JP2015138903A - カーボンナノチューブシート及び半導体装置とカーボンナノチューブシートの製造方法及び半導体装置の製造方法 - Google Patents

カーボンナノチューブシート及び半導体装置とカーボンナノチューブシートの製造方法及び半導体装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2015138903A
JP2015138903A JP2014010306A JP2014010306A JP2015138903A JP 2015138903 A JP2015138903 A JP 2015138903A JP 2014010306 A JP2014010306 A JP 2014010306A JP 2014010306 A JP2014010306 A JP 2014010306A JP 2015138903 A JP2015138903 A JP 2015138903A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carbon nanotube
thermoplastic resin
resin portion
sheet
thermosetting resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014010306A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015138903A5 (ja
JP6261352B2 (ja
Inventor
織田 卓哉
Takuya Oda
卓哉 織田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Industries Co Ltd filed Critical Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority to JP2014010306A priority Critical patent/JP6261352B2/ja
Priority to US14/533,556 priority patent/US9873825B2/en
Priority to CN201410643282.7A priority patent/CN104810335B/zh
Publication of JP2015138903A publication Critical patent/JP2015138903A/ja
Publication of JP2015138903A5 publication Critical patent/JP2015138903A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6261352B2 publication Critical patent/JP6261352B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K5/00Heat-transfer, heat-exchange or heat-storage materials, e.g. refrigerants; Materials for the production of heat or cold by chemical reactions other than by combustion
    • C09K5/08Materials not undergoing a change of physical state when used
    • C09K5/14Solid materials, e.g. powdery or granular
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3737Organic materials with or without a thermoconductive filler
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/433Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73253Bump and layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24777Edge feature

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)

Abstract

