JP2016035608A - 通帳処理装置、自動取引装置、異物検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】異物の挟み込みの有無を出力できる技術を提供する。【解決手段】通帳処理装置は、通帳が備える磁気ストライプから磁気信号の波形を読み取る読取部と、前記波形のうち、第１の閾値を超えるピークの第１の間隔を決定した後、前記第１の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第１の異常部分があるかどうかを判定する第１の判定部と、前記波形のうち、前記第１の閾値とは異なる第２の閾値を超えるピークの第２の間隔を決定した後、前記第２の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第２の異常部分があるかどうかを判定する第２の判定部と、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分との差が所定値より小さい場合、異物の挟み込みがある旨の出力をする出力部と、を備える。【選択図】図１８

Description

本発明は、通帳処理装置に関するものである。

貨幣（硬貨や紙幣など）を取り扱う自動取引装置としては、現金自動取引装置（Automated Teller Machine、ＡＴＭ）や現金自動支払機（Cash Dispenser、ＣＤ）などが知られている。これらの自動取引装置の中には、通帳を取り扱うことができる通帳処理装置を搭載したものがある。通帳処理装置で取り扱われる通帳の個人情報や残高情報などを記録する方法として、磁気情報が用いられている。

従来、磁気ストライプを備える通帳から、磁気ストライプに記録された磁気情報を読み取る方法として、磁気ヘッドによって磁気を読み出して波形を出力する方法が知られている（特許文献１）。

特開２００７−１８８５７２号公報

しかし、自動取引装置の利用者が媒体の磁気ストライプ上に明細票などの異物を挟み込んだ状態において、磁気ストライプから波形が出力された場合、出力波形は、異物が噛みこまれた部分において小さくなるという課題があった。また、異物が噛みこまれた部分において磁気情報が書き込まれた場合、正しく磁気情報が書き込まれない虞があるという課題があった。このため、自動取引装置の利用者が媒体の磁気ストライプ上に明細票などの異物を挟み込んだ場合、異物の挟み込みの検出ができる技術が望まれていた。

なお、出力波形が小さくなる他の原因として、磁石が媒体の磁気ストライプへ接触することによる磁気減衰や、媒体の折れによって磁気情報を読み取る際に磁気ヘッドと磁気ストライプが離れることが挙げられる。このため、磁石による磁気減衰の検出や、折れの検出ができる技術が望まれていた。

そのほか、通帳処理装置においては、低コスト化、微細化、製造の容易化、省資源化、使い勝手の向上、耐久性の向上などが望まれていた。

上記課題を解決するために、本発明の通帳処理装置は、通帳が備える磁気ストライプから磁気信号の波形を読み取る読取部と、前記波形のうち、第１の閾値を超えるピークの第１の間隔を決定した後、前記第１の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第１の異常部分があるかどうかを判定する第１の判定部と、前記波形のうち、前記第１の閾値とは異なる第２の閾値を超えるピークの第２の間隔を決定した後、前記第２の間隔の中で、前記所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第２の異常部分があるかどうかを判定する第２の判定部と、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分があると判定され、かつ、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分との差が所定値より小さい場合、異物の挟み込みがある旨の出力をする出力部と、を備える。

本発明によれば、異物の挟み込みの有無を出力できる。

上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。

本実施形態における自動取引装置１００の模式図。 自動取引装置１００の構成を示す説明図。 通帳１を示す模式図。 通帳１を自動取引装置１００に入れる様子を示す説明図。 磁気ヘッド部４４が磁気ストライプ８の磁気の読み書きの様子を示す説明図。 通帳１の磁気ストライプ８の上に異物５を挟み込んだ状態を示す説明図。 通帳１の磁気ストライプ８の一部に折れがある状態を示す説明図。 磁気ストライプ８に異物５が挟み込まれた状態や（ｉｉ）磁気ストライプ８の一部に折れがある状態において自動取引装置１００の表示部５２に表示される画面を示す模式図。 通帳記帳機６１を示す模式図。 磁気ストライプ８から磁気ヘッド部４４により読み取られた磁気信号の波形を示す図。 正常な磁気ストライプ８から磁気ヘッド部４４により読み取られた磁気信号の波形を示す図。 磁気ストライプ８の中央付近の一部分において異物５を挟み込んだ状態において、磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す図。 磁気ストライプ８全体の半分程度において異物５を挟み込んだ状態（図６（ｂ）参照）において、磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す図。 磁気ストライプ８の全面において異物５を挟み込んだ状態（図６（ｃ）参照）において、磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す図。 一部において磁気減衰が生じた磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す図。 一部において磁気減衰が生じた磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す図。 磁気ストライプ８の一部に折れがある状態（図９参照）において磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す図。 磁気ストライプ８の読み取り動作を示すフローチャート。 減衰判定処理を示すフローチャート。 第２実施形態における磁気ストライプ８への書き込み処理を示すフローチャート。

