CN114429103A - 一种芯片验证方法、装置及电子设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种芯片验证方法、装置及一种电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：确定待测设计，获取所述待测设计对应的配置文件；其中，所述配置文件包括所述待测设计对应的所有测试用例；获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例；依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。本申请提供的芯片验证方法，提高了芯片验证的效率。

Description

一种芯片验证方法、装置及电子设备和存储介质

技术领域

本申请涉及芯片技术领域，更具体地说，涉及一种芯片验证方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质。

背景技术

对被测设计的验证包含编译验证环境、进行仿真验证两个部分，通常是先配置参数后编译和仿真验证连续进行。系统级芯片(System-on-a-Chip，SOC)的设计开发过程中，需要对全芯片的功能及性能进行仿真验证，随着芯片规模的增加，全芯片验证环境更改测试用例时需要重新编译环境的方式，随着系统级芯片涵盖的模块和子系统越来越多，系统编译所需时间越来越长，导致每次更换用例都需要经历编译和仿真两大过程。

在相关技术中，针对更改测试用例时需要重复编译的问题，通过配置文件的方式读入测试用例的所有的配置信息，这种方式避免了更改测试用例需要更改验证环境，从而实现修改验证配置不需要重新编译验证环境，并简化配置流程，缩短仿真时间，提高验证效率。但是，重复仿真和配置参数繁琐并未得到有效解决。随着芯片更为复杂，系统级芯片涵盖的模块和子系统越来越多，配置文件的综合难度越来越大，每个测试用例都需要整合一个配置文件，假设一个包含几十个子系统的系统级芯片，每个子系统还包含几十个子用例，那么综合配置文件和进行参数配置将耗费大量人力，出错几率也大大增加，频繁的仿真过程也占用大量时间，验证效率较低。

因此，如何提高芯片验证的效率是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的在于提供一种芯片验证方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，提高了芯片验证的效率。

为实现上述目的，本申请提供了一种芯片验证方法，包括：

确定待测设计，获取所述待测设计对应的配置文件；其中，所述配置文件包括所述待测设计对应的所有测试用例；

获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例；

依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

其中，所述待测设计包括待测模块，所述待测模块对应的配置文件的第一层包括子配置文件标识和分类参数，所述配置文件的第二层包括多个子配置文件，每个所述子配置文件包含相同类型的一个或多个测试用例；

相应的，所述获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例，包括：

获取目标子配置文件标识和目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标子配置文件标识对应的目标子配置文件，并在所述目标子配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例。

其中，若所述目标测试用例标识为预设值，所述预设值区别于每条所述测试用例对应的测试用例标识，则在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例，包括：

将所述配置文件中的所有测试用例均确定为目标测试用例。

其中，所述待测设计包括待测芯片，所述待测芯片包括多个层级，每个层级包括多个模块，所述方法还包括：

基于所述待测芯片的层级结构创建所述待测芯片对应的配置文件；其中，所述待测芯片对应的配置文件包括多个层级，每个层级包括所述待测芯片中对应层级的模块对应的配置文件。

其中，所述获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例，包括：

获取每个层级对应的目标测试用例标识，基于每个层级对应的目标测试用例标识在所述配置文件中从顶层至底层进行遍历，以确定一条或多条目标测试用例。

其中，若目标层级对应的目标测试用例标识为预设值，所述预设值区别于所述目标层级对应的所有测试用例标识，则遍历所述目标层级对应的所有配置文件。

其中，所述依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证，包括：

基于所述目标测试用例的层级关系，从底层至顶层依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

为实现上述目的，本申请提供了一种芯片验证装置，包括：

获取模块，用于确定待测设计，获取所述待测设计对应的配置文件；其中，所述配置文件包括所述待测设计对应的所有测试用例；

确定模块，用于获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例；

验证模块，用于依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

为实现上述目的，本申请提供了一种电子设备，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述芯片验证方法的步骤。