【課題】半導体素子の反りなどを吸収できる新規な構造のカーボンナノチューブシートを提供する。
【解決手段】複数のカーボンナノチューブ10aが配列されたカーボンナノチューブ集合体10と、カーボンナノチューブ集合体10の中央領域Aに形成された熱可塑性樹脂部20と、熱可塑性樹脂部20を取り囲むようにカーボンナノチューブ集合体10の外周領域Bに形成された未硬化の熱硬化性樹脂部22とを含む。
【選択図】図1

Description

本発明は、カーボンナノチューブシート及び半導体装置とカーボンナノチューブシートの製造方法及び半導体装置の製造方法に関する。
従来、サーバやパーソナルコンピュータでは、半導体素子から発する熱を効率よく放熱するために、半導体素子が熱伝導性シートを介してヒートスプレッダに接続されている。熱伝導性シートとしては、インジウムシートやシリコングリースなどが使用されている。
ヒートスプレッダは熱伝導性シートを介して半導体素子と密着して固定される。また、熱伝導性シートは、半導体素子の動作中の発熱による反りなどを吸収し、効率よく伝熱する必要がある。
しかし、熱伝導性シートとしてインジウムシートを使用する場合は、半導体素子の反りにより界面で剥離が発生することがある。また、熱伝導性シートとしてシリコングリースを使用する場合は、熱サイクルによりシリコングリースが外側に押しだされるポンプアウトやボイドが発生しやすい。
近年では、半導体素子の高性能化によりチップサイズが大型化されており、半導体素子の動作中により大きな反りが発生する傾向がある。また、半導体素子のマルチチップ化により、複数の半導体素子の間で段差が発生することがある。このため、より高い熱伝導率を有し、かつ半導体素子の反りや段差を十分に吸収できる柔軟性のある熱伝導性シートが求められている。
そのような特性を備えた熱伝導性シートとして、カーボンナノチューブを使用する技術が提案されている。
特開2011−96978号公報 特開2012−224507号公報
半導体素子の反りなどを吸収できる新規な構造のカーボンナノチューブシート及び半導体装置とそれらの製造方法を提供することを目的とする。
以下の開示の一観点によれば、複数のカーボンナノチューブが配列されたカーボンナノチューブ集合体と、前記カーボンナノチューブ集合体の中央領域に形成された熱可塑性樹脂部と、前記熱可塑性樹脂部を取り囲むように前記カーボンナノチューブ集合体の外周領域に形成された未硬化の熱硬化性樹脂部とを有するカーボンナノチューブシートが提供される。
また、その開示の他の観点によれば、配線基板と、前記配線基板の接続パッドに接続された半導体素子と、前記半導体素子の上に配置され、複数のカーボンナノチューブが配列されたカーボンナノチューブ集合体と、前記カーボンナノチューブ集合体の中央領域に形成された熱可塑性樹脂部と、前記熱可塑性樹脂部を取り囲むように前記カーボンナノチューブ集合体の外周領域に形成された熱硬化性樹脂部とを含むカーボンナノチューブシートと、前記カーボンナノチューブシートの上に配置された放熱部材とを有する半導体装置が提供される。
さらに、その開示の他の観点によれば、基板の上に複数のカーボンナノチューブを形成して、カーボンナノチューブ集合体を得る工程と、前記カーボンナノチューブ集合体上の中央領域に熱可塑性樹脂材を配置すると共に、前記熱可塑性樹脂材を取り囲むように前記カーボンナノチューブ集合体上の外周領域に未硬化の熱硬化性樹脂材を配置する工程と、加熱処理することにより、前記熱可塑性樹脂材及び前記熱硬化性樹脂材を流動させて前記カーボンナノチューブ集合体の隙間に含浸させる工程と、前記基板を除去する工程とを有するカーボンナノチューブシートの製造方法が提供される。
さらに、その開示の他の観点によれば、配線基板の接続パッドに半導体素子を接続する工程と、複数のカーボンナノチューブが配列されたカーボンナノチューブ集合体と、前記カーボンナノチューブ集合体の中央領域に含浸された熱可塑性樹脂部と、前記熱可塑性樹脂部を取り囲むように前記カーボンナノチューブ集合体の外周領域に含浸された未硬化の熱硬化性樹脂部とを含み、前記カーボンナノチューブの上端が前記熱硬化性樹脂部及び前記熱可塑性樹脂部で被覆されたカーボンナノチューブシートを用意する工程と、前記カーボンナノチューブシートを前記半導体素子の上に配置する工程と、前記カーボンナノチューブシートの上に放熱部材を配置し、前記放熱部材を下側に押圧しながら加熱処理することにより、前記カーボンナノチューブ集合体上の前記熱可塑性樹脂部及び前記熱硬化性樹脂部を横方向に押し出して、前記カーボンナノチューブの上端を前記放熱部材に接触させる工程とを有する半導体装置の製造方法が提供される。
以下の開示によれば、カーボンナノチューブシートは、半導体素子の上面と放熱部材の下面との間に配置されて、熱伝導性シートとして機能する。
