JPS63292077A - ケ−ブルの部分放電発生位置の標定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明はケーブルの部分放電発生位置の標定方法に関
し、より詳細には、外部遮蔽層付きの高電圧Ｃ■ケーブ
ル等における絶縁状態を試験するために高圧導体に試験
パルス信号を課電し、そのとぎに生じる部分放電の位置
を標定する方法に関するものである。

［従来の技術］ 従来のケーブルの部分放電発生位置の標定方法は、例え
ば第３図に示すように構成された試験装置を用いて行な
われる。

即ち、高圧芯線１の外周部に外部導電層２を有する被測
定ケーブル３の一端末に課電用の端末ブッシング４が設
けられ、同被測定ケーブル３の他端末に信号取り出し用
の端末ブッシング５が設けられている。

また、この端末ブッシング４を介して高圧パルス状の試
験電圧Ｓが課電されるようになっていて、このとぎに被
測定ケーブル３の端末ブッシング５に生じる信号は、Ｄ
Ｃ成分と電源周波数（例えば５０Ｈ２や６０Ｈ２）をカ
ットするためのコンデンサ６に供給されるようになって
いる。

ざらに、端末ブッシング５の部位において外部導電層２
が接地され、この接地端と上記コンデンサ６を介した端
の間に電流／電圧変換用の抵抗７が接続されている。こ
の抵抗７の両端に生じた信号は、パルス波形測定器８に
供給されるようになっている。

従って、端末ブッシング４を介して高圧パルス状の試験
電圧Ｓが被測定ケーブル３の高圧芯線１に課電され被測
定ケーブル３の欠陥部に部分放電パルスが生じたとする
と、このパルスは、被測定ケーブル３の高圧芯線１を端
末ブッシング４側から端末ブッシング５側に伝搬進行し
、測定端に達する。この信号は、コンデンサ６によって
ＤＣ成分と電源周波数成分がカットされ、抵抗７によっ
て電圧値に変換された後、パルス波形測定器８に供給さ
れる。

そして、このパルス波形測定器８に供給される測定パル
スは、上述の高圧パルス状の試験電圧Ｓに対応した直接
波成分と、同試験電圧Ｓによって生じる部分放電パルス
に対応した部分放電成分と、被測定ケーブル３の端部に
おいて反射する成分とに分けられる。

よって、直接波と間接波の時間差を、被測定ケーブル３
の高圧芯線１における高圧パルス状の試験電圧Ｓの伝搬
速度に基づいて演算することによって部分放電パルスの
発生位置を求めることができるのである。

［発明が解決しようとする問題点］ このような従来のケーブルの部分放電発生位置の標定方
法においては、高圧芯線１の端末部に生じる部分放電パ
ルスを検出する際に、コンデンサ６を用いてそのＤＣ成
分と電源周波数成分をカツリしているために、高精度の
測定をする場合には、同コンデンサ６に高性能なものが
要求される。

即ち、コンデンサ６は、高電圧が印加されるのでコンデ
ンサ素子を直列接続することによって耐圧を向上させ、
このような直列接続によって静電容量が減少するのを補
うために、直列接続されたコンデンサ素子群を並列接続
して所定の容量と耐圧が得られるように構成されている
。

従って、コンデンサ６における形状が大きくなってしま
うと共に、インダクタンス成分が多くなってしまい、こ
れに伴って検出波形が鈍ってしまい、正確な部分放電位
置を求めることができないという問題がおる。

また、このようなコンデンサ６を設置するコロナフリー
の設置空間が必要となり設置場所に制限を受けることに
なるという問題もある。

そこで、この発明の目的は、高圧芯線に生じる部分放電
パルス信号のパルス成分を鈍らせることなく、正確な部
分放電位置を求めることができるケーブルの部分放電発
生位置の標定方法を提供することにある。

［問題点を解決するための手段］ 上述の目的を達成するために、この発明に係るケーブル
の部分放電発生位置の標定方法は、外部導電層を有する
長尺ケーブルの高圧導体に高圧パルス状の試験電圧を課
電した際に、同高圧導体に生じる部分放電パルス信号を
、上記外部導電層の一部を同ケーブルの長手方向に絶縁
して取り出した部分を介して部分放電電圧検出回路に供
給して、この部分放電電圧検出回路の出力に基づいて上
記ケーブルの高圧導体に生じる部分放電パルスの発生位
置を標定することを特徴とする。

［作　　用］ この発明に係るケーブルの部分放電発生位置の標定方法
は、被測定ケーブル端部の外部導電層の数ｍを同ケーブ
ルの長手方向に絶縁して取り出した部分でコンデンサ成
分を形成し、被測定ケーブルの高圧芯線に生じる部分放
電パルス信号をそのコンデンサ成分を介して部分放電電
圧検出回路に供給することによって、パルス成分を鈍ら
せることなく、正確な部分放電位置が求められる。

［実　施　例］ 以下、この発明の実施例を第１図と第２図を用いて詳細
に説明する。

第１図において、高圧芯線１１の外周に外部導電層１２
が形成された被測定ケーブル３は、定格電圧が２２ｋＶ
で、断面積がｌＸ１００ｍｍ２で、その全長が２３７ｍ
でなる押出しコンパウンド型のＣｖケーブルで構成され
ている。このような被測定ケーブル１３の一端部には、
端末ブッシング１４が固定され、他端部には端末ブッシ
ング１５が固定されている。また、被測定ケーブル１３
の端末ブッシング１５寄りの端部から５７ｍの位置に縁
切り部１６が形成され、ここで外部導電層１２の切断分
離がなされ第１の外部導電層１２ａと第２の外部導電層
１２ｂに分離され、同第１の外部導電層１２ａが接地さ
れている。

