JP2015169470A - 部分放電測定装置用模擬試料、および部分放電測定装置の検査方法 - Google Patents
部分放電測定装置用模擬試料、および部分放電測定装置の検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015169470A JP2015169470A JP2014042908A JP2014042908A JP2015169470A JP 2015169470 A JP2015169470 A JP 2015169470A JP 2014042908 A JP2014042908 A JP 2014042908A JP 2014042908 A JP2014042908 A JP 2014042908A JP 2015169470 A JP2015169470 A JP 2015169470A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- partial discharge
- measuring device
- capacitor
- discharge measuring
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
【課題】動作させるための電源を必要とすることなく、しかも高い耐久性を有し得る部分放電測定装置用模擬試料を提供する。【解決手段】所定の電圧が印加されたときに、アレスタの放電によって部分放電を模擬するために、部分放電測定装置用模擬試料300は、直列に接続された第1のコンデンサ303、および第2のコンデンサ304と、第2のコンデンサ304に並列に接続されたアレスタ305とを備える。絶縁不良の程度差や劣化の進展による測定値のばらつきや変化が生じにくく、放電開始電圧、放電電荷量に関しておおよそ安定した測定値を得ることが可能になる。【選択図】図1
Description
本発明は、部分放電測定装置の動作確認等に用いることができる部分放電測定装置用模擬試料に関するものである。
部分放電測定装置は、1対の電極間に高電圧を印加したときに、電極間の絶縁物中のボイド等で発生する放電を検出するもので、その動作を確認するためには、実際に部分放電を起こさせて、その部分放電の開始電圧や終了電圧、放電電荷量などを観察する必要がある。しかし、部分放電はランダムに発生するものである上、被試験物自体は部分放電を繰り返すと劣化するため、一定の放電開始電圧や放電電荷量で部分放電させることは困難である。
そこで、直列接続した2つのコンデンサの一方の両端にスイッチを並列接続し、上記一方のコンデンサの両端の電圧が基準電圧よりも高くなったことを比較器で検出して、上記スイッチを閉じてパルス信号を発生させることにより、部分放電を模擬する回路が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
しかしながら、上記のような比較器は、動作させるために、部分放電測定装置とは別個の低電圧の電源を必要とする上、高電圧にさらされると破損したり劣化したりしやすいデリケートな部品であるため、耐久性が低いという問題点を有していた。
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的は、動作させるための電源を必要とすることなく、しかも高い耐久性を有し得る部分放電測定装置用模擬試料を得ることにある。
第1の発明は、部分放電測定装置用模擬試料であって、
直列に接続された第1のコンデンサ、および第2のコンデンサと、
第2のコンデンサに並列に接続されたアレスタと、
を備えたことを特徴とする。
直列に接続された第1のコンデンサ、および第2のコンデンサと、
第2のコンデンサに並列に接続されたアレスタと、
を備えたことを特徴とする。
これにより、所定の電圧が印加されたときに、アレスタの放電によって部分放電が模擬されるので、実際の部分放電のように絶縁不良の程度差や劣化の進展による測定値のばらつきや変化が生じにくく、放電開始電圧、放電電荷量に関しておおよそ安定した測定値を得ることが可能になる。
第2の発明は、
第1の発明の部分放電測定装置用模擬試料であって、
上記第1のコンデンサは、複数の単位コンデンサが直列、および/または並列に接続されて構成されていることを特徴とする。
第1の発明の部分放電測定装置用模擬試料であって、
上記第1のコンデンサは、複数の単位コンデンサが直列、および/または並列に接続されて構成されていることを特徴とする。
これにより、個々のコンデンサに必要とされる定格電圧を低く抑えたり、部分放電を模擬させる印可電圧の設定を柔軟に設定したりすることが容易にできる。
本発明では、動作させるための電源を必要とすることなく、しかも高い耐久性を有し得る部分放電測定装置用模擬試料を得ることができる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
本発明の実施形態の部分放電測定装置用模擬試料300は、例えば、図1に示すように、2つのワニ口クリップ301・302の間に、第1のコンデンサ303と、1000pFの第2のコンデンサ304とが直列に接続されている。上記第1のコンデンサ303は、それぞれ100pFで定格電圧がAC10kVの3つの第1の単位コンデンサ303a〜303cが直列に接続されて構成されている。また、上記第2のコンデンサ304には、並列に、90Vで放電するアレスタ305が並列に接続されている。