カーボンナノチューブシートの中央領域に適度な柔軟性を有する熱可塑性樹脂部を含浸させることにより、半導体素子の動作時の発熱による反りなどを十分に吸収することができる。
また、カーボンナノチューブシートの外周領域に接着強度の強い熱硬化性樹脂部を含浸させることにより、カーボンナノチューブシートを半導体素子及び放熱部材に強固に接着することができる。
このように、カーボンナノチューブシートは適度な柔軟性と強い接着性とを併せもつため、半導体素子に反りなどが発生しても、安定して高い放熱性能を得ることができる。
図1(a)及び(b)は実施形態のカーボンナノチューブシートを示す断面図及び平面図である。 図2(a)及び(b)は実施形態の変形例のカーボンナノチューブシートを示す断面図及び平面図である。 図3(a)〜(d)は実施形態のカーボンナノチューブシートの製造方法を示す断面図(その1)である。 図4(a)及び(b)は実施形態のカーボンナノチューブシートの製造方法を示す断面図(その2)である。 図5(a)及び(b)は実施形態のカーボンナノチューブシートの製造方法を示す断面図及び平面図(その3)である。 図6(a)及び(b)は実施形態のカーボンナノチューブシートの製造方法を示す断面図及び平面図(その4)である。 図7は実施形態のカーボンナノチューブシートの製造方法を示す断面図(その5)である。 図8は実施形態のカーボンナノチューブシートの製造方法を示す断面図(その6)である。 図9(a)〜(c)は実施形態の半導体装置の製造方法を示す断面図(その1)である。 図10は実施形態の半導体装置の製造方法を示す断面図(その2)である。 図11は実施形態の半導体装置を示す断面図(その1)である。 図12は実施形態の半導体装置を示す断面図(その2)である。 図13は実施形態の半導体装置を示す断面図(その3)である。 図14はその他の実施形態のカーボンナノチューブシートを示す断面図(その1)である。 図15はその他の実施形態のカーボンナノチューブシートを示す断面図(その2)である。
以下、実施の形態について、添付の図面を参照して説明する。
図1〜図2は実施形態のカーボンナノチューブシートを示す図、図3〜図8は実施形態のカーボンナノチューブシートの製造方法を示す図である。
図1(a)及び(b)に示すように、実施形態のカーボンナノチューブシート1では、垂直方向に配向された複数のカーボンナノチューブ10aが横方向に微細な隙間を空けて並んで配列されている。
複数のカーボンナノチューブ10aによってカーボンナノチューブ集合体10が形成される。図1(b)の平面図を参照すると、カーボンナノチューブ集合体10は四角状に形成されている。
カーボンナノチューブ集合体10の中央領域Aの隙間には熱可塑性樹脂部20が形成されている。熱可塑性樹脂部20は未硬化であってもよいし、あるいは硬化していてもよい。
熱可塑性樹脂部20の好適な一例としては、ヤング率が1.1GPa程度のポリエチレン樹脂、又はヤング率が1.1GPa程度のポリプロピレン樹脂が使用される。
また、熱可塑性樹脂部20を取り囲むようにカーボンナノチューブ集合体10の外周領域Bの隙間に熱硬化性樹脂部22が形成されている。熱硬化性樹脂部22は未硬化の状態となっている。熱硬化性樹脂部22の好適な一例としては、ヤング率が2.4GPa程度のエポキシ樹脂、又はヤング率が2.8GPa程度のポリイミド樹脂が使用される。
このように、熱可塑性樹脂部20は、ヤング率が熱硬化性樹脂部22よりも小さい特性を有する。ヤング率が小さい方が柔軟性に優れ、ヤング率が大きい方が柔軟性が低く硬い特性を有する。
熱可塑性樹脂部20は熱硬化性樹脂部22よりも柔軟性が優れており、適度な弾力性をもっている。一方、熱硬化性樹脂部22は柔軟性が低いが高い接着力を有する。
後述するように、実施形態のカーボンナノチューブシート1は半導体素子の上面と放熱部材の下面との間に配置されて熱伝導性シートとして機能する。熱伝導性シートは、TIM(Thermal Interface Material)とも呼ばれる。
カーボンナノチューブシート1の中央領域Aに適度な柔軟性を有する熱可塑性樹脂部20を配置することにより、半導体素子の動作時の発熱による反りなどを十分に吸収できるようになっている。
さらに、カーボンナノチューブシート1の外周領域Bに接着強度の強い熱硬化性樹脂部22を配置することにより、カーボンナノチューブシート1の外周領域Bを半導体素子及び放熱部材に強固に接着することができる。
熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22は各カーボンナノチューブ10aの上端を被覆している。一方、各カーボンナノチューブ10aの下端は熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22から露出している。
カーボンナノチューブ10aの熱伝導率は1500W/mK〜3000W/mK程度であり、インジウムの熱伝導率(81W/mK程度)よりもかなり高い。しかも、カーボンナノチューブ10aはインジウムよりも機械的強度がかなり優れている。
このため、カーボンナノチューブシート1は半導体素子からの発熱を放熱部材に伝導するための熱伝導性シートとして好適に使用することができる。
上記したように、実施形態のカーボンナノチューブシート1は半導体素子と放熱部材との間に配置されて熱伝導性シートとして機能する。このとき、熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22は熱伝導率が低いため、各カーボンナノチューブ10aの上端を被覆する熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22は放熱部材で押圧されて横方向に押し出される。
これにより、各カーボンナノチューブ10aの上端が放熱部材の下面に接触するようになっている。
このような理由から、熱硬化性樹脂部22は未硬化の状態となっている。また、熱可塑性樹脂部20は、硬化した後でも再度加熱すると流動化するため、硬化状態であってもよいし、未硬化の状態であってもよい。
あるいは、図2(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1aのように、各カーボンナノチューブ10aの上端が熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22の上面から露出していてもよい。この場合は、上記した図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1の上面側の熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22が機械研磨によって各カーボンナノチューブ10aの上端が露出するまで研磨される。その他の構成は図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1と同じである。
図2(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1aを熱伝導性シートとして使用する際には、そのままの状態で各カーボンナノチューブ10aの上端の露出面が放熱部材に接触する。
図2(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1aは、機械研磨を行う工程が必要となるため、図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1より製造コストの面で不利になる。
次に、図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1の製造方法について説明する。
図3(a)に示すように、まず、シリコン基板30を用意する。シリコン基板30は、カーボンナノチューブを形成するための土台として使用される。シリコン基板30の両面にシリコン酸化膜が形成されていてもよい。シリコン基板30上には複数のカーボンナノチューブ形成領域が画定されており、図3(a)では一つのカーボンナノチューブ形成領域が示されている。
基板としてシリコン基板30を例示するが、セラミックス基板又はガラス基板などの各種の基板を使用することができる。
次いで、図3(b)に示すように、シリコン基板30上の全面に、スパッタ法などにより膜厚が2.5nm程度の鉄(Fe)膜を形成して触媒金属膜32とする。触媒金属膜32は、CVD法によってカーボンナノチューブを形成するための触媒として形成される。
触媒金属膜32としては、鉄以外に、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、金(Au)、銀(Ag)、又は白金(Pt)を使用してもよい。
次いで、図3(c)に示すように、シリコン基板30を650℃の温度で5分〜10分間、加熱処理する。これにより、触媒金属膜32が微粒子化されて触媒金属微粒子32aが得られる。
続いて、図3(d)に示すように、熱CVD(Chemical Vapor Deposition)法により、触媒金属微粒子32aを触媒としてシリコン基板30の上に複数のカーボンナノチューブ10aを成長させる。これにより、複数のカーボンナノチューブ10aが横方向に並んで形成されたカーボンナノチューブ集合体10が得られる。
