザー・インターフェース１０１０は、ツール９００の操作と関連付けられているデータをユーザーが操作できるようにする、他の制御部を含んでもよい。例えば、制御部１０８０はプロジェクトメニューコントロールである。コントロール１０８０を操作することにより、ユーザーはコマンドを入力することができ、ツールに対して、ユーザーによって操作されたデータを保存させる。例えば、ファイル制御部１０８０の操作は、ツールに、データ格納部９３４及び／又はデータ格納部９３６内の情報を記憶させることができる。

図１１は、ユーザーがツールと相互作用する代替の操作条件状態における、グラフィカル・ユーザー・インターフェース１０３０の拡大図を提供する。グラフィカル・ユーザー・インターフェース１１００は、ピン又は関連するピンの群の要求を定義するために使用されてもよい。この実施例では、グラフィカル・ユーザー・インターフェース１１００は、マトリックスとしてフォーマットされたディスプレイ領域を含む。マトリックスのそれぞれの行は、ピン又はピンの群と関連付けられている。行全体の情報は、各試験ブロック中に生じ得るピン又はピン群における要求を特定することができる。この実施例では、ユーザーは、選択された行１１１０を有し、これによってユーザーは行１１１０において特定されたピンの群に関する要求を編集してもよい。

この実施例では、行１１１０は、名称「ｃｔｒｌＲＦ＜０：２＞」によって特定されるピンの群と関連付けられている。この実施例では具体的に、ユーザーは、試験ブロックと関連付けられ、「ＲＦ」として特定される行１１１０におけるフィールドを選択している。選択されたフィールド１１１２に入力されたデータは、特定された試験ブロック中にピンの群を特定するために、機器のタイプによって要求を特定する。この実施例では、フィールド１１１２内のデータは、２つのタイプのリソースが要求されているということを示す。

追加として、図１１は、一連のドロップダウンリスト１１１４Ａ、１１１４Ｂ及び１１１４Ｃをユーザーが有するということを示す。これらのリストは、フィールド１１１２に特定されるリソース要求への追加の要求を特定する。具体的な実施例として、ドロップダウンリスト１１１４Ａは、ユーザーが更なるリソースをフィールド１１１２に追加できるようにするか、又は既にそのフィールドで特定されているリソースの特性を特定できるようにする。この場合では、ユーザーはＵＰ８００＿ＤｉｇＳｒｃとして特定されているリソース要求の特性を指定するために選択した。

リスト１１１４Ｂにおいて、ユーザーは要求に応じてリソースの表記を取り除くように選択してもよく、又はそのリソースに関して、特別な重複している要求を特定してもよい。このシナリオでは、ユーザーには、指定されたリソースの操作モードを特定するためのオプションが呈される。とりわけこの実施例では、ユーザーは、フィールド１１１２Ｂにおける要求の一部として、リソースが特別な同時使用モードで動作するということを含むように、リスト１１１４Ｂを通じて選択する。

ドロップダウンリスト１１１４Ｃを通じて、ユーザーは、指定されたリソースの特別な共通使用モードの更なる特性を特定してもよい。これらのドロップダウンリスト１１１４Ａ、１１１４Ｂ及び１１１４Ｃは、標的の試験システム構成を定義しながら、データ格納部９３４に記憶された情報が入力されてもよく、これは利用可能なリソースのセット、及び機器に関する情報を定義し、これはリソース及びパラメータに関してユーザーがそれらについて特定し得る特性を定義する。しかし、そのような表示は任意の好適な方法で作られてもよい。

図１２は、サブ領域１０７０の拡大図を示す。図１２は、サブ領域１０７０に示されるフローに関して現れるメッセージ１２１０を示す。この実施例では、メッセージ１２１０は、有効なリソースの割り当てが、あるフローに関して見出すことができなかった理由についてユーザーにフィードバックを提供する。したがって、試された割り当てが失敗だったことを示すのに加えて、メッセージ１２１０は、試された割り当てがなぜ失敗だったかの理由を提供する。この場合、試された割り当ては、リソースのアライメントゆえに失敗であった。さらに、ツール９００は、特定のフローの失敗を避け得る対抗手段を提案するようにプログラムされてもよい。この場合では、ツールは、フローに関して試されたリソースの割り当て中に利用可能でなかった、リソースのタイプを含む機器を追加する提案を提供している。したがって、図１２は、ユーザーが反復的にツールを適用するのを可能にし得るフィードバックの実施例を提供し、各イテレーションにおいて、効果的な同時試験計画の特性についての洞察を得て、ツールに対する入力を変更し、並びに、改善された同時試験計画が達成されるかどうかを試験する。

