JP2015522800A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015522800A5 JP2015522800A5 JP2015512710A JP2015512710A JP2015522800A5 JP 2015522800 A5 JP2015522800 A5 JP 2015522800A5 JP 2015512710 A JP2015512710 A JP 2015512710A JP 2015512710 A JP2015512710 A JP 2015512710A JP 2015522800 A5 JP2015522800 A5 JP 2015522800A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- count state
- shift
- capture
- counter
- phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 48
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 19
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 4
- 230000003796 beauty Effects 0.000 claims 1
- 230000001960 triggered Effects 0.000 claims 1
Claims (20)
- 集積回路におけるスキャンチェーンを介してスキャンテストのためのテストモード制御信号を生成するように構成される集積回路であって、
テストパターン検出ブロックであって、
検出パターンを受け取り、
前記検出パターンに基づいて、テストパターンのシフトフェーズに対応する第1のパターンと前記テストパターンのキャプチャフェーズに対応する第2のパターンとの検出を実行し、
前記第1及び第2のパターンのうちの少なくとも1つの前記検出に基づいてトリガ信号を生成する、
ように構成される、前記テストパターン検出ブロックと、
前記テストパターン検出ブロックに結合される制御回路であって、当該制御回路が、前記トリガ信号を受け取り、前記シフトフェーズに対応する1つまたは複数のカウント状態と前記キャプチャフェーズに対応する1つまたは複数のカウント状態とに基づいて、前記テストモード制御信号を生成して制御するように構成される、前記制御回路と、
前記制御回路に結合されるカウンタ回路であって、当該カウンタ回路が、前記第1のパターンと前記第2のパターンとの少なくとも1つに基づいて、前記シフトフェーズとクロック信号とに対応する1つまたは複数のカウント状態と、前記キャプチャフェーズと前記クロック信号とに対応する1つまたは複数のカウント状態とを生成するように構成される、前記カウンタ回路と、
を含む、集積回路。 - 請求項1に記載の集積回路であって、
前記制御回路が、
前記カウンタ回路のカウント状態が、シフト開始カウント状態とキャプチャ終了カウント状態のうちの1つである際に、前記テストモード制御信号をアサートすることと、
前記カウント状態が、キャプチャ開始カウント状態とシフト終了カウント状態のうちの1つである際に、前記テストモード制御信号をデアサートすることと、
のうちの少なくとも1つを実行するように更に構成される、集積回路。 - 請求項2に記載の集積回路であって、
前記カウンタ回路が、前記制御回路に結合されるレジスタブロックを含み、前記レジスタブロックが、前記シフト開始カウント状態と前記シフト終了カウント状態と前記キャプチャ開始カウント状態と前記キャプチャ終了カウント状態とのうちの少なくとも1つを記憶するように構成される、集積回路。 - 請求項3に記載の集積回路であって、
前記カウンタ回路が、前記レジスタブロックと結合される1つまたは複数のカウンタを更に含み、
前記1つまたは複数のカウンタが、
前記シフト開始カウント状態から前記シフト終了カウント状態までの前記シフトフェーズに対応する1つまたは複数のカウント状態を生成し、
前記キャプチャ開始カウント状態から前記キャプチャ終了カウント状態までの前記キャプチャフェーズに対応する1つまたは複数のカウント状態を生成する、
ように構成される、集積回路。 - 請求項3に記載の集積回路であって、
前記カウンタ回路が、
前記シフト開始カウント状態から前記シフト終了カウント状態までの1つまたは複数のカウント状態を生成するように構成される第1のカウンタと、
前記キャプチャ開始カウント状態から前記キャプチャ終了カウント状態までの1つまたは複数のカウント状態を生成するように構成される第2のカウンタと、
前記シフトフェーズの開始前に1つまたは複数のウェイトサイクルに対応する1つまたは複数のカウント状態と、前記キャプチャフェーズの開始前に1つまたは複数のウェイトサイクルに対応する1つまたは複数のカウント状態とを生成するよう構成される1つまたは複数のカウンタと、
を更に含む、集積回路。 - 請求項5に記載の集積回路であって、
前記カウンタ回路が、前記テストパターンの前記シフトフェーズに対応する前記シフト開始カウント状態から前記テストパターンの前記キャプチャフェーズに対応するキャプチャ終了カウント状態までの予め決められた数の遷移に対応する1つまたは複数のカウント状態を生成するように構成されるパターンカウンタを更に含む、集積回路。 - 請求項1に記載の集積回路であって、
前記テストパターン検出ブロックと結合され、前記シフトフェーズに対応する前記第1のパターンを検出する際に、第1の予め決められた遅延を生成するよう構成される、フリップフロップの第1のセットと、
スキャンチェーンと結合され、第2の予め決められた遅延のために先行するシフトフェーズに対応するテストパターンを記憶し、前記第2の予め決められた遅延が完了する際に前記シフトフェーズを初期化する、フリップフロップの第2のセットと、
を更に含む、集積回路。 - 請求項3に記載の集積回路であって、
