JP2015222275A - 生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合 - Google Patents
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Abstract
Description
本願は、米国仮特許出願第61/383,137号(2019年9月15日出願)および欧州特許出願第10009595.9号(2010年9月15日出願)の利益を主張する。これらの出願は、その全体が参照により本明細書に引用される。
本願明細書は、例えば、以下の項目も提供する。
(項目1)
試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶するためのシステムであって、
複数の質量選択窓を使用して、ある質量範囲にわたる単一の試料分析において、1回以上、複数の生成イオンスキャンを行うタンデム質量分析計であって、前記タンデム質量分析計は、各質量選択窓に対する全検出可能化合物の全試料生成イオンスペクトルを生成する、タンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信しているプロセッサであって、前記プロセッサは、各質量選択窓に対する前記全試料生成イオンスペクトルを前記タンデム質量分析計から受信し、各質量選択窓に対する前記全試料生成イオンスペクトルを前記試料の全検出可能化合物の電子記録として記憶する、プロセッサと
を備え、
前記電子記録は、前記電子記録が記憶される時に、既知の化合物を特徴づけるために使用され、前記電子記録が記憶された後、既知となった化合物を特徴づけるためにも使用される、システム。
(項目2)
前記複数の質量選択窓の各質量選択窓は、15amuより大きい幅を有している、項目1に記載のシステム。
(項目3)
前記プロセッサは、既知の化合物に対応する所定の生成イオンスペクトルを受信することと、1つ以上の質量選択窓に対する前記全試料生成イオンスペクトルを前記電子記録から受信することと、前記所定の生成イオンスペクトルの所定の生成イオンを1つ以上の質量選択窓に対する前記全試料生成イオンスペクトルの試料生成イオンと比較することとをさらに行い、前記比較からの1つ以上の合致する試料生成イオンは、前記試料における検出可能な前記既知の化合物を特徴づける、項目1に記載のシステム。
(項目4)
前記既知の化合物は、ペプチド、タンパク質、完全プロテオーム、内因性代謝産物、脂質、炭水化物、またはそれらの組み合わせのうちの1つ以上を備えている、項目3に記載のシステム。
(項目5)
前記既知の化合物は、薬学的、環境的、法医学的、または産業的重要性がある1つ以上の化合物を備えている、項目3に記載のシステム。
(項目6)
前記所定の生成イオンスペクトルは、前記既知の化合物の確証的基準、前記化合物を含む試料の分析、または、既存のスペクトルライブラリから決定され、または、前記所定の生成イオンスペクトルは、実験的または推測的な断片化または修飾規則を前記既知の化合物に適用することによって、コンピュータ的に作成される、項目3に記載のシステム。
(項目7)
前記プロセッサは、前記所定の生成イオンと前記試料生成イオンとがいかに良く合致するかを表すスコアを計算することによって、前記所定の生成イオンスペクトルの所定の生成イオンを1つ以上の質量選択窓に対する前記全試料生成イオンスペクトルの試料生成イオンと比較する、項目3に記載のシステム。
(項目8)
前記単一の試料分析の試料化合物を経時的に分離する分離デバイスをさらに備え、前記タンデム質量分析計は、前記試料化合物が分離されるにつれて、前記単一の試料分析に関する複数の生成イオンスキャンを実施する、項目7に記載のシステム。
(項目9)
前記スコアは、前記所定の生成イオンのトレースにおけるピークが前記試料生成イオンのトレースにおけるピークにいかに良く合致するかに基づいてさらに計算される、項目8に記載のシステム。
(項目10)
前記プロセッサは、前記比較からの1つ以上の合致する試料生成イオンをさらに使用し、前記試料の化合物に対する定量的値を計算する、項目9に記載のシステム。
(項目11)
前記プロセッサは、前記比較からの1つ以上の合致する試料生成イオンをさらに使用し、前記既知の化合物の1つ以上の化合物の修飾形態を同定する、項目3に記載のシステム。
(項目12)
前記プロセッサは、前記合致する試料イオンを前記所定のイオンおよび前記修飾から予測される質量と比較することにより、前記修飾の種類および場所を特徴づける、項目11に記載のシステム。
(項目13)
前記プロセッサは、前記同定された修飾形態における前記修飾の種類および場所を特徴づけるために、前記同定された修飾形態のスペクトルを前記電子記録からさらに抽出する、項目11に記載のシステム。
(項目14)
試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶する方法であって、
タンデム質量分析計を使用して、ある質量範囲にわたる単一の試料分析において、1回以上、複数の生成イオンスキャンを行うことであって、前記単一の試料分析は、複数の質量選択窓を使用して、各質量選択窓に対する全検出可能化合物の全試料生成イオンスペクトルを生成する、ことと、
プロセッサを使用して、各質量選択窓に対する前記全試料生成イオンスペクトルを前記タンデム質量分析計から受信することと、
前記プロセッサを使用して、各質量選択窓に対する前記全試料生成イオンスペクトルを前記試料の全検出可能化合物の電子記録として記憶することと