図１３は、それを通じてユーザーがコマンドを入力し、ツール９００が１つ以上の出力を作ることができるグラフィカル・ユーザー・インターフェースを例示する。グラフィカル・ユーザー・インターフェース１３１０は、ドロップダウン・メニュー・コントロール３１４を含み、これを通じてユーザーはフォーマットを選択し、これを出力し得る。複数の出力フォーマットオプションがユーザーに提示され得る。一実施例として、ユーザーはリポート出力フォーマットを特定してもよい。かかる選択に応答して、ツール９００はリポート１３２０を作成してもよい。この実施例では、リポート１３２０は、同時試験計画に関する情報を提供する、埋め込まれた画像を備えるワードのドキュメントとしてフォーマットされる。この実施例では、生成されたリポート１３２０は、表形式及び画像形式の、同時に実行され得る、試験ブロックと、同時に実行できないために競合する試験ブロックを説明する。同じ情報は、画像形式で呈されてもよく、マトリックス内で陰影を付けることによって例示される試験ブロックの可能なもの、及び競合するものの組み合わせを備える。しかし、それは、任意の好適な形態のリポートがツール９００によって生成され得るということを理解する必要がある。

さらに、ドロップダウンメニュー１３１４は他の出力形式を含む。１つのそのような代替出力形式はチャネルマップである。チャネルマップ１３３０が例示される。この実施例では、チャネルマップはデバイスピンと、試験システムチャネルとの間の相関を示す表計算として記録されてもよい。マルチサイトの同時試験計画において、各サイトに関するデバイスピンのマッピングが提供されてもよい。チャネルマップ１３３０は、当該技術分野において既知のフォーマットで特定されてもよいが、任意の好適なフォーマットが使用されてもよい。

図１４は、更なるグラフィカル・ユーザー・インターフェース１４００を例示し、これは代替として、又は追加で使用されて、ツール３５０に入力を供給してもよい。この実施例では、ユーザー・インターフェース１４００は、それを通じて、ユーザーがツールの所望される動作を特定することができる、複数のディスプレイ領域を含む。

ディスプレイ領域１４１０は、ユーザーが、ツールの操作のモードを制御するパラメータを入力できるようにする。上記のとおり、ツールが使用されて、特定のデバイスに関して、試験及び試験システム構成を試し、その試験を実施するための効率的なフローを特定することができる。しかし、他の操作モード（例えばリソースマッピングが、ユーザーが供給した候補フローに関して特定され得るかどうかをツールが認証するものなど）もまた支持され得る。ディスプレイ領域１４１０を通じて入力された入力は、操作のモードを表示し得る。

この例において、ユーザーは、有効なリソース割り当てがなされ得るフローを見つけようと、ツールが試みるモードにおいて、ツールが動作するということを示す入力を供給している。この場合では、ツールは、候補フローを生成するための複数の手法のうち１つを使用するように構成され得る。上記のとおり、ブロック２１２におけるプロセス（図２）に対応して、これらは完全なセットアルゴリズムを含むことができる。別の方法としては、ユーザーはフロー・イテレータによって生成される候補フローを有するように選択してもよい。この場合では、ユーザーはイテレータのタイプを特定してもよい。そのようなオプションは、ディスプレイ領域１４１０に例示されており、示されているスマート−反復の候補フローの生成が選択されている。

ディスプレイ領域１４１０はまた、他の入力及びツールの構成に使用され得る情報を含む。例えば、ツールがスマートランダムモードに復帰する前に、どれくらい長くツールが実行するかについて、パラメータが特定されてもよい。また例示されるように、ツールは、それに関して完全な検索が試されるブロックの数における制限を強いることができる。その制限は、この実施例では１３として示されているが、ブロックの数、又はそのような制限の存在さえも、本発明の要求ではないということが理解される必要がある。