前記レジスタブロックと通信可能に関連付けられまたは結合され、前記テストパターンに基づいて、前記レジスタブロックを制御し、前記シフト開始カウント状態と前記キャプチャ開始カウント状態と前記シフト終了カウント状態と前記キャプチャ終了カウント状態とのうちの少なくとも1つを変化させる、テストインタフェースを更に含む、集積回路。 - 請求項1に記載の集積回路であって、
前記テストモード制御信号が、前記テストパターンの前記シフトフェーズと前記キャプチャフェーズとを制御するためのスキャンイネーブル信号と、前記スキャンチェーンの動作を制御するためのロードイネーブル信号とのうちの1つを含む、集積回路。 - 集積回路におけるスキャンチェーンを介してスキャンテストのためのテストモード制御信号を生成するように構成される集積回路であって、
テストパターン検出ブロックであって、
検出パターンを受け取り、
前記検出パターンに基づいて、前記テストパターンの第1のシフトフェーズに対応するパターンの検出を実行し、
前記パターンの前記検出に基づきトリガ信号を生成する、
ように構成される、前記テストパターン検出ブロックと、
前記テストパターン検出ブロックに結合される制御回路であって、前記トリガ信号を受け取り、前記第1のシフトフェーズに対応する1つまたは複数のカウント状態と、後続のシフトフェーズとキャプチャフェーズとに対応する1つまたは複数のカウント状態とに基づいて、前記テストモード制御信号を生成するように構成される制御回路と、
前記制御回路に結合されたカウンタ回路であって、
前記第1のシフトフェーズの検出の際にトリガされるように構成され、前記テストパターンの前記第1のシフトフェーズと後続のシフトフェーズとのうちの1つに対応するシフト開始カウント状態から、前記テストパターンのキャプチャフェーズに対応するキャプチャ終了カウント状態までの、予め決められた数の遷移に対応する1つまたは複数のカウント状態を生成するように構成される、パターンカウンタと、
前記パターンカウンタに結合され、前記第1のシフトフェーズと前記後続のシフトフェーズと前記キャプチャフェーズとに対応する1つまたは複数のカウント状態を生成するように構成される、1つまたは複数のカウンタと、
を含む、前記カウンタ回路と、
を含む、集積回路。 - 請求項10に記載の集積回路であって、
前記制御回路が、
前記カウンタ回路のカウント状態が、前記シフト開始カウント状態と前記キャプチャ終了カウント状態とのうちの1つである際に、前記テストモード制御信号をアサートすることと、
前記カウント状態が、キャプチャ開始カウント状態とシフト終了カウント状態とのうちの1つである際に、前記テストモード制御信号をデアサートすること、
のうちの少なくとも1つを実行するように更に構成される、集積回路。 - 請求項10に記載の集積回路であって、
前記カウンタ回路が、前記シフト開始カウント状態と前記キャプチャ開始カウント状態と前記シフト終了カウント状態と前記キャプチャ終了カウント状態とのうちの少なくとも1つを記憶するように構成されるレジスタブロックを更に含む、集積回路。 - 請求項12に記載の集積回路であって、
前記カウンタ回路が、前記第1のシフトフェーズと前記後続のシフトフェーズとのうちの1つを開始する前の1つまたは複数のウェイトサイクルと、前記キャプチャフェーズを開始する前の1つまたは複数のウェイトサイクルとに対応する1つまたは複数のカウント状態を生成するように構成される1つまたは複数のカウンタを更に含み、
前記テストモード制御信号の生成が、前記1つまたは複数のカウンタの1つまたは複数のカウンタ状態に更に基づく、集積回路。 - 請求項10に記載の集積回路であって、
前記テストパターン検出ブロックに結合され、前記第1のシフトフェーズに対応する前記パターンを検出する際に、第1の予め決められた遅延を生成するように構成される、フリップフロップの第1のセットと、
前記スキャンチェーンと結合され、第2の予め決められた遅延のために先行するシフトフェーズに対応するテストパターンを記憶し、前記第2の予め決められた遅延が完了する際に前記シフトフェーズを初期化する、フリップフロップの第2のセットと、
を更に含む、集積回路。 - 請求項12に記載の集積回路であって、
前記レジスタブロックと通信可能に関連付けられまたは結合され、前記テストパターンに基づいて、前記レジスタブロックを制御し、前記シフト開始カウント状態と前記キャプチャ開始カウント状態と前記シフト終了カウント状態と前記キャプチャ終了カウント状態とのうちの少なくとも1つを変化させる、テストインタフェースを更に含む、集積回路。 - 請求項10に記載の集積回路であって、
前記テストモード制御信号が、前記テストパターンの前記シフトフェーズと前記キャプチャフェーズとを制御するためのスキャンイネーブル信号と、前記スキャンチェーンの動作を制御するためのロードイネーブル信号とのうちの1つを含む、集積回路。 - 集積回路におけるスキャンチェーンを介するスキャンテストのためのテストモード制御信号を生成する方法であって、
検出パターンに基づいて、テストパターンのシフトフェーズに対応する第1のパターンと、前記テストパターンのキャプチャフェーズに対応する第2のパターンとを検出することと、
前記第1のパターンと前記第2のパターンとを検出する際に、カウンタ回路を介して、前記シフトフェーズに対応する1つまたは複数のカウント状態と、前記キャプチャフェーズに対応する1つまたは複数のカウント状態とを生成することであって、前記シフトフェーズに対応する前記1つまたは複数のカウント状態が、シフト開始カウント状態とシフト終了カウント状態との間にカウント状態を含み、前記シフト開始カウント状態が、前記シフトフェーズに対応するクロック信号のサイクル数に関連付けられ、前記キャプチャフェーズに対応する前記1つまたは複数のカウント状態が、キャプチャ開始カウント状態とキャプチャ終了カウント状態との間にカウント状態を含み、前記キャプチャ開始カウント状態が、前記キャプチャフェーズに対応するクロック信号のサイクル数に関連付けられる、前記生成することと、