ざらに、外部導電層１２の縁切り部１６より端末ブッシ
ング１４寄りの第１の外部導電層１２ａと、縁切り部１
６から端末ブッシング１５寄りの第２の外部導電層１２
ｂのそれぞれに抵抗１７が接続されている。そして、こ
の抵抗１７の両端がパルス波形測定器１８に接続されて
いる。

従って、端末ブッシング１４を介して高圧パルス状の試
験電圧Ｓが高圧芯線１１に注入されるとこの試験電圧Ｓ
が高圧芯線１１を伝搬し、第２の外部導電層１２ｂによ
るコンデンサ成分を介して抵抗１７に供給され電圧に変
換された俊にパルス波形測定器１８に供給される。

ここで、高圧パルス状の試験電圧Ｓの極性が高圧芯線１
１側が正極で外部導電層１２側が負極の場合に、抵抗１
７の両端に生じる信号波形をしたところ第２図の（Ａ＞
に示すような結果が得られた。なお、この結果は、抵抗
１７の両端に生じる電圧を−Ｈディジタル・メモリー（
図示せず）に記録し、その再生波形を通常のオシロスコ
ープで観察したものであり、その観察時の５０μｓｅｃ
／ｄｉｖという値は、ディジタル・メモリーの読み書き
の関係上で得られたもので、実時間に換算すると、０．
５μＳｅＣ／ｄ　ｉ　ｖに対応するものである。そして
、第２図（Ａ＞において第１波のパルスは、高圧芯線１
１を伝搬する近端直接波であり、第２波は、注入点から
遠端反射した波が近端に戻ってきた波であり、第３波は
、第１波の往復反射波である。

また、参考のために従来装置（第３図参照）を用いたケ
ーブルの部分放電発生位置の標定方法で上述と同様にし
て抵抗７の両端に生じる信号を観察したところ第２図（
Ｂ）に示すようになった。

ここで、第２図（Ａ）に示す波形と第２図（Ｂ）に示す
波形を比べれば明らかなように第２図（Ｂ）に示す波形
は若干鈍っている。これは、インダクタンス成分が多い
コンデンサ６を介してパルス検出がなされているものと
考えられる。これに対してこの発明に係るケーブルの部
分放電発生位置の標定方法で検出されたパルス波形は第
２図（Ａ＞に示すように極めて立上がりと立下りが早い
ものとなっている。これは、被測定ケーブル１３の外部
導電層１２を絶縁分離した第２の外部導電層１２ｂによ
って従来のコンデンサ６（第３図参磁）に代るコンデン
サ成分を持たせたものであり、このコンデンサ成分にお
けるイン夛ンタンス成分が非常に少ないことに基因して
いる。

よって、外部導電層１２を有する被測定ケーブル１３の
高圧芯線１１に端末ブッシング１４を介して高圧パルス
状の試験電圧Ｓを課電した際に、同高圧導体１１に生じ
る部分放電パルス信号が、第２の外部導電層１２ｂで形
成されるコンデンサ成分を介して抵抗１７で電圧に変換
され、この電圧がパルス波形測定器１８に供給されて部
分放電パルスの発生位置を正確に標定することができる
。

また、このような正確な検出が行えるのは、第２の外部
導電層１２ｂによって形成されるコンデンジ成分のイン
ダクタンス成分が非常に少ないために信号波形の立上が
りと立下りが非常に急峻になることに基づいている。

なお、この発明に係るケーブルの部分放電発生位置の標
定方法は、３層押出し型のコンパウンド方式のＣＶケー
ブルのみならずその他、ＯＦケーブル、ブチルゴムケー
ブル１等々の各種ケーブルにも適用することができる。

［発明の効果］ このようにこの発明に係るケーブルの部分放電発生位置
の標定方法は、Ｄｄ酸成分電源周波数をカットするため
のコンデンサを別途に設ける必要が無いので構成が簡略
化され、その設置空間が不要となる。

また、従来のコンデンサに比べて、残留インダクタンス
成分が少ないのでパルスに対する応答性が優れ、この結
果、正確な部分放電発生位置の標定をすることができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の方法に用いられる測定装置の一例
を示す概略回路図、 第２図は、上記第１図に示された測定装置の検出結果の
一例と従来装置を用いた検出結果の一例を示す線図、 第３図は、従来のケーブルの部分放電発生位置の標定方
法に用いられる測定装置の一例を示す概略回路図である
。 １１・・・・・・・・・高圧芯線 １２・・・・・・・・・外部導電層 １２ａ・・・・・・・・・第１の外部導電層１２ｂ・・
・・・・・・・第２の外部導電層１３・・・・・・・・
・被測定ケーブル１４．１５・・・・・・・・・端末プ
ツシ・ング１６・・・・・・・・・縁切り部 １８・・・・・・・・・パルス波形測定器特許出願人　
　　日立電線株式会社 代　理　人　　　　小山１）先夫 第１図 第２図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 外部導電層を有する長尺ケーブルの高圧導体に高圧パル
   ス状の試験電圧を課電した際に、同高圧導体に生じる部
   分放電パルス信号を、 上記外部導電層の一部を同ケーブルの長手方向に絶縁し
   て取り出した部分を介して部分放電電圧検出回路に供給
   して、 この部分放電電圧検出回路の出力に基づいて上記ケーブ
   ルの高圧導体に生じる部分放電パルスの発生位置を標定
   する ことを特徴とするケーブルの部分放電発生位置の標定方
   法。