ディスプレイ領域１４２０は、それを通じて、ツールがどれくらい長く実行しそうであるかを制御するパラメータに関する値を、ユーザーが入力することができる他の入力領域を含む。これらのパラメータは、候補フローに関する有効なリソースの割り当ての検索を終了する前に、どれくらい長く、ツールが実行するかなど、ツールの全体の実行又は操作の任意の段階に関するタイムアウト時間を特定することができる。あるいは、又はそれに加えて、操作時間又は作られた出力値に影響を与えるパラメータの値もまた特定され得る。例えば、これらの値は、保存されている有効な割り当ての数を特定し得る。

ディスプレイ領域１４２０は、ユーザーに、更なる設定にアクセスする機構を提供する。ディスプレイ領域１４１０は、ユーザーが制御部を起動する機構を提供し、これは設定を適用するか、又は例えばツールが推奨する設定を有するなど、他の機能を起動させる。

図１４Ｂは、更なるユーザー・インターフェースを例示する。この実施例において、図１４Ｂのユーザー・インターフェースは、ユーザーが試験システム構成を特定する機構を提供する。このインターフェースは、ユーザー・インターフェース１０３４（図１０）の代わりに使用されてもよい。しかし、図１４Ｂのインターフェースは、ユーザーがそれによって、内部にそれぞれ接地された機器が設置された試験スロットを特定し得る機構を含む。マップを作るマップ回路は上記のとおり、試験システム内の機器の位置に基づいて、特定のピンに送るための機器を選択してもよい。したがって、この情報は、図１４Ｂのユーザー・インターフェースを通じて供給されてもよい。

したがって、本発明の少なくとも１つの実施形態のいくつかの態様を記載することで、様々な変更、修正、及び改善は、当業者には容易に生じるということが理解されるべきである。

例えば、図１は、ウエハの一部としてデバイスの試験を示す。上記のツールは、被試験デバイスの形態に関係なく、同時試験計画を確立するのに使用され得る。いくつかの実施形態では、パッケージ化された部分が試験されてもよく、他の実施形態では、複数のチップのモジュールが例えば試験されてもよい。異なる形態においてデバイスを試験することは、試験システムリソースと試験ピンとのマッピングを実行するために、異なる機構構造体を必要とする場合があるが、そのような変更もまた、本明細書に記載のツールの使用を通じて予想され、かつ可能にすることができる。

また、リソースエンジンが利用可能である間、試験フロー０中のインターバルは、リソースエンジン割り当てをする際の要因となり得る。割り当てが、試験フロー中に動的に変化し得るシナリオでは、同じリソースエンジンは、フロー中の異なる時間において、異なる要求を満たすために割り当てられても良い。フロー中におけるそのような割り当ての変更は、ＤＩＢ又は試験システムの他の部分が、チャンネルとピンとの間の物理的接続を変化させ得るスイッチを含むことを可能にし得る。別の方法としては、割り当てのそのような変更は、特定のＩ／Ｏの機能性が変更できる機器を用いて可能であり得る。具体例として、複数のチャネルに接続されたＩ／Ｏを有する機器は、１つのシリアルポートを支持してもよく、しかし、いずれか１つの時間において、シリアルポートの機能性は、機器が結合される任意の１つのチャネルにおいて供給され得る。このシリアルポート機能性を示すリソースエンジンは、これらのピンのいずれの２つも、フロー中の同じ時間にシリアルポート機能性を必要としない限り、機器に関連付けられた異なるチャネルに結合された異なるピンに対して、異なる時に割り当てることができる。一時的な競合が存在し得るかどうかを決定するために、動的な割り当ては、試験ブロック又はフローの他の好適な一時的なインターバルのためであってもよい。同じリソースエンジンの複数の割り当ては、それらが、任意のそのようなインターバル中に、リソースエンジンに認められた同時接続の数を特定するルールの違反とならない限り、なされてもよい。

かかる変更、修正、及び改善は、本開示の一部として意図され、本発明の趣旨及び範囲内であることが意図される。したがって、前述の説明及び図面は、例示のみを目的としている。

本発明の上記の実施形態は、任意の多くの方法で実施され得る。例えば、実施形態は、ハードウェア、ソフトウェア、又はこれらの組み合わせを使用して実行されてもよい。ソフトウェアで実行されるとき、ソフトウェアのコードは、単一のコンピュータ、又は複数のコンピュータの間に供給されるかどうか、任意の好適なプロセス又はプロセスの集合体上に実行されてもよい。かかるプロセッサは、集積回路構成要素内の１つ以上のプロセッサを用いて実行されてもよい。しかし、プロセッサは任意の好適なフォーマットで回路を使用して実施されてもよい。