図3(d)の部分拡大図に示すように、触媒金属微粒子32aに成長する各カーボンナノチューブ10aは、シリコン基板30の表面に対して垂直方向に配向して形成される。
熱CVD法によるカーボンナノチューブ10aの成長条件としては、例えば、原料ガスとして分圧比が1:9のアセチレン・アルゴンガスの混合ガスが使用され、成膜チャンバの総ガス圧が1kPa、温度が650℃、成長時間が30分に設定される。
次いで、図4(a)に示すように、中央部に開口部22xが設けられた熱硬化性樹脂シート22aを用意する。熱硬化性樹脂シート22aは未硬化状態(Bステージ)の樹脂である。熱硬化性樹脂シート22aは、熱硬化性樹脂材の一例であり、前述した図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1の熱硬化性樹脂部22を形成するための樹脂材料である。
また。図4(b)に示すように、熱硬化性樹脂シート22aの開口部22xの大きさに対応するサイズの未硬化の熱可塑性樹脂シート20aを用意する。熱可塑性樹脂シート20aは、熱可塑性樹脂材の一例であり、前述した図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1の熱可塑性樹脂部20を形成するための樹脂材料である。
その後に、図5(a)及び(b)に示すように、図4(a)の熱硬化性樹脂シート22aをカーボンナノチューブ集合体10の外周領域Bの上に配置する。さらに、図4(b)の熱可塑性樹脂シート20aを熱硬化性樹脂シート22aの開口部22x内に配置する。これにより、カーボンナノチューブ集合体10上の中央領域Aに配置された熱可塑性樹脂シート20aを取り囲むように熱硬化性樹脂シート22aが外周領域Bに配置される。
次いで、押圧部材(不図示)で熱可塑性樹脂シート20a及び熱硬化性樹脂シート22aを下側に押圧しながら、温度:200℃、処理時間:1分の条件で加熱処理を行う。
これにより、図6(a)及び(b)に示すように、カーボンナノチューブ集合体10の上に配置した熱可塑性樹脂シート20a及び熱硬化性樹脂シート22aを軟化させ、カーボンナノチューブ集合体10内の隙間に各樹脂を流し込んで含侵させる。
このようにして、カーボンナノチューブ集合体10の中央領域Aの隙間に熱可塑性樹脂部20が含浸され、外周領域Bの隙間に熱硬化性樹脂部22が含浸される。
上記した樹脂の加熱条件を採用すると、この時点では、熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22はまだ未硬化の状態となっている。
以上により、カーボンナノチューブ集合体10が熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22で一体化されてシート状になる。
上記した形態では、熱可塑性樹脂シート20a及び熱硬化性樹脂シート22aを加熱して、熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22を同時に形成している。この他に、熱可塑性樹脂部20を形成した後に、熱硬化性樹脂部22を形成してもよい。また逆に、熱硬化性樹脂部22を形成した後に、熱可塑性樹脂部20を形成してもよい。
あるいは、液状の熱可塑性樹脂及び熱硬化性樹脂をディスペンサなどで塗り分けて熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22を形成してもよい。
その後に、図7に示すように、シート状に一体化されたカーボンナノチューブ集合体10をシリコン基板30から引き剥がす。その後に、シート状に一体化されたカーボンナノチューブ集合体10を個々のカーボンナノチューブ形成領域が得られるように切断する。
以上により、前述した図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1が製造される。カーボンナノチューブシート1は、カーボンナノチューブ集合体10を樹脂で一体化して一枚のシート状にしているため、良好なハンドリング性を有する。
前述した図2(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1aを採用する場合は、図8に示すように、前述した図6(a)の工程の後に、カーボンナノチューブ集合体10の上面側の熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22を機械研磨などで除去する。これにより、各カーボンナノチューブ10aの上端を熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22から露出させる。