以下、本発明の実施の形態を詳細に説明する。

Ａ．第１実施形態
Ａ―１．自動取引装置１００の構成
図１は、本実施形態における自動取引装置１００の模式図である。自動取引装置１００は、通帳処理装置４０を備える現金自動取引装置である。

自動取引装置１００は、通帳が挿入および排出される入出口５１と、利用者による操作および利用者への表示に用いられる表示部５２と、カードが挿入および排出される入出口５３と、紙幣および硬貨の出し入れが行なわれる入出口５４とを備える。

図２は、自動取引装置１００の構成を示す説明図である。自動取引装置１００は、自動取引装置１００の各部を制御する全体制御部１０と、通帳を取り扱う通帳処理装置４０と、表示部５２と、キャッシュカードを取り扱うカード処理部７０と、紙幣や硬貨の入出金処理を行なう貨幣処理部８０と、ホスト装置と取引データの送受信を行なう通信部９０と、を備える。

通帳処理装置４０は、通帳が備える磁気ストライプから磁気信号の波形を読み取る読取部および磁気ストライプへ書き込む書込部として機能する磁気ヘッド部４４と、通帳の搬送を行なう搬送部４５と、通帳処理装置４０の全体を制御する制御部４６とを備える。

図３は、通帳１を示す模式図である。図３において、表表紙と裏表紙とを開いた状態の通帳１を示す。本実施形態において、利用者が通帳１を入出口５１に入れる際、通帳１は表表紙と裏表紙とを開いた状態で挿入される。

図３において、紙面下側が裏表紙側を示し、本実施形態においては、裏表紙側に磁気ストライプ８を備える。磁気ストライプ８には、口座番号や利用者識別番号などのデジタルデータが磁気として記録されている。

図４は、通帳１を自動取引装置１００に入れる様子を示す説明図である。入出口５１から挿入された１は、搬送部４５により磁気ヘッド部４４へ搬送される。本実施形態において、搬送部４５は、搬送ローラ３と、搬送路４と、搬送ローラ３を駆動する駆動モータ（図示せず）を備える。

図５は、磁気ヘッド部４４が磁気ストライプ８の磁気の読み書きの様子を示す説明図である。図５に示すように、磁気ストライプ８が磁気ヘッド部４４の上を走査することにより、磁気ストライプ８への磁気の読み取りや書き込みを行なう。

図６は、通帳１の磁気ストライプ８の上に異物５を挟み込んだ状態を示す説明図である。本実施形態において、異物は明細票を想定するが、他の異物としては、例えば、クリップやセロハンテープなどが考えられる。図６（ａ）は、磁気ストライプ８の中央付近の一部分において異物５を挟み込んだ状態を示す。図６（ｂ）は、磁気ストライプ８の全体のうち半分程度において異物５を挟み込んだ状態を示す。図６（ｃ）は、磁気ストライプ８の全面において異物５を挟み込んだ状態を示す。

図７は、磁気ストライプ８の一部に折れがある状態を示す説明図である。（ｉ）磁気ストライプ８に異物５が挟み込まれた状態や（ｉｉ）磁気ストライプ８の一部に折れがある状態において、磁気ヘッド部４４により磁気の読み込みを行なった場合、正常な状態において磁気ヘッド部４４により磁気の読み込みを行なった場合に比べて、磁気が正しく読み込まれない虞がある。

図８は、（ｉ）磁気ストライプ８に異物５が挟み込まれた状態や（ｉｉ）磁気ストライプ８の一部に折れがある状態において、自動取引装置１００の表示部５２に表示される画面を示す模式図である。図８（ａ）は、磁気ストライプ８に異物５が挟み込まれた状態が検出された場合に出力される画面を示す。具体的には、「お客様の通帳に異物が挟み込まれている可能性がございます。ご確認頂き、異物の除去後、再挿入もしくは窓口へお越し下さい」と表示部５２に表示される。図８（ｂ）は、磁気ストライプ８の一部に折れがある状態が検出された場合に出力される画面を示す。具体的には、「お客様の通帳状態に異常がみられます。ご確認頂き、窓口へお越し下さい。」と表示部５２に表示される。