さらに、コンピュータは、ラックマウント式コンピュータ、デスクトップコンピュータ、ラップトップコンピュータ、又はタブレットコンピュータなど、任意の数の形態で実施されてもよい。さらに、コンピュータは、一般にはコンピュータとしては見られていないが、携帯情報端末（ＰＤＡ）、スマートフォン、又は任意の他の好適な携帯用又は固定された電子デバイスを含む、好適な処理能力を備えるデバイス内に組み込まれ得る。

また、コンピュータは１つ以上の入力及び出力デバイスを有してもよい。これらのデバイスは、とりわけユーザー・インターフェースを呈するために使用することができる。ユーザー・インターフェースを提供するために使用することができる出力デバイスの例には、出力の視覚的表示のためのプリンタ若しくはディスプレイスクリーン、及び出力の可聴な表示のためのスピーカー若しくは音発生デバイスが挙げられる。ユーザー・インターフェースのために使用され得る入力デバイスの例には、キーボード及びポインティングデバイス、例えばマウス、タッチパッド、及びデジタイズ用タブレットを含む。他の例として、コンピュータは音声認識を通じて、又は他の可聴なフォーマットで入力情報を受信することができる。

かかるコンピュータは、任意の好適な形態で、ローカルエリアネットワーク、又は広域ネットワーク（例えば企業網又はインターネットなど）を含む１つ以上ネットワークによって相互接続することができる。このようなネットワークは、任意の好適な技術に基づいていてもよく、並びに任意の好適なプロトコルに従って動作してもよく、かつワイヤレスネットワーク、有線ネットワーク、又は光ファイバーネットワークを含んでもよい。

また、様々な方法又は本明細書に概説されたプロセスは、多様な操作システム又はプラットフォームのいずれか１つを採用する、１つ以上のプロセッサ上で実行可能であるソフトウェアとしてコード化されてもよい。さらに、そのようなソフトウェアは、好適なプログラミング言語及び／又はプログラミング若しくはスクリプトツールを使用して記述されてもよく、並びに、フレームワーク又はバーチャルマシン上で実行される、実行可能な機械語コード又は中間コードとして適合されてもよい。

この点において、本発明は、１つ以上のコンピュータ又は他のプロセッサ上で実行されたとき、本発明の上記の様々な実施形態を実行する、１つ以上プログラムでエンコードされたコンピュータ読み取り可能な媒体（又は複数のコンピュータ読み取り可能な媒体）（例えばコンピュータメモリ、１つ以上フロッピー（登録商標）ディスク、コンパクト・ディスク（ＣＤ）、光学ディスク、デジタル・ビデオディスク（ＤＶＤ）、磁気テープ、フラッシュメモリ、フィールド・プログラム可能ゲートアレイ、若しくは他の半導体デバイス、又は他の非一時的な有形のコンピュータ記憶媒体として具体化されてもよい。コンピュータ読み取り可能な媒体は、内部に保存されたプログラムが、１つ以上の異なるコンピュータ又は他のプロセッサ上にローディングされ、上記のとおり本発明の様々な態様を実施することができるように、可搬性であり得る。本明細書で使用するとき、用語「コンピュータ読み取り可能な記憶媒体」は、製造物（すなわち製造の物品）又は機会であるとみなされ得る、コンピュータ読み取り可能な媒体のみを包含する。

用語「プログラム」又は「ソフトウェア」は、コンピュータ又は他のプロセッサをプログラムし、上記のとおり本発明の様々な対応を実施するために使用することができる、任意のタイプのコンピュータコード、又はコンピュータ実行可能な指示のセットを指す、一般的な意味で使用される。さらに、本実施形態の１つの態様によると、実行されたときに本発明の方法を実行する１つ以上コンピュータプログラムは、単一のコンピュータ又はプロセッサ上に配置される必要はないが、多くの異なるコンピュータ又はプロセッサの中でモジュール方式で分散されて、本発明の様々な態様を実施することができる。

