JP2016054255A - 太陽電池及び太陽電池の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができる太陽電池及び太陽電池の製造方法を提供することを目的とする。【解決手段】 ガリウムがドーピングされ、pn接合が形成されているシリコン基板を有する太陽電池であって、前記シリコン基板の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面にシリコン熱酸化膜が設けられ、前記シリコン基板はボロンがさらにドーピングされたものであることを特徴とする太陽電池。【選択図】 図1

Description

本発明は、太陽電池及び太陽電池の製造方法に関する。
ボロン(B)をドーパントとしたシリコン基板を用いた太陽電池は光照射によりその変換効率が低下していくという問題があり、これに対して、ガリウム(Ga)をドーパントとしたシリコン基板を用いた太陽電池は光劣化しないことが知られている(例えば、特許文献1参照)。
一方で、シリコン基板の表面パッシベーション方法として、シリコン熱酸化膜が優れた特性を有することは古くから知られている。
特許第3679366号
しかしながら、ガリウムをドープしたシリコン基板(以下、「ガリウムドープ基板」とも称する。)は、熱酸化すると、ガリウムのシリコン中と酸化シリコン中での拡散係数ならびに溶解度の違いから、基板表面のドーパント濃度が大きく低下してしまうという性質を持っている。そのため、ガリウムドープ基板を太陽電池に用いると、基板表面のドーパント濃度の低下により変換効率が低下してしまうため、ガリウムドープ基板への熱酸化の適用は困難であるという問題があった。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができる太陽電池を提供すること、及び、このような太陽電池の製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明は、ガリウムがドーピングされ、pn接合が形成されているシリコン基板を有する太陽電池であって、前記シリコン基板の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面にシリコン熱酸化膜が設けられ、前記シリコン基板はボロンがさらにドーピングされたものであることを特徴とする太陽電池を提供する。
このような構成を有する太陽電池は、シリコン基板がガリウムでドープされているので、光劣化を抑制することができる。また、この太陽電池は、シリコン基板がさらにボロンでドープされているので、シリコン基板の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面にシリコン熱酸化膜が設けられていても基板表面のドーパント濃度が大きく低下することを防止でき、初期変換効率の低下を防止することができる。さらに、基板表面パッシベーション膜として優れた特性を有するシリコン熱酸化膜をシリコン基板表面に設けた構成とすることで、変換効率を向上させるとともに信頼性が高く高品質な太陽電池とすることができる。
このとき、少なくとも前記シリコン基板の前記第一主表面の全面がp型であることが好ましい。
シリコン熱酸化膜が設けられたシリコン基板の第一主表面の全面がp型である太陽電池に対して、本発明を好適に適用することができる。
このとき、前記シリコン基板中のボロン濃度が、5×1014原子/cm以上、1×1016原子/cm以下であることが好ましい。
シリコン基板中のボロン濃度が上記のような範囲であれば、太陽電池の初期特性をより効果的に向上させることができ、光照射後の変換効率も高く維持することができる。
また、本発明は、ガリウム及びボロンがドーピングされたシリコン基板を準備する工程と、前記シリコン基板内にpn接合を形成する工程と、前記シリコン基板の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面にシリコン熱酸化膜を形成する工程とを含むことを特徴とする太陽電池の製造方法を提供する。
このように、ガリウムでドープされたシリコン基板を用いることで、製造した太陽電池の光劣化を抑制することができる。また、用いるシリコン基板がさらにボロンでドープされているので、シリコン基板の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面にシリコン熱酸化膜を形成しても基板表面のドーパント濃度が大きく低下することを防止でき、太陽電池の初期変換効率の低下を防止することができる。さらに、基板表面パッシベーション膜として優れた特性を有するシリコン熱酸化膜をシリコン基板表面に形成することで、変換効率を向上させるとともに信頼性が高く高品質な太陽電池を製造することができる。
