JP2015169527A - プローブピン、および、これを用いた電子デバイス - Google Patents

プローブピン、および、これを用いた電子デバイス Download PDF

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Abstract

【課題】小型のプローブピンを提供する。
【解決手段】コイルバネ30と、第1,第2プランジャ10,20を備えるプローブピン1において、コイルバネ30の両端から内部に向かって各々挿入されたときに、摺接面17,27が相互に摺接しながら、軸心に沿って往復可能に配置されると共に、第1プランジャ10の本体部11と第2プランジャ20の本体部21との間でコイルバネ30を保持できるように、第1,第2プランジャ10,20が形成されている。また、第1,第2プランジャ10,20が相互に近接し、第1プランジャ10の摺接面17と第2プランジャ20の摺接面27とが接触している接触箇所が、軸心に対して傾斜するように、第1,第2プランジャ10,2が形成されている。
【選択図】図3

Description

本発明は、プローブピン、例えばIC用テストソケットに組み込まれるプローブピンに関する。
従来、プローブピンとしては、例えば、特許文献1の図6に記載されたものがある。このプローブピンは、同一形状の上側コンタクトピンおよび下側コンタクトピンと、コイルバネとを備えている。そして、上側コンタクトピンおよび下側コンタクトピンは、互いに直交するようにコイルバネの内部で結合されており、上側コンタクトピンの一対のフックが下側コンタクトピンの溝に、下側コンタクトピンの一対のフックが上側コンタクトピンの溝に収容されている。
特表2008−516398号公報
しかしながら、前述のプローブピンでは、動作位置のプローブピンを元の位置にコイルバネのバネ力だけで復帰させているので、コイルバネを小さくすると、十分なバネ力が得られない。このため、プローブピンを元の位置に復帰させることができず、動作不良を起こすおそれがあるので、プローブピン全体を小型化できないという問題があった。
本発明は、前述の問題に鑑み、信頼性が高い小型のプローブピンを提供することを課題とする。
本発明に係るプローブピンは、コイルバネと、本体部および前記本体部から延在する摺動片を備え、前記摺動片に摺接面をそれぞれ有している第1,第2プランジャと、を有するプローブピンであって、前記第1,第2プランジャは、前記コイルバネの両端から内部に向かって各々挿入されたときに、前記摺接面が相互に摺接しながら、前記コイルバネの軸心に沿って往復移動可能に配置されると共に、前記第1プランジャの前記本体部と前記第2プランジャの前記本体部との間で前記コイルバネを保持できるように形成され、前記第1,第2プランジャが相互に近接し、前記第1プランジャの前記摺接面と前記第2プランジャの前記摺接面とが接触したときの接触箇所が、前記軸心に対して傾斜しており、外力で前記コイルバネを圧縮させて、前記第1,第2プランジャに前記軸心の方向の押圧力を負荷したときに、前記第1,第2プランジャのバネ力によって前記摺接面間に発生する前記押圧力の前記軸心の方向の分力と、前記コイルバネのバネ力との合力が、前記第1,第2プランジャを、前記コイルバネを圧縮させる前の元の位置に復帰させる方向に働くことを特徴としている。
本発明によれば、第1プランジャおよび第2プランジャが相互に摺接する摺接面を有する摺動片を各々備えており、外力で前記コイルバネを圧縮させて、前記第1,第2プランジャに前記軸心の方向の押圧力を負荷したときに、摺動片の摺接面の接触箇所が、前記軸心に対して傾斜するよう形成されている。このため、第1,第2プランジャに前記軸心の方向の押圧力を負荷したとき、第1プランジャおよび第2プランジャの摺動片が共に弾性変形し、弾性変形した摺動片のバネ力によって発生する押圧力の前記軸心の方向の分力が、コイルバネを圧縮させる前の元の位置に復帰させる方向に働く。この結果、摺動片のバネ力の軸心方向の分力の分だけバネ力の小さいコイルバネを用いることができるので、コイルバネを小型化でき、プローブピン全体を小型化できる。
以下、外力により第1,第2プランジャにコイルバネの軸心の方向の押圧力を負荷してコイルバネを圧縮させる前の第1,第2プランジャの位置を「元の位置」といい、外力により第1,第2プランジャにコイルバネの軸心の方向の押圧力を負荷してコイルバネを圧縮させた後の第1,第2プランジャの位置を「動作位置」という。
また、本発明の実施形態によれば、前記第1,第2プランジャの前記摺動片が、相互に異なる方向から前記軸心に交差するように、前記本体部から前記摺動片の自由端部に向かって湾曲している構成としてもよい。
本実施形態によれば、第1,第2プランジャの摺動片が、相互に異なる方向からコイルバネの軸心に交差するように、前記本体部から前記摺動片の自由端部に向かって湾曲しているので、第1,第2プランジャに前記軸心の方向の押圧力を負荷したとき、第1プランジャおよび第2プランジャの摺動片が共に弾性変形し、弾性変形した摺動片のバネ力によって発生する押圧力の前記軸心の方向の分力が、第1,第2プランジャを元の位置に復帰させる方向に働く。この結果、摺動片のバネ力の前記軸心の方向の分力の分だけバネ力の小さいコイルバネを用いることができるので、コイルバネを小型化でき、プローブピン全体を小型化できる。
また、本発明の実施形態によれば、前記第1プランジャの前記摺動片の自由端部が、断面Y字形である一方、前記第2プランジャの前記摺動片が、前記第1プランジャの自由端部の内側面に摺動可能な断面形状である構成としてもよい。