为实现上述目的，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述芯片验证方法的步骤。

通过以上方案可知，本申请提供的一种芯片验证方法，包括：确定待测设计，获取所述待测设计对应的配置文件；其中，所述配置文件包括所述待测设计对应的所有测试用例；获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例；依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

本申请提供的芯片验证方法，将待测设计对应的所有测试用例编辑在一个配置文件中，其中的每个测试用例均对应有测试用例标识。通过目标测试用例标识确定需要配置的一条或多条目标测试用例，依次基于每条目标测试用例中的配置参数对待测设计进行配置，每次配置完成后进行仿真验证，实现了一次仿真处理验证多条目标测试用例，提高了芯片验证的效率。

本申请还公开了一种芯片验证装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：

图1为根据一示例性实施例示出的一种芯片验证方法的流程图；

图2为根据一示例性实施例示出的另一种芯片验证方法的流程图；

图3为根据一示例性实施例示出的一种模块级验证的示意图；

图4为根据一示例性实施例示出的一种三层次芯片级验证的示意图；

图5为根据一示例性实施例示出的一种芯片验证装置的结构图；

图6为根据一示例性实施例示出的一种电子设备的结构图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。另外，在本申请实施例中，“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

本申请实施例公开了一种芯片验证方法，提高了芯片验证的效率。

参见图1，根据一示例性实施例示出的一种芯片验证方法的流程图，如图1所示，包括：

S101：确定待测设计，获取所述待测设计对应的配置文件；其中，所述配置文件包括所述待测设计对应的所有测试用例；

在本实施例中，待测设计可以为整个芯片，也可以是芯片中一个模块，在此不进行具体限定。可以理解的是，验证环境可以包括数据生成模块、激励模块、数据监控对比模块等，所有的其他验证模块由环境模块(ENV)统一调用。在现有技术中，数据生成模块用于进行配置生成，而在本实施例中，新增配置生成模块CFG_GEN，其不受ENV模块的调用，读取到的配置参数正常传给数据生成模块，并可以控制ENV模块，使配置文件写入的每行测试用例的配置参数都会运行一次ENV模块，并在ENV模块运行完成后写入下一行，再重新启动ENV，达到一次仿真多个测试用例的目的。

在具体实施中，待测设计对应的配置文件包括该待测设计对应的所有测试用例，每个测试用例包括能够覆盖一个或多个功能点的配置参数。配置文件中的每一行对应一条测试用例，每一行的第一个参数作为测试用例标识，用于识别对应的测试用例，其余参数为该条测试用例的配置参数，验证环境通过CFG_GEN模块中的task函数按行读取所有的配置参数。当某一条测试用例对应的测试用例标识不存在时，该条测试用例将不会被调用。

S102：获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例；

在本步骤中，接收包含目标测试用例标识的输入信号，基于该目标测试用例标识在配置文件中确定对应的一条或多条目标测试用例。例如，输入的目标测试用例标识为1，则将测试用例标识为1的测试用例确定为目标测试用例。

作为一种优选实施方式，若所述目标测试用例标识为预设值，所述预设值区别于每条所述测试用例对应的测试用例标识，则在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例，包括：将所述配置文件中的所有测试用例均确定为目标测试用例。例如，若配置文件中包含的测试用例标识为1、2、3、…，预设值为0，则若输入的目标测试用例标识为0，则将配置文件中的所有测试用例均确定为目标测试用例。

对于待测模块，其对应的测试用例可以进行分类。待测模块对应的配置文件的第一层包括子配置文件标识和分类参数，所述配置文件的第二层包括多个子配置文件，每个所述子配置文件包含相同类型的一个或多个测试用例；相应的，所述获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例，包括：获取目标子配置文件标识和目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标子配置文件标识对应的目标子配置文件，并在所述目标子配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例。在具体实施中，对配置文件进行分层，第一层包含子配置文件标识和分类参数，第二层包括多个子配置文件，每个所述子配置文件包含相同类型的一个或多个测试用例，每个测试用例对应有测试用例标识，同一子配置文件中测试用例测试的功能点类似，跑通其中一条子用例，其余同类子用例跑通概率非常大。例如，待测模块对应有四类测试用例，配置文件的第一层包括四条记录，分别记录每一个类别对应的子配置文件的子配置文件标识和分类参数，配置文件的第二层包括四个子配置文件，分别包含对应类别的所有测试用例。通过CFG_GEN模块中的task函数识别第一层子配置文件，读取参数后，task再读取对应的第二层子配置文件，并对其中包含的所有测试用例进行遍历。

