JP2015141025A - 粒度分布測定用データ処理装置及びこれを備えた粒度分布測定装置、並びに、粒度分布測定用データ処理方法及び粒度分布測定用データ処理プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
2 循環式サンプラ
3 A/D変換器
4 通信部
5 データ処理装置
11 光源
12 集光レンズ
13 空間フィルタ
14 コリメータレンズ
15 フローセル
16 集光レンズ
17 検出器
51 制御部
52 操作部
53 表示部
54 記憶部
171 受光素子
511 入力受付部
512 演算部
513 読出部
541 光強度分布データ記憶部
542 粒度分布データ記憶部
543 強度情報記憶部
Claims (8)
- 試料からの光を複数の受光素子で受光することにより得られる光強度分布データの入力を受け付ける入力受付部と、
エネルギーを保持したまま試料で回折及び散乱する回折散乱光、及び、前記回折散乱光以外の背景光のそれぞれについて、各受光素子における受光強度の相対的な関係を強度情報として記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶されている強度情報を用いて前記光強度分布データに対する演算を行うことにより、前記背景光の影響が除去された粒度分布データを算出する演算部とを備えたことを特徴とする粒度分布測定用データ処理装置。 - 前記演算部は、前記記憶部に記憶されている強度情報を用いて前記光強度分布データに対する演算を行うことにより、前記背景光の影響が除去された粒度分布データとともに、前記背景光の光量を算出することを特徴とする請求項1に記載の粒度分布測定用データ処理装置。
- 前記強度情報は、行列として前記記憶部に記憶されており、
前記演算部は、前記記憶部に記憶されている強度情報を用いて前記光強度分布データに対する行列演算を行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の粒度分布測定用データ処理装置。 - 前記背景光には、試料から等方的に発せられる光が含まれることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の粒度分布測定用データ処理装置。
- 前記背景光には、蛍光が含まれることを特徴とする請求項4に記載の粒度分布測定用データ処理装置。
- 試料に光を照射する光源と、
試料からの光を受光する複数の受光素子と、
請求項1〜5のいずれかに記載の粒度分布測定用データ処理装置とを備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。 - 試料からの光を複数の受光素子で受光することにより得られる光強度分布データの入力を受け付ける入力受付ステップと、
エネルギーを保持したまま試料で回折及び散乱する回折散乱光、及び、前記回折散乱光以外の背景光のそれぞれについて、各受光素子における受光強度の相対的な関係を強度情報として記憶する記憶部から、前記強度情報を読み出す読出ステップと、
読み出された前記強度情報を用いて前記光強度分布データに対する演算を行うことにより、前記背景光の影響が除去された粒度分布データを算出する演算ステップとを備えたことを特徴とする粒度分布測定用データ処理方法。 - 試料からの光を複数の受光素子で受光することにより得られる光強度分布データの入力を受け付ける入力受付部と、
エネルギーを保持したまま試料で回折及び散乱する回折散乱光、及び、前記回折散乱光以外の背景光のそれぞれについて、各受光素子における受光強度の相対的な関係を強度情報として記憶する記憶部から、前記強度情報を読み出す読出部と、
読み出された前記強度情報を用いて前記光強度分布データに対する演算を行うことにより、前記背景光の影響が除去された粒度分布データを算出する演算部としてコンピュータを機能させることを特徴とする粒度分布測定用データ処理プログラム。
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