JP2016053517A - 光ファイバの評価方法及び評価装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】異なる2種類の参照ファイバ11,12と、数モードファイバ13とを有する光ファイバ伝送路10に波長λのパルス光を入射し、光ファイバ伝送路10の長手方向の位置zの関数として、光ファイバ伝送路10の両端14,15からの後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)(単位:dB)を測定し、後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)と、任意の方法で測定された前記数モードファイバのモード結合係数とから、数モードファイバ13の構造成分に依存した損失成分I(λ,z)を評価する。
【選択図】図1
Description
第1の工程として、FMFを含む光ファイバ伝送路の両端からそれぞれOTDRで後方散乱光強度を測定する。第2の工程として、FMFのモード結合係数を測定する。第3の工程として、第1および第2の工程の結果から、FMFの特性を評価する。第1の工程と第2の工程の順序は限定されず、どちらを先に実施してもよい。
両端からの後方散乱光強度というときは、一端からの後方散乱光強度および別の一端からの後方散乱光強度(両者の総称)を意味する。光ファイバ伝送路の両端からの後方散乱光強度とは、光ファイバ伝送路の双方向OTDR測定により得られる2つの後方散乱光強度である。
次に、第1参照ファイバ上の参照点z=z0における構造成分に依存した損失成分I(λ,z0)で式(6)を式(7)のように規格化する。
参考文献2:T Mizuno,et al.,“Modal Crosstalk Measurement Based on Intensity Tone for Few−Mode Fiber Transmission Systems”,OFC2014,W3D.5,2014.
一般に、波長分散Dは、式(20)のように、材料分散Dmと導波路分散Dwの和で与えられる。
参考文献3:D.Marcuse,“Loss analysis of single−mode fiber splices,” Bell Syst.Tech.J.,vol.56,pp.703−718,1977.
以上のように、FMFにおいても後方散乱光強度の長手方向特性(OTDR波形)とモード結合係数を測定することで、MFD、比屈折率差、導波路分散および波長分散の分布特性を評価できる。
光ファイバの評価装置(システム)としては、OTDR装置とモード合分波器に加えて、上述の評価方法の実施に必要な演算を行う手段として、プログラム、コントローラ、コンピュータ等を備えた装置が挙げられる。該評価装置は、数モードファイバのモード結合係数を測定する手段を備えることが好ましい。
本発明による測定方法の有効性を確認するために、1本の試験ファイバと2本の参照ファイバからなる光ファイバ伝送路(図1参照)のMFDと比屈折率差Δの分布を測定した。なお、試験ファイバおよび参照ファイバは、いずれも1.55μm帯でLP01モードおよびLP11モードのみを伝搬する二モードファイバである。
Claims (7)
- 異なる2種類の参照ファイバと、数モードファイバとを有する光ファイバ伝送路に波長λのパルス光を入射し、前記光ファイバ伝送路の長手方向の位置zの関数として、前記光ファイバ伝送路の両端からの後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)(単位:dB)を測定し、
前記後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)と、任意の方法で測定された前記数モードファイバのモード結合係数とから、前記数モードファイバの構造成分に依存した損失成分I(λ,z)を評価することを特徴とする、光ファイバの評価方法。 - 異なる2種類の参照ファイバと、数モードファイバとを有する光ファイバ伝送路に波長λのパルス光を入射し、前記光ファイバ伝送路の長手方向の位置zの関数として、前記光ファイバ伝送路の両端からの後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)(単位:dB)を測定し、
前記後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)と、任意の方法で測定された前記数モードファイバのモード結合係数とから、前記数モードファイバの構造成分に依存した損失成分I(λ,z)を導出し、
前記構造成分に依存した損失成分I(λ,z)と、前記異なる2種類の参照ファイバのモードフィールド径および構造成分に依存した損失成分とを用い、前記光ファイバ伝送路の任意の位置zにおけるモードフィールド径、比屈折率差、導波路分散、波長分散から選択される分布特性を評価することを特徴とする、光ファイバの評価方法。 - 請求項2に記載された光ファイバの評価方法であって、
異なる2種類の参照ファイバである第1参照ファイバおよび第2参照ファイバと、数モードファイバとを有する光ファイバ伝送路に波長λのパルス光を入射し、前記光ファイバ伝送路の長手方向の位置zの関数として、前記光ファイバ伝送路の両端からの後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)(単位:dB)を測定し、