前記シフトフェーズに対応する前記1つまたは複数のカウント状態と前記キャプチャフェーズに対応する前記1つまたは複数のカウント状態とに基づいて、前記テストモード制御信号を生成し、その後制御することと、
を含む、方法。 - 請求項17に記載の方法であって、
前記シフトフェーズに対応する前記第1のパターンを検出する際に、前記シフト開始カウント状態として、前記カウンタ回路の第1のカウンタのカウント状態を生成することと、
前記第1のカウンタの前記カウント状態が前記シフト終了カウント状態である場合に、前記テストモード制御信号をアサートすることと、
前記スキャンテストの前記シフトフェーズ中に、前記シフト開始カウント状態から前記シフト終了カウント状態へ、第1のカウンタの1つまたは複数のカウント状態を変化させることと、
前記第1のカウンタの前記カウント状態が前記シフト終了カウント状態に変化された場合に、前記テストモード制御信号をデアサートすることと、
前記第1のカウンタの前記カウント状態が前記シフト終了カウント状態である際に、1つまたは複数のウェイトサイクルに対応する前記カウンタ回路のウェイトカウンタの1つまたは複数のカウント状態を生成することと、
前記1つまたは複数のウェイトサイクルが終了した後に、前記キャプチャ終了カウント状態として、前記カウンタ回路の第2カウンタのカウント状態を生成することと、
前記キャプチャフェーズ中に、前記キャプチャ開始カウント状態から前記キャプチャ終了カウント状態へ、前記第2のカウンタの前記カウント状態を変化させることと、
を反復的に実行することを更に含む、方法。 - 請求項17に記載の方法であって、
前記テストパターンの前記シフトフェーズに対応する前記シフト開始カウント状態から前記テストパターンの前記キャプチャフェーズに対応する前記キャプチャ終了カウント状態までの間の、予め決められた数の遷移に対応する1つまたは複数のカウント状態のために、
第1のシフトフェーズに対応する前記パターンの検出と、パターンカウンタのカウント状態の1つのカウント状態だけの変化とのうちの1つの際に、第1のウェイトサイクルに対応する第1のウェイトカウンタの1つまたは複数の状態を生成することと、
前記第1のウェイトサイクルが終了した後に、前記シフト開始カウント状態として、前記カウンタ回路の第1のカウンタのカウント状態を生成することと、
前記第1のカウンタの前記カウント状態が前記シフト開始カウント状態である場合に、前記テストモード制御信号をアサートすることと、
前記シフト開始カウント状態から前記シフト終了カウント状態へ、前記第1のカウンタの前記カウント状態を変化させることと、
前記第1のカウンタの前記カウント状態が前記シフト終了カウント状態に変化された場合に、前記テストモード制御信号をデアサートすることと、
前記カウンタ状態が前記シフト終了カウント状態である際に、第2のウェイトサイクルに対応する第2のウェイトカウンタの1つまたは複数のカウント状態を生成することと、
前記第2のウェイトサイクルが終了した後に、前記キャプチャ開始カウント状態として、前記カウンタ回路の第2のカウンタのカウント状態を生成することと、
前記スキャンテストの前記キャプチャフェーズ中に、前記キャプチャ開始カウント状態から前記キャプチャ終了カウント状態へ、前記第2のカウンタの前記カウント状態を変化させることと、
前記テストパターンの前記シフトフェーズの前記シフト開始カウント状態から、前記テストパターンの前記キャプチャフェーズの前記キャプチャ終了カウント状態への、予め決められた数の遷移に対応する前記カウンタ回路のパターンカウンタの1つまたは複数の状態を、1つのカウント状態だけ変化させることと、
を反復的に実行することを更に含む、方法。 - 請求項17に記載の方法であって、
前記テストパターンの前記シフトフェーズに対応する前記シフト開始カウント状態から、前記テストパターンの前記キャプチャフェーズに対応する前記キャプチャ終了カウント状態への、予め決められた数の遷移に対応する1つまたは複数のカウント状態のために、
第1のシフトフェーズの検出と、先行するキャプチャフェーズの終了とのうちの1つの際に、前記予め決められた数の遷移に対応する前記カウンタ回路のパターンカウンタの1つまたは複数のカウント状態を、1つのカウント状態だけ変化させることと、
前記1つまたは複数のカウント状態を1つのカウント状態だけ変化させる際に、前記シフト開始カウント状態として、前記カウンタ回路の第1のカウンタのカウント状態を生成することと、
前記第1のカウンタの前記カウント状態が前記シフト開始カウント状態である場合に、前記テストモード制御信号をアサートすることと、
前記スキャンテストの前記シフトフェーズ中に、前記シフト開始カウント状態から前記シフト終了カウント状態へ、前記第1のカウンタの前記カウンタ状態を変化させることと、
前記第1のカウンタの前記カウンタ状態が前記シフト終了カウント状態へ変化される場合に、前記テストモード制御信号をデアサートすることと、
前記スキャンテストの前記キャプチャフェーズ中に、前記キャプチャ開始カウント状態から前記キャプチャ終了カウント状態へ、前記カウンタ回路の第2のカウンタの前記カウント状態を変化させることと、
を反復的に実行することを更に含む、方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/470,863 US8972807B2 (en) | 2012-05-14 | 2012-05-14 | Integrated circuits capable of generating test mode control signals for scan tests |
US13/470,863 | 2012-05-14 | ||
