JPH0565112B2 - - Google Patents
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- JPH0565112B2 JPH0565112B2 JP61227507A JP22750786A JPH0565112B2 JP H0565112 B2 JPH0565112 B2 JP H0565112B2 JP 61227507 A JP61227507 A JP 61227507A JP 22750786 A JP22750786 A JP 22750786A JP H0565112 B2 JPH0565112 B2 JP H0565112B2
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- shielding layer
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明はCVケーブルの部分放電試験法、更
に詳しくは、高電圧の課電によりケーブル絶縁体
部に部分放電パルスが生じ、これにより絶縁層が
劣化するのを検出するCVケーブルの部分放電試
験法に関するものである。
に詳しくは、高電圧の課電によりケーブル絶縁体
部に部分放電パルスが生じ、これにより絶縁層が
劣化するのを検出するCVケーブルの部分放電試
験法に関するものである。
［従来の技術］
この種、従来の試験法においては、第４図に示
すケーブルの部分放電試験回路が使用されてい
る。この回路は実際の回路を簡略化したものであ
つて、実際の試験回路は、電気学会技術報告（
部）第６号昭和44年１月P15第１５図に詳細に記
載されているものが用いられる。
すケーブルの部分放電試験回路が使用されてい
る。この回路は実際の回路を簡略化したものであ
つて、実際の試験回路は、電気学会技術報告（
部）第６号昭和44年１月P15第１５図に詳細に記
載されているものが用いられる。
この第４図の回路においては、閉そくインピー
ダンス（Zch）２を通じて交流電源(S)１から課電
圧が供試ケーブル（Ca）３に加えられるように
なつている。そして、この課電圧を高めると、供
試ケーブル３に部分放電パルスが発生し、このパ
ルス性電流が供試ケーブル３、結合キヤパシタン
ス（Ck）４、検出インピーダンス（Zd）５に還
流し、検出インピーダンス５の両端間にパルス性
電流による電圧が生じ、このパルス性電圧を測定
器(M)６で測定するようになつている。
ダンス（Zch）２を通じて交流電源(S)１から課電
圧が供試ケーブル（Ca）３に加えられるように
なつている。そして、この課電圧を高めると、供
試ケーブル３に部分放電パルスが発生し、このパ
ルス性電流が供試ケーブル３、結合キヤパシタン
ス（Ck）４、検出インピーダンス（Zd）５に還
流し、検出インピーダンス５の両端間にパルス性
電流による電圧が生じ、このパルス性電圧を測定
器(M)６で測定するようになつている。
ところで、この回路において、供試ケーブル３
が66KVクラスのCVケーブル（架橋ポリエチレ
ン絶縁ビニルシース電力ケーブル）で、課電圧が
300KVでの部分放電試験をしようとする場合に
は、図から容易に解るように300KVの電圧で部
分放電を生じない結合コンデンサ４（静電容量
500PF以上）が必要となる。
が66KVクラスのCVケーブル（架橋ポリエチレ
ン絶縁ビニルシース電力ケーブル）で、課電圧が
300KVでの部分放電試験をしようとする場合に
は、図から容易に解るように300KVの電圧で部
分放電を生じない結合コンデンサ４（静電容量
500PF以上）が必要となる。
［発明が解決しようとする問題点］
このように部分放電試験では、上記第４図に示
したように、供試ケーブル３に課電される電圧で
部分放電を発生しない結合コンデンサ４が必要と
なり、この結合コンデンサは課電圧が高くなると
耐圧も高くなるので高価になるという欠点を有し
ている。しかもこれを設置し、高圧課電リード線
の部分でコロナ放電をじないようにするために大
きな絶縁空間も必要となる。
したように、供試ケーブル３に課電される電圧で
部分放電を発生しない結合コンデンサ４が必要と
なり、この結合コンデンサは課電圧が高くなると
耐圧も高くなるので高価になるという欠点を有し
ている。しかもこれを設置し、高圧課電リード線
の部分でコロナ放電をじないようにするために大
きな絶縁空間も必要となる。
更に第４図に示す供試ケーブル３、結合コンデ
ンサ４、検出インピーダンス５の各素子が占める
空間が大きくなると、この閉回路中に外部電磁界