次に、図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1を熱伝導性シートとして使用する半導体装置に製造方法について説明する。
図9(a)に示すように、まず、配線基板40を用意する。配線基板40は、上面側に銅などからなる接続パッドPを備え、下面側にはんだなどからなる外部接続端子Tを備えている。接続パッドPは、配線基板40の内部に形成された多層配線(不図示)を介して外部接続端子Tに電気的に接続されている。
次いで、図9(b)に示すように、下面側にバンプ電極52を備えた半導体素子50(LSIチップ)を用意する。そして、半導体素子50のバンプ電極52をはんだ(不図示)を介して配線基板40の接続パッドPにフリップチップ接続する。半導体素子50としては、動作時に発熱量が大きなCPUチップなどが使用される。
その後に、半導体素子50と配線基板40との隙間にアンダーフィル樹脂54を充填する。
次いで、図9(c)に示すように、前述した図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1を半導体素子50の上面に配置する。カーボンナノチューブシート1は、熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22が各カーボンナノチューブ10aを被覆している面側が上側になるように、半導体素子50の上面に配置される。
続いて、図10に示すように、放熱部材としてヒートスプレッダ60を用意する。ヒートスプレッダ60は、平板部62と、その周縁から下側に突き出る環状の突出部64とを備えており、下面側の中央部に凹部Cが設けられている。ヒートスプレッダ60の一例としては、無酸素銅部材の外面にニッケルめっきを施したものが使用される。
次いで、図11に示すように、ヒートスプレッダ60の突出部64を熱硬化性の接着剤66を介して配線基板40の周縁部に配置する。
さらに、押圧部材(不図示)でヒートスプレッダ60を下側に押圧しながら、温度:250℃、処理時間:20〜30分の条件で加熱処理を行う。
このとき、ヒートスプレッダ60の凹部Cの底面がカーボンナノチューブシート1の各カーボンナノチューブ10aの上端に当接するように、ヒートスプレッダ60の凹部Cの深さが調節されている。
これにより、図11の部分拡大図に示すように、カーボンナノチューブシート1の上側の熱可塑性樹脂部20及び未硬化の熱硬化性樹脂部22が流動して横方向に押し出される。熱可塑性樹脂部20は、硬化している場合であっても再加熱により軟化して横方向に押し出される。
これにより、カーボンナノチューブシート1の各カーボンナノチューブ10aの上端がヒートスプレッダ60の凹部Cの底面に接触した状態となる。カーボンナノチューブシート1の各カーボンナノチューブ10aの下端は元々露出しているため、半導体素子50の上面に接触した状態となる。
この加熱処理により、カーボンナノチューブシート1の熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22が完全に硬化する。
これにより、カーボンナノチューブシート1の上面とヒートスプレッダ60の凹部Cの底面とが熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22によって接着される。また同時に、カーボンナノチューブシート1の下面と半導体素子50の上面とが熱可塑性樹脂部20及び熱硬化性樹脂部22によって接着される。さらに同時に、ヒートスプレッダ60の突出部64が配線基板40の周縁部に熱硬化性の接着剤66によって接着される。
以上により、実施形態の半導体装置2が製造される。
なお、カーボンナノチューブシート1の上面側をヒートスプレッダ60の凹部Cの底面に押圧して接着した後に、カーボンナノチューブシート1の下面側を半導体素子50の上面に接着してもよい。
図11に示すように、実施形態の半導体装置2は、前述した図9(a)で説明した配線基板40の接続パッドPに半導体素子50のバンプ電極52がフリップチップ接続されている。半導体素子50と配線基板40の間にアンダーフィル樹脂54が充填されている。
また、配線基板40の周縁部にはヒートスプレッダ60の環状の突出部64が接着剤66よって接着されている。これにより、ヒートスプレッダ60の凹部C内に半導体素子50が収容されている。
半導体素子50の上面とヒートスプレッダ60の凹部Cの底面との間の領域に、熱伝導性シートとして図1(a)のカーボンナノチューブシート1が設けられている。カーボンナノチューブシート1の外周領域Bの下面は熱硬化性樹脂部22によって半導体素子50の上面に接着されている。また、カーボンナノチューブシート1の外周領域Bの上面は熱硬化性樹脂部22によってヒートスプレッダ60の凹部Cの底面に接着されている。