コンピュータ実行可能な指示は、１つ以上コンピュータ又は他のデバイスによって実行される、多くの形態、例えばプログラムモジュールであってもよい。一般に、プログラムモジュールは、特定のタスクを実行し、又は特定の抽象データタイプを実施するルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データストラクチャ等を含む。典型的に、プログラムモジュールの機能性は、様々な実施形態で望ましいように組み合わされても、又は分散されてもよい。

また、データ構造体は任意の好適な形態で、コンピュータ読み取り可能な媒体内に保存されてもよい。例示の簡略化のために、データ構造体は、データ構造体における位置を通じて関連付けられているフィールドを有しているように示される場合がある。このような関係は同様に、フィールド間の関係を伝達する、コンピュータ読み取り可能な媒体における場所を伴って、フィールドの保存を割り当てることによって達成され得る。しかしながら、任意の好適な機構は、ポインタ、タグ、又はデータ要素間の関係を確立する他の機構の使用を通じることを含め、データ構造体のフィールド内の情報間で関係を確立するために使用されてもよい。

本発明の様々な態様は、単独でも、組み合わせでも、又は前述の記載された実施形態で特に記載されていない様々な構成において使用されてもよく、かつ、したがってその用途を、図面に示された前述の記述で説明された構成要素の細部及び構成には限定されない。例えば、一実施形態で記載された態様は、他の実施形態で記載された態様と任意の方式で組み合わされてもよい。

また、本発明は方法として実施されてもよく、その例が提供されている。本方法の一部として実施される行為は、任意の好適な方法で順序付けられてもよいしたがって、実施形態が構築されてもよく、ここでは、行為は例示とは異なる順序で実施され、これは、例示されている実施形態では連続的な行為として例示されているが、いくつかの行為を同時に実行することを含み得る。具体例として、図６はブロック６１０、６１２及び６１４、６１６及び６１８が、ブロック６００において始まるループ内で発生しているのを示している。いくつかの実施形態では、ブロック６１０、６１２及び６１４、６１６及び６１８の一部又はすべてにおけるプロセスは、具体的な候補フローから独立してもよい。そのシナリオでは、ブロック６１０、６１２及び６１４、６１６及び６１８が、ブロック６００の前に実施され得る。

請求項の要素を修正するために、請求項において順序を示す用語、例えば「第１」「第２」、「第３」等の使用は、それ自体はいずれの優先度、先行性、すなわちある請求項が他より上である、又は方法の行為が実施された一時的な順序を暗示せず、単に、特定の名前を有する１つの請求項の要素を、同じ名前（しかし、通常の用語に使用に関して）を有する他の要素から区別するために付番される。

また、本明細書で使用される専門語及び専門用語は、説明目的のためであり、限定するものと見なされるべきではない。「含む」、「構成する」、「有する」、「含有する」、「含む（ｉｎｖｏｌｖｉｎｇ）」及びそれらの変化形を本明細書において使用することは、これらの後に記載する要素及びその等価物、並びに付加的な要素を包含することを意図したものである。

Claims (40)