S103：依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

在本步骤中，依次基于每条目标测试用例中的配置参数对待测设计进行配置，每次配置完成都会调用一次ENV模块，直至所有参数配置完成，达到一次仿真验证多条用例的目的。

可见，本实施例将测试用例的配置参数集中写到一个配置文件内，把选取配置参数的任务交给环境，而不是主要靠人工去编辑。通过测试用例标识将每个配置参数的选择从一个元素变成了一个数组，实现全芯片验证模块化的思想。

本申请实施例提供的芯片验证方法，将待测设计对应的所有测试用例编辑在一个配置文件中，其中的每个测试用例均对应有测试用例标识。通过目标测试用例标识确定需要配置的一条或多条目标测试用例，依次基于每条目标测试用例中的配置参数对待测设计进行配置，每次配置完成后进行仿真验证，实现了一次仿真处理验证多条目标测试用例，提高了芯片验证的效率。

本申请实施例公开了一种芯片验证方法，相对于上一实施例，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化。具体的：

参见图2，根据一示例性实施例示出的另一种芯片验证方法的流程图，如图2所示，包括：

S201：确定待测芯片；其中，所述待测芯片包括多个层级，每个层级包括多个模块；

本实施例对待测芯片进行芯片级的验证，待测芯片为层级结构，也即待测芯片包括多个层级，每个层级包括多个模块。例如，待测芯片最顶层包括模块A和模块B，下一层级中，模块A包括模块A1、模块A2和模块A3，模块B包括模块B1和模块B2。

S202：获取所述待测芯片对应的配置文件；其中，所述待测芯片对应的配置文件包括多个层级，每个层级包括所述待测芯片中对应层级的模块对应的配置文件；

在具体实施中，基于待测芯片的层级结构创建所述待测芯片对应的配置文件；其中，所述待测芯片对应的配置文件包括多个层级，每个层级包括待测芯片中对应层级的模块对应的配置文件。对于上一步骤举出的例子，配置文件中最顶层包括模块A对应的测试用例a1和测试用例a2、模块B对应的测试用例b1和测试用例b2，下一层级中包括模块A1对应的测试用例a1、模块A2对应的测试用例a2、模块A3对应的测试用例a3、模块B1对应的测试用例b1和模块B2对应的测试用例b2，每条测试用例均对应有测试用例标识。

S203：获取每个层级对应的目标测试用例标识，基于每个层级对应的目标测试用例标识在所述配置文件中从顶层至底层进行遍历，以确定一条或多条目标测试用例；

在本步骤中，获取每个层级对应的目标测试用例标识，基于每个层级对应的目标测试用例标识在配置文件中从顶层至底层进行遍历，以确定一条或多条目标测试用例。作为一种可行的实施方式，若目标层级对应的目标测试用例标识为预设值，所述预设值区别于所述目标层级对应的所有测试用例标识，则遍历所述目标层级对应的所有配置文件。例如，当某一层级对应的目标测试用例标识为0时，则遍历该层级对应的所有测试用例。

S204：基于所述目标测试用例的层级关系，从底层至顶层依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

在本步骤中，CFG_GEN模块中的task函数通过配置文件的每行测试用例的配置参数，逐层确定验证范围，并从最底层开始逐层向上遍历所有的验证范围。按照这种方式，可以对每一层次特定范围的子用例进行批量、准确的验证。

在本实施例中，先进行模块级验证得到模块对应的配置文件，再进行全芯片级验证。根据芯片层次构建CFG_GEN模块，将各模块对应的配置文件代入CFG_GEN模块内。再编写配置文件，配置文件每行测试用例仅包含最顶层子系统的配置参数和各个层次的测试用例标识。简化了配置文件，加快了仿真速度。

