JP2016039166A - インプリントモールドの検査方法及び製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。まず、本実施形態において検査対象であるインプリントモールドの構成について説明する。図1(A)は、本実施形態において検査対象となるインプリントモールドの概略構成を示す平面図であり、図1(B)は、図1(A)におけるI−I線切断端面図であり、図2(A)〜(D)は、当該インプリントモールドにおける所定の方向性を有する微細凹凸パターンの具体例を示す平面図であり、図3は、本実施形態において検査対象となるインプリントモールドの他の態様を示す切断端面図である。
次に、本実施形態に係るインプリントモールドの検査方法について説明する。図4は、本実施形態に係るインプリントモールドの検査方法において電子顕微鏡による電子線の走査方向を概略的に示す平面図である。
続いて、本実施形態におけるインプリントモールドの製造方法につき、図面を参照しつつ説明する。図6は、本実施形態に係るインプリントモールドの製造方法の各工程を切断断面図にて示す工程フロー図である。
第1面2a及びそれに対向する第2面2bを有する基部2と、第1面10a側に形成されてなる微細凹凸パターン3とを備える、石英ガラス製のインプリントモールド1を準備した。
走査型電子顕微鏡における電子線の走査方向を、第1の方向L1と平行(第2の方向L2と直交)にした以外は、実施例1と同様にしてインプリントモールド1の微細凹凸パターン3のSEM画像を取得した。取得したSEM画像を図8に示す。
2…基部
2a…第1面
2b…第2面
3…微細凹凸パターン
10…インプリントモールド用基材
10a…第1面
10b…第2面
11…金属膜
13…金属膜パターン
Claims (6)
- 第1面及び当該第1面に対向する第2面を有し、前記第1面側に、所定の方向性を有する微細凹凸パターンが設けられてなるインプリントモールドを検査する方法であって、
走査型電子顕微鏡を用い、前記インプリントモールドの前記第1面側に電子線を走査させることで、当該第1面側に設けられている前記微細凹凸パターンの画像を取得する工程と、
前記微細凹凸パターンの画像に基づいて、前記微細凹凸パターンの欠陥の有無を判定する工程と
を含み、
前記電子線の走査方向が、前記微細凹凸パターンの方向に対して平行する方向以外の方向になるように、前記第1面側に前記電子線を走査させることで、前記微細凹凸パターンの画像を取得することを特徴とするインプリントモールドの検査方法。 - 前記微細凹凸パターンが、その長手方向が一方向に沿うように並列するラインアンドスペース形状を有するものであって、
前記微細凹凸パターンの長手方向と、前記電子線の走査方向とが所定の傾斜角をもって交差するように、前記第1面側に前記電子線を走査させることで、前記微細凹凸パターンの画像を取得することを特徴とする請求項1に記載のインプリントモールドの検査方法。 - 前記微細凹凸パターンが、その長手方向が二以上の方向に沿うような、屈曲した形状を有するものであって、
前記微細凹凸パターンの各長手方向と、前記電子線の走査方向とが所定の傾斜角をもって交差するように、前記第1面側に前記電子線を走査させることで、前記微細凹凸パターンの画像を取得することを特徴とする請求項1に記載のインプリントモールドの検査方法。 - 前記微細凹凸パターンが、少なくとも一方向に並列されたホール状又はピラー状パターンであって、
前記微細凹凸パターンの並列方向と、前記電子線の走査方向とが傾斜角をもって交差するように、前記第1面側に前記電子線を走査させることで、前記微細凹凸パターンの画像を取得することを特徴とする請求項1に記載のインプリントモールドの検査方法。 - 光学的検査装置を用いて前記インプリントモールドの前記微細凹凸パターンの画像を取得し、当該画像に基づいて前記微細凹凸パターンの欠陥位置を予め特定する工程をさらに含み、
前記特定された欠陥位置に相当する前記微細凹凸パターンの画像を、前記走査型電子顕微鏡を用いて取得することを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のインプリントモールドの検査方法。 - インプリントモールドを製造する方法であって、
第1面及び当該第1面に対向する第2面を有し、前記第1面上に金属膜が設けられているインプリントモールド用基材を準備し、前記金属膜をパターニングすることで所定の方向性を有する金属膜パターンを形成する金属膜パターン形成工程と、
前記金属膜パターンをマスクとして前記インプリントモールド用基材をエッチングすることで、前記インプリントモールド用基材の前記第1面側に微細凹凸パターンを形成する微細凹凸パターン形成工程と、
前記インプリントモールド用基材の前記第1面側に形成された前記微細凹凸パターンを検査する検査工程と
を含み、
前記検査工程において、請求項1〜5のいずれかに記載の検査方法により、前記インプリントモールド用基材の前記第1面側に形成された前記微細凹凸パターンが欠陥を有するか否かを検査することを特徴とするインプリントモールドの製造方法。
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