本実施形態によれば、第1プランジャの断面Y字形の摺動片の自由端部の内側面に、第2プランジャの摺動片が摺動するので、第1,第2プランジャに前記軸心の方向の押圧力を負荷したとき、第1プランジャの摺動片が第2プランジャに押圧されることにより弾性変形し、弾性変形した摺動片のバネ力によって発生する押圧力の前記軸心の方向の分力が、第1,第2プランジャを元の位置に復帰させる方向に働く。この結果、摺動片のバネ力の前記軸心の方向の分力の分だけバネ力の小さいコイルバネを用いることができるので、コイルバネを小型化でき、プローブピン全体を小型化できる。
本発明の実施形態によれば、前記第1プランジャの本体部に突設した第1支持突出部と、前記第1支持突出部から一定距離離れた位置で前記第1プランジャに突設した第1脱落防止用凸部とを有する一方、前記第2プランジャの本体部に突設した第2支持突出部と、前記第2支持突出部から一定距離離れた位置で前記第2プランジャに突設した第2脱落防止用凸部とを有し、前記コイルバネの一端が、前記第1支持突出部と前記第1脱落防止用凸部との間に保持される一方、前記コイルバネの他端が、前記第1支持突出部と前記第1脱落防止用凸部との間に保持される構成としてもよい。
本実施形態によれば、第1,第2支持突出部と第1,第2脱落防止用凸部との間にコイルバネの両端部を保持しているので、コイルバネのガタツキを防止できると共に、コイルバネの脱落を防止する。
また、本発明の電子デバイスは、前記プローブピンを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、小型のプローブピンを提供できる。
本発明の第1実施形態のプローブピンの元の位置を示す斜視図である。 図1のプローブピンの正面図である。 図3(A)は、図1のプローブピンの側面図であり、図3(B)は、図3(A)に示すIII−III線から見た断面図である。 図4(A)は、図1のプローブピンをハウジングに収納した状態を示す上面図であり、図4(B)は、図4(A)に示すIV−IV線から見た断面図である。 本発明の第1実施形態のプローブピンの動作位置を示す斜視図である。 図5のプローブピンの正面図である。 図7(A)は、図5のプローブピンの側面図であり、図7(B)は、図7(A)に示すVII−VII線から見た断面図である。 本発明の第2実施形態のプローブピンの元の位置を示す斜視図である。 図8のプローブピンの正面図である。 図10(A)は、図8のプローブピンの側面図であり、図10(B)は、図10(A)に示すX−X線から見た断面図である。 図11(A)は、図1のプローブピンをハウジングに収納した状態を示す上面図であり、図11(B)は、図11(A)に示すXI−XI線から見た断面図である。 本発明の第2実施形態のプローブピンの動作位置を示す斜視図である。 図12のプローブピンの正面図である。 図14(A)は、図12のプローブピンの側面図であり、図14(B)は、図14(A)に示すXIV−XIV線から見た断面図である。
以下、本発明のプローブピンを、図示の実施形態に基づいて詳細に説明する。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態のプローブピン1は、図1ないし図3に示すように、第1プランジャ10と第2プランジャ20とコイルバネ30とを備えている。第1プランジャ10および第2プランジャ20は、各々導電性を有しており、例えば電鋳法で形成されている。なお、図1,図2では、説明の便宜上、コイルバネ30を図示していない。
第1プランジャ10は、図1,図2に示すように、本体部11と弾性摺動片12とを備え、同一幅を有している。
本体部11は、平面略矩形状を有し、その長手方向の一端11aに平面三角形状の先端部14が設けられている。また、本体部11の長手方向の他端11bには、この他端11bからコイルバネ30の軸心Cに沿って延在する弾性摺動片12が設けられていると共に、短手方向に支持突出部15,15が突設されている。
弾性摺動片12は、厚肉部12aと薄肉部12bとからなり、厚肉部12a側の端部が本体部11に連結されている。また、前記厚肉部12aの両側面には脱落防止用凸部16,16が突設されている。そして、本体部11の支持突出部15,15と脱落防止用凸部16,16との間には、一定の間隔が設けられている。また、厚肉部12aを厚さ方向に2分割した一方に、薄肉部12bが連結されている。弾性摺動片12の薄肉部12bは、図2に示すコイルバネ30の軸心Cと交差するように、底面12d側から上面12e側に向かって湾曲しており、先端に自由端部12cが形成されている。自由端部12cは、薄肉部12bの上面12e側から底面12d側に向かって湾曲している。
第2プランジャ20は、図1,図2に示すように、第1プランジャ10と同一の構成および形状を有している。すなわち、本体部21と、弾性摺動片22とを備え、同一幅を有している。本体部21の長手方向の一端21aには、先端部24が設けられると共に、本体部21の長手方向の他端21bには、この他端21bから長手方向に延在する弾性摺動片22が設けられ、短手方向に支持突出部25,25が突設されている。
弾性摺動片22は、厚肉部22aと薄肉部22bとからなり、厚肉部22a側の端部が本体部21に連結されている。また、厚肉部22aの両側面には脱落防止用凸部26,26が突設されている。そして、本体部21の支持突出部25,25と脱落防止用凸部26,26との間には、一定の間隔が設けられている。また、厚肉部22aを厚さ方向に2分割した一方に、薄肉部22bが連結されている。弾性摺動片22の薄肉部22bは、コイルバネ30の軸心Cと交差するように、底面22d側から上面22e側に向かって湾曲しており、先端に自由端部22cが形成されている。自由端部22cは、薄肉部22bの上面12e側から底面22d側に向かって湾曲している。
また、第1プランジャ10および第2プランジャ20には、弾性摺動片12,22の薄肉部12b、22bの上面12e、22e側に、互いに摺接しながら導通を確保するための摺接面17,27が設けられている。摺接面17,27は、第1プランジャ10と第2プランジャ20とが摺動したときに互いに接触する面であり、第1実施形態のプローブピン1では、薄肉部12b,22bの自由端部12c,22cから厚肉部12a,22aまで含まれる。
