JP2016095990A - 発光装置 - Google Patents

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秀隆 大峡
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健太 島崎
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Abstract

【課題】補助電極などの導体部を多層構造にした場合において、導体部の上層が折れることを抑制する。
【解決手段】有機EL素子は基板100の第1面に形成されている。導体部160は基板100の第1面に形成されており、有機EL素子に電気的に接続している。導体部160は、第1導電層164、第2導電層166、及び第3導電層168を有している。第2導電層166は第1導電層164上に形成されている。第3導電層168は、第1導電層164の側面、及び第2導電層166の側面及び上面を覆っている。導体部160は、例えば有機EL素子の第1電極110の補助電極である。
【選択図】図6

Description

本発明は、発光装置に関する。
近年は、発光素子として有機EL(Organic Electroluminescence)素子を有する発光装置の開発が進んでいる。有機EL素子は、有機層を、透明電極である第1電極と、第2電極とで挟んだ構成を有している。透明電極を形成する透明導電材料は、Alなどの金属材料と比較して抵抗が高い。このため、例えば特許文献1に記載されているように、透明電極の上には、金属からなる補助電極が形成されることが多い。特許文献1において、補助電極は、Mo又はMo合金層からなる層、Al、Al合金、Ag、又はAg合金からなる層、及びMo又はMo合金層からなる層を、この順に積層した構成を有している。
なお、特許文献2には、液晶装置において、チタン、アルミニウム、及び窒化チタンをこの順に積層した配線をデータ線として用いることが記載されている。このデータ線の側面及び上面の一部は、反射膜で覆われている。
特開2005−108437号公報 特開2004−158826号公報
特許文献1に記載されているように補助電極などの導体部を多層構造にした場合、上層がその下層と比較してエッチング耐性が高いため、上層が下層に対して食み出る可能性が出てくる。この場合、上層のうち食み出た部分が折れて異物となり、この異物に起因して発光装置の動作に不具合が生じる可能性が出てくる。
本発明が解決しようとする課題としては、導体部を多層構造にした場合において、上層が下層に対して食み出ても、その食み出た部分が折れることを抑制することが一例として挙げられる。
請求項1に記載の発明は、基板と、
前記基板に形成された有機EL素子と、
前記基板に形成され、前記有機EL素子に電気的に接続する導体部と、
を備え、
前記導体部は、
第1導電層と、
前記第1導電層上に形成された第2導電層と、
前記第1導電層の側面、並びに前記第2導電層の側面を覆い、上面に接する第3導電層と、
を有する発光装置である。
実施形態に係る発光装置の構成を示す平面図である。 図1から第2電極を取り除いた図である。 図2から有機層を取り除いた図である。 図1のA−A断面図である。 図1のB−B断面図である。 図3のC−C断面図である。 図3のD−D断面図である。 発光装置の製造方法を示すフローチャートである。 実施例1に係る発光装置の構成を示す平面図である。 実施例2に係る発光装置の構成を示す平面図である。 実施例3に係る発光装置の平面図である。 図11から隔壁、第2電極、有機層、及び絶縁層を取り除いた図である。 図11のF−F断面図である。 図11のG−G断面図である。 図11のH−H断面図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
図1は、実施形態に係る発光装置10の構成を示す平面図である。図2は、図1から第2電極130を取り除いた図である。図3は、図2から有機層120を取り除いた図である。図4は、図1のA−A断面図である。図5は、図1のB−B断面図である。図6は図3のC−C断面図である。
実施形態に係る発光装置10は、図1〜図4に示すように、基板100、有機EL素子140、及び導体部160を備えている。有機EL素子140は基板100の第1面102に形成されている。導体部160は基板100の第1面102に形成されており、有機EL素子140に電気的に接続している。導体部160は、図6に示すように、第1導電層164、第2導電層166、及び第3導電層168を有している。第2導電層166は第1導電層164上に形成されている。第3導電層168は、第1導電層164の側面、及び第2導電層166の側面及び上面を覆っている。
