JP2015510593A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2015510593A5
JP2015510593A5 JP2014557634A JP2014557634A JP2015510593A5 JP 2015510593 A5 JP2015510593 A5 JP 2015510593A5 JP 2014557634 A JP2014557634 A JP 2014557634A JP 2014557634 A JP2014557634 A JP 2014557634A JP 2015510593 A5 JP2015510593 A5 JP 2015510593A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
time period
sensor
signal
circuit path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014557634A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015510593A (ja
JP6138833B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US13/398,127 external-priority patent/US9201122B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2015510593A publication Critical patent/JP2015510593A/ja
Publication of JP2015510593A5 publication Critical patent/JP2015510593A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6138833B2 publication Critical patent/JP6138833B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

第1の回路チャネルのさらなる部分で、フィルタ回路220が、差動信号Dを受け取るように結合され、別のフィルタ回路222によって受け取られるフィルタリングされた信号を生成するように構成される。フィルタ回路222は、参照記号Fによって識別される差動信号となるように示される信号を生成するように構成することができる。信号Fを、上で説明した被測定磁界応答信号部分とすることができる。
上で説明したように、スイッチドキャパシタ回路476は、再分配クロック信号480を受け取るように結合される。再分配クロック信号480aは、スイッチドキャパシタ回路476が、再分配クロック信号480aの周波数によって制御される上で説明したユニティゲイン周波数に加えて、再分配クロック信号480の周波数に関するノッチ周波数を有するノッチ特性を有することをもたらす。サンプルクロック信号480の周波数を、再分配クロック信号480aの周波数に、たとえば、再分配クロック信号480aの周波数の2倍の倍率に関係付けることができる。一般に、ノッチ特性の最低周波数ノッチは、再分配クロック信号480aの周波数で発生し、最高周波数ノッチは、サンプルクロック信号480bの周波数で発生する。

Claims (50)

  1. 磁界に応答して磁界信号を生成するように構成された磁界感知素子と、
    前記磁界信号を受け取り、処理するように結合された主回路経路であって、前記主回路経路は、回路パラメータを含む、主回路経路と、
    第1の時間期間中に第1の再分配クロック周波数を有し、第2の時間期間中に第2の異なる再分配クロック周波数を有する再分配クロック信号を生成するように構成されたクロック周波数ジェネレータと、
    前記主回路経路の両端に結合され、フィードバックループを形成するフィードバック回路経路であって、前記フィードバック回路経路は、
    前記再分配クロック信号を受け取るように結合されたスイッチドキャパシタ回路であって、前記スイッチドキャパシタ回路は、積分器を形成し、前記スイッチドキャパシタ回路は、前記第1の時間期間中に前記第1の再分配クロック周波数に関係する第1のユニティゲイン周波数を有し、前記第2の時間期間中に前記第2の再分配クロック周波数に関係する第2のユニティゲイン周波数を有する選択可能なユニティゲイン周波数を含み、前記フィードバック回路経路は、前記第1のユニティゲイン周波数および前記第2のユニティゲイン周波数に関係する第1のレートおよび第2のレートで前記回路パラメータを較正するように結合された出力信号を生成するように構成される、スイッチドキャパシタ回路
    を含む、フィードバック回路経路と
    を含む磁界センサ。
  2. 前記クロック周波数ジェネレータは、前記第1の時間期間中および前記第2の時間期間中にサンプルクロック周波数を有するサンプルクロック信号を生成するようにさらに構成され、前記スイッチドキャパシタ回路は、前記サンプルクロック信号を受け取るように結合され、前記スイッチドキャパシタ回路は、ノッチ特性をさらに含み、前記ノッチ特性は、前記再分配クロック周波数に関係するノッチ周波数を有する、請求項1に記載の磁界センサ。
  3. 前記第2の再分配クロック周波数は、前記第1の再分配クロック周波数より低い、請求項2に記載の磁界センサ。
  4. 前記クロック周波数ジェネレータは、3つ以上の異なる時のそれぞれおいて、前記スイッチドキャパシタ回路の3つ以上のユニティゲイン周波数のそれぞれをもたらし、前記回路パラメータの較正について3つ以上のレートのそれぞれをもたらすために、3つ以上の再分配クロック周波数を有する前記再分配クロック信号を生成するように構成される、請求項2に記載の磁界センサ。
  5. 前記第1の時間期間は、前記磁界センサのスタートアップに近接する時に始まり、前記第2の時間期間は、前記第1の時間期間の終りに近接する時に始まる、請求項2に記載の磁界センサ。
  6. 前記磁界センサは、ターゲット物体の最も近くに配置され、前記磁界センサは、前記ターゲット物体の移動を感知するように構成され、前記第1の時間期間は、前記ターゲット物体の第1の移動に近接する時間に始まり、前記第2の時間期間は、前記第1の時間期間の終りに近接する時間に始まる、請求項2に記載の磁界センサ。
  7. 前記フィードバック回路経路によって較正される前記回路パラメータは、前記磁界に対する前記主回路経路の感度を含む、請求項2に記載の磁界センサ。
  8. 電圧信号または電流信号を生成するように構成された駆動回路をさらに含み、前記磁界感知素子は、前記電圧信号または前記電流信号を受け取るように結合され、前記フィードバック回路経路は、前記磁界に対する前記主回路経路の前記感度を較正するために前記電圧信号または前記電流信号を制御するように構成される、請求項7に記載の磁界センサ。
  9. 前記フィードバック回路経路によって較正される前記回路パラメータは、前記主回路経路のオフセット電圧を含む、請求項2に記載の磁界センサ。
  10. 電子回路は、制御電圧を生成するように構成されたオフセット回路をさらに含み、前記主回路経路は、前記制御電圧を受け取るように結合された増幅器をさらに含み、前記フィードバック回路経路は、前記主回路経路の前記オフセット電圧を較正するために前記制御電圧を制御するように構成される、請求項9に記載の磁界センサ。
  11. 前記第1のユニティゲイン周波数および前記第2のユニティゲイン周波数は、ループ安定性を提供するように選択される、請求項2に記載の磁界センサ。
  12. 前記磁界感知素子は、少なくとも2つのホール効果素子を含む、請求項2に記載の磁界センサ。
  13. 前記磁界感知素子は、少なくとも2つの磁気抵抗素子を含む、請求項2に記載の磁界センサ。
  14. 前記磁界感知素子は、少なくとも2つの磁界感知素子を含み、前記主回路経路は、
    前記少なくとも2つの磁界感知素子に結合された第1のスイッチング回路であって、前記第1のスイッチング回路は、前記少なくとも2つの磁界感知素子を被測定界感知構成および基準界感知構成に結合するように構成され、前記第1のスイッチング回路は、前記磁界信号を提供するために第1のスイッチングレートで前記被測定界感知構成と前記基準界感知構成との間で交互に往復してスイッチングするように動作可能であり、前記第1のスイッチング回路は、
    前記被測定界感知構成で結合された時の被測定磁界に応答する被測定磁界応答信号部分と、
    前記基準界感知構成で結合された時の基準磁界に応答する基準磁界応答信号部分と
    を含む前記磁界信号を生成するように構成される、第1のスイッチング回路
    をさらに含む、請求項2に記載の磁界センサ。
  15. 前記基準磁界は、前記少なくとも2つの磁界感知素子のうちの選択された1つの位置で反対方向を指す第1の基準磁界および第2の基準磁界を含み、前記磁界センサは、
    前記第1の基準磁界および前記第2の基準磁界を生成するように動作可能な磁界ジェネレータ
    をさらに含む、請求項14に記載の磁界センサ。
  16. 前記磁界ジェネレータは、
    少なくとも2つの基準界導体部分であって、それぞれが、前記少なくとも2つの磁界感知素子のそれぞれの1つに最も近く、前記少なくとも2つの基準界導体部分は、前記基準磁界を生成するために基準電流を搬送するように構成され、前記基準磁界は、反対方向に向けられたそれぞれの磁界方向を有する少なくとも2つの基準磁界部分を含む、少なくとも2つの基準界導体部分
    を含む、請求項15に記載の磁界センサ。