PCT/US2013/040609 WO2013173192A1 (en) | 2012-05-14 | 2013-05-10 | Integrated circuits capable of generating test mode control signals for scan tests |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015522800A JP2015522800A (ja) | 2015-08-06 |
JP2015522800A5 true JP2015522800A5 (ja) | 2016-06-16 |
JP6544772B2 JP6544772B2 (ja) | 2019-07-17 |
Family
ID=49549604
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015512710A Active JP6544772B2 (ja) | 2012-05-14 | 2013-05-10 | スキャンテスト用のテストモード制御信号を生成可能な集積回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8972807B2 (ja) |
JP (1) | JP6544772B2 (ja) |
CN (1) | CN104321655B (ja) |
WO (1) | WO2013173192A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9310436B2 (en) * | 2014-01-28 | 2016-04-12 | Omnivision Technologies, Inc. | System and method for scan-testing of idle functional units in operating systems |
JP6211971B2 (ja) * | 2014-03-26 | 2017-10-11 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 半導体テスト回路及びicチップ |
US9380297B1 (en) * | 2014-12-04 | 2016-06-28 | Spirent Communications, Inc. | Video streaming and video telephony uplink performance analysis system |
US10606723B2 (en) * | 2015-12-18 | 2020-03-31 | Texas Instruments Incorporated | Systems and methods for optimal trim calibrations in integrated circuits |
US10060979B2 (en) | 2016-08-02 | 2018-08-28 | Texas Instruments Incorporated | Generating multiple pseudo static control signals using on-chip JTAG state machine |
CN106541702B (zh) * | 2016-10-27 | 2018-11-23 | 杭州电子科技大学 | 一种印刷质量校正系统及其方法 |
US11405695B2 (en) | 2019-04-08 | 2022-08-02 | Spirent Communications, Inc. | Training an encrypted video stream network scoring system with non-reference video scores |
US11221864B1 (en) * | 2019-06-03 | 2022-01-11 | Synopsys, Inc. | Combinatorial and sequential logic compaction in electronic circuit design emulation |
US10852353B1 (en) * | 2019-07-02 | 2020-12-01 | Texas Instruments Incorporated | Scan test control decoder with storage elements for use within integrated circuit (IC) devices having limited test interface |
KR102278648B1 (ko) * | 2020-02-13 | 2021-07-16 | 포스필 주식회사 | 피시험 디바이스를 테스트하기 위한 방법 및 장치 |
CN112462244B (zh) * | 2020-10-28 | 2022-07-01 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种扫描链测试的时钟控制装置 |
CN114089157B (zh) * | 2021-11-02 | 2024-04-12 | 广州昂宝电子有限公司 | 芯片测试方法及系统 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7444567B2 (en) * | 2002-04-09 | 2008-10-28 | Syntest Technologies, Inc. | Method and apparatus for unifying self-test with scan-test during prototype debug and production test |
US6671839B1 (en) | 2002-06-27 | 2003-12-30 | Logicvision, Inc. | Scan test method for providing real time identification of failing test patterns and test bist controller for use therewith |