また、発光装置10は絶縁層150を有している。絶縁層150は、有機EL素子140の発光領域を画定している。導体部160は、絶縁層150と重なる領域を介して絶縁層150の外側に引き出されている。導体部160は、絶縁層150と重なる領域にも形成されている。本図に示す例において、発光装置10は照明装置である。ただし、発光装置10はディスプレイであってもよい。以下、詳細に説明する。
まず、図1〜図4を用いて、発光装置10の構成を説明する。
基板100は、例えばガラス基板や樹脂基板などの透光性を有する基板である。基板100は可撓性を有していてもよい。可撓性を有している場合、基板100の厚さは、例えば10μm以上1000μm以下である。基板100は、例えば矩形などの多角形である。基板100が樹脂基板である場合、基板100は、例えばPEN(ポリエチレンナフタレート)、PES(ポリエーテルサルホン)、PET(ポリエチレンテレフタラート)、又はポリイミドを用いて形成されている。また、基板100が樹脂基板である場合、水分が基板100を透過することを抑制するために、基板100の少なくとも一面(好ましくは両面)に、SiNやSiONなどの無機バリア膜が形成されている。
基板100の第1面102には、有機EL素子140が形成されている。有機EL素子140は、第1電極110、有機層120、及び第2電極130をこの順に積層させた構成を有している。
第1電極110は、光透過性を有する透明電極である。透明電極の材料は、金属を含む材料、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)、IWZO(Indium Tungsten Zinc Oxide)、ZnO(Zinc Oxide)等の金属酸化物である。第1電極110の厚さは、例えば10nm以上500nm以下である。第1電極110は、例えばスパッタリング法又は蒸着法を用いて形成される。なお、第1電極110は、カーボンナノチューブ、又はPEDOT/PSSなどの導電性有機材料であってもよい。
有機層120は発光層を有している。有機層120は、例えば、正孔注入層、発光層、及び電子注入層をこの順に積層させた構成を有している。正孔注入層と発光層との間には正孔輸送層が形成されていてもよい。また、発光層と電子注入層との間には電子輸送層が形成されていてもよい。有機層120は蒸着法で形成されてもよい。また、有機層120のうち少なくとも一つの層、例えば第1電極110と接触する層は、インクジェット法、印刷法、又はスプレー法などの塗布法によって形成されてもよい。なお、この場合、有機層120の残りの層は、蒸着法によって形成されている。また、有機層120のすべての層が、塗布法を用いて形成されていてもよい。
第2電極130は、例えば、Al、Au、Ag、Pt、Mg、Sn、Zn、及びInからなる第1群の中から選択される金属、又はこの第1群から選択される金属の合金からなる金属層を含んでいる。この場合、第2電極130は遮光性を有している。第2電極130の厚さは、例えば10nm以上500nm以下である。ただし、第2電極130は、第1電極110の材料として例示した材料を用いて形成されていてもよい。第2電極130は、例えばスパッタリング法又は蒸着法を用いて形成される。
第1電極110の縁は、絶縁層150によって覆われている。絶縁層150は例えばポリイミドなどの感光性の樹脂材料によって形成されており、第1電極110のうち有機EL素子140の発光領域となる部分を囲んでいる。絶縁層150を設けることにより、第1電極110の縁において第1電極110と第2電極130が短絡することを抑制できる。
また、発光装置10は、第1端子112及び第2端子132を有している。第1端子112は第1電極110に接続しており、第2端子132は第2電極130に接続している。第1端子112及び第2端子132は、例えば、第1電極110と同一の材料で形成された層を有している。なお、第1端子112と第1電極110の間には引出配線が設けられていてもよい。また、第2端子132と第2電極130の間にも引出配線が設けられていてもよい。
第1端子112には、ボンディングワイヤ、又はリード端子などの導電部材(電子部品の一例)を介して制御回路の正極端子が接続され、第2端子132には、ボンディングワイヤ又はリード端子などの導電部材を介して制御回路の負極端子が接続される。ただし第1端子112及び第2端子132の少なくとも一方には、半導体パッケージなどの回路素子が直接接続されてもよい。また第1端子112及び第2端子132は、フレキシブルプリント基板(FPC)を介して制御回路に接続されていてもよい。この場合、第1端子112及び第2端子132は、例えば異方性導電性樹脂を介してFPCと接続する。