  17. 前記主回路経路は、
    前記基準電流を提供するように結合された第2のスイッチング回路であって、前記第2のスイッチング回路は、前記第1のスイッチングレートに同期して第1の基準電流方向と第2の反対の基準電流方向との間で前記基準電流を交番してスイッチングするように動作可能である、第2のスイッチング回路
    をさらに含む、請求項16に記載の磁界センサ。
  18. 前記磁界信号は、測定時間期間中に、前記被測定磁界応答信号部分を表し、前記第1のスイッチングレートと同期するレートで前記測定時間期間にインターリーブされた基準時間中に、前記基準磁界応答信号部分を表し、
    前記主回路経路は、前記測定時間期間中に前記被測定磁界応答信号部分を表す前記信号を選択し、処理するために時間多重化され、
    前記フィードバック回路経路は、前記基準時間期間中に前記基準磁界応答信号部分を表す前記信号を選択し、処理するために時間多重化される
    請求項16に記載の磁界センサ。
  19. 前記主回路経路は、前記被測定磁界応答信号部分を表す第1のセンサ出力信号を生成するように構成され、前記フィードバック回路経路は、前記基準磁界応答信号部分を表す第2の異なるセンサ出力信号を生成するように構成される、請求項18に記載の磁界センサ。
  20. 前記第1のスイッチング回路は、前記基準界感知構成で結合された時に磁界に対する応答のそれぞれの反対方向を有するように前記少なくとも2つの磁界感知素子を結合するように構成され、前記第1のスイッチング回路は、前記被測定界感知構成で結合された時に磁界に対する応答のそれぞれの同一方向を有するように前記少なくとも2つの磁界感知素子を結合するように構成される、請求項16に記載の磁界センサ。
  21. 前記少なくとも2つの磁界感知素子は、基板によって支持され、前記少なくとも2つの基準界導体部分は、前記基板によって支持され、前記磁界感知素子に近接する導体を含む、請求項16に記載の磁界センサ。
  22. 前記少なくとも2つの基準界導体部分は、前記基板によって支持される複数の金属層にまたがる、請求項21に記載の磁界センサ。
  23. 前記少なくとも2つの磁界感知素子は、基板によって支持され、前記少なくとも2つの基準界導体部分は、前記基板とは別々であるが前記基板に近接する導体を含む、請求項16に記載の磁界センサ。
  24. 前記被測定磁界は、被測定電流導体によって搬送される被測定電流によって生成される、請求項16に記載の磁界センサ。
  25. 磁界センサの較正のレートまたはセルフテストのレートを調整する方法であって、
    磁界感知素子を用いて磁界に応答して磁界信号を生成するステップと、
    回路パラメータを含む主回路経路を用いて、前記磁界信号を受け取り、処理するステップと、
    第1の時間期間中に第1の再分配クロック周波数を有し、第2の時間期間中に第2の異なる再分配クロック周波数を有する再分配クロック信号を生成するステップと、
    前記主回路経路の両端に結合され、フィードバックループを形成するフィードバック回路経路を用いて前記回路パラメータを較正するように結合された出力信号を生成するステップであって、前記フィードバック回路経路は、
    前記再分配クロック信号を受け取るように結合されたスイッチドキャパシタ回路であって、前記スイッチドキャパシタ回路は、積分器を形成し、前記スイッチドキャパシタ回路は、前記第1の時間期間中に前記第1の再分配クロック周波数に関係する第1のユニティゲイン周波数を有し、前記第2の時間期間中に前記第2の再分配クロック周波数に関係する第2のユニティゲイン周波数を有する選択可能なユニティゲイン周波数を含み、前記出力信号は、前記第1のユニティゲイン周波数及び前記第2のユニティゲイン周波数に関係する第1のレート及び第2のレートで前記回路パラメータを構成するように動作可能である、スイッチドキャパシタ回路
    を含む、生成するステップと
    を含む、方法。
  26. 前記第1の時間期間中および前記第2の時間期間中にサンプルクロック周波数を有するサンプルクロック信号を生成するステップであって、前記スイッチドキャパシタ回路は、前記サンプルクロック信号を受け取るように結合され、前記スイッチドキャパシタ回路は、ノッチ特性をさらに含み、前記ノッチ特性は、前記再分配クロック周波数に関係するノッチ周波数を有する、ステップ
    をさらに含む、請求項25に記載の方法。
  27. 前記第2の再分配クロック周波数は、前記第1の再分配クロック周波数より低い、請求項26に記載の方法。
  28. 前記再分配クロック信号を生成する前記ステップは、
    つ以上の異なる時のそれぞれおいて、前記スイッチドキャパシタ回路の3つ以上のユニティゲイン周波数のそれぞれをもたらし、前記回路パラメータの較正について3つ以上のレートのそれぞれをもたらすために、3つ以上の再分配クロック周波数を有する前記再分配クロック信号を生成するステップ
    を含む、請求項26に記載の方法。
  29. 前記第1の時間期間は、前記磁界センサのスタートアップに近接する時に始まり、前記第2の時間期間は、前記第1の時間期間の終りに近接する時に始まる、請求項26に記載の方法。
  30. 前記磁界センサは、ターゲット物体の最も近くに配置され、前記第1の時間期間は、前記ターゲット物体の第1の移動に近接する時間に始まり、前記第2の時間期間は、前記第1の時間期間の終りに近接する時間に始まる、請求項26に記載の方法。
  31. 前記出力信号によって較正される前記回路パラメータは、前記磁界に対する前記主回路経路の感度を含む、請求項26に記載の方法。
  32. 前記フィードバック回路経路によって較正される前記回路パラメータは、前記主回路経路のオフセット電圧を含む、請求項26に記載の方法。
  33. 前記第1のユニティゲイン周波数および前記第2のユニティゲイン周波数は、ループ安定性を提供するように選択される、請求項26に記載の方法。
  34. 前記磁界感知素子は、少なくとも2つのホール効果素子を含む、請求項26に記載の方法。
  35. 前記磁界感知素子は、少なくとも2つの磁気抵抗素子を含む、請求項26に記載の方法。
  36. 前記磁界感知素子は、少なくとも2つの磁界感知素子を含み、前記主回路経路を用いて前記磁界信号を受け取り、処理する前記ステップは、
    第1のスイッチング回路を用いて、前記少なくとも2つの磁界感知素子を被測定界感知構成および基準界感知構成に結合するステップであって、前記第1のスイッチング回路を用いて結合する前記ステップは、
    前記被測定界感知構成で結合された時の被測定磁界に応答する被測定磁界応答信号部分と、
    前記基準界感知構成で結合された時の基準磁界に応答する基準磁界応答信号部分と
    を含む前記磁界信号を提供するために第1のスイッチングレートで前記被測定界感知構成と前記基準界感知構成との間で交互に往復してスイッチングするように動作可能である、ステップ
    をさらに含む、請求項26に記載の方法。
  37. 前記基準磁界は、前記少なくとも2つの磁界感知素子のうちの選択された1つの位置で反対方向を指す第1の基準磁界および第2の基準磁界を含む、請求項36に記載の方法。
  38. 少なくとも2つの基準界導体部分であって、それぞれが、前記少なくとも2つの磁界感知素子のそれぞれの1つに最も近く、前記少なくとも2つの基準界導体部分は、前記基準磁界を生成するために基準電流を搬送するように構成され、前記基準磁界は、反対方向に向けられたそれぞれの磁界方向を有する少なくとも2つの基準磁界部分を含む、少なくとも2つの基準界導体部分
    を含む磁界ジェネレータを用いて前記基準磁界を生成するステップ
    をさらに含む、請求項37に記載の方法。
  39. 第2のスイッチング回路を用いて、前記第1のスイッチングレートに同期して第1の基準電流方向と第2の反対の基準電流方向との間で前記基準電流を交番してスイッチングするステップ
    をさらに含む、請求項38に記載の方法。
  40. 前記磁界信号は、測定時間期間中に、前記被測定磁界応答信号部分を表し、前記第1のスイッチングレートと同期するレートで前記測定時間期間にインターリーブされた基準時間中に、前記基準磁界応答信号部分を表し、
    前記主回路経路は、前記測定時間期間中に前記被測定磁界応答信号部分を表す前記信号を選択し、処理するために時間多重化され、
    前記フィードバック回路経路は、前記基準時間期間中に前記基準磁界応答信号部分を表す前記信号を選択し、処理するために時間多重化される
    請求項38に記載の方法。
  41. 前記主回路経路は、前記被測定磁界応答信号部分を表す第1のセンサ出力信号を生成するように構成され、前記フィードバック回路経路は、前記基準磁界応答信号部分を表す第2の異なるセンサ出力信号を生成するように構成される、請求項40に記載の方法。
  42. 前記第1のスイッチング回路を用いて結合する前記ステップは、
    前記基準界感知構成で結合された時に磁界に対する応答のそれぞれの反対方向を有するように前記少なくとも2つの磁界感知素子を結合するステップと、
    前記被測定界感知構成で結合された時に磁界に対する応答のそれぞれの同一方向を有するように前記少なくとも2つの磁界感知素子を結合するステップと
    を含む、請求項38に記載の方法。
  43. 前記少なくとも2つの磁界感知素子は、基板によって支持され、前記少なくとも2つの基準界導体部分は、前記基板によって支持され、前記磁界感知素子に近接する導体を含む、請求項38に記載の方法。
  44. 前記少なくとも2つの基準界導体部分は、前記基板によって支持される複数の金属層にまたがる、請求項43に記載の方法。
