JP2016044967A - エンコーダスケールおよびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】製造工程の少ない簡単な構成を備え、帯電を防止することができるエンコーダスケールおよびその製造方法を提供する。【解決手段】電磁誘導式リニアエンコーダに設けられたエンコーダスケール4は、基板41と、基板41の一面に形成された導電性を有する導電層42と、導電層42上に形成された導電体43Aとを備え、導電層42は、基板41の平面視において導電体43Aよりも広く形成されているとともに、接地されている。また、導電層42は、基板41の一面におけるガイド面41Aを除く部分全体に形成されており、ガイド面41Aではガラス面が露出している。【選択図】図4

Description

本発明は、エンコーダスケールおよびその製造方法に関し、特に電磁誘導式リニアエンコーダに備えられたエンコーダスケールに関する。
製造装置や測定装置に取り付けられて、直線的に移動する可動部の位置を検出する装置として、リニアエンコーダが知られている。リニアエンコーダには、検出方式が互いに異なる光学式リニアエンコーダ、静電容量式リニアエンコーダあるいは電磁誘導式リニアエンコーダ等がある。このうち、従来の電磁誘導式リニアエンコーダとして、例えば特許文献1および特許文献2に記載のものが知られている。
電磁誘導式リニアエンコーダは、誘導用電極パターンを有する長尺のエンコーダスケールと、このエンコーダスケールに沿ってスライド可能なエンコーダヘッドとを有し、ヘッドに対してスケールが移動することで、スケールに形成された誘導用電極に電流を誘導し、この電流をエンコーダヘッドのピックアップコイルで検出し、通過する誘導用電極をカウントする等によりスケールの移動量を検出する。
このような電磁誘導式リニアエンコーダにおいては、誘電用電極を構成する導電体に誘導される電流を稼ぐべく、導電体には電気抵抗が小さい材料を用いることが好ましい。このため、導電体の材料としては、導電率が高い金属、なかでも銅が広く用いられている。また、導電体を設ける基板としては、ガラス基板が用いられている。
この際、銅はガラスに付着しにくいので、銅製電極とガラス基板との間には、接合性を改善するための接合層が配置される。銅とガラスとのいずれにも親和性の良好な接合層としては、クロムが広く用いられている。
エンコーダヘッドをエンコーダスケールに対してスライドさせるために、エンコーダヘ
ッドにはガイド部が形成される。
ガイド部は、回転自在のローラを有するとともに、ガラス基板の表面には接合層で覆われずにガラスが露出している帯状のガイド面が形成されている。ローラがガイド面を転動することで、エンコーダヘッドはエンコーダスケールに対して一定の間隔を保持されつつ、エンコーダスケールの長手方向へ円滑にスライドすることができる。
ここで、ローラがガイド面を転動するのに伴って、ガラス基板が帯電することがある。ガラス基板の帯電は、放電やノイズの原因となるため、エンコーダヘッドにとっては好ましくない。また、ガラス基板が帯電すると、エンコーダスケールに埃が付着しやすくなり、その埃が検出不良等の原因となる。これらの不具合の原因となるガラス基板の帯電を防止するために、従来のエンコーダスケールには、ガラス基板の表面に帯電防止電極が設けられている。
図5,図6は、従来のエンコーダスケールの製造方法の一例を示すものである。
エンコーダスケール104の製造では、まず、ガラス製の基板141上に接合層142を成膜し、接合層142上に電極層143を形成する。次に、電極層143にレジスト144を貼付し、フォトリソグラフィ法等を用いて、所定のマスクパターンを形成する。
以上の工程まで完了した状態が図5(A)に示す状態である。
次に、図5(B)に示すように、レジスト144をマスクとして、電極層143の一部をエッチングにより除去することで、導電体143Aと銅マスク143Bとを形成する。次に、図5(C)に示すように、導電体143Aをマスクとして、接合層142の一部をエッチングにより除去する。これにより、導電体143A用の接合体142Aと帯電防止電極142Bとが形成される。導電体143Aをマスクとするため、接合体142Aは、基板141の平面視において、導電体143Aと同一の形状に形成される。ただし、この状態ではレジスト144が付着しているので、図5(D)に示すようにレジスト144を除去する。
次に、図6(E)に示すように、導電体143Aおよびその接合体142Aを新たなレジスト147でマスキングした上で、銅マスク143Bをエッチングにより除去する。これにより、図6(F)に示すように、帯電防止電極142Bが露出する。
そして、図6(G)に示すように、レジスト147を除去してから、図6(H)に示すように、導電体143Aとその接合体142Aを、絶縁性を有する樹脂等から成る保護膜145Aで覆うとともに、露出している帯電防止電極142Bに接地線146を接続して、エンコーダスケール104が完成する。
特開2009−276306号公報 特開2011−247600号公報
しかし、従来のエンコーダスケール104の製造においては、銅製の導電体143Aとクロム製の接合層142とではエッチングに用いる腐食剤が異なるので、別工程でエッチング処理を行う必要があった。