が鎖交して、結局、検出インピーダンス５の検出
部に外部雑音が入つてくることになる。微小な部
分放電パルスを検出しようとする場合、このパル
ス性外部雑音の大きさが影響し、ケーブル内部か
ら発生している部分放電パルスとの識別限界が決
つてしまう。つまり、この閉回路が大きいと内部
部分の放電の検出限界が悪くなつてしまう。
ンサ４、検出インピーダンス５の各素子が占める
空間が大きくなると、この閉回路中に外部電磁界
が鎖交して、結局、検出インピーダンス５の検出
部に外部雑音が入つてくることになる。微小な部
分放電パルスを検出しようとする場合、このパル
ス性外部雑音の大きさが影響し、ケーブル内部か
ら発生している部分放電パルスとの識別限界が決
つてしまう。つまり、この閉回路が大きいと内部
部分の放電の検出限界が悪くなつてしまう。
従つて、本発明の目的は上記従来の欠点を除去
するために、供試ケーブルの一部を結合コンデン
サとして巧みに利用し、これによつて専用の結合
コンデンサを省略し、外部雑音の低減（部分放電
の検出感度の向上）および部分放電測定空間の縮
小化が行なえるようにしたCVケーブルの部分放
電試験法を提供するにある。
するために、供試ケーブルの一部を結合コンデン
サとして巧みに利用し、これによつて専用の結合
コンデンサを省略し、外部雑音の低減（部分放電
の検出感度の向上）および部分放電測定空間の縮
小化が行なえるようにしたCVケーブルの部分放
電試験法を提供するにある。
［問題点を解決するための手段および作用］
本発明では、上記問題点を解決するために、
供試ケーブルが、ケーブル導体の外側に絶縁層
を介して半導電層および金属遮蔽層で被覆された
CVケーブルの場合に、上記半導電層で課電圧に
対する静電遮蔽を行ない、結合コンデンサとして
適当な静電容量になる長さの部分で金属遮蔽層を
縁切りして分割し、一方を結合コンデンサ、他方
を供試ケーブルとして用いる。そして、供試ケー
ブルが半導電層を有しないCVケーブルの場合に
は、金属遮蔽層の分割した部分にのみ半導電層を
設け、一方を結合コンデンサ、他方を供試ケーブ
ルとして用いる。
を介して半導電層および金属遮蔽層で被覆された
CVケーブルの場合に、上記半導電層で課電圧に
対する静電遮蔽を行ない、結合コンデンサとして
適当な静電容量になる長さの部分で金属遮蔽層を
縁切りして分割し、一方を結合コンデンサ、他方
を供試ケーブルとして用いる。そして、供試ケー
ブルが半導電層を有しないCVケーブルの場合に
は、金属遮蔽層の分割した部分にのみ半導電層を
設け、一方を結合コンデンサ、他方を供試ケーブ
ルとして用いる。
［実施例］
以下、図示の一実施例により本発明によるCV
ケーブルの部分放電試験法を説明する。
ケーブルの部分放電試験法を説明する。
先ず、結合コンデンサの形成手段を第２図によ
つて説明すると、供試ケーブルがケーブル蔽層と
して外部半導電性遮蔽層を有する場合、このCV
ケーブルは第２図に示すように構成されている。
即ち、ケーブル導体７の外周面を内部半導電層８
で被覆され、その外周をゴム、プラスチツクなど
の絶縁層９で被われ、その外側を外部半導電層１
０および金属遮蔽層１１で順次被覆されている。
つて説明すると、供試ケーブルがケーブル蔽層と
して外部半導電性遮蔽層を有する場合、このCV
ケーブルは第２図に示すように構成されている。
即ち、ケーブル導体７の外周面を内部半導電層８
で被覆され、その外周をゴム、プラスチツクなど
の絶縁層９で被われ、その外側を外部半導電層１
０および金属遮蔽層１１で順次被覆されている。
このように構成されているCVケーブルにおい
て、結合コンデンサを形成するには、最外周の金
属遮蔽層１１の一部を取り除き、外部半導電層分
割部１２を形成する。この外部半導電層のみの部
分の長さは、供試ケーブルに課電した場合の充電
電流が外部半導電層１０を流れることによる発熱
が問題ない範囲、また部分放電測定器(M)６（第１
図参照）の検出インピーダンス（Zd）５と同等
以上であることが望ましい。
て、結合コンデンサを形成するには、最外周の金
属遮蔽層１１の一部を取り除き、外部半導電層分
割部１２を形成する。この外部半導電層のみの部
分の長さは、供試ケーブルに課電した場合の充電
電流が外部半導電層１０を流れることによる発熱
が問題ない範囲、また部分放電測定器(M)６（第１
図参照）の検出インピーダンス（Zd）５と同等
以上であることが望ましい。
このように分割部１２で縁切りされたケーブル
は、例えばその左方のケーブルが結合コンデンサ
部１１ａとなり、右方のケーブルが供試ケーブル