また、第1電極110の上には、複数の線状の導体部160が形成されている。導体部160は補助電極であり、第1電極110よりも抵抗が低い材料によって形成されている。導体部160が形成されることにより、第1電極110の見かけ上の抵抗は低くなる。本図に示す例において、導体部160は、絶縁層150と重なる領域を介して、第1端子112、すなわち絶縁層150の外側の領域に引き出されている。
次に、図6、図7、及び図8を用いて、導体部160について詳細に説明する。図6は、上記したように図3のC−C断面図である。図7は図3のD−D断面図である。なお、図3のE−E断面も、図6に示した断面と同様になっている。これらの図に示すように、導体部160は、第4導電層162、第1導電層164、第2導電層166、及び第3導電層168をこの順に重ねた構成を有している。
第1導電層164は、例えばAl又はAl合金などの金属で形成されている。第4導電層162に含まれる物質及び第2導電層166に含まれる物質は、第1導電層164に含まれる物質よりもエッチングレートがも低い(例えば耐酸性が第1導電層164よりも高い)導電材料、例えばMo又はMo合金で形成されている。また、第1導電層164を形成する導電材料は、第4導電層162及び第2導電層166よりも低抵抗である。第1導電層164がAlNd合金で形成されている場合、第4導電層162及び第2導電層166は、MoNb合金で形成されている。第1導電層164の厚さは、例えば50nm以上1000nm以下である。第4導電層162及び第2導電層166の厚さは、例えば40nm以上200nm以下である。
第4導電層162、第1導電層164、及び第2導電層166は、後述するように、これらを形成するための膜を積層させたのち、マスクパターンを用いたエッチングを行うことにより、形成される。一方、上記したように、第4導電層162に含まれる物質及び第2導電層166に含まれる物質は、第1導電層164に含まれる物質よりもエッチングレートが低い。このため、第4導電層162、第1導電層164、及び第2導電層166を形成する際、第1導電層164の側面は、第4導電層162及び第2導電層166よりもエッチングされる。この結果、第1導電層164の幅は、第4導電層162の幅及び第2導電層166の幅よりも狭くなる。そして第2導電層166の端部は、第1導電層164から飛び出た状態になる。
一方、第3導電層168は、第1導電層164の側面、第2導電層166の側面、及び第2導電層166の上面を覆っている。また、第3導電層168は、気相法(例えばスパッタリング法)を用いて形成されている。従って、第3導電層168は、第1導電層164から食み出た第2導電層166と第4導電層168の間の空間を埋めている。その結果、第3導電層168は、第4導電層162の上面のうち第1導電層164で覆われていない部分及び第4導電層162の側面も覆っている。
なお、第2導電層166の上部における第3導電層168の厚さt(図6参照)は、第4導電層162、第1導電層164、及び第2導電層166の厚さの和t(図6参照)以上である。このため、厚さtは、第1導電層164及び第2導電層166の厚さの和よりも大きくなっている。
そして、第3導電層168は、導体部160のうち絶縁層150の内側に位置する領域(すなわち絶縁層150と重なっていない領域)、絶縁層150と重なる領域、及び絶縁層150の外側に位置する領域(すなわち第1端子112)のそれぞれに形成されている。ただし第3導電層168は、導体部160のうち絶縁層150の内側に位置する領域には形成されていなくてもよい。
第3導電層168は、第1導電層164よりも、後述するエッチング液や洗浄液への耐エッチング性が高い材料、例えば耐アルカリ性が高い材料によって形成されている。このような材料としては、例えばITO又はIZOがある。ただし第3導電層168は、他の材料を用いて形成されていてもよい。
また、発光装置10は、さらに封止部材を有していてもよい。封止部材は、例えばガラス又は樹脂を用いて形成されており、基板100と同様の多角形や円形であり、中央に凹部を設けた形状を有している。そして封止部材の縁は接着材で基板100に固定されている。これにより、封止部材と基板100で囲まれた空間は封止される。そして有機EL素子140は、この封止された空間の中に位置している。なお、封止部材はALD法で形成された膜又はCVD法で形成された膜であってもよい。
また、発光装置10は、さらに乾燥剤を有していてもよい。乾燥剤は、例えば封止部材によって封止された空間内、例えば封止部材のうち基板100に対向する面に配置されている。