上記部分放電測定装置用模擬試料300は、例えば図2に示すような部分放電測定装置100の動作確認に用いられる。上記部分放電測定装置100は、例えばAC5kVの試験電圧を発生するもので、ブロッキングコイル102を介して、接続端子105に接続されている。接続端子105の電圧の変化は、カップリングコンデンサ103を介し測定器104によって測定される。供試体201は、上記接続端子105と、接地された106との間に接続されて、部分放電試験が行われる。
上記部分放電測定装置用模擬試料300を用いた部分放電測定装置100の動作確認検査は、例えば次のようにして行われる。
まず、部分放電測定装置100の接続端子105・106に、上記供試体201に代えて、それぞれ部分放電測定装置用模擬試料300のワニ口クリップ301・302を接続する。
次に、試験電圧発生器101が発生する電圧(E)を例えば5kVまで徐々に昇圧させる(なお、第1の単位コンデンサ303a〜303cの定格電圧はAC10kVなので、5kVまで昇圧されても問題は生じない。)。このとき、第1の単位コンデンサ303a〜303cの合成容量を(Ch)、第2のコンデンサ304の容量を(Cl)とすると、アレスタ305の両端に印加される電圧(Ear)は、
Ear=Ch×E/(Ch+Cl)
で表される。この電圧(Ear)が90Vになると、アレスタ305が短絡状態になって、第2のコンデンサ304に蓄積された電荷が放電される(なお、第2のコンデンサ304には、Earの電圧が加わるのみで、かつ並列に接続しているアレスタが90Vで放電するため、定格電圧の低いものが使用できる。)。すなわち、ワニ口クリップ301・302の間全体ではなく、第2のコンデンサ304の部分だけで絶縁破壊したのと同じ電荷の移動状態、すなわち部分放電が模擬的に生じたことになる。このときに試験電圧発生器101が発生する電圧(E)は、例えばLCRメータで測定したCh、Clの実測値(1kHz)を
Ch=32.1pF
Cl=1028pF
とすると、上記式より、
E=Ear×(Ch+Cl)/Ch=90×1060.1/32.1=2972V
となる。なお、この値はピーク値なので、部分放電測定装置100で実行電圧(Vrms)が計測される場合には、2972/√2=2102Vが計測されることになる。このような電圧が、部分放電測定装置100で部分放電開始電圧として検出されていれば、部分放電測定装置100が適切に動作していることを確認することができる。また、例えば、1、2回の予備動作試験の後、3〜5回程度繰り返して計測することにより、再現性を確認することもできる。
Ear=Ch×E/(Ch+Cl)
で表される。この電圧(Ear)が90Vになると、アレスタ305が短絡状態になって、第2のコンデンサ304に蓄積された電荷が放電される(なお、第2のコンデンサ304には、Earの電圧が加わるのみで、かつ並列に接続しているアレスタが90Vで放電するため、定格電圧の低いものが使用できる。)。すなわち、ワニ口クリップ301・302の間全体ではなく、第2のコンデンサ304の部分だけで絶縁破壊したのと同じ電荷の移動状態、すなわち部分放電が模擬的に生じたことになる。このときに試験電圧発生器101が発生する電圧(E)は、例えばLCRメータで測定したCh、Clの実測値(1kHz)を
Ch=32.1pF
Cl=1028pF
とすると、上記式より、
E=Ear×(Ch+Cl)/Ch=90×1060.1/32.1=2972V
となる。なお、この値はピーク値なので、部分放電測定装置100で実行電圧(Vrms)が計測される場合には、2972/√2=2102Vが計測されることになる。このような電圧が、部分放電測定装置100で部分放電開始電圧として検出されていれば、部分放電測定装置100が適切に動作していることを確認することができる。また、例えば、1、2回の予備動作試験の後、3〜5回程度繰り返して計測することにより、再現性を確認することもできる。
上記のように、実際の絶縁不良による部分放電を計測するのではなく、部分放電を模擬したアレスタ305の放電を計測するので、絶縁不良の程度差や劣化の進展による測定値のばらつきや変化が生じにくく、放電開始電圧、放電電荷量に関しておおよそ安定した測定値を得ることが可能になる。また、部分放電測定装置用模擬試料のために特に電源を設けたりする必要もない。
なお、第1のコンデンサの容量は、上記のように直列に接続された3つの第1の単位コンデンサ303a〜303cなどによって固定的に設定されるのに限らず、例えば1つまたは2つの第1の単位コンデンサ303a〜303cを短絡させたり、各コンデンサの接続点を選択的に部分放電測定装置100に接続し得るようにしたりして、部分放電を模擬させようとする印可電圧を変更し得るようにしてもよい。
また、第1のコンデンサ303、および第2のコンデンサ304の容量や定格電圧は、上記に限らず、部分放電を模擬させようとする印可電圧や、最高試験電圧、入手し得るコンデンサの容量系列等に応じて種々設定すればよい。
例えば、最高試験電圧が3300V、部分放電を模擬させる印可電圧を2800Vrms、第1のコンデンサの容量(Ch)を10pF程度に設定するとすると、第1のコンデンサとしては、容量が10pF、定格電圧が2kVのセラミックコンデンサを2個直列に接続して5pFとし、第2のコンデンサの容量(Cl)は、
90/√2=5×2800/(5+Cl)