部１１ｂとして用いられ、これに第１図に示すよ
うに、検出トランス１３を通じて部分放電測定器
６が接続される。
は、例えばその左方のケーブルが結合コンデンサ
部１１ａとなり、右方のケーブルが供試ケーブル
部１１ｂとして用いられ、これに第１図に示すよ
うに、検出トランス１３を通じて部分放電測定器
６が接続される。
この場合、例えば供試ケーブルが66KV、800
mm2の内、外押出半導電層式のCVケーブルでは、
静電容量は340PF／ｍであり、結合コンデンサ部
１１ａを３ｍとすると、結合コンデンサとしての
静電容量は約1000PFとなる。そして、供試ケー
ブル部１１ｂ、即ち部分放電測定部の長さを10ｍ
とすれば、外部遮蔽層がついたケーブル部が13
ｍ、それに課電端末補強部が片端1.5ｍ、両端で
３ｍ、合計16ｍとなる。
mm2の内、外押出半導電層式のCVケーブルでは、
静電容量は340PF／ｍであり、結合コンデンサ部
１１ａを３ｍとすると、結合コンデンサとしての
静電容量は約1000PFとなる。そして、供試ケー
ブル部１１ｂ、即ち部分放電測定部の長さを10ｍ
とすれば、外部遮蔽層がついたケーブル部が13
ｍ、それに課電端末補強部が片端1.5ｍ、両端で
３ｍ、合計16ｍとなる。
ここで外部半導電層１０の固有抵抗が102Ωcm
とすると、結合コンデンサ部１１ａとケーブル測
定部の分割部１２の長さは、外部半導電層１０の
直径が60mm、厚さが１mmだから低入力インピーダ
ンスで50Ωとするには、0.47mm、高入力インピー
ダンスである8KΩとするには、7.5mmとなる。分
割部は両端にあるから片端の分割長さは、15mmと
なる。
とすると、結合コンデンサ部１１ａとケーブル測
定部の分割部１２の長さは、外部半導電層１０の
直径が60mm、厚さが１mmだから低入力インピーダ
ンスで50Ωとするには、0.47mm、高入力インピー
ダンスである8KΩとするには、7.5mmとなる。分
割部は両端にあるから片端の分割長さは、15mmと
なる。
ここで仮に交流で50Hz、課電圧200KVにおけ
る部分放電を調べようとすると、この部分の発熱
量Pcは、 Pc＜（ωCE）2・Ｒ ＜（100π×5.1・10-12×２・105）28・103 １（mW） つまり、分割部の発熱は、1mW以下で温度上
昇の点からは全く問題はない。
る部分放電を調べようとすると、この部分の発熱
量Pcは、 Pc＜（ωCE）2・Ｒ ＜（100π×5.1・10-12×２・105）28・103 １（mW） つまり、分割部の発熱は、1mW以下で温度上
昇の点からは全く問題はない。
そこで、測定器６の検出インピーダンス8KΩ
の場合は、 (1) 結合コンデンサ部１１ａの長さ３ｍ、 (2) 分割部１２の長さ15mm とすれば、課電圧200KVまでの部分放電試験が
問題なくできる。
の場合は、 (1) 結合コンデンサ部１１ａの長さ３ｍ、 (2) 分割部１２の長さ15mm とすれば、課電圧200KVまでの部分放電試験が
問題なくできる。
また、以上は外部半導電性遮蔽層を有するCV
ケーブルの場合であるが、外部遮蔽層に半導電層
が無いCVケーブルの場合には、外部金属遮蔽層
の外側から外部半導電層を巻けば同じ作用、効果
を得ることができる。
ケーブルの場合であるが、外部遮蔽層に半導電層
が無いCVケーブルの場合には、外部金属遮蔽層
の外側から外部半導電層を巻けば同じ作用、効果
を得ることができる。
第３図は、本発明の部分放電試験法を実施する
についての具体的な試験回路の一例を示したもの
である。この試験回路を簡単に説明すると、供試
ケーブルへの課電は、サイリスタ式高速短絡装置
をもつ直列共振型トランスT.Trで行なつている。
ケーブルの外部遮蔽層は全長の中間部で縁切りし
て、各々を検出用トランスD.Trに接続している。
これをフイルタ、増幅器を通して破壊前駆現象判
別回路およびカセツト式データレコーダに接続
し、またデジタルメモリに記録する。同時に電圧
波形も記録すると共に、モニタスコープで常時監
視する。
についての具体的な試験回路の一例を示したもの
である。この試験回路を簡単に説明すると、供試
ケーブルへの課電は、サイリスタ式高速短絡装置
をもつ直列共振型トランスT.Trで行なつている。
ケーブルの外部遮蔽層は全長の中間部で縁切りし
て、各々を検出用トランスD.Trに接続している。
これをフイルタ、増幅器を通して破壊前駆現象判
別回路およびカセツト式データレコーダに接続
し、またデジタルメモリに記録する。同時に電圧
波形も記録すると共に、モニタスコープで常時監
視する。