1. 複数ピンを有するデバイス用のかつ複数リソースを有する試験システムが行う同時試験計画のための情報を生成する計算装置を動作させる方法であって、
   少なくとも一つのプロセッサを用いて、
   ａ）複数群のピンと各群のための試験中の一セットのリソース要求とを特定することと、
   ｂ）集合的に要求を満たす一以上の試験システムリソースをそれぞれが含む複数セットの試験システムリソースを特定することと、
   ｃ）前記複数セットのセットを、前記複数群の各群に整合させることと
   を含む方法。
2. 前記複数セットのセットは順序を有し、
   前記整合させることは、一の群が各セットに割り当てられるまで、前記複数群の一つを各セットに前記順序で割り当てることを含む、請求項１に記載の方法。
3. ｄ）スコアを各セットに割り当てることであって、前記スコアは前記セットの要求にリソースを整合させる難度を示すことと、
   ｅ）前記複数セットに割り当てられた前記スコアに基づいて前記複数セットの前記順序を確立することと
   をさらに含む、請求項２に記載の方法。
4. ｄ）前記複数群の一の群を、前記複数セットの一のセットに整合させるときに、前記一のセット内のリソースを前記一の群内のピンに割り当てることをさらに含み、
   前記複数セットのセットは順序を有し、
   前記整合させることは、前記順序での次のセットが、前記次のセットのための要求を満たす未割り当てリソースが存在しない状態に達するまで、前記複数群の一の群を各セットに前記順序で割り当てることを含む、請求項１に記載の方法。
5. ｅ）前記次のセットのための要求を満たす未割り当てリソースが存在しない場合、工程ｃ）を繰り返しながら、前記複数群の少なくとも一つの異なる群を、前記順序で前記次のセットに先行する一のセットに整合させることをさらに含む、請求項４に記載の方法。
6. ｆ）一の群が各セットに割り当てられるまで工程ｅ）を繰り返すことと、
   ｇ）工程ｄ）におけるテスタのリソースのピンへの割り当てに基づいて、前記ピンと前記テスタのリソースとのマッピングを生成することと
   をさらに含む、請求項５に記載の方法。
7. 前記試験は複数ブロックを含み、
   前記各群のピンに関連付けられたリソース要求のセットは、前記試験のすべてのブロックにおける前記群の中のピンに対する集合的なリソース要求を含む、請求項６に記載の方法。
8. 前記試験は複数ブロックを含み、
   前記各群のピンに関連付けられたリソース要求のセットは、前記試験の前記ブロックの一部の間に前記群の中のピンに対する集合的なリソース要求を含む、請求項６に記載の方法。
9. ｄ）複数の可能な試験フローを特定することと、
   ｅ）予定試験実行時間に基づいて前記可能な試験フローを順序付けることと
   をさらに含み、
   工程ａ）は第１試験フローのために実行され、
   前記複数群のすべてに対して前記セットの要求を満たすべく試験システムリソースが前記複数ピンのすべてに割り当てることができない場合、第２試験フローのために少なくとも工程ａ）及びｃ）を繰り返し、
   前記第２試験フローは前記順序では前記第１試験フローに追従する、請求項１に記載の方法。
10. 半導体デバイスを製造する方法であって、
    請求項１に記載の方法に従って試験計画を生成することと、
    前記生成された試験計画に従って、製造操作の一部としてデバイスを試験することと、
    前記試験の結果に少なくとも部分的に基づいて、試験された前記デバイスの製造プロセス中に、少なくとも一つのプロセス工程を選択することと
    を含む方法。
11. 少なくとも一つのコンピュータ記憶媒体であって、
    実行時にユーザーと相互作用する方法を実装するコンピュータ実行可能な指示を含み、
    前記方法は、
    ａ）複数群のピンを特定し、試験中の各群に対する一セットのリソース要求を特定することと、
    ｂ）複数セットの試験システムリソースを特定することであって、各セットは、集合的に要求を満たす一以上の試験システムリソースを含むことと、
    ｃ）前記複数セットのセットを前記複数群の各群に整合させることと
    を含む少なくとも一つのコンピュータ記憶媒体。
12. 前記複数群のピンを特定することは、候補フローのフロー工程内で同時に実行されるブロックに関連付けられた群を特定することを含み、
    前記方法はさらに、前記複数セットが前記複数群のすべての群に整合するには不十分である場合、前記候補フローが失敗だったと示すことを含む、請求項１１に記載の少なくとも一つのコンピュータ記憶媒体。
13. 前記方法はさらに、前記候補フローを特定するユーザー入力を受信することを含む、請求項１２に記載の少なくとも一つのコンピュータ記憶媒体。
14. 前記方法は、前記候補フローにおける複数のフロー工程のそれぞれに対して工程ａ）、ｂ）及びｃ）を、前記候補フローが失敗するまで、又は各群が前記複数セットの各セットに整合するまで、反復的に繰り返すことを含む、請求項１３に記載の少なくとも一つのコンピュータ記憶媒体。
15. 計算装置を動作させて、少なくとも一つのデバイスの同時試験計画のための情報を生成する方法であって、
    前記少なくとも一つのデバイスのそれぞれは複数ピンを有し、
    前記試験は、前記複数ピンに接続可能な複数リソースを有する試験システムによって実行され、
    前記同時試験は複数ブロックを含み、
    前記方法は、
    少なくとも一つのプロセッサを用いて、反復的にプロセスを実行することを含み、