図8は、発光装置10の製造方法を示すフローチャートである。まず基板100に第1電極110となる導電膜を、例えばスパッタリング法を用いて形成する。次いで、この導電膜を、例えばフォトリソグラフィー法を利用して所定のパターンにする。これにより、第1電極110、第1端子112、及び第2端子132が形成される(ステップS10)。
次いで、第1電極110及び第1端子112上に、第4導電層162となる膜、第1導電層164となる膜、及び第2導電層166となる膜を、この順に形成する。次いで、第2導電層166となる膜の上にレジストパターンを形成し、このレジストパターンをマスクとしてエッチングを行う。この時のエッチング液は酸性(例えばリン酸、硝酸、酢酸、及び水の混合液)である。これにより、第4導電層162、第1導電層164、及び第2導電層166の積層膜が形成される。この工程において、第2導電層166に含まれる物質及び第4導電層162に含まれる物質は、第1導電層164に含まれる物質よりも耐酸性が高く、エッチングされにくい。このため、第4導電層162及び第2導電層166の幅は、第1導電層164の幅よりも広くなる(ステップS20)。その後、レジストパターンを除去する。
次いで、第4導電層162、第1導電層164、第2導電層166の積層膜を含む領域の上に、第3導電層168となる膜を形成する。この工程において、第3導電層168となる膜は、第2導電層166の端部の下にも形成される。次いで、この膜の上にレジストパターンを形成し、このレジストパターンをマスクとしてエッチングを行う。これにより、第3導電層168が形成される。この状態において、第4導電層162、第1導電層164、及び第2導電層166の積層膜は、第3導電層168によって保護される(ステップS30)。
その後、洗浄液を用いて基板100の第1面102を、洗浄液及びブラシを用いて洗浄する。この洗浄工程において、洗浄液にはアルカリ性の洗浄液が用いられる(ステップS40)。
次いで、基板100上及び第1電極110上に、絶縁層150となる絶縁膜を、例えば塗布法を用いて形成する(ステップS50)。この絶縁膜は、感光性を有している。次いで、この絶縁膜を露光及び現像する。これにより、絶縁層150が形成される。なお、現像液はアルカリ性である(ステップS60)。
次いで、有機層120及び第2電極130をこの順に形成する。有機層120が蒸着法で形成される層を含む場合、この層は、例えばマスクを用いるなどして所定のパターンに形成される。第2電極130も、例えばマスクを用いるなどして所定のパターンに形成される。その後、封止部材(図示せず)を用いて有機EL素子140を封止する。
以上、本実施形態によれば、第4導電層162、第1導電層164、及び第2導電層166の積層膜は第3導電層168によって覆われている。このため、図8のステップS40に示した洗浄工程において第2導電層166のうち第1導電層164から食み出ている部分は折れない。従って、第2導電層166に起因した異物が生成し、この異物によって発光装置10の動作に不具合が生じることを抑制できる。
また、第3導電層168は、第1導電層164に対して耐アルカリ性が高い材料によって形成されている。図8のステップS40に示した洗浄工程においてアルカリ性の洗浄液が用いられている場合、第3導電層168の洗浄液に対する耐性は高くなる。従って、第2導電層166の端部は、洗浄液から十分に保護される。
また、絶縁層150を形成するための現像液がアルカリ性の場合、導体部160のうち絶縁層150で覆われていない部分はこの現像液に晒される。本実施形態では、第3導電層168は、絶縁層150で覆われていない部分にも形成されている。従って、第2導電層166の端部は、現像液から十分に保護される。
また、第2導電層166のうち第1導電層164から食み出している部分が空洞になっている状態で絶縁層150となる絶縁材料を塗布すると、この空洞部分が埋まらず、絶縁層150に気泡が形成される可能性が出てくる。この気泡が絶縁層150の側面又は上面につながっていると、この気泡から放出された気体に起因して、有機層120や第2電極130に気泡が形成される可能性が出てくる。この場合、発光装置10に発光不良が生じる可能性が出てくる。
これに対して本実施形態では、第3導電層168は、絶縁層150が形成される前に、第3導電層168は絶縁層150と重なる部分にも形成されている。このため、絶縁層150に気泡が形成されることを抑制できる。
(実施例1)
図9は、実施例1に係る発光装置10の構成を示す平面図であり、実施形態における図3に対応している。本実施例に係る発光装置10は、第1端子112及び第2端子132のほぼ全面にも導体部160が形成されている点を除いて、実施形態に係る発光装置10と同様の構成である。