  45. 前記少なくとも2つの磁界感知素子は、基板によって支持され、前記少なくとも2つの基準界導体部分は、前記基板とは別々であるが前記基板に近接する導体を含む、請求項38に記載の方法。
  46. 前記被測定磁界は、被測定電流導体によって搬送される被測定電流によって生成される、請求項38に記載の方法。
  47. 前記第1の時間期間は前記磁界センサのスタートアップに近接する時に始まり、前記第2の時間期間は前記第1の時間期間の終りに近接する時に始まる、請求項1に記載の磁界センサ。
  48. 前記磁界センサは、ターゲット物体の最も近くに配置され、前記磁界センサは、前記ターゲット物体の移動を感知するように構成され、前記第1の時間期間は前記ターゲット物体の第1の移動に近接する時間に始まり、前記第2の時間期間は前記第1の時間期間の終りに近接する時間に始まる、請求項1に記載の磁界センサ。
  49. 前記第1の時間期間は前記磁界センサのスタートアップに近接する時に始まり、前記第2の時間期間は前記第1の時間期間の終りに近接する時に始まる、請求項25に記載の方法。
  50. 前記磁界センサは、ターゲット物体の最も近くに配置され、前記第1の時間期間は前記ターゲット物体の第1の移動に近接する時間に始まり、前記第2の時間期間は前記第1の時間期間の終りに近接する時間に始まる、請求項25に記載の方法。
JP2014557634A 2012-02-16 2013-01-11 調整可能な時定数を有する磁界センサを自己較正またはセルフテストする調整可能なフィードバックを使用する回路および方法 Active JP6138833B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/398,127 US9201122B2 (en) 2012-02-16 2012-02-16 Circuits and methods using adjustable feedback for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor with an adjustable time constant
US13/398,127 2012-02-16
PCT/US2013/021143 WO2013122702A1 (en) 2012-02-16 2013-01-11 Circuits and methods using adjustable feedback for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor with an adjustable time constant

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015510593A JP2015510593A (ja) 2015-04-09
JP2015510593A5 true JP2015510593A5 (ja) 2016-01-28
JP6138833B2 JP6138833B2 (ja) 2017-05-31

Family

ID=47710296

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014557634A Active JP6138833B2 (ja) 2012-02-16 2013-01-11 調整可能な時定数を有する磁界センサを自己較正またはセルフテストする調整可能なフィードバックを使用する回路および方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9201122B2 (ja)
EP (1) EP2798362B1 (ja)
JP (1) JP6138833B2 (ja)
KR (1) KR102028927B1 (ja)
TW (1) TWI468714B (ja)
WO (1) WO2013122702A1 (ja)

Families Citing this family (81)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9823090B2 (en) 2014-10-31 2017-11-21 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a movement of a target object
US8624588B2 (en) 2008-07-31 2014-01-07 Allegro Microsystems, Llc Apparatus and method for providing an output signal indicative of a speed of rotation and a direction of rotation as a ferromagnetic object
DE112010000848B4 (de) 2009-02-17 2018-04-05 Allegro Microsystems, Llc Schaltungen und Verfahren zum Erzeugen eines Selbsttests eines Magnetfeldsensors
US9817083B2 (en) 2012-07-05 2017-11-14 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and associated methods for removing undesirable spectral components
US9383425B2 (en) 2012-12-28 2016-07-05 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for a current sensor having fault detection and self test functionality
US10495699B2 (en) 2013-07-19 2019-12-03 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having an integrated coil or magnet to detect a non-ferromagnetic target
US9810519B2 (en) 2013-07-19 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for magnetic field sensors that act as tooth detectors
US10145908B2 (en) 2013-07-19 2018-12-04 Allegro Microsystems, Llc Method and apparatus for magnetic sensor producing a changing magnetic field
JP6505717B2 (ja) 2013-12-26 2019-04-24 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー センサ診断のための方法および装置
US9547048B2 (en) * 2014-01-14 2017-01-17 Allegro Micosystems, LLC Circuit and method for reducing an offset component of a plurality of vertical hall elements arranged in a circle
US9645220B2 (en) * 2014-04-17 2017-05-09 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor using phase discrimination
US9735773B2 (en) 2014-04-29 2017-08-15 Allegro Microsystems, Llc Systems and methods for sensing current through a low-side field effect transistor
US9720054B2 (en) 2014-10-31 2017-08-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and electronic circuit that pass amplifier current through a magnetoresistance element
US10712403B2 (en) 2014-10-31 2020-07-14 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and electronic circuit that pass amplifier current through a magnetoresistance element
US9719806B2 (en) 2014-10-31 2017-08-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a movement of a ferromagnetic target object
US9823092B2 (en) 2014-10-31 2017-11-21 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor providing a movement detector