なお、設計に応じて、めっき,コーティング等の表面処理を、摺接面17,27に対して、若しくは第1プランジャ10および第2プランジャ20の全部または一部に対して、行うことができる。
コイルバネ30は、例えば炭素鋼あるいはステンレス鋼からなり、図3に示すように、第1,第2プランジャ10,20の厚肉部12a,22aの幅W1よりも若干大きい内径を有している。また、前記コイルバネ30は、第1,第2プランジャ10,20の本体部11,21と支持突出部15,25とを合わせた幅W2よりも若干小さい外径を有している。
なお、コイルバネ30は、第1プランジャ10および第2プランジャ20と共にハウジング40(図4に示す)に収納された状態において、圧縮方向の力が加えられるように(すなわち、コイルバネ30のバネ力が、第1プランジャ10および第2プランジャ20を互いに引き離す方向に働くように)バネ長が予め調整されている。
第1プランジャ10および第2プランジャ20は、次のように摺動可能に組み合わされる。
まず、第1プランジャ10および第2プランジャ20をコイルバネ30の両端から内部に向かって各々挿入し、弾性摺動片12,22の自由端部12c,22cを互いに突き合わせるように、第1プランジャ10および第2プランジャ20を軸心C上に配置する。
第1プランジャ10および第2プランジャ20がコイルバネ30内に両側から挿入されたとき、コイルバネ30の第1端部30aは、第1プランジャ10の支持突出部15,15と脱落防止用凸部16,16とで係合,保持され、コイルバネ30の第2端部30bは、第2プランジャ20の支持突出部25,25と脱落防止用凸部26,26とで係合,保持される。
このとき、第1プランジャ10の弾性摺動片12の自由端部12cと、第2プランジャ20の弾性摺動片22の自由端部22cとは、まだ接触していない。
次に、図4に示すように、第1プランジャ10と第2プランジャ20とを相互に近接させ、第1プランジャ10の弾性摺動片12の自由端部12cと第2プランジャ20の弾性摺動片22の自由端部22cとが接触し、圧接するまで、第1プランジャ10および第2プランジャ20をコイルバネ30内部にさらに押し込む。そして、コイルバネ30内に押し込んだ状態の第1プランジャ10および第2プランジャ20をハウジング40に収納する。
このとき、第1プランジャ10の支持突出部15と第2プランジャ20の支持突出部25とは、第1プランジャ10および第2プランジャ20をコイルバネ30内に押し込んだ状態で、ハウジング40の内壁に接触するように各々の形状が定められている。すなわち、第1,第2プランジャ10,20は、支持突出部15,25によって、ハウジング40内におけるコイルバネ30の伸縮方向と直交する方向への変位が規制されている。これにより、第1,第2プランジャ10,20をコイルバネ30の軸心C方向に効率よく変位させることができる。
また、第1プランジャ10の弾性摺動片12と第2プランジャ20の弾性摺動片22とが、コイルバネ30の軸心Cに対して、異なる方向から交差するように湾曲しているため、第1プランジャ10の摺接面17と、第2プランジャ20の摺接面27とは、自由端部12c、22cにおいて、軸心Cに対して傾斜した状態で接触している。
また、ハウジング40に収納した状態の第1プランジャ10および第2プランジャ20は、第1プランジャ10の弾性摺動片12の自由端部12cと第2プランジャ20の弾性摺動片22の自由端部22cとが常に圧接し、導通している。このため、第1プランジャ10および第2プランジャ20は、圧接箇所である自由端部12c、22cを介して導通すると共に、安定した電気的接触を得ることができる。
また、コイルバネ30の伸長方向への移動は、支持突出部15,25により制限され、コイルバネ30の圧縮方向への移動は、脱落防止用凸部16,26により制限される。これにより、コイルバネ30のガタツキを防止すると共に、コイルバネ30の脱落を防止して、プローブピン1の分解を防止できる。
さらに、支持突出部15,25を設けることにより、コイルバネ30のバネ力を第1,第2プランジャ60,70に効率よく伝達できる。
なお、第1プランジャ10および第2プランジャ20の支持突出部15,25は、コイルバネ30の伸長方向への移動を制限でき、かつ第1プランジャ10および第2プランジャ20のハウジング40内におけるコイルバネ30の伸縮方向と直交する方向への移動を規制できる形状および大きさであればよく、形状、外形寸法は適宜選択可能である。また、脱落防止用凸部16,26は、コイルバネ30の圧縮方向への移動を制限できる形状および大きさであればよく、適宜選択可能である。
また、第1プランジャ10および第2プランジャ20の支持突出部15,25と脱落防止用凸部16,26との間の間隔は、コイルバネ30の端部を保持できる大きさであればよい。
次に、第1実施形態のプローブピン1の動作について、図5ないし図7を用いて説明する。なお、説明の便宜上、図5,図6では、コイルバネ30およびハウジング40を図示しておらず、図7では、ハウジング40を図示していない。
前記プローブピン1を動作させるとき、まず、元の位置にあるプローブピン1の第1プランジャ10および第2プランジャ20を先端部14,24側から押圧して、コイルバネ30の内部に押し込む。なお、第1,第2プランジャ10,20は、コイルバネ30の軸心Cに沿って往復移動すると共に、摺接面17,27を介して導通する。
第1プランジャ10および第2プランジャ20がコイルバネ30の内部に押し込まれると、弾性摺動片12,22の薄肉部12b,22bが、自由端部12c,22cの湾曲形状により、次第に外側(図6において、第1プランジャ10は下側、第2プランジャ20は上側)に弾性変形する。