また、接地のための帯電防止電極142Bを基板141上に設ける工程が別途必要であった。このように、従来のエンコーダスケール104は、多くの製造工程を必要としていた。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、その目的は、製造工程の少ない簡単な構成を備え、帯電を防止することができるエンコーダスケールおよびその製造方法を提供するところにある。
本発明のエンコーダスケールは、電磁誘導式エンコーダに設けられたエンコーダスケールにおいて、基板と、当該基板の一面に形成された導電性を有する導電層と、当該導電層上に形成された導電体とを備え、前記導電層は、前記基板の平面視において前記導電体よりも広く形成されていることを特徴とする。
電磁誘導式エンコーダに設けられたエンコーダスケールの基板は、絶縁体であることが必要である。基板の材料として、例えばガラスを用いる。一方、導電体は電気を通すので電気抵抗が小さい材料を用いることが好ましい。導電体の材料として、例えば導電率が高い銅を用いる。
しかし、絶縁体である基板は帯電しやすい。基板の帯電は、放電やノイズの原因となるため好ましくない。
本発明では、導電性を有する導電層が基板の一面に形成されているので、基板の一面で電気が発生しても、静電誘導の原理により、電荷が導電層に引き寄せられて、基板と導電層とが電気的に中和される。すなわち、導電層が従来の帯電防止電極の機能を果たして基板の帯電を防止することができる。導電層の材料として、例えばクロムを用いる。
また、導電体に用いられる銅等は、腐食しやすいので、絶縁体から成る保護膜で覆う必要があるが、導電体とともに導電層も保護膜で覆ってしまうと接地のための結線ができなくなる。この点に関し、本願発明では、導電層が基板の平面視において導電体よりも広く形成されているので、導電体を保護膜で覆うときに、導電層の一部を露出させることで、導電層を容易に接地させることができる。
導電体の材料として銅を用い、導電層の材料としてクロムを用いた場合には、両者の導電性の差が大きい。このため、導電体において電磁誘導現象が発生して電流が誘導されていても、導電層においては電流がほとんど誘導されない。このように、導電体と導電層の導電性の差を大きくすることにより、導電層従来のエンコーダスケールでは必要とされていた導電層をエッチングする工程を省略することができ、製造工程の少ない簡単な構成とすることができる。
さらに、基板の材料と導電体の材料とが接合しにくい組み合わせの場合には、導電層を従来の接合層のように用いて、基板と導電体との接合を補助することも可能である。
本発明のエンコーダスケールにおいて、前記導電層は接地されていることが好ましい。
本発明によれば、導電層は接地されているので、導電層上に形成された基板を導電層と同じく基準電位に維持することができる。
本発明のエンコーダスケールにおいて、前記導電層は、前記基板の一面における一の領域全体に形成されており、前記基板の一面における他の領域は露出していることが好ましい。
本発明によれば、導電層は、基板の一面における一の領域全体に形成されているので、導電層を導電体と同じ形状に形成する従来のエンコーダスケールと比較して、導電層を形成する製造工程を少なくすることができる。
また、基板の一面における他の領域は露出している。例えば基板をガラス基板とした場合には、基板の露出した面は十分な硬度を有する。したがって、ピックアップコイルをエンコーダスケールに対してスライドさせるためのガイドのローラを、基板の露出した面上で転動させることができる。
本発明のエンコーダスケールにおいて、前記導電層は、前記基板と前記導電体とを接合することが好ましい。
例えば、基板をガラス製とするとともに導電体を銅製とした場合、銅はガラスに付着しにくい性質を有する。
本発明によれば、導電層は、基板と導電体との間に挟まれているので、導電層の材料をクロム等の導電性を有しかつ接合性を有する材料にすることで、従来の接合層として兼用することができる。すなわち、ガラス製の基板と銅製の導電体との組み合わせであっても、両者を確実に接合することができる。
本発明のエンコーダスケールの製造方法は、電磁誘導式エンコーダに設けられたエンコーダスケールの製造方法において、基板上の所定の領域に導電層を形成するステップと、前記導電層上に誘電用電極層を形成するステップと、前記誘電用電極層の一部をレジストで覆うステップと、前記誘電用電極層の前記レジストで覆われていない部分を除去するステップとを含み、前記導電層は、除去されることなく基板上に残されることを特徴とする。
本発明では、基板上に導電層を形成し、導電層上に誘電用電極層を形成する。そして、誘電用電極層の一部を保護膜で覆い、誘電用電極の前記保護膜に覆われていない領域を除去することでエンコーダスケールが製造される。
前述した従来のエンコーダスケールが製造方法と比較すると、本発明の製造方法には、接地のための帯電防止電極を基板上に形成することに関する数工程や、導電層の一部の領域を除去する工程を必要としていない。したがって、その分、製造工程を少なくすることができる。
本発明の一実施形態に係るリニアエンコーダの斜視図。 図1におけるII−II断面図。 エンコーダスケールの斜視図。 エンコーダスケールの製造工程を示す図。 従来のエンコーダスケールの製造工程の前半を示す図。 図5の製造工程の後半を示す図。