なお、本実施形態においては、自動取引装置１００を用いて説明するが、本発明はこれに限られず、例えば、通帳記帳機を用いても良い。図９は、通帳記帳機６１を示す模式図である。通帳記帳機６１は、通帳への記帳に用いられる機器であり、金融機関の窓口などで利用される。通帳記帳機６１は、通帳を挿入する通帳挿入部６２を備える。利用者による通帳記帳機６１への操作は、通帳記帳機６１と接続されたＰＣ６３を介して行なわれる。

Ａ―２．ピーク間隔の測定
図１０は、磁気ストライプ８から磁気ヘッド部４４により読み取られた磁気信号の波形を示す図である。磁気信号の波形は、正負方向に立ち上がる複数のピークを有する。本実施形態において、磁気出力レベルの絶対値が閾値を越えた場合に、ピークがあると判断される。ピークとピークとの間隔に基づいて磁気情報が生成される。なお、本実施形態においてはＦＭ（Frequency modulation）方式を採用している。このため、本来、ピーク間隔は０と１とを示す二つの異なる間隔が存在するが、内容の理解を容易とするためにこれ以降においてピーク間隔は１つとして記載する。

図１０（ａ）は、磁気ストライプ８から磁気ヘッド部４４により読み取られた磁気信号の波形を示す図である。縦軸は電圧の出力を示し、横軸は時間を示す。つまり、図１０（ａ）は、磁気ヘッド部４４によって検出された電圧値を時間軸で示した図である。図１０（ｂ）は、図１０（ａ）における波形を横軸（時間軸）において拡大した図である。図１０（ｂ）において、ピークと判定される閾値をＬ１とし、ピーク間隔はａとする。

図１０（ｃ）は、横軸を時間軸とし、縦軸をピーク間隔とした図である。図１０（ｃ）に示すとおり、正常な磁気ストライプ８から磁気ヘッド部４４により読み取られた磁気信号のピーク間隔はほぼ一定となる。

図１１（ａ）は、正常な磁気ストライプ８から磁気ヘッド部４４により読み取られた磁気信号の波形を示す。図１１（ａ）において、ピークと判定される閾値Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３が記載されている（Ｌ１＞Ｌ２＞Ｌ３）。図１１（ｂ）は閾値をＬ１とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１１（ｃ）は閾値をＬ２とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１１（ｄ）は閾値をＬ３とした場合のピーク間隔を示す図である。正常な磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号のピーク間隔は閾値を変更したとしても大きな変化がないことを、図１１（ｂ）から図１１（ｄ）は示している。

図１２（ａ）は、磁気ストライプ８の中央付近の一部分において異物５を挟み込んだ状態（図６（ａ）参照）において、磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す。図１２（ａ）において、異物５を挟み込んだ部分の電圧値がその他の部分の電圧値と比べて小さいことがわかる。図１２（ｂ）は閾値をＬ１とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１２（ｃ）は閾値をＬ２とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１２（ｄ）は閾値をＬ３とした場合のピーク間隔を示す図である。図１２（ｂ）から図１２（ｄ）より以下のことがわかる。異物５を挟み込んでいない部分のピーク間隔の各値はほぼ一定である。これに対し、異物５を挟み込んだ部分においては閾値を越えるピークが検出されない結果、異物５を挟み込んだ部分のピーク間隔の値がその他の部分に比べて大きくなることがわかる。また、ピーク間隔の値は閾値を変更したとしても大きな変化がないことがわかる。

図１３（ａ）は、磁気ストライプ８の全面のうちの半分程度に異物５を挟み込んだ状態（図６（ｂ）参照）において、磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す。図１３（ａ）において、異物５を挟み込んだ部分の電圧値がその他の部分の電圧値と比べて小さいことがわかる。図１３（ｂ）は閾値をＬ１とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１３（ｃ）は閾値をＬ２とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１３（ｄ）は閾値をＬ３とした場合のピーク間隔を示す図である。図１３においては、図１２と同様に、ピーク間隔の値は閾値を変更したとしても大きな変化がないことがわかる。

図１４（ａ）は、磁気ストライプ８の全面に異物５を挟み込んだ状態（図６（ｃ）参照）において、磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す。図１４（ａ）において、全部分の電圧値が図１１（a）と比べて小さいことがわかる。図１４（ｂ）は閾値をＬ１とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１４（ｃ）は閾値をＬ２とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１４（ｄ）は閾値をＬ３とした場合のピーク間隔を示す図である。異物５を挟み込んだ部分においては閾値を越えるピークが検出されない結果、ピーク間隔が検出されないことを、図１４（ｂ）から（ｄ）は示す。