JP2004325124A (ja) | 2003-04-22 | 2004-11-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
JP2005037995A (ja) * | 2003-07-15 | 2005-02-10 | Toshiba Corp | 半導体集積回路の検証システム |
JP2005147772A (ja) | 2003-11-13 | 2005-06-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体検査装置 |
US7380189B2 (en) * | 2004-06-15 | 2008-05-27 | Broadcom Corporation | Circuit for PLL-based at-speed scan testing |
US7334172B2 (en) * | 2004-10-20 | 2008-02-19 | Lsi Logic Corporation | Transition fault detection register with extended shift mode |
JP4922055B2 (ja) | 2007-04-27 | 2012-04-25 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | スキャンテスト回路、及びスキャンテスト制御方法 |
JP5167904B2 (ja) * | 2008-03-28 | 2013-03-21 | 富士通株式会社 | スキャン制御方法、スキャン制御回路及び装置 |
JP2011058847A (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Renesas Electronics Corp | 半導体集積回路装置 |
US8205125B2 (en) * | 2009-10-23 | 2012-06-19 | Texas Instruments Incorporated | Enhanced control in scan tests of integrated circuits with partitioned scan chains |
US8332698B2 (en) * | 2010-05-21 | 2012-12-11 | Apple Inc. | Scan latch with phase-free scan enable |
CN101975922A (zh) * | 2010-10-11 | 2011-02-16 | 上海电力学院 | 低功耗扫描测试电路及运行方法 |
US8799713B2 (en) * | 2011-03-01 | 2014-08-05 | Texas Instruments Incorporated | Interruptible non-destructive run-time built-in self-test for field testing |
US8412991B2 (en) * | 2011-09-02 | 2013-04-02 | Teseda Corporation | Scan chain fault diagnosis |
-
2012
- 2012-05-14 US US13/470,863 patent/US8972807B2/en active Active
-
2013
- 2013-05-10 JP JP2015512710A patent/JP6544772B2/ja active Active
- 2013-05-10 CN CN201380022743.2A patent/CN104321655B/zh active Active
- 2013-05-10 WO PCT/US2013/040609 patent/WO2013173192A1/en active Application Filing
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2015522800A5 (ja) | ||
JP2013092517A5 (ja) | ||
JP2013508731A5 (ja) | ||
JP2015051144A5 (ja) | ||
JP2020065704A5 (ja) | ||
JP2011517374A5 (ja) | ||
JP2012200267A5 (ja) | ||
JP2011239952A5 (ja) | ||
JP2013020606A5 (ja) | ||
JP2010011367A5 (ja) | ||
JP2009153130A5 (ja) | ||
JP2019007818A5 (ja) | ||
JP2011058847A5 (ja) | ||
JP2016045329A5 (ja) | ||
JP2020114327A5 (ja) | ||
JP2015226559A5 (ja) | ||
JP2005027895A5 (ja) | ||
JP2014230741A5 (ja) | ||
JP2018028640A5 (ja) | ||
US9689724B2 (en) | Resonant signal sensing circuit having a low power mode | |
JP2013117492A5 (ja) | ||
WO2011119405A3 (en) | Method and circuit for testing and characterizing high speed signals using an on-chip oscilloscope | |
JP2015126382A5 (ja) | ||
JP2015002777A5 (ja) | ||
JP2014064059A5 (ja) |