そして、第1プランジャ10および第2プランジャ20をさらに押し込んでいくと、図5,図6に示すように、第1プランジャ10の弾性摺動片12の自由端部12cが押し広げられた空間に第2プランジャ20の弾性摺動片22の薄肉部22bが、第2プランジャ20の弾性摺動片22の自由端部22cが押し広げられた空間に第1プランジャ10の弾性摺動片12の薄肉部12bが、それぞれ摺動状態で圧入される。すなわち、第1プランジャ10の摺接面17と第2プランジャ20の摺接面27とが互いに摺接しながら導通する状態が確保される。
このとき、薄肉部12b,22bは、互いに平行に位置していると共に、対向する上面12e,22eが互いに圧接している。つまり、第1プランジャ10は、第2プランジャ20の弾性摺動片22のバネ力により常に押圧され、また、第2プランジャ20は、第1プランジャ10の弾性摺動片12のバネ力により常に押圧されている。
このため、動作位置のプローブピン1では、第1プランジャ10および第2プランジャ20が、弾性摺動片12,22のバネ力により、薄肉部12b,22bの摺接面17,27を介して互いに押圧し合うので、第1プランジャ10および第2プランジャ20が常に圧接し、導通している。このため、第1プランジャ10および第2プランジャ20は、圧接箇所である薄肉部12b,22bの摺接面17,27を介して導通すると共に、安定した電気的接触を得ることができる。
ところで、第1,第2プランジャ10,20の弾性摺動片12,22のバネ力の合力F1,F2は、図7に示すように、それぞれ、弾性摺動片12,22の自由端部12c,22c方向かつ第1プランジャ10および第2プランジャ20の軸心C方向(第1プランジャ10のバネ力の合力F1は、右斜め上方向、第2プランジャ20のバネ力の合力F2は、左斜め下方向)に働いている。つまり、第1,第2プランジャ10,20の摺接面17,27には、コイルバネ30の軸心Cに対して斜方向の力である第1,第2プランジャ10,20の弾性摺動片12,22のバネ力の合力F1,F2が加えられる。その結果、第1,第2プランジャ10,20のバネ力によって摺接面17,27間に発生する押圧力の軸心Cの方向の分力(すなわち、第1,第2プランジャ10,20の弾性摺動片12,22のバネ力の合力F1,F2の軸心C方向の分力と、弾性摺動片12,22のバネ力の合力F1,F2に対する反力f1,f2の軸心C方向の分力と)が、第1,第2プランジャ10,20に対して、元の位置に復帰させる方向に働く。
従って、プローブピン1を動作位置から元の位置に復帰させるとき、第1,第2プランジャ10,20には、コイルバネ30のバネ力に基づく荷重だけでなく、弾性摺動片12,22のバネ力の合力F1,F2と、その反力f1,f2に基づく荷重も加わる。このため、第1,第2プランジャ10,20を元の位置に復帰させるのに必要なバネ力よりも小さいバネ力のコイルバネ30を用いることができ、プローブピン1を小型化できる。
なお、第1プランジャ10および第2プランジャ20の弾性摺動片12,22の自由端部12c,22cは、互いに押圧されながら外側に押し広げられ、摺動状態で往復移動するので、摺接面17,27の表面上に生成された不純物等が擦り取られ、ワイピング効果が得られる。
また、第1プランジャ10および第2プランジャ20は、第1プランジャ10(第2プランジャ20)の弾性摺動片12の自由端部12cが、第2プランジャ20(第1プランジャ10)の弾性摺動片22の厚肉部22aに接触するまで、そして、第2プランジャ20の弾性摺動片22の自由端部22cが、第1プランジャ10の弾性摺動片12の厚肉部12aに接触するまで、スライド移動が可能である。
第1実施形態のプローブピン1では、第1プランジャ10の本体部11および弾性摺動片12の厚さと、第2プランジャ20の本体部21および弾性摺動片22の厚さを同一としたが、これに限らない。第1プランジャ10の本体部11および弾性摺動片12の厚さと、第2プランジャ20の本体部21および弾性摺動片22の厚さとが、異なるようにしてもよい。
(第2実施形態)
本発明の第2実施形態のプローブピン51は、図8ないし図10に示すように、第1プランジャ60と第2プランジャ70とコイルバネ30とを備えている。第1プランジャ60および第2プランジャ70は、各々導電性を有しており、例えば電鋳法で形成されている。なお、第1実施形態と同一部分については、同一参照番号を付して説明を省略し、第1実施形態と異なる点について説明する。
第1プランジャ60は、図8,図9に示すように、本体部11と、断面Y字形の弾性摺動片62とを備えている。また、第1プランジャ60は、同一幅を有し、図9に示すコイルバネ30の軸心Cに対して線対称に形成されている。なお、図8,図9では、説明の便宜上、コイルバネ30を図示していない。
弾性摺動片62は、基部63と弾性摺動部64とからなり、断面Y字形状を有し、基部63側の端部が本体部11の長手方向の他端11bに連結されていると共に、コイル30の軸心Cに沿って延在している。基部63の両側面には、脱落防止用凸部16,16が突設されている。そして、本体部11の支持突出部15,15と脱落防止用凸部16,16との間には、一定の間隔が設けられている。また、弾性摺動部64は、基部63に連なる板状部64aと、板状部64aから長手方向に延在している一対の弾性片64b,64bとからなっている。一対の弾性片64b,64bは、先端に自由端部65,65を有している。自由端部65,65は、軸心Cから離れる方向に各々湾曲している。
第2プランジャ70は、図8,図9に示すように、本体部21と、摺動片72とを備えている。また、第2プランジャ70は、同一幅を有し、軸心Cに対して線対称に形成されている。
摺動片72は、基部73と摺動片本体74とからなり、基部73側の端部が本体部21の長手方向の他端21bに連結されていると共に、コイルバネ30の軸心Cに沿って延在している。基部73の両側面には、脱落防止用凸部26,26が突設されている。そして、本体部21の支持突出部25,25と脱落防止用凸部26,26との間には、一定の間隔が設けられている。また、摺動片本体74は、基部73に連なると共に一定厚さを有している板状部74aと、この板状部74aから長手方向に延在しているテーパー部74bとからなっている。テーパー部74bは、先端に湾曲形状の自由端部75を有し、この自由端部75に向かって次第に先細になるよう形成されている。