図１２から図１４の結果から、ピーク間隔の値は閾値を変更したとしても大きな変化がないことがわかる。つまり、この特性を用いることにより、異物の挟み込みを検出することができる。

図１５（a）は、一部において磁気減衰が生じた磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す。図１５（ｂ）は閾値をＬ１とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１５（ｃ）は閾値をＬ２とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１５（ｄ）は閾値をＬ３とした場合のピーク間隔を示す図である。なお、磁気減衰は、例えば、磁気ストライプ８が磁石と接近することにより生じる。

図１５（a）から分かるように、異物の挟み込みの場合と異なり、磁気減衰によって検出される電圧値の減少の仕方は、ピークの高さがゆるやかに減少し、その後、ゆるやかに増加する。このため、図１５（ｂ）から図１５（ｄ）が示すように、閾値を変更することにより、ピーク間隔が変わる。

図１６（a）は、一部において磁気減衰が生じた磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す。図１６（a）は図１５（a）と異なり、磁気減衰が２箇所において生じた磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す。図１６（ｂ）は閾値をＬ１とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１６（ｃ）は閾値をＬ２とした場合のピーク間隔を示す図であり、図１６（ｄ）は閾値をＬ３とした場合のピーク間隔を示す図である。図１５と同様に、閾値を変更することにより、ピーク間隔が変わることを、図１６（ｂ）から図１６（ｄ）は示す。

図１７は、磁気ストライプ８の一部に折れがある状態（図９参照）において、磁気ストライプ８から読み取られた磁気信号の波形を示す。図１７（ａ）は、読み取る際の速度を通常の速度とした場合の波形を示し、図１７（ｂ）は、読み取る際の速度を通常の速度より遅くした場合の波形を示し、図１７（ｃ）は、読み取る際の速度を通常の速度より早くした場合の波形を示す。なお、読み取る際の速度の調節は、搬送部４５による通帳１の搬送速度を調節することにより行なう。

図１７が示すとおり、磁気ストライプ８の一部に折れがある場合、折れている部分について波長が小さくなっていることがわかる。この原因としては、折れにより、磁気ヘッド部４４と磁気ストライプ８とが瞬間的に離れることが考えられる。

読み取る際の速度を通常の速度とした場合の波形において、ピーク間隔が広くなる部分のピーク間隔をＤ１とし（図１７（ａ）参照）、読み取る際の速度を遅くした場合の波形において、ピーク間隔が広くなる部分のピーク間隔をＤ２とし（図１７（ｂ）参照）、読み取る際の速度を早くした場合の波形において、ピーク間隔が広くなる部分のピーク間隔をＤ３とする（（図１７（ａ）参照）。図１７により、読み取る際の速度を変えることにより、ピーク間隔が変わることがわかる。換言すると、読み取る際の速度を遅くするほど、ピーク間隔は狭まることがわかる。この理由としては、読み取る際の速度を遅くするほど、磁気ヘッド部４４と磁気ストライプ８とが離れる部分が少なくなることが考えられる。なお、搬送速度により波形の電圧値および波形を読み取る際の速度が変わるため、図１７において、波形の増幅率（縦軸の値）や読み取り速度（横軸の値）は一定となるように変化させている。

折れが生じた部分は、波形が減衰している位置に基づいて特定が可能である。また、折れによって生じる波形減衰は、磁石と磁気ストライプ８との接触による磁気減衰と比較して局所的となる。この特性を利用することにより、折れの生じた部分や、折れによって磁気減衰かもしくは磁石と磁気ストライプ８との接触による磁気減衰かどちらかについての判定ができる。

Ａ―３．制御処理
図１８は、磁気ストライプ８の読み取り動作を示すフローチャートであって、制御部４６によって実行される処理を示す。実際には、制御部４６に備えられたＣＰＵが、ＲＯＭに記憶されたコンピュータプログラムを実行することにより実現される処理である。

通帳１が入出口５１から挿入されたことを検出した後、フローは開始される。まず、ステップＳ１において、制御部４６は、搬送部４５を制御し、通帳１を磁気ヘッド部４４まで搬送させることにより、磁気ヘッド部４４により通帳１が備える磁気ストライプ８から磁気信号の波形を読み取らせる。

ステップＳ１において、磁気ヘッド部４４により波形を読み取れないと制御部４６が判断した場合（ステップＳ２：ＮＯ）、ステップＳ４において、制御部４６は、搬送部４５を制御することにより通帳１を排出させて、フローは終了する。