US9804222B2 (en) * 2014-11-14 2017-10-31 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with shared path amplifier and analog-to-digital-converter
US10466298B2 (en) 2014-11-14 2019-11-05 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with shared path amplifier and analog-to-digital-converter
US9841485B2 (en) 2014-11-14 2017-12-12 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having calibration circuitry and techniques
US9804249B2 (en) 2014-11-14 2017-10-31 Allegro Microsystems, Llc Dual-path analog to digital converter
US10120041B2 (en) * 2015-03-27 2018-11-06 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor
US11422164B2 (en) * 2015-06-24 2022-08-23 Currently, LLC Contactless wideband magneto-resistive current sensor with low electromagnetic interference
US11402440B2 (en) 2015-07-17 2022-08-02 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for trimming a magnetic field sensor
US9551762B1 (en) 2015-07-29 2017-01-24 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for removing a gain offset in a magnetic field sensor
US10771044B2 (en) * 2015-08-28 2020-09-08 Vidatronic, Inc. On-chip emulation of large resistors for integrating low frequency filters
US10527703B2 (en) 2015-12-16 2020-01-07 Allegro Microsystems, Llc Circuits and techniques for performing self-test diagnostics in a magnetic field sensor
US10495700B2 (en) 2016-01-29 2019-12-03 Allegro Microsystems, Llc Method and system for providing information about a target object in a formatted output signal
CN107340483B (zh) * 2016-04-29 2021-08-20 德昌电机(深圳)有限公司 一种磁传感器、磁传感器集成电路、电机组件及应用设备
US10495485B2 (en) 2016-05-17 2019-12-03 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and output signal formats for a magnetic field sensor
US10132879B2 (en) 2016-05-23 2018-11-20 Allegro Microsystems, Llc Gain equalization for multiple axis magnetic field sensing
US10012518B2 (en) 2016-06-08 2018-07-03 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a proximity of an object
US10260905B2 (en) 2016-06-08 2019-04-16 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for magnetic field sensors to cancel offset variations
US10761120B2 (en) 2017-02-17 2020-09-01 Allegro Microsystems, Llc Current sensor system
US10996289B2 (en) 2017-05-26 2021-05-04 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated position sensor with reflected magnetic field
US10310028B2 (en) 2017-05-26 2019-06-04 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor
US10837943B2 (en) 2017-05-26 2020-11-17 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with error calculation
US10641842B2 (en) 2017-05-26 2020-05-05 Allegro Microsystems, Llc Targets for coil actuated position sensors
US10324141B2 (en) 2017-05-26 2019-06-18 Allegro Microsystems, Llc Packages for coil actuated position sensors
US11428755B2 (en) 2017-05-26 2022-08-30 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated sensor with sensitivity detection
US10481219B2 (en) 2017-09-11 2019-11-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with feedback loop for test signal processing
US10444299B2 (en) 2017-09-11 2019-10-15 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor's front end and associated mixed signal method for removing chopper's related ripple
US10866117B2 (en) 2018-03-01 2020-12-15 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field influence during rotation movement of magnetic target
US10866289B2 (en) * 2018-03-27 2020-12-15 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and associated methods including differential chopping
US10955493B2 (en) 2018-05-02 2021-03-23 Analog Devices Global Unlimited Company Magnetic sensor systems
US10656170B2 (en) 2018-05-17 2020-05-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and output signal formats for a magnetic field sensor
US10746814B2 (en) 2018-06-21 2020-08-18 Allegro Microsystems, Llc Diagnostic methods and apparatus for magnetic field sensors
US11255700B2 (en) 2018-08-06 2022-02-22 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor
US10884031B2 (en) 2018-08-17 2021-01-05 Allegro Microsystems, Llc Current sensor system
US10794936B2 (en) * 2018-09-24 2020-10-06 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor providing constant voltage across magnetoresistance elements
US10823586B2 (en) 2018-12-26 2020-11-03 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having unequally spaced magnetic field sensing elements