なお、第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75の厚さは、自然状態の第1プランジャ60の弾性摺動片62の弾性摺動部64の弾性片64b,64bの自由端部65,65間の隙間と略同じ寸法を有するよう形成されている。
また、第2実施形態の第1プランジャ60および第2プランジャ70にも、第1実施形態と同様に、互いに摺接しながら導通を確保するための摺接面67,77が設けられている。第1プランジャ60の摺接面67は、弾性摺動片62の弾性摺動部64の一対の弾性片64b,64bの内側の対向する側面に設けられており、第2プランジャ70の摺接面77は、摺動片72のテーパー部74bの傾斜している側面に設けられている。摺接面67,77は、第1プランジャ60と第2プランジャ70とが摺動したときに互いに接触する面である。第2実施形態のプローブピン51では、第1プランジャ60と第2プランジャ70とが2カ所で接触している。そのため、第1,第2プランジャ60,70には、それぞれ2つの摺接面67,77が設けられている。
なお、設計に応じて、めっき,コーティング等の表面処理を、摺接面67,77に対して、若しくは第1プランジャ60および第2プランジャ70の全部または一部に対して、行うことができる。
第1プランジャ10および第2プランジャ20は、次のように摺動可能に組み合わされる。
まず、第1プランジャ60および第2プランジャ70をコイルバネ30の両端から内部に各々挿入し、第1プランジャ60の弾性摺動片62の自由端部65,65と第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75とを互いに突き合わせるように、第1プランジャ60および第2プランジャ70を配置する。
第1プランジャ60および第2プランジャ70がコイルバネ30内に挿入されたとき、コイルバネ30の第1端部30aは、第1プランジャ60の支持突出部15,15と脱落防止用凸部16,16とで係合,保持され、コイルバネ30の第2端部30bは、第2プランジャ70の支持突出部25,25と脱落防止用凸部26,26とで係合,保持される。
次に、図11に示すように、第1プランジャ60の弾性摺動片62の自由端部65,65と第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75とが接触する(すなわち、図8ないし図10に示す状態になる)まで、第1プランジャ60および第2プランジャ70をコイルバネ30内部にさらに押し込む。そして、コイルバネ30内に押し込んだ状態の第1プランジャ60および第2プランジャ70をハウジング40に収納する。
このとき、第1プランジャ60の支持突出部15と第2プランジャ70の支持突出部25とは、第1プランジャ60および第2プランジャ70をコイルバネ30内に押し込んだ状態で、ハウジング40の内壁に接触するように各々の形状が定められている。すなわち、第1,第2プランジャ60,70は、支持突出部15,25によって、ハウジング40内におけるコイルバネ30の伸縮方向と直交する方向への変位が規制されている。これにより、第1,第2プランジャ60,70をコイルバネ30の軸心C方向に効率よく変位させることができる。
また、第1プランジャ60の弾性摺動片62の弾性摺動部64の弾性片64b,64bが、第2プランジャ70の摺動片72の摺動片本体74のテーパー部74bを挟持した状態になる。つまり、第1プランジャ60の摺接面67と第2プランジャ70の摺接面77とは、常に圧接し、導通していると共に、コイルバネ30の軸心Cに対して各々傾斜している。このため、第1プランジャ60および第2プランジャ70は、圧接箇所である弾性摺動片62の自由端部65,65の内側面および摺動片72の自由端部75を介して導通すると共に、安定した電気的接触を得ることができる。
また、コイルバネ30の伸長方向への移動は、支持突出部15,25により制限され、コイルバネ30の圧縮方向への移動は、脱落防止用凸部16,26により制限される。これにより、コイルバネ30のガタツキを防止すると共に、コイルバネ30の脱落を防止して、プローブピン51の分解を防止できる。
さらに、支持突出部15,25を設けることにより、コイルバネ30のバネ力を第1,第2プランジャ60,70に効率よく伝達できる。
次に、第2実施形態のプローブピン51の動作について、図12ないし図14を用いて説明する。なお、説明の便宜上、図12,図13では、コイルバネ30およびハウジング40を図示しておらず、図14では、ハウジング40を図示していない。
前記プローブピン51を動作させるとき、まず、元の位置のプローブピン51の第1プランジャ60および第2プランジャ70を先端部14,24側から押圧して、コイルバネ30の内部に押し込む。なお、第1,第2プランジャ60,70は、コイルバネ30の軸心Cに沿って往復移動すると共に、摺接面67,77を介して摺接しながら導通する。
第1プランジャ60および第2プランジャ70をコイルバネ30の内部に押し込んでいくと、第1プランジャ60の弾性摺動片62の弾性摺動部64の弾性片64b,64bの間に、第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75が、弾性片64b,64bの内側面に摺動した状態で圧入される。そのため、第1プランジャ60の弾性摺動部64の弾性片64b,64b間の隙間が、第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75により次第に押し広げられ、第1プランジャ60の弾性摺動部64の弾性片64b,64bが外側(図12における上下方向)に弾性変形する。