一方、磁気ヘッド部４４により波形を読み取れたと制御部４６が判断した場合（ステップＳ２：ＹＥＳ）、ステップＳ３において、制御部４６は、閾値の中で最も絶対値として大きい閾値Ｌ１を閾値とし、波形のうち、閾値Ｌ１を越えるピークの間隔である第１の間隔について決定処理を行なう。なお、閾値Ｌ１を第１の閾値とも呼ぶ。

決定処理後、ステップＳ５において、制御部４６は、第１の間隔に異常があるかどうか判定する。つまり、制御部４６は、第１の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第１の異常部分があるかどうかを判定する。通常は、０を表す間隔と、１を表す間隔しか間隔はない。本実施形態において、所定のピーク間隔とは、０を表す間隔と、１を表す間隔のうち、広いピーク間隔をいう。なお、ピーク間隔が正常な部分と比べて大きい部分には、閾値を越えないピークがあることが推定できる。ステップＳ３とステップＳ５における制御部４６の機能部を第１の判定部４６１とする（図２参照）。

制御部４６により、第１の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第１の異常部分がないと判定された場合（ステップＳ５：ＮＯ）、磁気ストライプ８の読み取りは正常に成されたこととなるため、このフローは終了する。一方、制御部４６により、第１の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第１の異常部分があると判定された場合（ステップＳ５：ＹＥＳ）、ステップＳ６において、制御部４６は、閾値Ｌ１の絶対値よりも小さい絶対値を有する閾値であるＬ２を閾値とし、波形のうち、閾値Ｌ２を越えるピークの間隔である第２の間隔について決定処理を行なう。なお、閾値Ｌ２を第２の閾値とも呼ぶ。

決定処理後、ステップＳ７において、制御部４６は、ピーク間隔に異常があるかどうか判定する。つまり、制御部４６は、第２の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第２の異常部分があるかどうかを判定する。ステップＳ６とステップＳ７における制御部４６の機能部を第２の判定部４６３とする（図２参照）。制御部４６により、第２の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第２の異常部分がないと判定された場合（ステップＳ７：ＮＯ）、磁気ストライプ８の読み取りは正常に成されたこととなるため、このフローは終了する。一方、制御部４６により、第２の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第２の異常部分があると判定された場合（ステップＳ７：ＹＥＳ）、ステップＳ９において、制御部４６は、閾値Ｌ２の絶対値よりも小さい絶対値を有する閾値であるＬ３を閾値とし、波形のうち、閾値Ｌ３を越えるピークの間隔である第３の間隔について決定処理を行なう。なお、閾値Ｌ３を第３の閾値とも呼ぶ。

決定処理後、ステップＳ１０において、制御部４６は、ピーク間隔に異常があるかどうか判定する。つまり、制御部４６は、第３の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第３の異常部分があるかどうかを判定する。ステップＳ９とステップＳ１０における制御部４６の機能部を第３の判定部４６５とする（図２参照）。制御部４６により、第３の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第３の異常部分がないと判定された場合（ステップＳ１０：ＮＯ）、ステップＳ１１において、制御部４６は、第１の異常部分と第２の異常部分との大きさが同じかどうか判断する。大きさが同じかどうかの判定として、第１の異常部分と第２の異常部分との差が所定値Ｖ１より小さいかどうかの判定が制御部４６により判断される。差が所定値Ｖ１より小さい場合、制御部４６は、第１の異常部分と第２の異常部分との大きさが同じと判断し、差が所定値Ｖ１より大きい場合、制御部４６は、第１の異常部分と第２の異常部分との大きさが異なると判断する。

第１の異常部分と第２の異常部分との大きさが同じと制御部４６により判断された場合（ステップＳ１１：ＹＥＳ）、つまり、差が所定値Ｖ１より小さいと判断された場合、ステップＳ１３において、制御部４６は、搬送部４５を制御して通帳１を排出する。その後、制御部４６により、ステップＳ１４において、表示部５２は出力部として異物がある旨の出力を行ない（図８（ａ）参照）、フローは終了する。このとき、制御部４６は、異物の挟み込みと判断していることを意味する。このように判断する理由としては、異物の挟み込みによる波形のピークの減少部分は一定であることが挙げられる。なお、「異物の挟み込みがある旨の出力をする工程」を「出力工程」とも呼ぶ。

