JP2016061709A - アレイ型磁気探傷装置、及びその校正方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】磁気センサ部2と、磁気センサ部の位置を設定する磁気センサ位置制御部1と、模擬欠陥を成形した校正サンプル板4と、校正サンプル板を校正ロール3aの外周面に張り付けて、予め設定される回数分前記校正ロールを回転させる校正ロール部3と、検出感度を補正する磁気センサ信号処理部5と、を備え、アレイ型磁気センサ2a1〜2a3の各磁気センサの配列ピッチ単位で幅方向に移動して、配列ピッチ単位毎に、校正サンプル板を回転し、磁気センサ信号処理部は、模擬欠陥に対するアレイ型磁気センサの各磁気センサの出力が均一になるような補正値を求め、漏洩磁束を動的に発生させて、アレイ型磁気センサの検出感度を高速度で校正するようにしたことを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
すると、校正ロール部3は、校正ロール4に設ける校正サンプル板4の先頭位置にある模擬欠陥の中心位置と、磁気センサ部2のアレイ型磁気センサ2a1の先頭の磁気センサの中心位置Psとを一致させるように、リニアガイド部3dを制御して位置を合わせ、さらに、校正サンプル4を予め設定されるアレイ型磁気センサ2a1〜2a3の各磁気センサの配列ピッチ単位ΔPで幅方向に移動して、配列ピッチ単位ΔP移動する毎、PG3cで生成される校正サンプル板4の回転方向の単位長さ信号毎に、アレイ型磁気センサ2a1〜2a3の単位幅Puwの1列化データを採取して、単位幅分の採取が完了したことを磁気センサ信号処理部5に通知する(s12)。
以上説明したように、本実施の形態によれば、模擬欠陥に対するアレイ型磁気センサの各磁気センサの出力が均一になるような補正値を求め、校正ロールの幅寸法をコンパクトにするとともに、アレイ型磁気センサに実磁界を印加し、校正サンプル板の模擬欠陥による漏洩磁束変化を動的に発生させて、模擬欠陥に対するアレイ型磁気センサの検出感度を高速度で校正することが出来るアレイ型磁気探傷装置を提供することができる。
1a ガイドレール
2 磁気センサ部
2a アレイ型磁気センサ基板
2a1、2a2、2a3 アレイ型磁気センサ
2b 1列化マルチプレクサ回路部
2c ADC
2d 通信インタフェース
3 校正ロール部
3a 校正ロール
3b モータ
3c PG
3d リニアガイドレール
3d1 サーボモータ
3e 校正開始釦
4 校正サンプル板
5 磁気センサ信号処理部
5a 通信インタフェース
5b メモリ
5c CPU
10 架台
100 磁気探傷装置
200 被検査物(薄鋼板)
201 検査ロール
202 抑えロール
Claims (6)
- 薄鋼板をその走行方向に磁化し、当該薄鋼板の内部及び表層の欠陥によって生ずる漏洩磁束を前記薄鋼板の幅方向に磁気センサを複数並べて検出し、前記薄鋼板の欠陥を検出するアレイ型磁気探傷装置であって、
前記アレイ型磁気探傷装置は、前記薄鋼板をその走行方向に磁化するための磁場を成形する磁化ヨークと当該磁化ヨークに巻かれた磁化コイルとから成る磁化器と、非磁性検査ロール面に圧接されて搬送される前記薄鋼板の表面と近接する前記磁化ヨークの開口部において、前記薄鋼板との間に予め設定されるリフトオフを設けて、前記漏洩磁束の変化を検出するアレイ型磁気センサ基板と、を備える磁気センサ部と、
予め設定される前記薄鋼板の測定位置、及び校正位置に、前記磁気センサ部の位置を設定する磁気センサ位置制御部と、
予め設定された複数の模擬欠陥を予め設定されるピッチで単位幅分成形した校正サンプル板と、
前記磁気センサ部が前記校正位置に設定された状態で、前記校正サンプル板を予め設定される径を有する非磁性体で成形される校正ロールの外周面に張り付けて、予め設定される回数分前記校正ロールを回転させる校正ロール部と、
前記アレイ型磁気センサ基板から出力される検出信号を受信して、前記校正サンプル板の模擬欠陥による検出信号を受信して、前記アレイ型磁気センサの幅方向の検出感度を補正する磁気センサ信号処理部と、
を備え、
前記アレイ型磁気センサ基板は、プリント基板と、複数の磁気センサを一列に配置してなる複数のアレイ型磁気センサと、を備え、
前記校正ロール部は、前記校正ロールを軸支するロール支持部と、予め設定される速度で前記校正ロールを回転するモータと、当該モータの回転速度に比例する信号を生成するPGと、これら各部を搭載して、前記アレイ型磁気センサに対する前記校正サンプル板の位置を、予め設定される検査基準位置、及び、前記単位幅ピッチで、前記単位幅毎の先頭位置に順次移動させるとともに、前記アレイ型磁気センサの各磁気センサの配列ピッチで移動させるリニアガイドと、当該リニアガイドを駆動するサーボモータと、を備えるリニアガイド部と、を備え、