より、Cl≒215pFとなるので、例えば、220pF、50Vのセラミックコンデンサを2個直列に接続したもの(合成容量110pF)と、330pF、50Vのセラミックコンデンサ2個および220pF、50Vのセラミックコンデンサ1個を直列に接続したもの(合成容量95pF)とを並列に接続してCl=205pFとしたものを用いることなどができる。このように設定したコンデンサのLCRメータによる実測値(1kHz)がCh=5.1pF、Cl=207pFだとすると、計算上、部分放電が模擬される印可電圧は、90×(5.1+207)/5.1/√2=2646Vとなる。そこで、例えば試験を3回行って、それぞれ100pCでの放電開始電圧(CSV)が、2.80、2.78、2.77、放電消滅電圧(CEV)が、2.55、2.46、2.44と計測されたとすると、ほぼ再現性よく部分放電の計測が行われることを確認できる。
90/√2=5×2800/(5+Cl)
より、Cl≒215pFとなるので、例えば、220pF、50Vのセラミックコンデンサを2個直列に接続したもの(合成容量110pF)と、330pF、50Vのセラミックコンデンサ2個および220pF、50Vのセラミックコンデンサ1個を直列に接続したもの(合成容量95pF)とを並列に接続してCl=205pFとしたものを用いることなどができる。このように設定したコンデンサのLCRメータによる実測値(1kHz)がCh=5.1pF、Cl=207pFだとすると、計算上、部分放電が模擬される印可電圧は、90×(5.1+207)/5.1/√2=2646Vとなる。そこで、例えば試験を3回行って、それぞれ100pCでの放電開始電圧(CSV)が、2.80、2.78、2.77、放電消滅電圧(CEV)が、2.55、2.46、2.44と計測されたとすると、ほぼ再現性よく部分放電の計測が行われることを確認できる。
100 部分放電測定装置
101 試験電圧発生器
102 ブロッキングコイル
103 カップリングコンデンサ
104 測定器
105・106 接続端子
201 供試体
300 部分放電測定装置用模擬試料
301・302 ワニ口クリップ
303 第1のコンデンサ
303a〜303c 第1の単位コンデンサ
304 第2のコンデンサ
305 アレスタ
101 試験電圧発生器
102 ブロッキングコイル
103 カップリングコンデンサ
104 測定器
105・106 接続端子
201 供試体
300 部分放電測定装置用模擬試料
301・302 ワニ口クリップ
303 第1のコンデンサ
303a〜303c 第1の単位コンデンサ
304 第2のコンデンサ
305 アレスタ
Claims (3)
- 直列に接続された第1のコンデンサ、および第2のコンデンサと、
第2のコンデンサに並列に接続されたアレスタと、
を備えたことを特徴とする部分放電測定装置用模擬試料。 - 請求項1の部分放電測定装置用模擬試料であって、
上記第1のコンデンサは、複数の単位コンデンサが直列、および/または並列に接続されて構成されていることを特徴とする部分放電測定装置用模擬試料。 - 請求項1または請求項2の部分放電測定装置用模擬試料の両端を部分放電測定装置の被測定試料接続端子に接続し、
印可電圧を上記アレスタが短絡状態になる電圧よりも低い電圧から短絡状態になる電圧まで上昇させることを特徴とする部分放電測定装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014042908A JP2015169470A (ja) | 2014-03-05 | 2014-03-05 | 部分放電測定装置用模擬試料、および部分放電測定装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014042908A JP2015169470A (ja) | 2014-03-05 | 2014-03-05 | 部分放電測定装置用模擬試料、および部分放電測定装置の検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015169470A true JP2015169470A (ja) | 2015-09-28 |
Family
ID=54202339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014042908A Pending JP2015169470A (ja) | 2014-03-05 | 2014-03-05 | 部分放電測定装置用模擬試料、および部分放電測定装置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2015169470A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111856222A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-10-30 | 深圳供电局有限公司 | 局部放电模拟装置及其安装方法、局部放电模拟设备 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63292077A (ja) * | 1987-05-26 | 1988-11-29 | Hitachi Cable Ltd | ケ−ブルの部分放電発生位置の標定方法 |
JPH02269981A (ja) * | 1989-04-12 | 1990-11-05 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 絶縁破壊試験方法 |
JPH09196997A (ja) * | 1996-01-23 | 1997-07-31 | Nissin Electric Co Ltd | 模擬部分放電発生装置 |
JP2003207536A (ja) * | 2002-01-11 | 2003-07-25 | Kikusui Electr0Nics Corp | 部分放電測定回路の校正用パルス発生回路及び動作確認方法 |