一方、第１の異常部分と第２の異常部分との大きさが異なると制御部４６により判断された場合（ステップＳ１１：ＮＯ）、制御部４６は、異物の挟み込み以外を原因とする出力波形の減衰と判断し、減衰判定処理に移行する。

ステップＳ１０において、第３の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第３の異常部分があると判定された場合（ステップＳ１０：ＹＥＳ）、ステップＳ１２において、制御部４６は、第１の異常部分と第２の異常部分と第３の異常部分との大きさが同じかどうか判断する。大きさが同じかどうかの判定として、第１の異常部分と第２の異常部分と第３の異常部分の中で、最小の部分と最大の部分との差が所定値Ｖ２より小さいかどうかの判定が制御部４６により判断される。差が所定値Ｖ２より小さい場合、制御部４６は、第１の異常部分と第２の異常部分と第３の異常部分との大きさが同じと判断し、差が所定値Ｖ２より大きい場合、制御部４６は、第１の異常部分と第２の異常部分と第３の異常部分との大きさが異なると判断する。

第１の異常部分と第２の異常部分と第３の異常部分との大きさが同じと制御部４６により判断された場合（ステップＳ１２：ＹＥＳ）、つまり、差が所定値Ｖ２より小さいと判断された場合、ステップＳ１３において、制御部４６は、搬送部４５を制御して通帳１を排出する。その後、ステップＳ１４において、制御部４６は、異物の挟み込みの旨を表示部５２に出力し（図８（ａ）参照）、フローは終了する。このとき、制御部４６は、異物の挟み込みと判断していることを意味する。一方、第１の異常部分と第２の異常部分と第３の異常部分との大きさが異なると制御部４６により判断された場合（ステップＳ１２：ＮＯ）、制御部４６は、ステップＳ１５において、出力波形の減衰と判断し、減衰判定処理に移行する。

本実施形態においては、閾値Ｌ１＞閾値Ｌ２＞閾値Ｌ３であるところ、閾値を大きい順に設定してピーク間隔の決定処理を行なったが、本発明はこれに限られない。つまり、少なくとも２つの異なる閾値を用いることにより異物の挟み込みの有無を判定できる。

図１９は、減衰判定処理を示すフローチャートであって、制御部４６によって実行される処理を示す。ステップＳ４１において、制御部４６は、閾値Ｌ１の場合における、ピーク間隔が正常な部分と比べて大きい部分（第１の異常部分）の大きさが設定値Ｖ３以上か否かの判定を行なう。

異常部分の大きさが設定値Ｖ３以上である場合（ステップＳ４１：ＹＥＳ）、制御部４６は、磁気減衰の原因を磁石などに起因する磁気減衰と判断し、正常に読み取れると判断し、フローを終了する。正常に読み取れると判断する理由としては、磁石などに起因する磁気減衰は、異物の挟み込みや磁気ストライプ８の折れではないため、磁気ヘッド部４４による磁気の書き込みに影響を与えないことが挙げられる。また、異常部分の大きさが設定値Ｖ３以上である場合に磁気減衰の原因を磁石などに起因する磁気減衰と判断する理由としては、磁石による磁気減衰は、磁気ストライプ８の広範囲に及ぶことが挙げられる。

一方、異常部分の大きさが設定値Ｖ３より小さい場合（ステップＳ４１：ＮＯ）、ステップＳ４２において、制御部４６は、搬送部４５によって通帳１の搬送速度を変更させることにより、磁気ヘッド部４４による磁気ストライプ８の読取速度を変更させた状態において、磁気ヘッド部４４により波形を読み取る。本実施形態においては、搬送速度を早くすることにより読取速度を早くするが、搬送速度を遅くすることにより読取速度を遅くしてもよい。

その後、ステップＳ４３において、制御部４６は、閾値をＬ１とし、波形のうち、閾値Ｌ１を超えるピークの間隔について決定処理を行なう。

ステップＳ４４において、制御部４６は、ピーク間隔が正常な部分と比べて大きい部分（異常部分）が、通常速度における場合と、読取速度を変更した場合とにおいて同等かどうかについて判定する。つまり、制御部４６は、通常速度の場合における異常部分の大きさと、読取速度を変更した場合における異常部分の大きさの差が所定値Ｖ４以上であるか否かを判定する。