以下、本発明に係る実施形態について、図面に基づいて説明する。
図1は、本発明のエンコーダスケール4を備える電磁誘導式リニアエンコーダ1を示す斜視図である。電磁誘導式エンコーダとしての電磁誘導式リニアエンコーダ1は、測定方向Xに沿って延びるメインスケール2と、このメインスケール2に対して測定方向Xに相対移動するように設けられたエンコーダヘッド3とを備えている。
図2に示すように、メインスケール2の内部にはエンコーダスケール4が設けられ、エンコーダヘッド3のエンコーダスケール4に対向する部分にはピックアップコイル31が設けられている。電磁誘導式リニアエンコーダ1は、ピックアップコイル31と誘電用電極を構成する導電体43A(図3,図4参照)との間の電磁誘導現象によって、ピックアップコイル31に誘導起電力を発生させる。そして、ピックアップコイル31に発生した誘導起電力に基づいてピックアップコイル31の位置を検出する。
メインスケール2の一側面には、測定方向Xに沿って延びるスリット21が形成されており、スリット21の両縁には、例えばウレタンゴム製のリップ22が全域にわたって設けられている。両リップ22の合わせ目は閉じられており、メインスケール2への異物の混入を防いでいる。エンコーダヘッド3が測定方向Xに移動するときには、エンコーダヘッド3のかき分け部32が、閉じていた両リップ22の合わせ目をかき分けながら移動する。図示しないが、かき分け部32は、両リップ22の合わせ目をかき分けやすいように船底形の断面に形成されている。
図2に示すように、メインスケール2の内部に位置するエンコーダヘッド3のガイド部33には、回転自在の第1ローラ34と第2ローラ35とが設けられている。第1ローラ34と第2ローラ35とは小径のボールベアリングで構成されている。エンコーダヘッド3が移動するときには、第1ローラ34は、エンコーダスケール4の基板41上の導電層42に覆われていないガイド面41Aにおける導電層42寄りの領域に接しながら転動し、第2ローラ35は、基板41の一側面41Bに接しながら転動する。
エンコーダスケール4の基板41は、例えばガラス基板である。ガラスは、熱膨張係数が小さく硬い。したがって、上述のように基板41の表面において第1ローラ34と第2ローラ35とを転動させても、基板41は変形することもなく傷むこともない。また、ガラス基板は吸湿しないため、湿度が変動しても体積が変化しない。
基板41上には、導電体43Aから成るスケールパターン47が、測定方向Xに所定の間隔で連続して形成されている。図3に示すように、本実施形態では、導電体43Aが角環状のコイルパターンに形成されており、測定方向Xに対して直交する方向に並ぶ一対の導電体43Aが1つのスケールパターン47を形成している。各スケールパターン47が電磁誘導式リニアエンコーダ1の目盛りとして機能する。
以下、上述の構成のエンコーダスケール4の製造工程について、図4を参照しながら説明する。図4は、測定方向Xに直行する平面でエンコーダスケール4を切断したときの断面図である。
初めに、蒸着、スパッタリング等の真空成膜法により、基板41上に導電層42を形成する。導電層42は、例えば50nm〜100nmの厚みを有し、導電性を有するクロムから成る。
次に、導電層42上に銅製の電極層43を形成する。銅はガラスに直接付着し難い性質を有するが、基板41と電極層43の間に、銅とガラスとのいずれに対しても良好な親和性を有するクロム製の導電層42を設けることで、電極層43が十分な強度で基板41に付着する。
次に、導電層42上に銅薄膜(図示せず)を付着させてから、銅薄膜の上に銅を積層して電極層43を形成する。銅薄膜は、電極層43を電気メッキによって成長させるための基礎である。銅薄膜を設けることで、電気メッキによる銅の積層が容易になる。なお、電極層43の形成は、溶射やプリントによって行ってもよい。銅薄膜の厚みは例えば200nm〜500nmであり、電極層43の厚みは例えば1μm〜100μmである。
次に、所定のパターンを描くレジスト44を電極層43上に付着させる。この工程にはリソグラフィ法等によって行われる。
ここまでの工程が完了した状態が、図4(A)に示す状態である。
次に、図4(B)に示すように、電極層43および銅薄膜のレジスト44に覆われていない領域をエッチングにより除去し、レジスト44を除去すると図4(C)の状態になる。このように、電極層43から導電体43Aが形成される。
そして、図4(D)に示すように、導電層42に接地線46を接続するとともに、紫外線硬化樹脂または熱硬化樹脂等の絶縁体から成る保護膜45によって導電体43Aを覆い、保護膜45を形成する。保護膜45を設けることにより、導電体43Aの酸化やマイグレーションが防止される。本実施形態においては、図4(D)に示すように、保護膜45の幅が導電層42と同じになっている。それに対し、図3に示すように、保護膜45の測定方向Xの長さは、同方向の導電層42の長さよりも短くなっており、導電層42の測定方向Xの両端が保護膜45からはみ出している。接地線46は、導電層42の保護膜45からはみ出した部分に接続されている。
なお、本実施形態では、保護膜45が導電層42に対してX方向側に短い構成で説明したが、X方向と直交する方向側に短い構成としても良い。