を含み、
前記電子記録は、前記電子記録が記憶される時に、既知の化合物を特徴づけるために使用され、前記電子記録が記憶された後、既知となった化合物を特徴づけるためにも使用される、方法。
(項目15)
そのコンテンツがプログラムを含む有形コンピュータ可読記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記プログラムは、試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶する方法を実施するようにプロセッサ上で実行される命令を有し、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを備え、前記個別のソフトウェアモジュールは、測定モジュールおよび記憶モジュールを備えている、ことと、
前記測定モジュールを使用して、タンデム質量分析計から各質量選択窓に対する全検出可能化合物の全試料生成イオンスペクトルを受信することであって、前記タンデム質量分析計は、複数の質量選択窓を使用して、ある質量範囲にわたる単一の試料分析において、1回以上、複数の生成イオンスキャンを実施する、ことと、
前記記憶モジュールを使用して、各質量選択窓に対する前記全試料生成イオンスペクトルを前記試料の全検出可能化合物の電子記録として記憶することと
を含み、
前記電子記録は、前記電子記録が記憶される時に、既知の化合物を特徴づけるために使用され、前記電子記録が記憶された後、既知となった化合物を特徴づけるためにも使用される、コンピュータプログラム製品。
図1は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム100を例証するブロック図である。コンピュータシステム100は、情報を通信するためのバス102または他の通信機構と、情報を処理するためにバス102と結合されたプロセッサ104とを含む。コンピュータシステム100は、プロセッサ104によって実行される命令を記憶するために、バス102に結合されるランダムアクセスメモリ(RAM)または他の動的記憶デバイスであり得るメモリ106も含む。メモリ106は、プロセッサ104によって実行される命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するためにも使用され得る。コンピュータシステム100は、プロセッサ104のための静的情報および命令を記憶するために、バス102に結合された読取専用メモリ(ROM)108または他の静的記憶デバイスをさらに含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス110は、情報および命令を記憶するために提供され、バス102に結合される。
前述のように、従来の質量分析方法では、同一分析において分析することができる、化合物の数、および感度と、定量化挙動を劣化させる干渉を検出する可能性間にトレードオフが存在する。
SRMと対照的に、種々の実施形態は、試料注入に先立って、任意の予備方法設計を要求しない。LC−MS取得は、記録された質量および保持時間範囲(以下参照)にわたって、試料の完全な検体内容を対象とすることができるので、データは、任意の着目化合物に対して、事後的にマイニングすることができる。保持時間および質量範囲は、特定の着目範囲に対して、情報を作成するように設定され得る。
種々の実施形態では、取得方法は、クロマトグラフィによって検出可能な全化合物および使用される質量範囲を対象とする。すなわち、これらは、可能な限り多くの化合物を検出するように、広範かつ一般的であることができるか、または特定の着目化合物または化合物の種類に焦点を当てるように調節することができる。前駆体イオンの幅広の窓、例えば、>10、>15、>20amuは、窓に存在する全前駆体の断片スペクトルを作成するように選択および断片化される。窓は、前駆体空間の残りを対象とするように、段階的に移動され、例えば、窓幅25amuの場合、第1の窓は、100−125、第2の窓は、125−150、第3の窓は、150−175を対象とし得る。
1)質量分析器の分離窓の段階化に基づくデータ独立取得
1回の実行あたり、少数の個別的な前駆体/遷移をモニタリングする代わりに、MS情報は、試料の内容に関わらず、全質量範囲に関して、かつクロマトグラフィ全体を通して、データ独立様式で取得される。種々の実施形態では、これは、所定のまたは標的前駆体に焦点を当てる代わりに、完全な質量範囲(図2参照)を通して段階的に、質量分析器の前駆体イオン選択窓を段階化することによって達成することができる。これらの測定のサイクル時間(または、滞留時間)は、したがって、SRMにおけるように、モニタリングされる遷移の数によってではなく、完全な質量範囲(図2)を対象とするために必要なステップの数によって決定される。そのような段階的データ独立断片化測定は、1回の単一実行において、試料中に含まれる検体/前駆体に関する完全な情報の取得を可能にする。実際、本データ取得方法は、試料中に存在する全検体に対する完全な断片イオンマップを作成し、断片イオンスペクトルを断片イオンスペクトルが取得された前駆体イオン選択窓に戻し関連付けすることができる。
2a)質量分析器によって達成可能な最狭小選択窓においてさえ、汚染のない着目前駆体のみが断片化のために選択されることを確実にすることは、ほぼ不可能である。したがって、種々の実施形態では、反対アプローチが使用される。すなわち、質量分析器の前駆体分離窓を拡大し、したがって、分析中に、共溶出し、記憶される断片化パターンに寄与する複数の前駆体を含む。複数の前駆体の断片化から生じる複合生成イオンスペクトルの解釈は、データ分析のセクションで後述される。