可见，在本实施例中，对不同项目不同芯片的不同全芯片级验证，仅根据模块间的层级关系和数量来构建模块CFG_GEN，和芯片具体功能、逻辑无关，验证代码具有很高的复用性。

在一种具体的应用实施例中，包括以下步骤：

步骤1：编写模块CFG_GEN。

通过读取配置文件，达到按行对应一条用例配置参数的目的，并可以实现一次仿真遍历配置文件中所有测试用例的功能。同时，可以接收输入信号：识别id(下边(2)中有介绍)、读取的配置文件名。

步骤2：使用该验证方法完成模块级验证，如图3所示；

从模块级验证开始，一个子配置文件不再对应一条子测试用例，而是涵盖所有的子测试用例，子配置文件的每一行第一个参数作为子用例的识别id，用于识别对应的子测试用例，其余参数为该条子测试用例的配置参数。验证环境通过模块CFG_GEN里的task函数按行读取所有的配置参数，并可以根据外部输入的识别id与一条或多条测试用例对应，当识别id不存在时，该行子用例参数不会进行配置。若模块CFG_GEN接受到的输入识别id为0时，则会遍历所有的子用例。所以通过是否配置id号，可以进行多子用例或单个子用例的验证仿真。

基于这种方法，在模块级验证中可以实现用例的分类和模块化。假设一个模块级验证中，有四类子测试用例，每一类子用例涵盖数量不等的子用例，他们测试的功能点类似，跑通其中一条子用例，其余同类子用例跑通概率非常大。此时可以将配置文件分层，第一层子配置文件仅有两个参数，第一个是识别id，第二个是子用例分类参数；第二层有四个子配置文件，每个子配置文件包含同类型的所有子用例的配置参数(每行一个，都含有识别id)，通过模块CFG_GEN里的task函数识别第一层子配置文件，读取参数后，task再读取对应的第二层子配置文件，并将其中包含的所有子用例都配置一遍。这样的过程中，就将该模块的众多子用例相当于变成了四个子用例。

步骤3：将在模块级验证中实现用例的分类和模块化的方法复用在全芯片级验证上，三层次全芯片验证流程图如图4所示；

模块CFG_GEN的构建：根据全芯片子系统的分布层级构建，将所有子系统对应的子配置文件作为输入写入对应层次的task函数中。

配置文件的编写：从上至下的，配置文件包含最高层次子系统的子用例参数，和该条用例所经过的底下所有层次的子系统对应子用例的识别id。当识别id为0时，则会遍历该子系统所涵盖的所有子测试用例，若下一层次的子系统识别id也为0，则会遍历该层次识别id为0的子系统所涵盖的下一层的所有子测试用例；若下一层次的子系统识别id不为0，则会遍历该层次的下一层所有等于识别id的子用例。

开始仿真验证：模块CFG_GEN里的task函数通过配置文件的每行用例参数，通过每个层次的识别id，逐层确定验证范围，并从最底层开始逐层向上遍历所有的验证范围。按照这种方式，可以对每一层次特定范围的子用例进行批量、准确的验证。

由此可见，在全芯片级验证上，可以复用子系统级验证所用的配置文件。模块级验证产生的子配置文件根据在芯片上的层级结构添加入模块CFG_GEN的task函数内，仅需要根据具体的测试用例修改对应子配置文件中的识别id。该验证方法在项目间具有很好的可移植性，对不同项目不同芯片的不同全芯片级验证，仅根据子系统间的层级关系和数量来构建模块CFG_GEN，和芯片具体功能、逻辑无关，所以该验证代码具有很高的复用性。用例构造、环境维护更为方便，对比现将每个用例单独分开，分别创建对应的配置文件，并配置的验证方法，该验证方法可以在同一个文件下编辑所有的用例(子用例)的配置参数，具有良好的层次结构。可以在配置文件后对每行用例或每个识别id做备注，方便维护。通过更改识别id可以对每个层级特定范围的所有子用例进行覆盖。现有技术的众多用例可以用一条用例覆盖。提高了仿真验证的速度，一次仿真可以进行多个用例的验证，而一条用例可以覆盖众多小用例，避免了重复的仿真过程。