WO2020138170A1 (ja) * 2018-12-26 2020-07-02 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁場計測装置
US11061084B2 (en) 2019-03-07 2021-07-13 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor and deflectable substrate
US11047933B2 (en) 2019-04-02 2021-06-29 Allegro Microsystems, Llc Fast response magnetic field sensors and associated methods for removing undesirable spectral components
US10955306B2 (en) 2019-04-22 2021-03-23 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor and deformable substrate
US11280637B2 (en) 2019-11-14 2022-03-22 Allegro Microsystems, Llc High performance magnetic angle sensor
US11237020B2 (en) 2019-11-14 2022-02-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having two rows of magnetic field sensing elements for measuring an angle of rotation of a magnet
US11454679B2 (en) * 2020-01-20 2022-09-27 Asahi Kasei Microdevices Corporation Magnetic field measuring apparatus, magnetic field measuring method and recording medium with magnetic field measuring program recorded thereon
US11194004B2 (en) 2020-02-12 2021-12-07 Allegro Microsystems, Llc Diagnostic circuits and methods for sensor test circuits
TWI710215B (zh) * 2020-02-20 2020-11-11 愛盛科技股份有限公司 磁開關控制電路及其感測資料輸出方法
US11169223B2 (en) 2020-03-23 2021-11-09 Allegro Microsystems, Llc Hall element signal calibrating in angle sensor
US11226382B2 (en) 2020-04-07 2022-01-18 Allegro Microsystems, Llc Current sensor system
US11333718B2 (en) * 2020-04-15 2022-05-17 Allegro Microsystems, Llc Sensors having dynamic phase compensation
DE102020110682A1 (de) * 2020-04-20 2021-10-21 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensorvorrichtung und Verfahren
US11262422B2 (en) 2020-05-08 2022-03-01 Allegro Microsystems, Llc Stray-field-immune coil-activated position sensor
US11163019B1 (en) 2020-08-05 2021-11-02 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors having stray field rejection
US11561257B2 (en) 2020-12-22 2023-01-24 Allegro Microsystems, Llc Signal path monitor
US11802922B2 (en) 2021-01-13 2023-10-31 Allegro Microsystems, Llc Circuit for reducing an offset component of a plurality of vertical hall elements arranged in one or more circles
JP2022111838A (ja) 2021-01-20 2022-08-01 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁場計測装置、磁場計測方法、磁場計測プログラム
US11256288B1 (en) 2021-02-02 2022-02-22 Allegro Microsystems, Llc Clock monitoring using a switched capacitor
TWI754544B (zh) * 2021-02-08 2022-02-01 創磁微測股份有限公司 電磁場產生裝置之電磁場校正及故障判斷方法
US11493361B2 (en) 2021-02-26 2022-11-08 Allegro Microsystems, Llc Stray field immune coil-activated sensor
JP2022151007A (ja) * 2021-03-26 2022-10-07 ローム株式会社 磁気センサ
US11567108B2 (en) 2021-03-31 2023-01-31 Allegro Microsystems, Llc Multi-gain channels for multi-range sensor
US11630130B2 (en) 2021-03-31 2023-04-18 Allegro Microsystems, Llc Channel sensitivity matching
US11578997B1 (en) 2021-08-24 2023-02-14 Allegro Microsystems, Llc Angle sensor using eddy currents
US11656250B2 (en) 2021-09-07 2023-05-23 Allegro Microsystems, Llc Current sensor system
US11630169B1 (en) 2022-01-17 2023-04-18 Allegro Microsystems, Llc Fabricating a coil above and below a magnetoresistance element
US11782105B2 (en) 2022-01-17 2023-10-10 Allegro Microsystems, Llc Fabricating planarized coil layer in contact with magnetoresistance element
US11892476B2 (en) 2022-02-15 2024-02-06 Allegro Microsystems, Llc Current sensor package
CN114487954B (zh) * 2022-04-14 2022-07-01 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院 一种精确测量电磁体场强及分布的多通道收发nmr方法
US11940470B2 (en) 2022-05-31 2024-03-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor system

Family Cites Families (101)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA882460A (en) * 1968-04-13 1971-10-05 S. Johnson Frederick Concrete pump
JPS51117080A (en) * 1975-04-07 1976-10-14 Ricoh Co Ltd Magnetic field measuring method using hall element
US4236832A (en) 1977-06-29 1980-12-02 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Strain insensitive integrated circuit resistor pair
DE3030620A1 (de) 1980-08-13 1982-03-11 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zur aenderung der elektrischen schaltungskonfiguration von integrierten halbleiterschaltkreisen