差が所定値Ｖ４以上であると制御部４６が判定した場合（ステップＳ４４：ＮＯ）、制御部４６は、ステップＳ４６において、搬送部４５により通帳１を排出する。その後、制御部４６により、ステップＳ４７において、表示部５２は出力部として磁気ストライプ８の折れがある旨の出力を行い、フローを終了する。このとき、制御部４６は、磁気ストライプ８に折れと判断していることを意味する。本実施形態によれば、搬送部４５によって通帳１の読取速度を変更した状態におけるピーク間隔であって、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である異常部分を対比することにより、磁気ストライプの折れを検出できる。この判断の理由としては、磁気ストライプに折れがある場合、読み取る際の速度を遅くするほど、磁気ヘッド部４４と磁気ストライプ８とが離れる部分が少なくなることが挙げられる。

一方、差が所定値Ｖ４より小さいと制御部４６が判定した場合（ステップＳ４４：ＹＥＳ）、制御部４６は、磁気減衰の原因を磁石などに起因する磁気減衰と判断し、正常に読み取れると判断し、フローを終了する。

本実施形態において、読取速度を変更させた状態における波形の読み取りを、１回行なったが、本発明はこれに限られず、複数回変更してもよい。読取速度を変更させた状態における波形の読み取りを、複数回行なうことにより、磁気ストライプ８の折れの検出をより正確に行なうことができる。

Ｂ．第２実施形態
図２０は、第２実施形態における磁気ストライプ８への書き込み処理を示すフローチャートであって、制御部４６によって実行される処理を示す。第１実施形態において磁気ストライプ８の折れを検出した場合、制御部４６は通帳１を排出しているが、第２実施形態においては排出せず、磁気ストライプ８への書き込みを行なう点が異なるが、それ以外は同じである。

ステップＳ７１において、制御部４６は、磁気ストライプ８の読み取り処理時に、磁気ストライプ８の折れを検出したか否かの判定を行なう。磁気ストライプ８の折れが検出されていない場合（ステップＳ７１：ＮＯ）、制御部４６は、通常の書き込み電流値に設定し（ステップＳ７２）、磁気ヘッド部４４による磁気ストライプ８への書き込みを開始する。

一方、磁気ストライプ８の折れが検出されている場合（ステップＳ７１：ＹＥＳ）、制御部４６は、通常の書き込み電流値よりも高い電流値に設定し（ステップＳ７２）、磁気ヘッド部４４による磁気ストライプ８への書き込みを開始する。つまり、磁気ストライプ８へ書き込む際の磁力を大きくする。このようにすることにより、磁気ストライプ８の折れに起因する磁気ヘッド部４４と磁気ストライプ８との距離が離れる部分に対しても磁気ストライプ８への書き込みが可能となる。

なお、磁気ストライプ８の折れている部分は波形が減衰するため、折れの生じた部分の特定が可能である。つまり、異常部分の位置に基づいて、折れの生じた部分の特定が可能である。このため、制御部４６は、磁気ストライプ８の折れていない部分は通常の電流値で磁気ヘッド部４４に書き込みを行なわせ、磁気ストライプ８の折れている部分は通常の電流値よりも高い電流値で磁気ヘッド部４４に書き込みを行なわせてもよい。つまり、磁気ストライプ８が折れている部分を、磁気ストライプ８の折れが検出されていない部分と比較して、書き込む際の磁力を大きくしても良い。このようにすることにより、消費電力の削減が可能となる。

また、磁気ストライプ８の折れている部分および折れていない部分において、制御部４６は、通常の電流値で磁気ヘッド部４４に書き込みを行なわせた後、磁気ヘッド部４４により磁気ストライプ８の波形を読み取り、波形の減衰があった場合にのみ、通常の電流値よりも高い電流値で磁気ヘッド部４４に書き込みを行なわせるとしてもよい。

Ｃ．その他の実施形態
本発明は、上述の実施形態や実施例、変形例に限られるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の構成で実現することができる。例えば、発明の概要の欄に記載した各形態中の技術的特徴に対応する実施形態、実施例、変形例中の技術的特徴は、上述の課題の一部または全部を解決するために、あるいは、上述の効果の一部または全部を達成するために、適宜、差し替えや、組み合わせを行うことが可能である。また、その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除することが可能である。

上述の実施形態において、閾値Ｌ１、閾値Ｌ２、閾値Ｌ３は、予め決められた値である。しかし、本発明はこれに限られない。例えば、閾値は、読み取った波形の最大ピーク値に基づいてきても良い。この場合、閾値Ｌ１は最大ピーク値の３／４の値に設定し、閾値Ｌ２は最大ピーク値の１／２の値に設定し、閾値Ｌ３は最大ピーク値の１／４の値に設定してもよい。