また、カーボンナノチューブシート1の中央領域Aの下面は熱可塑性樹脂部20によって半導体素子50の上面に接着されている。また、カーボンナノチューブシート1の中央領域Aの上面は熱可塑性樹脂部20によってヒートスプレッダ60の凹部Cの底面に接着されている。
そして、カーボンナノチューブシート1の各カーボンナノチューブ10aの下端が半導体素子50の上面に接触している。また、カーボンナノチューブシート1の各カーボンナノチューブ10aの上端がヒートスプレッダ60の凹部Cの底面に接触している。
このように、実施形態の半導体装置2では、前述した製造方法で説明したように、熱伝導度が高いカーボンナノチューブ10aの上端及び下端をヒートスプレッダ60及び半導体素子50に確実に接触させることができる。
これにより、熱伝導経路の熱抵抗が小さくなり、半導体素子50から発する熱を、カーボンナノチューブシート1を介してヒートスプレッダ60側に十分に伝導して放熱することができる。
また、カーボンナノチューブシート1の中央領域Aには、適度な柔軟性を有する熱可塑性樹脂部20が形成されている。このため、半導体素子50の動作中の発熱によって反りが発生しも、反りを熱可塑性樹脂部20で吸収することができる。
よって、半導体素子50の動作中に反りが発生しても、各カーボンナノチューブ10aの上端及び下端が常にヒートスプレッダ60及び半導素子50に接触することができる。このため、半導体装置2内の熱伝導経路の接触熱抵抗の変化を抑えることができるので、安定して高い放熱性能を得ることができる。これにより、発熱量が多いCPUチップなどの半導体素子50を正常に動作させることができる。
また、半導体素子のマルチチップ化により複数の半導体素子の間で段差が生じる場合であっても、柔軟性を有する熱可塑性樹脂部20によって段差を吸収することができる。
また、カーボンナノチューブシート1の外周領域Bには、柔軟性や流動性は乏しいが接着強度が高い熱硬化性樹脂部22が形成されている。これにより、カーボンナノチューブシート1を半導体素子50及びヒートスプレッダ60に強固に接着することができる。
よって、半導体素子50の動作中に反りが発生しても、カーボンナノチューブシート1と、半導体素子50及びヒートスプレッダ60との接着が保持され、カーボンナノチューブシート1の剥離が防止される。
また、外周領域Bの熱硬化性樹脂部22は中央領域Aの熱可塑性樹脂部20よりも樹脂の剛性が高いため、カーボンナノチューブシート1の圧縮変形を防止することができる。
さらには、外周領域Bの熱硬化性樹脂部22内にもカーボンナノチューブ10aが存在するため、外周領域Bでの熱伝導性も高く、半導体素子50の熱を効率よくヒートスプレッダ60に伝導させることができる。
このように、実施形態のカーボンナノチューブシート1は、中央領域Aで適度な柔軟性を有し、外周領域Bで強い接着性を併せもつため、半導体素子50に反りが発生しても剥離することなく安定して熱を伝導することができる。
ここで、本実施形態と違って、全体にわたって熱硬化性樹脂を含浸させて硬化させたカーボンナノチューブシートを使用する場合について言及する。この場合は、硬化した熱硬化性樹脂は再加熱しても流動化しないため、前述した図11の工程で、カーボンナノチューブ10aの上端を露出させてヒートスプレッダ60に接触させることは困難である。
これに対して、熱可塑性樹脂は硬化した後も再加熱で流動化するため、プロセスが制限されることなく主要部のカーボンナノチューブ10aの上端を容易に露出させることができるという観点からも有利である。
図12に示す半導体装置2aでは、図11の半導体装置2のヒートスプレッダ60の上に熱伝導材68を介してヒートシンク70がさらに設けられている。ヒートシンク70は平板部72とその上に突き出る多数の放熱フィン74とから形成される。熱伝導材68として、前述した実施形態のカーボンナノチューブシート1を使用してもよい。
図12の半導体装置2aのヒートスプレッダ60及びヒートシンク70が放熱部材の一例である。
さらに、図13に示す半導体装置2bでは、図11の半導体装置2のヒートスプレッダ60の上に熱伝導材68を介してヒートパイプ80がさらに設けられている。ヒートパイプ80では、密閉したパイプ内に封入された作動液体の蒸発・凝縮の相変化で熱を輸送して放熱する。
図13の半導体装置2bにおいても、熱伝導材68として、前述した実施形態のカーボンナノチューブシート1を使用してもよい。
図13の半導体装置2bのヒートスプレッダ60及びヒートパイプ80が放熱部材の一例である。