前記後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)と、任意の方法で測定された前記数モードファイバのモード結合係数とから、前記数モードファイバの構造成分に依存した損失成分I(λ,z)および前記数モードファイバのモード結合による損失C(z)を導出し、
前記構造成分に依存した損失成分I(λ,z)およびモード結合による損失C(z)と、前記異なる2種類の参照ファイバのモードフィールド径、構造成分に依存した損失成分およびモード結合による損失C(z)とを用い、第1参照ファイバのモードフィールド径を2w(λ,z0)、第1参照ファイバの構造成分に依存した損失成分をI(λ,z0)、第1参照ファイバのモード結合による損失C(z0)、第2参照ファイバのモードフィールド径を2w(λ,z1)、第2参照ファイバの構造成分に依存した損失成分をI(λ,z1)、第2参照ファイバのモード結合による損失C(z1)として、前記光ファイバ伝送路の任意の位置zにおけるモードフィールド径の分布を式(1)
- 異なる2種類の参照ファイバと、数モードファイバとを有する光ファイバ伝送路に波長λのパルス光を入射し、前記光ファイバ伝送路の長手方向の位置zの関数として、前記光ファイバ伝送路の両端からの後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)(単位:dB)を測定する手段と、
前記後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)と、任意の方法で測定された前記数モードファイバのモード結合係数とから、前記数モードファイバの構造成分に依存した損失成分I(λ,z)を評価する手段と、
を備えることを特徴とする、光ファイバの評価装置。 - 異なる2種類の参照ファイバと、数モードファイバとを有する光ファイバ伝送路に波長λのパルス光を入射し、前記光ファイバ伝送路の長手方向の位置zの関数として、前記光ファイバ伝送路の両端からの後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)(単位:dB)を測定する手段と、
前記後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)と、任意の方法で測定された前記数モードファイバのモード結合係数とから、前記数モードファイバの構造成分に依存した損失成分I(λ,z)を導出する手段と、
前記構造成分に依存した損失成分I(λ,z)と、前記異なる2種類の参照ファイバのモードフィールド径および構造成分に依存した損失成分とを用い、前記光ファイバ伝送路の任意の位置zにおけるモードフィールド径、比屈折率差、導波路分散、波長分散から選択される分布特性を評価する手段と、
を備えることを特徴とする、光ファイバの評価装置。 - 請求項5に記載された光ファイバの評価装置であって、
異なる2種類の参照ファイバである第1参照ファイバおよび第2参照ファイバと、数モードファイバとを有する光ファイバ伝送路に波長λのパルス光を入射し、前記光ファイバ伝送路の長手方向の位置zの関数として、前記光ファイバ伝送路の両端からの後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)(単位:dB)を測定する手段と、
前記後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)と、任意の方法で測定された前記数モードファイバのモード結合係数とから、前記数モードファイバの構造成分に依存した損失成分I(λ,z)および前記数モードファイバのモード結合による損失C(z)を導出する手段と、
前記構造成分に依存した損失成分I(λ,z)およびモード結合による損失C(z)と、前記異なる2種類の参照ファイバのモードフィールド径、構造成分に依存した損失成分およびモード結合による損失C(z)とを用い、第1参照ファイバのモードフィールド径を2w(λ,z0)、第1参照ファイバの構造成分に依存した損失成分をI(λ,z0)、第1参照ファイバのモード結合による損失C(z0)、第2参照ファイバのモードフィールド径を2w(λ,z1)、第2参照ファイバの構造成分に依存した損失成分をI(λ,z1)、第2参照ファイバのモード結合による損失C(z1)として、前記光ファイバ伝送路の任意の位置zにおけるモードフィールド径の分布を式(2)
を備えることを特徴とする、光ファイバの評価装置。 - 請求項4〜6のいずれか1項に記載された光ファイバの評価装置であって、
スイッチによって受光ポートを切り替え可能なOTDRと、前記OTDRと前記光ファイバ伝送路との間を接続する手段として、モード変換器及びモード合分波器を有し、双方向OTDRにより、前記後方散乱光強度S1(λ,z)およびS2(λ,z)(単位:dB)を測定し、モード毎の受光ポートより得られたそれぞれのOTDR波形より、前記数モードファイバのモード結合係数を求めることができることを特徴とする、光ファイバの評価装置。
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