上述の実施形態において、磁気ストライプを備える媒体を通帳としているが、本発明はこれに限られない。つまり、磁気ストライプを備える媒体として、カードや証書を用いても良い。このため、本発明は、例えば、カード処理装置や証書処理装置としても実施できる。

１…通帳
３…搬送ローラ
４…搬送路
５…異物
８…磁気ストライプ
１０…全体制御部
４０…通帳処理装置
４４…磁気ヘッド部
４５…搬送部
４６…制御部
５１…入出口
５２…表示部
５３…入出口
５４…入出口
６１…通帳記帳機
６２…通帳挿入部
７０…カード処理部
８０…貨幣処理部
９０…通信部
１００…自動取引装置
Ｖ１…所定値
Ｌ１…閾値
Ｌ２…閾値
Ｖ２…所定値
Ｌ３…閾値
Ｖ３…設定値
Ｖ４…所定値

Claims (8)

1. 通帳が備える磁気ストライプから磁気信号の波形を読み取る読取部と、
   前記波形のうち、第１の閾値を超えるピークの第１の間隔を決定した後、前記第１の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第１の異常部分があるかどうかを判定する第１の判定部と、
   前記波形のうち、前記第１の閾値とは異なる第２の閾値を超えるピークの第２の間隔を決定した後、前記第２の間隔の中で、前記所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第２の異常部分があるかどうかを判定する第２の判定部と、
   前記第１の異常部分と前記第２の異常部分があると判定され、かつ、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分との差が所定値より小さい場合、異物の挟み込みがある旨の出力をする出力部と、を備える通帳処理装置。
2. 請求項１に記載の通帳処理装置であって、
   さらに、前記波形のうち、前記第１の閾値と前記第２の閾値とは異なる第３の閾値を超えるピークの第３の間隔を決定した後、前記第３の間隔の中で、前記所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第３の異常部分があるかどうかを判定する第３の判定部と、を備え、
   前記出力部は、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分と前記第３の異常部分があると判定され、かつ、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分と前記第３の異常部分の中で、最小の部分と最大の部分との差が所定値より小さい場合、異物の挟み込みがある旨の出力をする、通帳処理装置。
3. 請求項１または請求項２に記載の通帳処理装置であって、
   前記出力部は、前記読取部による前記磁気ストライプの読取速度を変更することにより、前記第１の間隔の決定を複数回行い、得られた複数の第１の間隔に基づいて前記磁気ストライプの折れがある旨の出力をすることができる、通帳処理装置。
4. 請求項３に記載の通帳処理装置であって、
   さらに、前記磁気ストライプへ書き込む書込部を備え、
   前記書込部は、前記出力部により磁気ストライプの折れがある旨の出力がされた場合、前記出力部により磁気ストライプの折れがある旨の出力がされなかった場合と比較して、書き込む際の磁力を大きくすることができる、通帳処理装置。
5. 請求項３に記載の通帳処理装置であって、
   さらに、前記磁気ストライプへ書き込む書込部を備え、
   前記書込部は、前記第１の異常部分に基づいて検出された前記磁気ストライプが折れている部分を、前記磁気ストライプの折れが検出されていない部分と比較して、書き込む際の磁力を大きくすることができる、通帳処理装置。
6. 請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の通帳処理装置を備える自動取引装置。
7. 通帳が備える磁気ストライプから磁気信号の波形を読み取る工程と、
   前記波形のうち、第１の閾値を超えるピークの第１の間隔を決定した後、前記第１の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第１の異常部分があるかどうかを判定する工程と、
   前記波形のうち、前記第１の閾値とは異なる第２の閾値を超えるピークの第２の間隔を決定した後、前記第２の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第２の異常部分があるかどうかを判定する工程と、
   前記第１の異常部分と前記第２の異常部分があると判定され、かつ、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分との差が所定値より小さい場合、異物の挟み込みがある旨の出力をする出力工程と、を備える異物検出方法。
8. 請求項７に記載の異物検出方法であって、
   さらに、前記波形のうち、前記第１の閾値と前記第２の閾値とは異なる第３の閾値を超えるピークの第３の間隔を決定した後、前記第３の間隔の中で、所定のピーク間隔より大きいピーク間隔である第３の異常部分があるかどうかを判定する工程と、を備え、
   前記出力工程は、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分と前記第３の異常部分があると判定され、かつ、前記第１の異常部分と前記第２の異常部分と前記第３の異常部分の中で、最小の部分と最大の部分との差が所定値より小さい場合、異物の挟み込みがある旨の出力をする工程を含む、異物検出方法。

Images