CH664632A5 (de) 1984-08-16 1988-03-15 Landis & Gyr Ag Schaltungsanordnung zur kompensation von schwankungen des uebertragungsfaktors eines magnetfeldsensors.
SE447608B (sv) 1985-04-03 1986-11-24 Hightech Network Ab Forfarande och anordning for instellning av en digital regulator
US4833406A (en) 1986-04-17 1989-05-23 Household Commercial Financial Services Inc. Temperature compensated Hall-effect sensor apparatus
US4760285A (en) 1987-03-30 1988-07-26 Honeywell Inc. Hall effect device with epitaxal layer resistive means for providing temperature independent sensitivity
FR2614695B1 (fr) 1987-04-28 1989-06-23 Commissariat Energie Atomique Procede de numerisation et de linearisation d'un capteur a caracteristique periodique quasi sinusoidale et dispositif correspondant
US4823075A (en) 1987-10-13 1989-04-18 General Electric Company Current sensor using hall-effect device with feedback
EP0338122B1 (de) 1988-04-21 1993-03-10 Landis & Gyr Business Support AG Integrierte Halbleiterschaltung mit einem Magnetfeldsensor aus Halbleitermaterial
EP0357013A3 (en) 1988-09-02 1991-05-15 Honeywell Inc. Magnetic field measuring circuit
JPH03176682A (ja) 1989-12-06 1991-07-31 Hitachi Ltd 磁場計測装置
JPH03248611A (ja) 1990-02-27 1991-11-06 Mitsubishi Electric Corp 温度補償利得設定制御装置
DE4114835A1 (de) 1991-05-07 1992-11-12 Vdo Schindling Schalteinrichtung, insbesondere zur verwendung in kraftfahrzeugen
US5247278A (en) 1991-11-26 1993-09-21 Honeywell Inc. Magnetic field sensing device
US5343143A (en) 1992-02-11 1994-08-30 Landis & Gyr Metering, Inc. Shielded current sensing device for a watthour meter
US5469058A (en) 1992-12-30 1995-11-21 Dunnam; Curt Feedback enhanced sensor, alternating magnetic field detector
GB2276727B (en) 1993-04-01 1997-04-09 Rolls Royce & Ass Improvements in and relating to magnetometers
JPH06317637A (ja) * 1993-05-06 1994-11-15 Murata Mfg Co Ltd 磁性検出装置
US5424558A (en) 1993-05-17 1995-06-13 High Yield Technology, Inc. Apparatus and a method for dynamically tuning a particle sensor in response to varying process conditions
DE4319146C2 (de) 1993-06-09 1999-02-04 Inst Mikrostrukturtechnologie Magnetfeldsensor, aufgebaut aus einer Ummagnetisierungsleitung und einem oder mehreren magnetoresistiven Widerständen
US5329416A (en) 1993-07-06 1994-07-12 Alliedsignal Inc. Active broadband magnetic flux rate feedback sensing arrangement
US6104231A (en) 1994-07-19 2000-08-15 Honeywell International Inc. Temperature compensation circuit for a hall effect element
JPH08201490A (ja) 1995-01-31 1996-08-09 Mitsumi Electric Co Ltd センサic
DE19539458C2 (de) 1995-10-24 2001-03-15 Bosch Gmbh Robert Sensor mit Testeingang
US5621319A (en) 1995-12-08 1997-04-15 Allegro Microsystems, Inc. Chopped hall sensor with synchronously chopped sample-and-hold circuit
DE19606826A1 (de) 1996-02-23 1997-08-28 Knorr Bremse Electronic Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Überprüfung eines Sensors
US5844140A (en) 1996-08-27 1998-12-01 Seale; Joseph B. Ultrasound beam alignment servo
US6011770A (en) 1997-12-10 2000-01-04 Texas Instrumental Incorporated Method and apparatus for high-order bandpass filter with linearly adjustable bandwidth
DE19834153A1 (de) * 1998-07-29 2000-02-10 Lust Antriebstechnik Gmbh Verfahren zur Auswertung von Signalen magnetoresistiver Sensoren
US6809515B1 (en) 1998-07-31 2004-10-26 Spinix Corporation Passive solid-state magnetic field sensors and applications therefor
JP2000055999A (ja) 1998-08-11 2000-02-25 Tdk Corp 磁気センサ装置および電流センサ装置
US6351506B1 (en) 1999-04-19 2002-02-26 National Semiconductor Corporation Switched capacitor filter circuit having reduced offsets and providing offset compensation when used in a closed feedback loop
US6436748B1 (en) 1999-08-31 2002-08-20 Micron Technology, Inc. Method for fabricating CMOS transistors having matching characteristics and apparatus formed thereby
FR2801445A1 (fr) 1999-11-23 2001-05-25 Koninkl Philips Electronics Nv Dispositif d'amplification a largeur de bande ajustable
US6917321B1 (en) 2000-05-21 2005-07-12 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for use in switched capacitor systems
US6853178B2 (en) 2000-06-19 2005-02-08 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit leadframes patterned for measuring the accurate amplitude of changing currents