-
2014
- 2014-03-05 JP JP2014042908A patent/JP2015169470A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63292077A (ja) * | 1987-05-26 | 1988-11-29 | Hitachi Cable Ltd | ケ−ブルの部分放電発生位置の標定方法 |
JPH02269981A (ja) * | 1989-04-12 | 1990-11-05 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 絶縁破壊試験方法 |
JPH09196997A (ja) * | 1996-01-23 | 1997-07-31 | Nissin Electric Co Ltd | 模擬部分放電発生装置 |
JP2003207536A (ja) * | 2002-01-11 | 2003-07-25 | Kikusui Electr0Nics Corp | 部分放電測定回路の校正用パルス発生回路及び動作確認方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111856222A (zh) * | 2020-06-23 | 2020-10-30 | 深圳供电局有限公司 | 局部放电模拟装置及其安装方法、局部放电模拟设备 |
CN111856222B (zh) * | 2020-06-23 | 2023-09-15 | 深圳供电局有限公司 | 局部放电模拟装置及其安装方法、局部放电模拟设备 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2015021929A (ja) | 部分放電測定器及び部分放電測定器用の校正器 | |
JP7415322B2 (ja) | キャパシタ検査装置、及びキャパシタ検査方法 | |
JP2015001461A (ja) | 絶縁寿命推定方法および絶縁寿命推定装置 | |
JP2011112582A (ja) | コンデンサの絶縁抵抗の検査装置および検査方法 | |
JPH03209180A (ja) | 絶縁システムの状態の検査方法およびその装置 | |
JP2015169470A (ja) | 部分放電測定装置用模擬試料、および部分放電測定装置の検査方法 | |
JP2011191260A (ja) | 半導体装置のesd試験装置 | |
JP2018205151A (ja) | 静電気耐圧試験装置および静電気耐圧試験方法 | |
JP2013029466A (ja) | 積分型の電流電圧変換回路を有する電気測定装置 | |
JP2012004265A (ja) | 避雷装置の故障診断方法と故障診断装置 | |
Lühring et al. | Influence of humidity on pulse shape parameters of positive corona discharges in air at DC voltage | |
Dezenzo et al. | Transfer and evaluation of the AC PRPD representation for internal PD at DC voltage | |
Gupta et al. | Modeling of calibration circuit for partial discharge measurement | |
JP2011158253A (ja) | 電極間絶縁特性測定装置 | |
KR101602809B1 (ko) | 고전압 펄스 시험 시스템의 시스템 컴포넨트를 위한 장치 | |
JP2017219352A (ja) | 絶縁検査用電源装置 | |
KR102369138B1 (ko) | 콘덴서의 절연 저항 측정 장치 | |
JP2015114289A (ja) | 電動機巻線の繰り返しインパルス部分放電試験方法およびそのための装置 | |
JP6541456B2 (ja) | 試験装置 | |
JP6378585B2 (ja) | 過渡電流測定方法、過渡電流測定可能な商用配電系判定方法、並びに過渡電流測定不可能な商用配電系への対策方法及びそのための装置 | |
EP2910961B1 (de) | Verfahren und Messaufbau zur Ermittlung von Wicklungsfehlern in Elektrogeräten | |
Jiang et al. | Prequalification of capacitors for high-precision voltage dividers | |
JP2004012330A (ja) | 微小電流測定装置 | |
US20170205449A1 (en) | Test device and alternating current power detection method of the same | |
KR20120124683A (ko) | 정전기 테스트 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160217 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160301 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20160920 |