このとき、第2プランジャ70の摺動片72が、第1プランジャ60の弾性摺動片62の弾性摺動部64の弾性片64b,64bのバネ力により、弾性片64b,64bの内側面を介して常に押圧されるので、第1プランジャ60および第2プランジャ70は、摺接面67,77を介して常に圧接し、導通している。このため、第1プランジャ60および第2プランジャ70は、圧接箇所である弾性片64b,64bの内側面を介して導通すると共に、安定した電気的接触を得ることができる。
ところで、第1プランジャ60の弾性摺動片62の弾性片64b,64bのバネ力の合力F3,F4は、図14に示すように、それぞれ、弾性摺動片62の自由端部65方向かつ軸心C方向(図14における上側の弾性片64bのバネ力の合力F3は、右斜め下方向、下側の弾性片64bのバネ力の合力F4は、右斜め上方向)に働いている。つまり、第1プランジャ60および第2プランジャ70の摺接面67,77には、コイルバネ30の軸心Cに対して斜方向の力である弾性摺動片62の弾性片64b,64bのバネ力の合力F3,F4が加えられる。その結果、第1,第2プランジャ60,70のバネ力によって摺接面67,77間に発生する押圧力の軸心C方向の分力(すなわち、第1プランジャ60の弾性片64b,64bのバネ力のうちの軸心C方向の分力と、弾性片64b,64bのバネ力の合力F3,F4に対する反力のうちの軸心C方向の分力)が、第1,第2プランジャ60,70に対して、元の位置に復帰させる方向に働く。
従って、プローブピン51を動作位置から元の位置に復帰させるとき、第1,第2プランジャ60,70には、コイルバネ30のバネ力による荷重だけでなく、第1プランジャ60の弾性片64b,64bのバネ力のうちの軸心方向の分力と、その反力f3,f4のうちの軸心方向の分力とが作用する。このため、第1,第2プランジャ60,70を元の位置に復帰させるために必要なバネ力よりも小さいコイルバネ30を用いることができ、プローブピン51を小型化できる。
なお、第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75は、第1プランジャ60の弾性摺動部64の弾性片64b,64bのバネ力により押圧されながら、摺動状態で往復移動するので、第1プランジャ60の摺接面67と、第2プランジャ70の摺接面77との表面上に生成された不純物等を擦り取ることができ、ワイピング効果が得られる。
また、第1プランジャ60および第2プランジャ70のスライド移動可能範囲は、第1プランジャ60の弾性摺動部64の弾性片64b,64bの長さと、第2プランジャ70の摺動片72の長さとを調節することで、適宜変更可能である。なお、第2プランジャ70の摺動片72の摺動片本体74のテーパー部74bのテーパー角を調節することで、第1プランジャ60および第2プランジャ70のスライド移動可能範囲を変更することもできる。
第2実施形態のプローブピン51では、第1プランジャ60の弾性摺動片62の自由端部65,65と、第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75とを湾曲させているが、これに限られない。例えば、これらの自由端部を三角形状、あるいは、四角形状等の多角形状にしてもよい。
第2実施形態のプローブピン51では、第1プランジャ60の本体部11および弾性摺動片62の厚さと、第2プランジャ70の本体部21および摺動片72の厚さを同一としたが、これに限らない。第1プランジャ60の本体部11および弾性摺動片62の厚さと、第2プランジャ70の本体部21および摺動片72の厚さとが、異なるようにしてもよい。
また、第2実施形態のプローブピン51では、自然状態の第1プランジャ60の自由端部65,65間の隙間を、第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75の厚さと同じ寸法で形成しているが、これに限らない。例えば、第1プランジャ60の自由端部65,65間の隙間が、第2プランジャ70の摺動片72の自由端部75の厚さよりも小さくすることにより、第1プランジャ60の弾性片64b,64bによる第2プランジャ70の摺動片72に対する圧接を高めることができる。
第1,第2実施形態のプローブピン1,51では、第1プランジャ10,60および第2プランジャ20,70を電鋳法で形成したが、これに限られない。第1,第2実施形態の第1プランジャ10,60および第2プランジャ20,70を形成できる方法であれば、任意に選択できる。
第1,第2実施形態のプローブピン1,51では、コイルバネ30を設けているが、これに限られない。第1実施形態では、第1プランジャ10の弾性摺動片12のバネ力および第2プランジャ20の弾性摺動片22のバネ力のみで、プローブピン1を動作位置から元の位置に復帰させてもよい。また、第2実施形態では、第1プランジャ60の弾性摺動片62の弾性摺動部64の弾性片64b,64bのバネ力のみで、プローブピン51を動作位置から元の位置に復帰させることができる。なお、この場合、コイルバネ30の代わりにハウジング等で第1プランジャ10,60および第2プランジャ20,70を覆って、プローブピン1,51が分解しないようにする必要がある。
また、第1,第2実施形態のプローブピン1,51では、コイルバネ30は、第1プランジャ10,60および第2プランジャ20,70と共にハウジング40内に収納された状態において、圧縮方向の力が加えられるようにバネ長が予め調整されているが、この限りではない。例えば、ハウジング40に収納する前の第1プランジャ10,60および第2プランジャ20,70が接触するようにして、ハウジング40内に収納された状態では力が加えられないようにコイルバネ30のバネ長を調整してもよい。
前記第1,第2実施形態のプローブピン1,51の各々の構成要素は、可能ならば、お互いに入れ換え、あるいは追加してもよいことは勿論である。