本実施例に係る発光装置10の製造方法は、実施形態に係る発光装置10の製造方法と同様である。このため、本実施例によっても、第2導電層166の端部は、洗浄液や現像液から十分に保護される。従って、第2導電層166の端部が折れて異物となることを抑制できる。また、絶縁層150に気泡が形成されることを抑制できる。さらに本実施例では、第1端子112及び第2端子132の上にも導体部160が形成されている。従って、第1端子112及び第2端子132の抵抗を低くすることができる。
(実施例2)
図10は、実施例2に係る発光装置10の構成を示す平面図であり、実施形態における図3に対応している。本実施例に係る発光装置10は、第1電極110の全面に第3導電層168が形成されている点を除いて、実施例1に係る発光装置10と同様の構成である。
本実施例によっても、第2導電層166の端部が折れて異物となることを抑制できる。また、絶縁層150に気泡が形成されることを抑制できる。さらに、第1端子112及び第2端子132の抵抗を低くすることができる。
(実施例3)
図11は、実施例3に係る発光装置10の平面図である。図12は、図11から隔壁170、第2電極130、有機層120、及び絶縁層150を取り除いた図である。図13は図11のF−F断面図であり、図14は図11のG−G断面図であり、図15は図11のH−H断面図である。
本実施例に係る発光装置10はディスプレイであり、基板100、第1電極110、有機EL素子140、絶縁層150、複数の開口152、複数の開口154、複数の引出配線114、有機層120、第2電極130、複数の引出配線134、及び複数の隔壁170を有している。
第1電極110は、第1方向(図11におけるY方向)にライン状に延在している。そして第1電極110の端部は、引出配線114に接続している。
引出配線114は、第1電極110を第1端子112に接続する配線である。本図に示す例では、引出配線114の一端側は第1電極110に接続しており、引出配線114の他端側は第1端子112となっている。本図に示す例において、第1電極110及び引出配線114は一体になっている。そして引出配線114の上には、導体部160が形成されている。導体部160の構成は、実施形態と同様である。なお、引出配線114の一部は絶縁層150によって覆われている。
絶縁層150は、図11、及び図13〜図15に示すように、複数の第1電極110上及びその間の領域に形成されている。絶縁層150には、複数の開口152及び複数の開口154が形成されている。複数の第2電極130は、第1電極110と交差する方向(例えば直交する方向:図11におけるX方向)に互いに平行に延在している。そして、複数の第2電極130の間には、詳細を後述する隔壁170が延在している。開口152は、平面視で第1電極110と第2電極130の交点に位置している。具体的には、複数の開口152は、第1電極110が延在する方向(図11におけるY方向)に並んでいる。また、複数の開口152は、第2電極130の延在方向(図11におけるX方向)にも並んでいる。このため、複数の開口152はマトリクスを構成するように配置されていることになる。
開口154は、平面視で複数の第2電極130のそれぞれの一端側と重なる領域に位置している。また開口154は、開口152が構成するマトリクスの一辺に沿って配置されている。そしてこの一辺に沿う方向(例えば図11におけるY方向、すなわち第1電極110に沿う方向)で見た場合、開口154は、所定の間隔で配置されている。開口154からは、引出配線134の一部分が露出している。そして、引出配線134は、開口154を介して第2電極130に接続している。
引出配線134は、第2電極130を第2端子132に接続する配線であり、第1電極110と同一の材料からなる層を有している。引出配線134の一端側は開口154の下に位置しており、引出配線134の他端側は、絶縁層150の外部に引き出されている。そして本図に示す例では、引出配線134の他端側が第2端子132となっている。そして引出配線134の上には、導体部160が形成されている。導体部160の構成は、実施形態と同様である。なお、引出配線134の一部は絶縁層150によって覆われている。
開口152と重なる領域には、有機層120が形成されている。有機層120の正孔輸送層は第1電極110に接しており、有機層120の電子輸送層は第2電極130に接している。このため、有機EL素子140は、開口152と重なる領域それぞれに位置していることになる。
なお、図13及び図14に示す例では、有機層120を構成する各層は、いずれも開口152の外側まではみ出している場合を示している。そして図11に示すように、有機層120は、隔壁170が延在する方向において、隣り合う開口152の間にも連続して形成されていてもよいし、連続して形成していなくてもよい。ただし、図15に示すように、有機層120は、開口154には形成されていない。