このとき、前記準備するシリコン基板のボロン濃度を、5×1014原子/cm以上、1×1016原子/cm以下とすることが好ましい。
このような範囲のボロン濃度を有するシリコン基板を用いれば、製造した太陽電池の初期特性をより効果的に向上させることができ、光照射後の変換効率も高く維持することができる。
以上のように、本発明の太陽電池は、基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができる。また、本発明の太陽電池の製造方法は、そのような太陽電池を製造することができる。
本発明の太陽電池の実施態様の一例を示す断面図である。 本発明の太陽電池の製造方法の実施態様の一例を示す工程断面図である。 本発明の太陽電池の製造方法の実施態様の一例を示す工程断面図である。 本発明の太陽電池の実施態様の他の例を示す断面図である。 シリコン基板中のボロン濃度と、それを用いた太陽電池の初期変換効率、劣化後変換効率、及び、劣化率との関係を示すグラフである。
以下、本発明について、実施態様の一例として、図を参照しながら詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
前述のように、ボロンをドーパントとしたシリコン基板を用いた太陽電池は光照射によりその変換効率が低下していくという問題があり、これに対して、ガリウムをドーパントとしたシリコン基板を用いた太陽電池は光劣化しないことが知られている。一方でシリコン基板の表面パッシベーション方法として、シリコン熱酸化膜が優れた特性を有することは古くから知られているが、ガリウムドープ基板は、熱酸化すると基板表面のドーパント濃度が大きく低下してしまうという性質を持っており、基板表面のドーパント濃度の低下により変換効率が低下してしまうため、ガリウムドープ基板への熱酸化の適用は困難とされてきた。
そこで、発明者らは、基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができる太陽電池について鋭意検討を重ねた。その結果、ガリウムがドープされたことに加えてボロンでドープされたシリコン基板を太陽電池の光変換層用基板として採用し、この基板表面にシリコン熱酸化膜を設けることで、基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができることを見出し、本発明をなすに至った。
以下、図1を参照しながら、本発明の太陽電池の実施態様の一例を説明する。
図1の太陽電池10は、ガリウム及びボロンがドーピングされたシリコン基板(例えば、p型シリコン基板)11と、シリコン基板11の表面(第二主表面19)に設けられたエミッタ層15と、シリコン基板11の裏面(第一主表面18)に設けられたシリコン熱酸化膜12とを有しており、p型であるシリコン基板11と、シリコン基板11の表面部分に形成されたエミッタ層15とでpn接合が形成される構成になっている。エミッタ層15は、例えば、n型拡散層である。なお、シリコン基板11の両面(第一主表面18及び第二主表面19)にシリコン熱酸化膜12、12’が設けられていてもよい。また、シリコン熱酸化膜12、12’上には、反射防止を目的としてシリコン窒化膜13、13’が設けられていてもよい。ここで、「第一主表面」とは、シリコン基板のp型領域のある主表面を指し、「第二主表面」とは、「第一主表面」とは反対の主表面である。また、p型領域は両主表面にあることもあるが、この場合はいずれかの表面を「第一主表面」と定め、その反対の主表面を「第二主表面」と定める。いずれにしろ、本発明はp型領域を有する主表面にシリコン熱酸化膜を有するものである。
図1の太陽電池10は、シリコン基板11の表面(第二主表面19)側にエミッタ層15と開口部21を介して電気的に接続される表面電極14を有することができ、シリコン基板11の裏面(第一主表面18)側にシリコン基板11と開口部22を介して電気的に接続される裏面電極16を有することができる。
太陽電池10は、シリコン基板11がガリウムでドープされているので、光劣化を抑制することができる。また、シリコン基板11がさらにボロンでドープされているので、シリコン基板11の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面18にシリコン熱酸化膜12が設けられていても基板表面のドーパント濃度が大きく低下することを防止でき、初期変換効率の低下を防止することができる。さらに、基板表面パッシベーション膜として優れた特性を有するシリコン熱酸化膜12をシリコン基板11の表面に設けた構成とすることで信頼性が高く高品質な太陽電池とすることができる。