そこで供給試験ケーブルに部分放電パルスP.D
が生じると発生箇所と電圧位相で決まる極性の部
分放電パルスP.Dがカセツト式データレコーダに
記録される。またこのまま課電を続けると破壊に
至る恐れがあることが判別回路で、１〜10サイク
ルの間に判断される。そして、その判断結果によ
つて、そこからトリガーゲート回路を通してトラ
ンスT.Trの１次側をサイリスタThで高速短絡す
ると同時に、電源A.CのOCBが遮断される。電源
A.Cが遮断されてからデータレコーダの記録波形
を調べて上記P.Dが生じた側を求める。
が生じると発生箇所と電圧位相で決まる極性の部
分放電パルスP.Dがカセツト式データレコーダに
記録される。またこのまま課電を続けると破壊に
至る恐れがあることが判別回路で、１〜10サイク
ルの間に判断される。そして、その判断結果によ
つて、そこからトリガーゲート回路を通してトラ
ンスT.Trの１次側をサイリスタThで高速短絡す
ると同時に、電源A.CのOCBが遮断される。電源
A.Cが遮断されてからデータレコーダの記録波形
を調べて上記P.Dが生じた側を求める。
次に発生している部分を更に２等分して再び課
電する。なお、この場合、一般に最初の部分放電
パルスP.Dによる電気トリー発生で、その部分の
上記P.D発生電圧が低下するので、２回目からは
電気トリーの進展もおそくなる。このような操作
を数回繰り返して部分放電パルスP.Dの発生位置
を20〜30mmに置いつめ、以後は切り出して顕微鏡
観察し、破壊直前となつている欠陥部を取り出
す。
電する。なお、この場合、一般に最初の部分放電
パルスP.Dによる電気トリー発生で、その部分の
上記P.D発生電圧が低下するので、２回目からは
電気トリーの進展もおそくなる。このような操作
を数回繰り返して部分放電パルスP.Dの発生位置
を20〜30mmに置いつめ、以後は切り出して顕微鏡
観察し、破壊直前となつている欠陥部を取り出
す。
［発明の効果］
以上述べたように、本発明によれば
専用の結合コンデンサが省略できる。
結合コンデンサのためのコロナフリーリード
線が必要ない。
線が必要ない。
結合コンデンサを設置するための絶縁空間が
不要となる。
不要となる。
誘導障害を受け易い閉ループが極端に少なく
なり、コロナ測定感度の向上、誤測定の低減を
行なうことができる。
なり、コロナ測定感度の向上、誤測定の低減を
行なうことができる。
などの数々の顕著な効果が得られる。
第１図は、本発明よる部分放電試験法の要部の
電気回路を示す線図、第２図は、供試ケーブルの
一部から結合コンデンサを形成する手段を示す
CVケーブルの要部断面図、第３図は、本発明の
部分放電試験法を実施するについての具体的な試
験回路の一例を示す電気回路線図、第４図は、従
来の部分放電試験回路を簡略に示した電気回路線
図である。 ７……供試ケーブル導体、９……絶縁層、１０
……外部半導電層（ケーブル遮蔽層）、１１……
金属遮蔽層（ケーブル遮蔽層）、１１ａ……結合
コンデンサ部、１１ｂ……供試ケーブル部、１２
……分割部（分離ケーブル部）。
電気回路を示す線図、第２図は、供試ケーブルの
一部から結合コンデンサを形成する手段を示す
CVケーブルの要部断面図、第３図は、本発明の
部分放電試験法を実施するについての具体的な試
験回路の一例を示す電気回路線図、第４図は、従
来の部分放電試験回路を簡略に示した電気回路線
図である。 ７……供試ケーブル導体、９……絶縁層、１０
……外部半導電層（ケーブル遮蔽層）、１１……
金属遮蔽層（ケーブル遮蔽層）、１１ａ……結合
コンデンサ部、１１ｂ……供試ケーブル部、１２
……分割部（分離ケーブル部）。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ ケーブル導体の外側を絶縁層を介して少なく
とも金属遮蔽層を有するケーブル遮断層で被覆さ
れたCVケーブルにおいて、 供試ケーブルがケーブル導体の外側に絶縁層を
介して半導電層および金属遮蔽層で被覆されたケ
ーブルの場合は上記金属遮蔽層を縁切りして分割
した部分の半導電層を課電圧に対する静電遮蔽を
行い、供試ケーブルが半導電層を持たないCVケ
ーブルの場合は金属遮蔽層を縁切りして分割した
部分に半導電層を設け、この部分を課電圧に対す
る静電遮蔽を行い、 上記金属遮蔽層を縁切りして分割した一方の金
属遮蔽層を結合コンデンサとし、他方の金属遮蔽
層の部分を供試ケーブルとしてCVケーブルの部
分放電を測定することを特徴とするCVケーブル