第2電極130は、図11、図13〜図15に示すように、第1方向と交わる第2方向(図11におけるX方向)に延在している。そして隣り合う第2電極130の間には、隔壁170が形成されている。隔壁170は、第2電極130と平行すなわち第2方向に延在している。隔壁170の下地は、例えば絶縁層150である。隔壁170は、例えばポリイミド系樹脂などの感光性の樹脂であり、露光及び現像されることによって、所望のパターンに形成されている。なお、隔壁170はポリイミド系樹脂以外の樹脂、例えばエポキシ系樹脂やアクリル系樹脂、二酸化珪素等の無機材料で構成されていても良い。
隔壁170は、断面が台形の上下を逆にした形状(逆台形)になっている。すなわち隔壁170の上面の幅は、隔壁170の下面の幅よりも大きい。このため、隔壁170を第2電極130より前に形成しておくと、蒸着法やスパッタリング法を用いて、第2電極130を基板100の一面側に形成することで、複数の第2電極130を一括で形成することができる。また、隔壁170は、有機層120を分断する機能も有している。
次に、本実施例における発光装置10の製造方法を説明する。まず、基板100上に第1電極110、引出配線114,134を形成する。これらの形成方法は、実施形態と同様である。
次いで、引出配線114上及び引出配線134上に、導体部160を形成する。なお、導体部160の第3導電層168が透明導電材料で形成されている場合、第3導電層168を第1電極110の上にも形成することができる。
次いで、絶縁層150上に隔壁170を形成し、さらに有機層120及び第2電極130を形成する。これらの形成方法は、実施形態と同様である。
本実施例によれば、有機EL素子140を用いたディスプレイにおいて、第2導電層166の端部が折れて異物となることを抑制できる。また、絶縁層150に気泡が形成されることを抑制できる。さらに、第1端子112及び第2端子132の抵抗を低くすることができる。
以上、図面を参照して実施形態及び実施例について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。
10 発光装置
100 基板
102 第1面
110 第1電極
112 第1端子
120 有機層
130 第2電極
132 第2端子
140 有機EL素子
150 絶縁層
160 導体部
162 第4導電層
164 第1導電層
166 第2導電層
168 第3導電層

Claims (9)

  1. 基板と、
    前記基板に形成された有機EL素子と、
    前記基板に形成され、前記有機EL素子に電気的に接続する導体部と、
    を備え、
    前記導体部は、
    第1導電層と、
    前記第1導電層上に形成された第2導電層と、
    前記第1導電層の側面、並びに前記第2導電層の側面を覆い、上面に接する第3導電層と、
    を有する発光装置。
  2. 請求項1に記載の発光装置において、
    前記有機EL素子の発光領域を画定する絶縁層を備え、
    前記導体部は、前記絶縁層と重なる領域を介して前記絶縁層の外側に引き出されており、
    前記第3導電層は、少なくとも前記導体部のうち前記絶縁層と重なっていない部分に形成されている発光装置。
  3. 請求項2に記載の発光装置において、
    前記導体部のうち前記第3導電層が形成されている部分の少なくとも一部は、前記有機EL素子を他の電気部品に接続する端子である発光装置。
  4. 請求項1〜3のいずれか一項に記載の発光装置において、
    前記有機EL素子は、第1電極、第2電極、及び前記第1電極と前記第2電極の間に位置する有機層を備え、
    前記第3導電層は前記第1電極上にも形成されている発光装置。
  5. 請求項1〜4のいずれか一項に記載の発光装置において、
    前記第3導電層に含まれる物質は、前記第1導電層に含まれる物質よりも耐アルカリ性が高い発光装置。
  6. 請求項1〜5のいずれか一項に記載の発光装置において、
    前記第3導電層は、IZO又はITOである発光装置。
  7. 請求項1〜6のいずれか一項に記載の発光装置において、
    前記第2導電層に含まれる物質は、前記第1導電層に含まれる物質よりも耐酸性が高い発光装置。
  8. 請求項1〜6のいずれか一項に記載の発光装置において、
    前記第2導電層に含まれる物質は、前記第1導電層に含まれる物質よりも耐アルカリ性が高い発光装置。
  9. 請求項1〜8のいずれか一項に記載の発光装置において、
    前記第2導電層の上面における前記第3導電層の厚さは、前記第1導電層の厚さと前記第2導電層の厚さの和よりも大きい発光装置。
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