下面对本申请实施例提供的一种芯片验证装置进行介绍，下文描述的一种芯片验证装置与上文描述的一种芯片验证方法可以相互参照。

参见图5，根据一示例性实施例示出的一种芯片验证装置的结构图，如图5所示，包括：

获取模块501，用于确定待测设计，获取所述待测设计对应的配置文件；其中，所述配置文件包括所述待测设计对应的所有测试用例；

确定模块502，用于获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例；

验证模块503，用于依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

本申请实施例提供的芯片验证装置，将待测设计对应的所有测试用例编辑在一个配置文件中，其中的每个测试用例均对应有测试用例标识。通过目标测试用例标识确定需要配置的一条或多条目标测试用例，依次基于每条目标测试用例中的配置参数对待测设计进行配置，每次配置完成后进行仿真验证，实现了一次仿真处理验证多条目标测试用例，提高了芯片验证的效率。

在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述待测设计包括待测模块，所述待测模块对应的配置文件的第一层包括子配置文件标识和分类参数，所述配置文件的第二层包括多个子配置文件，每个所述子配置文件包含相同类型的一个或多个测试用例；

相应的，所述确定模块502具体为获取目标子配置文件标识和目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标子配置文件标识对应的目标子配置文件，并在所述目标子配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例的模块。

在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，若所述目标测试用例标识为预设值，所述预设值区别于每条所述测试用例对应的测试用例标识，则所述确定模块502具体为将所述配置文件中的所有测试用例均确定为目标测试用例的模块。

在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述待测设计包括待测芯片，所述待测芯片包括多个层级，每个层级包括多个模块，所述装置还包括：

创建模块，用于基于所述待测芯片的层级结构创建所述待测芯片对应的配置文件；其中，所述待测芯片对应的配置文件包括多个层级，每个层级包括所述待测芯片中对应层级的模块对应的配置文件。

在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述确定模块502具体为获取每个层级对应的目标测试用例标识，基于每个层级对应的目标测试用例标识在所述配置文件中从顶层至底层进行遍历，以确定一条或多条目标测试用例的模块。

在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，若目标层级对应的目标测试用例标识为预设值，所述预设值区别于所述目标层级对应的所有测试用例标识，则遍历所述目标层级对应的所有配置文件。

在上述实施例的基础上，作为一种优选实施方式，所述验证模块503具体为基于所述目标测试用例的层级关系，从底层至顶层依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证的模块。

关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。

基于上述程序模块的硬件实现，且为了实现本申请实施例的方法，本申请实施例还提供了一种电子设备，图6为根据一示例性实施例示出的一种电子设备的结构图，如图6所示，电子设备包括：

通信接口1，能够与其它设备比如网络设备等进行信息交互；

处理器2，与通信接口1连接，以实现与其它设备进行信息交互，用于运行计算机程序时，执行上述一个或多个技术方案提供的芯片验证方法。而所述计算机程序存储在存储器3上。

当然，实际应用时，电子设备中的各个组件通过总线系统4耦合在一起。可理解，总线系统4用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统4除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图6中将各种总线都标为总线系统4。