太陽電池10の少なくともシリコン基板11の第一主表面18の全面がp型であることが好ましい。
シリコン熱酸化膜12が設けられたシリコン基板11の第一主表面18の全面がp型である太陽電池に対して、本発明を好適に適用することができる。
シリコン基板11中のボロン濃度が、5×1014原子/cm以上、1×1016原子/cm以下であることが好ましい。
シリコン基板中のボロン濃度が上記のような範囲であれば、太陽電池の初期特性をより効果的に向上させることができ、光照射後の変換効率も高く維持することができる。特に、ボロン濃度が5×1014原子/cmを超えると、ボロンドーパントの存在により光照射による変換効率の低下(光劣化)が発生するようになる。しかしながら、ガリウムドープ基板に、シリコン熱酸化膜によるパッシベーション効果を付与することができるため、ボロン濃度が5×1014原子/cm以上、1×1016原子/cm以下の範囲では、光劣化よりも初期効率の改善効果が大きい。そのため、ボロンドープ量がこれより少ない場合(すなわち、ボロンドープによる光劣化がない場合)に比べても、光劣化後の変換効率が高い。
上記で説明した本発明の太陽電池は、基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができる。
次に、図2及び図3を参照しながら、本発明の太陽電池の製造方法の実施態様の一例を説明する。
まず、ガリウム及びボロンがドープされたシリコン基板(例えば、p型シリコン基板)11を準備する(図2(a)を参照)。ガリウム及びボロンがドープされたシリコン基板は、例えば、CZ法やFZ法によりガリウムとボロンをドープしてシリコン単結晶インゴットを育成し、これをスライスした後、所定の加工を施すことによって得ることができる。シリコン基板11は、太陽電池としたときの少なくとも受光面側(すなわち、図1における第二主表面19側)に、反射率低減のためにテクスチャと呼ばれる微細な凹凸を形成するテクスチャ処理が施されることが好ましい。
次に、シリコン基板11の第二主表面19側に、エミッタ層15を形成することでpn接合を形成する(図2(b)を参照)。エミッタ層15は、例えば、リン拡散によりn型拡散層を形成することで形成することができる。この場合、エミッタ層15を形成した表面とは、第一主表面18とは反対の主表面である。
次に、シリコン基板11を酸素ガス雰囲気中で、熱酸化することにより、シリコン基板11の少なくとも第一主表面18に、シリコン熱酸化膜12を形成する(図2(c)を参照)。なお、シリコン基板11の両面(すなわち、第一主表面18及び第二主表面19)にシリコン熱酸化膜12、12’を形成してもよい。ガリウムがドーピングされたシリコン基板は、熱酸化すると、ガリウムのシリコン単結晶中、シリコン酸化膜中での拡散係数及び溶解度の違いから、基板表面のガリウム濃度が大きく低下するという性質を持っているので、上記の熱酸化により、シリコン基板11の第一主表面18近傍及び第二主表面19近傍のガリウム濃度は、シリコン基板11の内部のガリウム濃度より小さくなる。しかしながら、シリコン基板11はp型ドーパントであるボロンもドープされているので、シリコン基板11の第一主表面18近傍及び第二主表面19近傍のp型ドーパントのトータル濃度は、ガリウムのみがドープされている場合と比較して大きくすることができる。
なお、シリコン熱酸化膜形成後に、シリコン基板11の第一主表面18に形成されたシリコン熱酸化膜12上及び第二主表面19に形成されたシリコン熱酸化膜12’上に、反射防止を目的としてシリコン窒化膜13、13’をそれぞれ形成してもよい(図3(a)を参照)。
シリコン窒化膜形成後に、シリコン基板11の第二主表面19上に表面電極14を形成するための金属を製膜することができる(図3(b)を参照)。表面電極14は銀により形成することが好ましい。表面電極14の形成方法は、公知の方法を用いることができ、例えば、Agを含むペーストをスクリーン印刷して乾燥し、焼成することにより行うことができる。このとき、シリコン熱酸化膜12’及びシリコン窒化膜13’を開口せずに、膜表面に銀ペーストを印刷し、焼成時にこれらの膜を貫通させることにより、表面電極14とエミッタ層15とを電気的に接続させることができる。