以上のように、本実施形態では、ガラス製の基板41上で第1ローラ34と第2ローラ35とを転動させたときに電気が発生しても、接地された導電層42が基板41を電気的に中和するので、基板41を基準電位に維持して帯電を防止することができる。
また、導電層42は基板41の一面のガイド面41Aを除く部分全体に形成されているので、導電層42による基板41の電気的な中和を広い範囲で確実に行うことができる。
一方、基板41の導電層42に覆われていない部分はガイド面41Aになっており、基板41の一側面41Bもガラス面が露出しているので、第1ローラ34と第2ローラ35とを基板41に直接接した状態で転動させることができる。
腐食しにくいクロムから成る導電層42は、保護膜45で覆う必要がないので、導電層42の保護膜45からはみ出した部分において、接地線46を容易に接続することができる。
ガラス製の基板41と銅製の導電体43Aとを接合する(密着させる)導電層42が、基板41を電気的に中和する導体としても機能するので、従来の帯電防止電極142Bに相当する構成を省略することができ、その分、製造工程を少なくすることができる。
また、前述した従来のエンコーダスケール104と異なり、導電体43Aをマスクとして導電層42エッチングする工程が不要であるため、その分、製造工程を少なくすることができる。
本発明は、前記実施形態に限定されるものでなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本発明に含まれる。
例えば、前記実施形態では、導電体43Aの形状が角環状のコイルパターンであったが、他の形状でもよく、例えば、中実の方形や円形であってもよく、左右に折れ曲がったジグザグ形状であってもよい。つまり、電気が通る島状のものであれば、形状は上記実施形態に限定されるものではない。
エンコーダスケール4の各構成の材料は、前記実施形態に記載したものに限られず適宜他の材料に変更することが可能である。
例えば、実施形態では、基板41の材料がガラスであったが、硬い絶縁体であればよく、例えば、セラミック、サファイアまたは石英であってもよく、樹脂であってもよい。
また、前記実施形態では、導電体43Aの材料が銅であったが、電気抵抗が小さい材料であればよく、例えば、金や銀であってもよい。
前記実施形態では、導電層42の材料がクロムであったが、電気抵抗が導電体43Aよりも大きく、電磁誘導の現象が発生しにくい材料であればよく、例えば、ニッケルやチタンであってもよい。
また、前記実施形態では、電磁誘導式エンコーダを、測定対象物の直線変位を検出する電磁誘導式リニアエンコーダ1として実現した例について説明したが、本発明はこれに限らず、例えば、測定対象物の回動量や回転数を検出する電磁誘導式ロータリーエンコーダとして実現することが可能である。
本発明は、測定対象物の直線変位を検出する電磁誘導式リニアエンコーダに利用できる。
1…電磁誘導式リニアエンコーダ、4…エンコーダスケール、41…基板、42…導電層、43A…導電体。

Claims (4)

  1. 電磁誘導式エンコーダに設けられたエンコーダスケールにおいて、
    基板と、
    当該基板の一面に形成された導電性を有する導電層と、
    当該導電層上に形成された導電体とを備え、
    前記導電層は、前記基板の平面視において前記導電体よりも広く形成されている
    ことを特徴とするエンコーダスケール。
  2. 請求項1に記載のエンコーダスケールにおいて、
    前記導電層は接地されている
    ことを特徴とするエンコーダスケール。
  3. 請求項1または請求項2に記載のエンコーダスケールにおいて、
    前記導電層は、前記基板の一面における一の領域に形成されており、前記基板の一面における他の領域は露出している。
    ことを特徴とするエンコーダスケール。
  4. 電磁誘導式エンコーダに設けられたエンコーダスケールの製造方法において、
    基板上の所定の領域に導電層を形成するステップと、
    前記導電層上に電極層を形成するステップと、
    前記電極層の一部をレジストで覆うステップと、
    前記電極層の前記レジストで覆われていない部分を除去することにより導電体を形成するステップとを含み、
    前記導電層は、除去されることなく基板上に残される
    ことを特徴とするエンコーダスケールの製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017090316A (ja) * 2015-11-12 2017-05-25 株式会社ミツトヨ エンコーダスケール
DE102022004284A1 (de) 2021-12-10 2023-06-15 Mitutoyo Corporation Herstellungsverfahren eines leitenden musters
US11747173B2 (en) 2021-02-16 2023-09-05 Mitutoyo Corporation Scale and manufacturing method of the same

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11101436B2 (en) 2016-03-28 2021-08-24 Toyo Seikan Group Holdings, Ltd. Substrate for flexible device and method for producing the same