    前記反復的にプロセスを実行することは、
    ヒューリスティックに従って候補フローを特定することであって、前記候補フローは、ブロック間の事前に特定された競合を避けるようにブロックをスケジューリングすることと、
    前記候補フローに対して、
    前記候補フローに従って前記同時試験を実行するべく前記複数リソースのリソースを前記複数ピンのピンに割り当てる試みを行うことと、
    前記割り当てる試みが前記リソースの割り当てに成功した場合、前記候補フローを使用して前記同時試験を実行する試験時間を計算することと、
    前記リソースの割り当てが試験ブロック間の競合ゆえに成功しなかった場合、後の反復における候補フローが前記競合を含まないように競合試験ブロック間の競合を記録することと
    を含む方法。
16. 第２の反復において、前記ヒューリスティックに従って前記候補フローを特定することは、先の候補フローに対する先の反復中に計算された試験時間よりも短い時間で前記同時試験を実行するべく、前記ヒューリスティックによって示された特性を有する候補フローをランダムに生成することを含む、請求項１５に記載の方法。
17. 複数の反復のそれぞれにおいて前記ヒューリスティックに従って候補フローを特定することは、引き続いて長時間で実行するべく前記ヒューリスティックによって予測された順序で候補フローを生成することを含む、請求項１５に記載の方法。
18. リソースの割り当てに成功した候補フローの表示を出力として与えることをさらに含む、請求項１５に記載の方法。
19. リソースの割り当てに成功した複数の候補フローの中から、前記出力の候補フローを選択することをさらに含み、
    前記出力の候補フローは、前記複数の候補フローに対して計算された試験時間に基づいて選択される、請求項１８に記載の方法。
20. 前記方法はさらに、各試験ブロックに対して見積もられた実行時間を与える入力を受信することを含み、
    候補フローに対して前記試験時間を計算することは、前記実行時間の予測に基づいて前記試験時間を計算することを含む、請求項１５に記載の方法。
21. 前記競合は、前記競合する試験ブロックを同時に試験するための、前記試験システムの前記リソースを超えるリソースの要求を含む、請求項１５に記載の方法。
22. 前記競合は、前記被試験デバイスのピンが前記競合する試験ブロックの少なくとも２つにおいて動作するための要求を含む、請求項１５に記載の方法。
23. 前記試験システムの新たな構成を定義するユーザー入力を受信することと、
    前記新たな構成に基づいて、前記反復的にプロセスを実行することを繰り返すことと
    をさらに含む、請求項１５に記載の方法。
24. 前記ユーザー入力を受信することと、前記反復的にプロセスを実行することを繰り返すことは、リアルタイムで発生する、請求項２３に記載の方法。
25. 前記試験システムの新たな構成を定義するユーザー入力を受信することは、前記試験システムが構成されるサイトの数を定義するユーザー入力を受信することを含む、請求項２４に記載の方法。
26. 前記反復的にプロセスを実行することに先立って、競合する試験ブロックを特定する入力を受信することをさらに含み、
    前記入力は、同じピンが割り当てられたブロックを特定する、請求項１５に記載の方法。
27. 前記反復的にプロセスを実行することのための終了条件を特定する入力を受信することをさらに含む、請求項１５に記載の方法。
28. 前記終了条件は、反復的に処理を実行する時間、反復的にプロセスを実行する反復の最大数、又は前記候補フローを実行するため計算された目標の計算試験時間として表される、請求項２７に記載の方法。
29. 少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体であって、
    少なくとも一つのプロセッサによる実行時に、少なくとも一つのデバイスの同時試験計画のための情報を生成するためのツールを実装する複数のコンピュータ実行可能な指示を含み、
    前記少なくとも一つのデバイスのそれぞれは複数ピンを有し、前記試験は前記複数ピンに接続可能な複数リソースを有する試験システムによって実行され、前記同時試験は複数ブロックを含み、
    前記コンピュータ実行可能な指示は、第１モジュール、第２モジュール及び第３モジュールからなる群から選択された少なくとも２つのモジュールを含む複数のモジュールを含み、
    前記第１モジュールは、第１技術を指定する入力に応答して、
    候補フローを列挙することと、
    前記複数リソースのリソースを前記複数ピンのピンに割り当てて、列挙された前記候補フローのそれぞれに従って前記同時試験を実行しようと試みることと、
    前記リソースの割り当てが成功した複数の列挙された前記候補フローを示す出力と、列挙された前記候補フローに対する各推定試験時間とを与えることと
    によって少なくとも一つの同時試験フローを特定し、
    前記第２モジュールは、第２技術を指定する入力に応答して、
    第１終了条件に到達するまで、先の反復中に計算された先の候補フローの試験時間よりも短い時間で前記同時試験を実行するようにヒューリスティックによって示される特徴を有する候補フローを、各反復においてランダムに生成することによって、複数の候補フローを反復的に生成することと、
    前記複数リソースのリソースを前記複数ピンのピンに割り当てて、生成された候補フローそれぞれに対して列挙された前記候補フローのそれぞれに従って前記同時試験を実行しようと試みることと、