表面電極形成後に、シリコン基板11の第一主表面18に形成されたシリコン熱酸化膜12及びシリコン窒化膜13を一部除去し、その後に、シリコン基板11の第一主表面18上に、裏面電極16を形成するための金属を製膜することができる。裏面電極16はアルミニウムにより形成することが好ましい。裏面電極16の形成方法は、公知の方法を用いることができ、例えば、Alを全面に蒸着することにより行うことができる。このようにして裏面電極16を形成し、図1の太陽電池10を得ることができる。
上記のように、ガリウムでドープされたシリコン基板を用いることで、光劣化を抑制することができる。また、シリコン基板がさらにボロンでドープされているので、シリコン基板の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面にシリコン熱酸化膜を形成しても基板表面のドーパント濃度が大きく低下することを防止でき、初期変換効率の低下を防止することができる。さらに、基板表面パッシベーション膜として優れた特性を有するシリコン熱酸化膜をシリコン基板表面に形成することで、信頼性が高く高品質な太陽電池を製造することができる。
また、用いるシリコン基板のボロン濃度を、5×1014原子/cm以上、1×1016原子/cm以下とすることが好ましい。
このような範囲のボロン濃度を有するシリコン基板を用いれば、製造された太陽電池の初期特性をより効果的に向上させることができ、光劣化も少なくて済み、光照射後の変換効率も高く維持することができる。
上記で説明した本発明の太陽電池の製造方法によれば、基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を形成しても、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有する太陽電池を製造することができる。
次に、図4を参照しながら、本発明の太陽電池の実施態様の他の例を説明する。
図4の太陽電池10’は、エミッタ層15が裏面(第二主表面19)側に設けられている点を除いて、図1の太陽電池10と同様である。なお、図4の太陽電池10’は、エミッタ層15が裏面(第二主表面19)側に形成される点を除いて、図2を用いて説明した製造方法と同様な製造方法で製造することができる。ただし、図4の太陽電池10’の表面電極14はAlで形成されていることが好ましく、裏面電極16はAgで形成されていることが好ましい。
図4の太陽電池10’においても、図1の太陽電池10と同様に基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができる。
以下、実施例を示して本発明をより具体的に説明するが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。
(実施例)
図1に示す本発明の太陽電池10を、図2に示す製造工程により作製した。
まず、シリコン基板11として、厚さ200μm、比抵抗1Ω・cm、面方位{100}のガリウム及びボロンドープp型アズカットシリコン基板を複数準備した(図2(a)参照)。ここで、CZ法によりボロンドープ量を変化させて複数のシリコン単結晶インゴットを作製し、作製されたシリコン単結晶インゴットからシリコン基板を切り出し、いずれのボロンドープ量のシリコン基板も比抵抗が1Ω・cmとなるように予め比抵抗測定しシリコン基板を選別した。なお、ガリウムドープ量は、ボロンドープ量に基づいて、比抵抗が1Ω・cmとなるように調整した。
次に、テクスチャ処理を以下のようにして行った。熱濃水酸化カリウム水溶液によりシリコン基板11のダメージ層を除去した後、水酸化カリウム及び2−プロパノールの水溶液中に浸漬しテクスチャ形成を行った。
次に、シリコン基板11をオキシ塩化リン雰囲気下、870℃で熱処理を行うことでリン拡散を行った。このとき、複数のシリコン基板11の裏面同士を重ねた状態で熱処理した。拡散後のリンガラス層の除去をフッ酸で行い、洗浄後乾燥させた。このようにしてシリコン基板11の第二主表面19側に、n型拡散層であるエミッタ層15を形成した(図2(b)を参照)。
次に、熱酸化を以下のようにして行った。塩酸/過酸化水素混合溶液中で洗浄後、酸素ガス雰囲気中で、900℃、40分の熱処理を行い、シリコン基板11の裏面(第一主表面18)に15nmのシリコン熱酸化膜12を形成した(図2(c)参照)。このときシリコン基板11の表面(第二主表面19)にもシリコン熱酸化膜12’が形成された。
次に、シリコン窒化膜形成を以下のようにして行った。プラズマCVD装置を使用し、SiH、NH、Hの混合ガス雰囲気で、膜厚80nmのシリコン窒化膜13、13’をシリコン基板11の裏面側(第一主表面18側)及びシリコン基板11の表面側(第二主表面19側)のシリコン熱酸化膜12、12’の上に形成した(図3(a)参照)。