前記校正ロール部は、当該外周面に固定される前記校正サンプルを、前記検査基準位置から、順次、前記単位幅、幅方向に送るとともに、前記検査基準位置及び前記各単位幅の先頭位置において、前記校正サンプルを予め設定される前記各磁気センサの配列ピッチ単位で幅方向に移動して、
当該配列ピッチ単位毎に、予め設定される回数前記校正サンプル板を回転し、
前記アレイ型磁気センサは、前記配列ピッチ単位移動する毎、前記PGで生成される前記校正サンプル板の回転方向の単位長さ信号毎に、前記分割幅単位で前記アレイ型磁気センサの出力を幅方向に1列に揃えて全ての前記単位幅の出力を前記アレイ型磁気センサ信号処理部に送信し、
前記磁気センサ信号処理部は、前記模擬欠陥に対する前記アレイ型磁気センサの各磁気センサの出力が均一になるような補正値を求め、
前記校正ロールの幅寸法をコンパクトにするとともに、前記アレイ型磁気センサに実磁界を印加し、前記校正サンプル板の模擬欠陥による漏洩磁束を動的に発生させて、前記模擬欠陥に対する前記アレイ型磁気センサの検出感度を高速度で校正するようにしたことを特徴とするアレイ型磁気探傷装置。 - 前記校正サンプル板は薄鋼板とし、加工する前記模擬欠陥は、予め設定される径の穴を加工したもので、予め定めるピッチで複数の穴を前記単位幅分幅方向に一列に配列したものであることを特徴とする請求項1に記載のアレイ型磁気探傷装置。
- 前記校正サンプルの模擬欠陥は、当該校正サンプルの回転方向において複数の異なる径の穴を複数列配列し、
前記磁気センサ信号処理部は、前記模擬欠陥毎に異なる測定回数のデータを、同時に処理して、校正時間を短縮するようにしたことを特徴とする請求項1に記載のアレイ型磁気探傷装置。 - 前記複数のアレイ型磁気センサは、前記プリント基板上において、予め設定されるズレ量、夫々の位置前記薄鋼板の幅方向にずらして、複数列を固定し他ものである請求項1に記載のアレイ型磁気探傷装置。
- 前記ズレ量は、前記磁気センサの配列ピッチとしたことを特徴とする請求項4に記載のアレイ型磁気探傷装置。
- 薄鋼板をその走行方向に磁化し、当該薄鋼板の内部及び表層の欠陥によって生ずる漏洩磁束を前記薄鋼板の幅方向に磁気センサを複数並べて検出し、前記薄鋼板の欠陥を検出するアレイ型磁気探傷装置の校正方法であって
前記薄鋼板との間に予め定めるリフトオフを設けて、前記漏洩磁束の変化を検出するアレイ型磁気センサ基板を備える磁気センサ部と、
予め設定された複数の模擬欠陥を予め設定されるピッチで単位幅分成形した校正サンプル板と、
校正位置に設けられ、前記校正サンプル板を外周面に張り付けて、予め設定される回数分前記校正サンプル板を回転させる校正ロールを備える校正ロール部と、
前記アレイ型磁気センサ基板から送信される前記校正サンプル板の模擬欠陥による検出信号を受信して、前記アレイ型磁気センサの幅方向の検出感度を補正する磁気センサ信号処理部と、
を備え、
前記アレイ型磁気センサ基板は、プリント基板と、複数の磁気センサを一列に配置してなる複数のアレイ型磁気センサと、を備え、
前記校正ロール部は、当該外周面に固定される前記校正サンプルを、前記検査基準位置から、順次、前記単位幅、幅方向に送るとともに、前記検査基準位置及び前記各単位幅の先頭位置において、前記校正サンプルを予め設定される前記アレイ型磁気センサの各磁気センサの配列ピッチ単位で幅方向に移動して、
当該配列ピッチ単位毎に、予め設定される回数前記校正サンプル板を回転し、
前記アレイ型磁気センサは、前記配列ピッチ単位移動する毎、前記PGで生成される前記校正サンプル板の回転方向の単位長さ信号毎に、前記分割幅単位で前記アレイ型磁気センサの全出力を幅方向に1列に揃えて全ての前記単位幅の出力を前記アレイ型磁気センサ信号処理部に送信し、
前記磁気センサ信号処理部は、前記模擬欠陥に対する前記アレイ型磁気センサの各磁気センサの出力が均一になるような補正値を求め、
前記校正ロールの幅寸法をコンパクトにするとともに、前記アレイ型磁気センサに実磁界を印加し、前記校正サンプル板の模擬欠陥による漏洩磁束を動的に発生させて、前記模擬欠陥に対する前記アレイ型磁気センサの検出感度を高速度で校正するようにしたことを特徴とするアレイ型磁気探傷装置の校正方法。
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