DE10032530C2 (de) 2000-07-05 2002-10-24 Infineon Technologies Ag Verstärkerschaltung mit Offsetkompensation
US6750644B1 (en) 2000-09-06 2004-06-15 General Electric Company Magnetic field sensor and method for calibrating the same
US7190784B2 (en) 2000-12-29 2007-03-13 Legerity, Inc. Method and apparatus for adaptive DC level control
JP2002213992A (ja) 2001-01-23 2002-07-31 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 非接触磁気式計測装置
EP1260825A1 (de) 2001-05-25 2002-11-27 Sentron Ag Magnetfeldsensor
GB0126014D0 (en) 2001-10-30 2001-12-19 Sensopad Technologies Ltd Modulated field position sensor
US8107901B2 (en) 2001-08-20 2012-01-31 Motorola Solutions, Inc. Feedback loop with adjustable bandwidth
JP3877998B2 (ja) 2001-11-05 2007-02-07 株式会社山武 角度センサの温度情報検出装置および位置検出装置
CN100443913C (zh) 2002-11-13 2008-12-17 松下电器产业株式会社 磁场传感器和磁场检测装置及磁场检测方法
JP2004177228A (ja) 2002-11-26 2004-06-24 Matsushita Electric Works Ltd 電流計測装置
JP4349812B2 (ja) 2003-02-03 2009-10-21 日本電産サンキョー株式会社 磁気センサ装置
US7259545B2 (en) 2003-02-11 2007-08-21 Allegro Microsystems, Inc. Integrated sensor
US20060219436A1 (en) 2003-08-26 2006-10-05 Taylor William P Current sensor
WO2005114671A1 (en) 2004-05-18 2005-12-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. Digital magnetic current sensor and logic
US7961823B2 (en) 2004-06-02 2011-06-14 Broadcom Corporation System and method for adjusting multiple control loops using common criteria
JP2006024845A (ja) 2004-07-09 2006-01-26 Yamaha Corp プローブカード及び磁気センサの検査方法
EP1637898A1 (en) 2004-09-16 2006-03-22 Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. Continuously calibrated magnetic field sensor
US7705586B2 (en) 2004-09-27 2010-04-27 Nxp B.V. Magnetic sensor for input devices
JP4440072B2 (ja) 2004-10-26 2010-03-24 パナソニック株式会社 ロボットの制御方法
JP2006126012A (ja) 2004-10-28 2006-05-18 Asahi Kasei Microsystems Kk 磁電変換システム及び磁電変換装置並びにその制御回路
EP1679524A1 (en) 2005-01-11 2006-07-12 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne Epfl - Sti - Imm - Lmis3 Hall sensor and method of operating a Hall sensor
JP4901720B2 (ja) 2005-02-08 2012-03-21 ローム株式会社 磁気センサ回路、及び、その磁気センサ回路を有する携帯端末
DE102005047413B8 (de) 2005-02-23 2012-06-06 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensorelement und Verfahren zum Durchführen eines On-Wafer-Funktionstests, sowie Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen und Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen mit On-Wafer-Funktionstest
US7325175B2 (en) * 2005-05-04 2008-01-29 Broadcom Corporation Phase adjust using relative error
US7769110B2 (en) 2005-05-13 2010-08-03 Broadcom Corporation Threshold adjust system and method
JP4856915B2 (ja) * 2005-09-12 2012-01-18 オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド 磁気センサの励磁コイル駆動回路
US20070110199A1 (en) 2005-11-15 2007-05-17 Afshin Momtaz Receive equalizer with adaptive loops
US7292095B2 (en) 2006-01-26 2007-11-06 Texas Instruments Incorporated Notch filter for ripple reduction in chopper stabilized amplifiers
JP4916821B2 (ja) 2006-03-31 2012-04-18 株式会社ダイヘン 電圧検出用プリント基板及びそれを用いた電圧検出器
CN101454683A (zh) 2006-05-30 2009-06-10 皇家飞利浦电子股份有限公司 具有自适应场补偿的传感器设备
JP2008032424A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Rohm Co Ltd センサ回路、半導体装置、電子機器
DE102006037226B4 (de) 2006-08-09 2008-05-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Im Messbetrieb kalibrierbarer magnetischer 3D-Punktsensor
DE102006045141B9 (de) 2006-09-25 2009-02-19 Infineon Technologies Ag Magnetfeld-Sensor-Vorrichtung
GB0620307D0 (en) 2006-10-16 2006-11-22 Ami Semiconductor Belgium Bvba Auto-calibration of magnetic sensor
US7425821B2 (en) 2006-10-19 2008-09-16 Allegro Microsystems, Inc. Chopped Hall effect sensor
US9047521B2 (en) 2006-11-15 2015-06-02 International Business Machines Corporation Diagnosing a magnetic reader
CN200986484Y (zh) 2006-11-28 2007-12-05 李彩珍 磁场传感器
US7729675B2 (en) 2006-12-08 2010-06-01 Silicon Laboratories Inc. Reducing noise during a gain change
US8128549B2 (en) 2007-02-20 2012-03-06 Neuronetics, Inc. Capacitor failure detection
EP2131205B1 (en) 2007-03-23 2018-05-02 Asahi Kasei EMD Corporation Magnetic sensor and its sensitivity measuring method
US8008908B2 (en) * 2007-06-25 2011-08-30 Allegro Microsystems, Inc. Low power magnetic field sensor