次に、表面電極14の形成のための銀製膜を、Agペーストをスクリーン印刷した後に乾燥させることで行った。
次に、焼成を780℃の空気雰囲気下で行い、表面電極14を形成した。このとき、表面電極14は、シリコン窒化膜13’とシリコン酸化膜12’を貫通し、エミッタ層15と接触させた(図3(b)参照)。
次に、レーザーにより、1mm間隔のライン状にシリコン基板11の裏面(第一主表面18)側のシリコン窒化膜13及びシリコン熱酸化膜12を除去した。
次に、裏面電極16の形成を、Alをシリコン基板11の裏面(第一主表面18)全面に蒸着することで行った。これにより、図1に示す太陽電池10を製造した。
上記のようにして作製された太陽電池10について、25℃のもとで、放射照度量100mW/cm、スペクトルAM1.5グローバルの擬似太陽光照射時の電気的特性の測定を行った。電気的特性は、初期特性(すなわち、初期変換効率)と、劣化後特性(すなわち、光連続照射2時間後に初期変換効率と同条件で測定した劣化後変換効率)とについて測定を行った。ここで、変換効率は、(太陽電池からの出力/太陽電池に入った太陽エネルギー)×100である。測定結果を図5に示す。図5において、劣化率は、(劣化後変換効率/初期変換効率)×100とした。
図5からわかるように、シリコン基板中のボロン濃度が5×1014原子/cmを超えると、基板表面近傍のp型ドーパント濃度の増加、及び、酸化膜によるパッシベーション向上効果により初期変換効率は向上するが、光劣化も始まる。しかしながら、シリコン基板中のボロン濃度が5×1014〜1×1016原子/cmの範囲では、光劣化よりも初期特性の改善効果が大きいため、ボロン量が少ない(劣化しない)場合に比べ劣化後も変換効率が高くなっており、上記の範囲のボロン濃度が特に好ましいことがわかる。
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
10、10’…太陽電池、 11…シリコン基板、
12、12’…シリコン熱酸化膜、 13、13’…シリコン窒化膜、
14…表面電極、 15…エミッタ層(n型拡散層)、 16…裏面電極、
18…第一主表面、 19…第二主表面、 21、22…開口部。
そこで、発明者らは、基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができる太陽電池について鋭意検討を重ねた。その結果、ガリウムがドープされたことに加えてボロンでドープされたシリコン基板を太陽電池の光電変換層用基板として採用し、この基板表面にシリコン熱酸化膜を設けることで、基板表面パッシベーション膜としてシリコン熱酸化膜を有するものでありながら、光劣化を抑制しつつ、高い変換効率を有することができることを見出し、本発明をなすに至った。
(実施例)
図1に示す本発明の太陽電池10を、図2及び図3に示す製造工程により作製した。
次に、焼成を780℃の空気雰囲気下で行い、表面電極14を形成した。このとき、表面電極14は、シリコン窒化膜13’とシリコン酸化膜12’を貫通し、エミッタ層15と接触させた(図3(b)参照)。

Claims (5)

  1. ガリウムがドーピングされ、pn接合が形成されているシリコン基板を有する太陽電池であって、
    前記シリコン基板の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面にシリコン熱酸化膜が設けられ、
    前記シリコン基板はボロンがさらにドーピングされたものであることを特徴とする太陽電池。
  2. 少なくとも前記シリコン基板の前記第一主表面の全面がp型であることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池。
  3. 前記シリコン基板中のボロン濃度が、5×1014原子/cm以上、1×1016原子/cm以下であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の太陽電池。
  4. ガリウム及びボロンがドーピングされたシリコン基板を準備する工程と、
    前記シリコン基板内にpn接合を形成する工程と、
    前記シリコン基板の主表面のうち少なくともp型領域のある第一主表面にシリコン熱酸化膜を形成する工程と
    を含むことを特徴とする太陽電池の製造方法。