EP3293496B1 (de) * 2016-09-12 2018-11-21 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Längenmesseinrichtung und verfahren zu deren montage

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1082663A (ja) * 1996-04-26 1998-03-31 Dr Johannes Heidenhain Gmbh 光電位置測定装置
JP2004198253A (ja) * 2002-12-18 2004-07-15 Mitsutoyo Corp 磁気式エンコーダのスケール及び磁気式エンコーダ
JP2004333417A (ja) * 2003-05-12 2004-11-25 Mitsutoyo Corp 磁気式エンコーダ
US20080116883A1 (en) * 2006-11-22 2008-05-22 Stefan Ruehl Inductive sensor for sensing of two coupling elements
JP2013108873A (ja) * 2011-11-22 2013-06-06 Mitsutoyo Corp 光電式エンコーダのスケール及びその製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3246726B2 (ja) * 1998-11-13 2002-01-15 株式会社ミツトヨ 静電容量式変位検出器及び測定装置
AU2003202477A1 (en) * 2003-01-06 2004-07-29 Nitta Corporation Capacitive sensor
JP4615955B2 (ja) * 2004-10-12 2011-01-19 株式会社ミツトヨ 誘導型変位検出装置
US7561406B2 (en) * 2006-03-30 2009-07-14 Tdk Corporation Nickel substrate thin film capacitor and method of manufacturing nickel substrate thin film capacitor
JP2009276306A (ja) 2008-05-19 2009-11-26 Mitsutoyo Corp エンコーダスケールおよびその製造方法
GB0903961D0 (en) * 2009-01-27 2009-04-22 Renishaw Plc Magnetic encoder scale
JP2011247600A (ja) 2010-05-21 2011-12-08 Mitsutoyo Corp エンコーダスケール及びその製造方法
US20150160041A1 (en) * 2011-12-28 2015-06-11 Nikon Corporation Encoder, manufacturing method of encore scale manufacturing method of encoder, and driving apparatus

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1082663A (ja) * 1996-04-26 1998-03-31 Dr Johannes Heidenhain Gmbh 光電位置測定装置
JP2004198253A (ja) * 2002-12-18 2004-07-15 Mitsutoyo Corp 磁気式エンコーダのスケール及び磁気式エンコーダ
JP2004333417A (ja) * 2003-05-12 2004-11-25 Mitsutoyo Corp 磁気式エンコーダ
US20080116883A1 (en) * 2006-11-22 2008-05-22 Stefan Ruehl Inductive sensor for sensing of two coupling elements
JP2013108873A (ja) * 2011-11-22 2013-06-06 Mitsutoyo Corp 光電式エンコーダのスケール及びその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017090316A (ja) * 2015-11-12 2017-05-25 株式会社ミツトヨ エンコーダスケール
US11747173B2 (en) 2021-02-16 2023-09-05 Mitutoyo Corporation Scale and manufacturing method of the same
DE102022004284A1 (de) 2021-12-10 2023-06-15 Mitutoyo Corporation Herstellungsverfahren eines leitenden musters

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