本申请实施例中的存储器3用于存储各种类型的数据以支持电子设备的操作。这些数据的示例包括：用于在电子设备上操作的任何计算机程序。

可以理解，存储器3可以是易失性存储器或非易失性存储器，也可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(ROM，Read Only Memory)、可编程只读存储器(PROM，Programmable Read-Only Memory)、可擦除可编程只读存储器(EPROM，Erasable Programmable Read-Only Memory)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM，Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)、磁性随机存取存储器(FRAM，ferromagnetic random access memory)、快闪存储器(Flash Memory)、磁表面存储器、光盘、或只读光盘(CD-ROM，Compact Disc Read-Only Memory)；磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(SRAM，Static Random Access Memory)、同步静态随机存取存储器(SSRAM，Synchronous Static Random Access Memory)、动态随机存取存储器(DRAM，Dynamic Random Access Memory)、同步动态随机存取存储器(SDRAM，SynchronousDynamic Random Access Memory)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(DDRSDRAM，Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory)、增强型同步动态随机存取存储器(ESDRAM，Enhanced Synchronous Dynamic Random Access Memory)、同步连接动态随机存取存储器(SLDRAM，SyncLink Dynamic Random Access Memory)、直接内存总线随机存取存储器(DRRAM，Direct Rambus Random Access Memory)。本申请实施例描述的存储器3旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。

上述本申请实施例揭示的方法可以应用于处理器2中，或者由处理器2实现。处理器2可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤可以通过处理器2中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器2可以是通用处理器、DSP，或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。处理器2可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者任何常规的处理器等。结合本申请实施例所公开的方法的步骤，可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于存储介质中，该存储介质位于存储器3，处理器2读取存储器3中的程序，结合其硬件完成前述方法的步骤。

处理器2执行所述程序时实现本申请实施例的各个方法中的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。

在示例性实施例中，本申请实施例还提供了一种存储介质，即计算机存储介质，具体为计算机可读存储介质，例如包括存储计算机程序的存储器3，上述计算机程序可由处理器2执行，以完成前述方法所述步骤。计算机可读存储介质可以是FRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、Flash Memory、磁表面存储器、光盘、或CD-ROM等存储器。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

或者，本申请上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台电子设备(可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：

确定待测设计，获取所述待测设计对应的配置文件；其中，所述配置文件包括所述待测设计对应的所有测试用例；

获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例；

依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

2.根据权利要求1所述芯片验证方法，其特征在于，所述待测设计包括待测模块，所述待测模块对应的配置文件的第一层包括子配置文件标识和分类参数，所述配置文件的第二层包括多个子配置文件，每个所述子配置文件包含相同类型的一个或多个测试用例；

相应的，所述获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例，包括：

获取目标子配置文件标识和目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标子配置文件标识对应的目标子配置文件，并在所述目标子配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例。

3.根据权利要求1所述芯片验证方法，其特征在于，若所述目标测试用例标识为预设值，所述预设值区别于每条所述测试用例对应的测试用例标识，则在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例，包括：

将所述配置文件中的所有测试用例均确定为目标测试用例。

4.根据权利要求1所述芯片验证方法，其特征在于，所述待测设计包括待测芯片，所述待测芯片包括多个层级，每个层级包括多个模块，所述方法还包括：

基于所述待测芯片的层级结构创建所述待测芯片对应的配置文件；其中，所述待测芯片对应的配置文件包括多个层级，每个层级包括所述待测芯片中对应层级的模块对应的配置文件。

5.根据权利要求4所述芯片验证方法，其特征在于，所述获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例，包括：

获取每个层级对应的目标测试用例标识，基于每个层级对应的目标测试用例标识在所述配置文件中从顶层至底层进行遍历，以确定一条或多条目标测试用例。

6.根据权利要求5所述芯片验证方法，其特征在于，若目标层级对应的目标测试用例标识为预设值，所述预设值区别于所述目标层级对应的所有测试用例标识，则遍历所述目标层级对应的所有配置文件。

7.根据权利要求5所述芯片验证方法，其特征在于，所述依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证，包括：

基于所述目标测试用例的层级关系，从底层至顶层依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

8.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于确定待测设计，获取所述待测设计对应的配置文件；其中，所述配置文件包括所述待测设计对应的所有测试用例；

确定模块，用于获取目标测试用例标识，在所述配置文件中确定所述目标测试用例标识对应的一条或多条目标测试用例；

验证模块，用于依次基于每条所述目标测试用例中的配置参数对所述待测设计进行配置，并进行仿真验证。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述芯片验证方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述芯片验证方法的步骤。

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