3)古典的SRM実験におけるような所与の前駆体に対しする少数の生成イオンのモニタリングに代わる全生成イオンスペクトルの取得。一連の全生成イオン(MS2)スペクトルが、前駆体の溶出にわたって取得され、少数のイオン断片ではなく、全MS2スペクトルの完全な断片化パターンをライブラリからの参照スペクトルと照合することによって、前駆体同定において、より優れた信頼性を達成可能にする。
データ分析は、断片イオン溶出情報の使用および参照スペクトルライブラリのデータマイニングを備えている。プロテオタイピックペプチド(あるタンパク質において一意的に見出される、したがって、定質的および定量的に明確にそのタンパク質を特徴づける、MS観察可能ペプチド)の参照スペクトルライブラリは、有機体全体に対して、合成ペプチドのプール(Picottietal、Nat Method 2010)を使用して、および/またはそれらの有機体に関して行われた以前の広範なMSシークエンシングプロテオーム分析から作成され得る。同様に、他の検体の参照スペクトルライブラリが、合成検体参照から、および/または以前の検体MS分析から作成され得る。重要なことは、参照断片イオンライブラリが作成されると、永久に使用することができることである。
着目前駆体が、試料注入に先立って選択される必要がある、SRMアプローチと対照的に、「完全な内容網羅」取得アプローチは、LC−MS/MSデータセットにおいて、事後的に、種々の実施形態では、スペクトルライブラリ内に存在する任意の検体を検索および定量化可能にする。データ分析は、その前駆体の予期される選択窓(m/z)内で取得された一連の全生成イオンスペクトル(図2−3参照)からの着目前駆体の断片質量トレース(参照スペクトルライブラリおよび/またはコンピュータによる予測から決定される)の抽出を備えている。
少数のイオン断片ではなく、全MS2スペクトルの完全な断片化パターンをライブラリからの参照スペクトルと照合することによって、前駆体同定におけるより高い信頼性を達成するために、一連の全生成イオン(MS2)スペクトルが、最良スコア化断片イオンピーク群候補の溶出の周囲において抽出されることができる。
別のデータ処理実施形態は、再構成されたMS2マップ(図2)からの断片イオン信号の全部または実質的に全部の新規特徴抽出を備えている。共溶出断片イオン信号は、次いで、参照スペクトルライブラリ照合によって(または、最終的に、検体の事前に算出された理論的断片イオンのデータベースに対して)、群化および検索され、その起始前駆体を決定することができる。種々の実施形態では、方法は、前駆体同定と、その溶出にわたるその前駆体の生成イオン信号の除去によって、分析の感度を増加させ、より低い存在度のイオン断片を対象から除くこととの反復によって進められる。
7)再構成されたMS2マップ(図2)からの断片イオン信号の新規「特徴抽出」。例えば、前述の(2)に記載される、それらの断片イオン信号の群化およびスコア化。その起始前駆体を決定するための参照スペクトルライブラリ照合による(または、最終的に、検体の事前に算出された断片イオンのデータベースに対して)、それらの検索。その共溶出断片イオン強度に基づく、同定された検体の定量化。
分析を精緻化および/または補完するための能力。
種々の実施形態では、単一前駆体質量窓から取得された断片データはすべて、一緒に処理することができる。データが、1つ以上の前駆体イオン(化合物)からの断片を含み得る場合でも、着目化合物を定量化し、またはそのような化合物の修飾形態を検索するように処理することができる。
種々の実施形態では、データはさらに、試料中に存在する化合物に関する定質的情報を抽出するようにマイニングすることができる。修飾形態は、例えば、同一前駆体窓または異なる窓において、予想外の保持時間において同一集合の断片イオンの位置を特定することによって検出することができる。窓は、修飾によって生じる、予期される質量差に基づいて、決定することができる。種々の実施形態では、修飾形態は、修飾の特性であるイオンの位置を特定することによって検出することができる。
図4は、種々の実施形態による、試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶するためのシステム400を示す、概略図である。システム400は、タンデム質量分析計410およびプロセッサ420を含む。プロセッサ420は、コンピュータ、マイクロプロセッサ、または、制御信号を送信し、質量分析計410からのデータを受信し、データを処理可能な任意のデバイスであり得るが、それらに限定されない。
図5は、種々の実施形態による、試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶する方法500を示す、例示的流れ図である。
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、有形コンピュータ可読記憶媒体を含み、そのコンテンツは、試料の全検出可能化合物の全生成イオンスペクトルの電子記録を記憶する方法を実施するように、プロセッサ上で実行される命令を伴う、プログラムを含む。本方法は、1つ以上の個別のソフトウェアモジュールを含む、システムによって実施される。
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