    前記リソースの割り当てが成功した前記生成された候補フローの少なくとも一つを示す出力を与えることと
    によって少なくとも一つの同時試験フローを特定し、
    前記第３モジュールは、第３技術を指定する入力に応答して、
    第２終了条件に到達するまで、先の反復中に計算された先の候補フローの試験時間よりも長い時間で前記同時試験を実行するようにヒューリスティックによって示される特徴を有する候補フローを、各反復に発生させることによって、複数の候補フローを反復的に生成することと、
    前記複数リソースのリソースを前記複数ピンのピンに割り当てて、生成された候補フローのそれぞれに対して列挙された前記候補フローのそれぞれに従って前記同時試験を実行しようと試みることと、
    前記リソースの割り当てが成功した前記生成された候補フローの少なくとも一つを示す出力を与えることと
    によって少なくとも一つの同時試験フローを特定する、少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
30. 前記コンピュータ実行可能な指示は、
    候補フローを特定する入力を受信し、入力された前記候補フローに従って前記同時試験を実行するべく前記複数リソースのリソースが、前記複数ピンのピンへの割り当てに成功できるか否かを決定するためのコンピュータ実行可能な指示を含む、請求項２９に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
31. 前記コンピュータ実行可能な指示は、
    前記第１終了条件又は前記第２終了条件を特定する入力を受信するためのコンピュータ実行可能な指示を含む、請求項２９に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
32. 前記コンピュータ実行可能な指示は、前記第２モジュール又は前記第３モジュールによって生成される前記複数の候補フローのそれぞれにおける同時試験ブロックの最大数を特定する入力を受信するためのコンピュータ実行可能な指示を含む、請求項２９に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
33. 前記コンピュータ実行可能な指示は、前記第２モジュール又は前記第３モジュールによって生成される前記複数の候補フローのそれぞれにおけるフロー工程の最小数を特定する入力を受信するためのコンピュータ実行可能な指示を含む、請求項２９に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
34. 前記コンピュータ実行可能な指示は、前記第２モジュール又は前記第３モジュールによって生成される前記複数の候補フローにおいて適用される試験ブロックのパターンを特定する入力を受信するためのコンピュータ実行可能な指示を含む、請求項２９に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
35. 前記試験ブロックのパターンは同時実行のための試験ブロックを含む、請求項３４に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
36. 前記試験ブロックのパターンは連続実行のための試験ブロックを含む、請求項３４に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
37. 前記候補フローを列挙することは、すべての可能な固有の試験フローを含む、請求項３４に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
38. 少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体であって、
    少なくとも一つのプロセッサによる実行時に、少なくとも一つのデバイスの同時試験計画のための情報を生成するためのツールを実装する複数のコンピュータ実行可能な指示を含み、
    前記少なくとも一つのデバイスのそれぞれは複数ピンを有し、
    前記試験は前記複数ピンに接続可能な複数リソースを有する試験システムによって実行され、
    前記同時試験は複数のブロックを含み、
    前記コンピュータ実行可能な指示は、
    試験システム構成を特定する入力を受信し、
    候補フローを特定する入力を受信し、
    特定された前記試験システム構成を備える入力された前記候補フローに従って前記同時試験を実行するべく、前記複数リソースのリソースが前記複数ピンのピンへの割り当てに成功できるか否かを決定する、少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
39. 前記試験システムの構成を特定する入力を受信することは、前記試験システムが試験するように構成される試験サイトの数を特定する入力を受信することを含む、請求項３８に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
40. 前記試験システム構成を特定する入力を受信することは、前記試験システムにおけるリソースの量を特定する入力を受信することを含む、請求項３８に記載の少なくとも一つのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。

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