第1,第2実施形態のプローブピン1,51は、IC用テストソケットなどの電子デバイスに適用できる。
本発明に係るプローブピンは、第1,第2実施形態に限らず、コイルバネの軸心に対して傾斜する摺接面を有し、プローブピンを小型化できるものであれば、特に限定するものではない。
1,51:プローブピン
10,60:第1プランジャ
20,70:第2プランジャ
30:コイルバネ
40:ハウジング
11,21:本体部
12,22,62:弾性摺動片
12a,22a:厚肉部
12b,22b:薄肉部
12c,22c:自由端部
12d,22d:底面
12e,22e:上面
14,24:先端部
15,25:支持突出部
16,26:脱落防止用凸部
17,27,67,77:摺接面
63,73:基部
64:弾性摺動部
64a:板状部
64b:弾性片
65,75:自由端部
72:摺動片
74:摺動片本体
74a:板状部
74b:テーパー部

Claims (5)

  1. コイルバネと、
    本体部および前記本体部から延在する摺動片を備え、前記摺動片に摺接面をそれぞれ有している第1,第2プランジャと、
    を有するプローブピンであって、
    前記第1,第2プランジャは、前記コイルバネの両端から内部に向かって各々挿入されたときに、前記摺接面が相互に摺接しながら、前記コイルバネの軸心に沿って往復移動可能に配置されると共に、前記第1プランジャの前記本体部と前記第2プランジャの前記本体部との間で前記コイルバネを保持できるように形成され、
    前記第1,第2プランジャが相互に近接し、前記第1プランジャの前記摺接面と前記第2プランジャの前記摺接面とが接触したときの接触箇所が、前記軸心に対して傾斜しており、
    外力で前記コイルバネを圧縮させて、前記第1,第2プランジャに前記軸心の方向の押圧力を負荷したときに、前記第1,第2プランジャのバネ力によって前記摺接面間に発生する前記押圧力の前記軸心の方向の分力と、前記コイルバネのバネ力との合力が、前記第1,第2プランジャを、前記コイルバネを圧縮させる前の元の位置に復帰させる方向に働くことを特徴とする、プローブピン。
  2. 前記第1,第2プランジャの前記摺動片が、相互に異なる方向から前記軸心に交差するように、前記本体部から前記摺動片の自由端部に向かって湾曲していることを特徴とする、請求項1に記載のプローブピン。
  3. 前記第1プランジャの前記摺動片の自由端部が、断面Y字形である一方、
    前記第2プランジャの前記摺動片が、前記第1プランジャの自由端部の内側面に摺接可能な断面形状であることを特徴とする、請求項1に記載のプローブピン。
  4. 前記第1プランジャの前記本体部に突設した第1支持突出部と、前記第1支持突出部から一定距離離れた位置で前記第1プランジャに突設した第1脱落防止用凸部とを有する一方、前記第2プランジャの前記本体部に突設した第2支持突出部と、前記第2支持突出部から一定距離離れた位置で前記第2プランジャに突設した第2脱落防止用凸部とを有し、
    前記コイルバネの一端が、前記第1支持突出部と前記第1脱落防止用凸部との間に保持される一方、前記コイルバネの他端が、前記第1支持突出部と前記第1脱落防止用凸部との間に保持されることを特徴とする、請求項1から3のいずれか1項に記載のプローブピン。
  5. 請求項1から4のいずれか1項に記載プローブピンを用いた電子デバイス。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017141561A1 (ja) * 2016-02-15 2017-08-24 オムロン株式会社 プローブピンおよびそれを用いた検査装置
KR101890327B1 (ko) * 2018-04-19 2018-08-21 주식회사 오킨스전자 접촉 특성이 개선되는 구조를 가지는 반도체 테스트 소켓용 핀

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6337633B2 (ja) * 2014-06-16 2018-06-06 オムロン株式会社 プローブピン
KR102166677B1 (ko) * 2019-08-09 2020-10-16 주식회사 오킨스전자 멤스 포고 핀 및 이를 이용한 검사 방법
KR102338368B1 (ko) * 2019-12-27 2021-12-13 (주)마이크로컨텍솔루션 포고 핀
KR102235344B1 (ko) * 2020-12-31 2021-04-05 황동원 고속 시그널의 반도체 소자 테스트용 콘택트 핀과, 이를 포함하는 스프링 콘택트 및 소켓장치
US20220239046A1 (en) * 2021-01-27 2022-07-28 Michael Williams Prong Separator Tool for Truck Trailer Light Receptacle Pins
CN116243033A (zh) * 2021-12-07 2023-06-09 中兴通讯股份有限公司 一种电接触探针装置
CN114441918B (zh) * 2022-01-07 2023-03-24 强一半导体(苏州)有限公司 一种防探针脱落的薄膜探针头及薄膜探针卡

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080064236A1 (en) * 2006-09-13 2008-03-13 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Electrical contact
JP2010539672A (ja) * 2007-09-18 2010-12-16 デラウェア キャピタル フォーメーション インコーポレイテッド スプリング接点アセンブリ