US7982454B2 (en) 2007-06-26 2011-07-19 Allegro Microsystems, Inc. Calibration circuits and methods for a proximity detector using a first rotation detector for a determined time period and a second rotation detector after the determined time period
US7605580B2 (en) 2007-06-29 2009-10-20 Infineon Technologies Austria Ag Integrated hybrid current sensor
US7800389B2 (en) 2007-07-13 2010-09-21 Allegro Microsystems, Inc. Integrated circuit having built-in self-test features
US7694200B2 (en) 2007-07-18 2010-04-06 Allegro Microsystems, Inc. Integrated circuit having built-in self-test features
JP4786608B2 (ja) * 2007-07-30 2011-10-05 パナソニック株式会社 磁界検出装置
DE102007041230B3 (de) 2007-08-31 2009-04-09 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Kalibrierbarer mehrdimensionaler magnetischer Punktsensor sowie entsprechendes Verfahren und Computerprogramm dafür
US7973635B2 (en) 2007-09-28 2011-07-05 Access Business Group International Llc Printed circuit board coil
US7923996B2 (en) 2008-02-26 2011-04-12 Allegro Microsystems, Inc. Magnetic field sensor with automatic sensitivity adjustment
US7936144B2 (en) 2008-03-06 2011-05-03 Allegro Microsystems, Inc. Self-calibration algorithms in a small motor driver IC with an integrated position sensor
US7605647B1 (en) 2008-04-29 2009-10-20 Allegro Microsystems, Inc. Chopper-stabilized amplifier and magnetic field sensor
US7764118B2 (en) 2008-09-11 2010-07-27 Analog Devices, Inc. Auto-correction feedback loop for offset and ripple suppression in a chopper-stabilized amplifier
DE112010000848B4 (de) 2009-02-17 2018-04-05 Allegro Microsystems, Llc Schaltungen und Verfahren zum Erzeugen eines Selbsttests eines Magnetfeldsensors
US7990209B2 (en) * 2009-06-19 2011-08-02 Allegro Microsystems, Inc. Switched capacitor notch filter
JP4840481B2 (ja) 2009-07-08 2011-12-21 トヨタ自動車株式会社 二次電池の昇温制御装置およびそれを備える車両、ならびに二次電池の昇温制御方法
JP5620989B2 (ja) 2009-07-22 2014-11-05 アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー 磁界センサの診断動作モードを生成するための回路および方法
US8299783B2 (en) 2009-08-27 2012-10-30 Allegro Microsystems, Inc. Circuits and methods for calibration of a motion detector
JP2011052036A (ja) 2009-08-31 2011-03-17 Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The エポキシ樹脂用硬化剤
US9366547B2 (en) * 2009-12-07 2016-06-14 Ams Ag Sensor arrangement and method for operating a sensor arrangement
US8680848B2 (en) * 2010-06-03 2014-03-25 Allegro Microsystems, Llc Motion sensor, method, and computer-readable storage medium providing a motion sensor that adjusts gains of two circuit channels to bring the gains close to each other
EP2402777B1 (en) * 2010-06-30 2013-01-09 LEM Intellectual Property SA Autonomously calibrated magnetic field sensor
US8680846B2 (en) * 2011-04-27 2014-03-25 Allegro Microsystems, Llc Circuits and methods for self-calibrating or self-testing a magnetic field sensor
US8890518B2 (en) 2011-06-08 2014-11-18 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for self-testing a circular vertical hall (CVH) sensing element and/or for self-testing a magnetic field sensor that uses a circular vertical hall (CVH) sensing element

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2015510593A5 (ja)
JP6138833B2 (ja) 調整可能な時定数を有する磁界センサを自己較正またはセルフテストする調整可能なフィードバックを使用する回路および方法
US7605580B2 (en) Integrated hybrid current sensor
CN103424128B (zh) 传感器中的偏移误差补偿系统和方法
KR101830796B1 (ko) 정전용량형 근접 센서 및 정전용량형 근접 검출 방법
JP2013500469A5 (ja)
EP3325989B1 (en) Methods and apparatus for trimming a magnetic field sensor
US20170153126A1 (en) System and method for detecting position of device and position detection module
WO2015175087A1 (en) Bipolar chopping for i/f noise and offset reduction in magnetic field sensors
JP6617156B2 (ja) 磁界検知装置
WO2007042959A3 (en) Magnetic sensor device with different internal operating frequencies
JP2009069035A (ja) 非接触センサ
JP2018531383A5 (ja)
JP2013219569A5 (ja)
US9778327B2 (en) Methods and apparatus for magnetic sensor with integrated calibration mechanism
JP6070460B2 (ja) 電流検知回路及びそれを備えた磁気検出装置
JP2011169696A (ja) 磁気センサユニット
JP2009281774A (ja) 電流センサ
JP6457192B2 (ja) ホール起電力信号処理装置、電流センサ及びホール起電力信号処理方法
WO2017069956A2 (en) Scalable average current sensor system
JP5773813B2 (ja) 電流検出器およびそれを含む半導体装置
JP2019138735A (ja) 電流検出装置、電流検出システム、及び電流検出装置の校正方法
CN108072852A (zh) 差动变压器式导磁率传感器
JP2007046985A (ja) 電流センサ
CN103997341B (zh) 一种应用于地磁测量的高精度adc及其模拟前端电路