の部分放電試験法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22750786A JPS6382375A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | Ｃｖケ−ブルの部分放電試験法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22750786A JPS6382375A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | Ｃｖケ−ブルの部分放電試験法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6382375A JPS6382375A (ja) | 1988-04-13 |
| JPH0565112B2 true JPH0565112B2 (ja) | 1993-09-17 |
Family
ID=16861979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22750786A Granted JPS6382375A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | Ｃｖケ−ブルの部分放電試験法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6382375A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102736001B (zh) * | 2012-07-10 | 2014-09-03 | 西安费斯达自动化工程有限公司 | 一种臭氧发生管拉弧与击穿故障检测方法 |
| CN102736002B (zh) * | 2012-07-10 | 2015-02-18 | 西安费斯达自动化工程有限公司 | 一种臭氧发生管拉弧的光电检测方法 |
| CN108983053A (zh) * | 2018-07-27 | 2018-12-11 | 武汉大学 | 温度可控的高压直流交联聚乙烯电缆局部放电测试平台 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53114086A (en) * | 1977-03-16 | 1978-10-05 | Nishinippon Elec Wire Cable | Method of dividing and measuring partial discharge of each portion of cable |
| JPS60114086A (ja) * | 1983-11-25 | 1985-06-20 | Matsushita Graphic Commun Syst Inc | 画像輪郭強調方式 |
| JPS61251779A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-08 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 部分放電測定方法 |
-
1986
- 1986-09-26 JP JP22750786A patent/JPS6382375A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53114086A (en) * | 1977-03-16 | 1978-10-05 | Nishinippon Elec Wire Cable | Method of dividing and measuring partial discharge of each portion of cable |
| JPS60114086A (ja) * | 1983-11-25 | 1985-06-20 | Matsushita Graphic Commun Syst Inc | 画像輪郭強調方式 |
| JPS61251779A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-08 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 部分放電測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6382375A (ja) | 1988-04-13 |
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