WO2011013731A1 (ja) * 2009-07-30 2011-02-03 株式会社ヨコオ コンタクトプローブ及びソケット
JP4683993B2 (ja) * 2005-04-27 2011-05-18 株式会社秩父富士 Icソケット用接触装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6464511B1 (en) * 1999-11-17 2002-10-15 Advantest Corporation IC socket and IC tester
KR100584225B1 (ko) * 2004-10-06 2006-05-29 황동원 전자장치용 콘택트
EP1889080A2 (en) * 2005-06-10 2008-02-20 Delaware Capital Formation, Inc. Electrical contact probe with compliant internal interconnect
JP2009122085A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Ucom:Kk 低背型コンタクトプローブ端子
KR101073400B1 (ko) * 2008-10-13 2011-10-13 리노공업주식회사 검사용 탐침 장치
JP5361518B2 (ja) * 2009-04-27 2013-12-04 株式会社ヨコオ コンタクトプローブ及びソケット
JP5624740B2 (ja) * 2009-07-30 2014-11-12 株式会社ヨコオ コンタクトプローブ及びソケット
KR101106501B1 (ko) * 2009-10-12 2012-01-20 (주)아이윈 활주형 포고 핀 및 무삽입력 커넥터
KR101058146B1 (ko) * 2009-11-11 2011-08-24 하이콘 주식회사 스프링 콘택트 및 스프링 콘택트 내장 소켓
JP4998838B2 (ja) * 2010-04-09 2012-08-15 山一電機株式会社 プローブピン及びそれを備えるicソケット
KR101154519B1 (ko) * 2010-05-27 2012-06-13 하이콘 주식회사 스프링 콘택트 구조
JP5618729B2 (ja) * 2010-09-24 2014-11-05 シチズンセイミツ株式会社 コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置
KR101727032B1 (ko) * 2012-02-13 2017-04-26 리노공업주식회사 반도체디바이스 테스트용 프로브
US8547128B1 (en) * 2012-05-06 2013-10-01 Jerzy Roman Sochor Contact probe with conductively coupled plungers
WO2014018088A1 (en) * 2012-07-25 2014-01-30 The Regents Of The University Of Califorina Self-aligning probes and related devices
KR101457168B1 (ko) * 2013-07-19 2014-11-04 황동원 스프링 콘택트
KR101525120B1 (ko) * 2013-11-08 2015-06-02 (주)아이윈 공차가 확대된 인너브릿지 타입 스프링 프로 브 핀

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4683993B2 (ja) * 2005-04-27 2011-05-18 株式会社秩父富士 Icソケット用接触装置
US20080064236A1 (en) * 2006-09-13 2008-03-13 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Electrical contact
JP2010539672A (ja) * 2007-09-18 2010-12-16 デラウェア キャピタル フォーメーション インコーポレイテッド スプリング接点アセンブリ
WO2011013731A1 (ja) * 2009-07-30 2011-02-03 株式会社ヨコオ コンタクトプローブ及びソケット

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017141561A1 (ja) * 2016-02-15 2017-08-24 オムロン株式会社 プローブピンおよびそれを用いた検査装置
JP2017146118A (ja) * 2016-02-15 2017-08-24 オムロン株式会社 プローブピンおよびそれを用いた検査装置
KR20180038031A (ko) * 2016-02-15 2018-04-13 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀 및 그것을 사용한 검사 장치
KR101959696B1 (ko) 2016-02-15 2019-03-18 오므론 가부시키가이샤 프로브 핀 및 그것을 사용한 검사 장치
US10557867B2 (en) 2016-02-15 2020-02-11 Omron Corporation Probe pin and inspection device including probe pin
KR101890327B1 (ko) * 2018-04-19 2018-08-21 주식회사 오킨스전자 접촉 특성이 개선되는 구조를 가지는 반도체 테스트 소켓용 핀

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