  5. 前記準備するシリコン基板のボロン濃度を、5×1014原子/cm以上、1×1016原子/cm以下とすることを特徴とする請求項4に記載の太陽電池の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018180389A (ja) * 2017-04-18 2018-11-15 市光工業株式会社 光変換装置及び車両用灯具

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108133976A (zh) * 2018-01-29 2018-06-08 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种单晶掺镓背钝化太阳电池及其制备方法
CN108172637A (zh) * 2018-01-29 2018-06-15 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种多晶掺镓背钝化太阳电池及其制备方法
CN108133975B (zh) * 2018-01-29 2024-06-07 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种多晶掺镓太阳电池及其制备方法
CN111509082B (zh) * 2020-03-20 2024-05-24 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 掺镓多晶硅薄膜制备方法及其在太阳电池的应用

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6815605B1 (en) 1999-05-28 2004-11-09 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Silicon single crystal and wafer doped with gallium and method for producing them
JP2002076399A (ja) * 2000-08-30 2002-03-15 Shin Etsu Handotai Co Ltd 太陽電池セルの製造方法およびこの方法で製造された太陽電池セル
JP2002083981A (ja) * 2000-09-07 2002-03-22 Shin Etsu Handotai Co Ltd 太陽電池セルおよびその製造方法
CN1284248C (zh) * 2000-10-06 2006-11-08 信越半导体株式会社 太阳能电池及其制造方法
JP2003282901A (ja) * 2002-03-27 2003-10-03 Shin Etsu Handotai Co Ltd 太陽電池モジュールの製造方法
JP4118187B2 (ja) * 2003-05-09 2008-07-16 信越半導体株式会社 太陽電池の製造方法
KR20100032900A (ko) * 2007-07-18 2010-03-26 아이엠이씨 에미터 구조체를 제조하는 방법 및 그로부터 생성되는 에미터 구조체들
WO2009052511A2 (en) * 2007-10-18 2009-04-23 Belano Holdings, Ltd. Mono-silicon solar cells
EP2443662B1 (en) * 2009-06-18 2019-04-03 LG Electronics Inc. Solar cell
KR101745683B1 (ko) * 2011-01-14 2017-06-09 엘지전자 주식회사 태양 전지 및 그 제조 방법
EP2715805B1 (en) * 2011-06-03 2016-04-06 MEMC Singapore Pte. Ltd. Processes for suppressing minority carrier lifetime degradation in silicon wafers
JP5865490B2 (ja) * 2012-04-18 2016-02-17 株式会社日立製作所 太陽電池およびその製造方法
KR101631450B1 (ko) * 2013-03-05 2016-06-17 엘지전자 주식회사 태양 전지

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018180389A (ja) * 2017-04-18 2018-11-15 市光工業株式会社 光変換装置及び車両用灯具

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