(その他の実施形態)
前述した図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1では、カーボンナノチューブ集合体10の中央領域Aの全体に一括して熱可塑性樹脂部20を形成している。
図14に示すカーボンナノチューブ1bでは、熱可塑性樹脂部20がカーボンナノチューブ集合体10の中央領域Aに複数個に分割されて配置されている。そして、熱硬化性樹脂部22は、カーボンナノチューブ集合体10の外周領域Bから中央領域Aに延びて形成され、複数の熱可塑性樹脂部20を取り囲んで形成される。
半導体素子の発熱しやすい部位に合わせて複数の熱可塑性樹脂部20を分割して配置することにより、半導体素子からの熱を効率よく外部に伝導することができる。また、カーボンナノチューブシート1bの中央領域Aの一部にも接着性の強い熱硬化性樹脂部22が形成されるため、接着強度を強くする際に都合がよい。
複数の熱可塑性樹脂部20は、円形以外に四角形などの各種の形状を採用できると共に、分割数も任意に設定することができる。
図14のカーボンナノチューブ1bを製造するには、前述した図5(a)及び(b)の工程で、カーボンナノチューブ集合体10の上に複数の開口部が設けられた熱硬化性樹脂材を配置し、その開口部に熱可塑性樹脂材をそれぞれ配置して、同様に樹脂を含浸させればよい。
また、図15に示すカーボンナノチューブシート1cのように、中央領域Aの熱可塑性樹脂部20内のみにカーボンナノチューブ10aが設けられ、外周領域Bの熱硬化性樹脂部22の中にカーボンナノチューブ10aが存在しない構造としてもよい。
この場合は、カーボンナノチューブシート1cは、外周領域Bの全体に配置された熱硬化性樹脂部22によって半導体素子及びヒートスプレッダにより強固に接着される。この形態では、熱硬化性樹脂部22の中にカーボンナノチューブが存在しないため、図1(a)及び(b)のカーボンナノチューブシート1よりも放熱性の面で不利になる。
1,1a,1b、1c…カーボンナノチューブシート、2,2a,2b…半導体装置、10…カーボンナノチューブ集合体、10a…カーボンナノチューブ、20…熱可塑性樹脂部、20a…熱可塑性樹脂シート、22…熱硬化性樹脂部、22a…熱硬化性樹脂シート、22x…開口部、30…シリコン基板、32…触媒金属膜、32a…触媒金属微粒子、40…配線基板、50…半導体素子、52…バンプ電極、54…アンダーフィル樹脂、60…ヒートスプレッダ、62…平板部、64…突出部、70…ヒートシンク、72…平板部、74…放熱フィン、80…ヒートパイプ、A…中央領域、B…外周領域、P…接続パッド、T…外部接続端子。

Claims (10)

  1. 複数のカーボンナノチューブが配列されたカーボンナノチューブ集合体と、
    前記カーボンナノチューブ集合体の中央領域に形成された熱可塑性樹脂部と、
    前記熱可塑性樹脂部を取り囲むように前記カーボンナノチューブ集合体の外周領域に形成された未硬化の熱硬化性樹脂部と
    を有することを特徴とするカーボンナノチューブシート。
  2. 前記熱可塑性樹脂部及び前記熱硬化性樹脂部は、前記カーボンナノチューブ集合体の上端を被覆していることを特徴とする請求項1に記載のカーボンナノチューブシート。
  3. 前記熱可塑性樹脂部は、前記カーボンナノチューブ集合体の中央領域に複数個に分割されて配置されていることを特徴とする請求項1又は2に記載のカーボンナノチューブシート。
  4. 配線基板と、
    前記配線基板の接続パッドに接続された半導体素子と、
    前記半導体素子の上に配置され、複数のカーボンナノチューブが配列されたカーボンナノチューブ集合体と、前記カーボンナノチューブ集合体の中央領域に形成された熱可塑性樹脂部と、前記熱可塑性樹脂部を取り囲むように前記カーボンナノチューブ集合体の外周領域に形成された熱硬化性樹脂部とを含むカーボンナノチューブシートと、
    前記カーボンナノチューブシートの上に配置された放熱部材と
    を有することを特徴とする半導体装置。
  5. 前記放熱部材は、下面側に凹部を備えて周縁に突出部が設けられており、前記放熱部材の突出部が前記配線基板に接着され、前記放熱部材の凹部の底面に前記カーボンナノチューブシートの上面が接触していることを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。
  6. 基板の上に複数のカーボンナノチューブを形成して、カーボンナノチューブ集合体を得る工程と、
    前記カーボンナノチューブ集合体上の中央領域に熱可塑性樹脂材を配置すると共に、前記熱可塑性樹脂材を取り囲むように前記カーボンナノチューブ集合体上の外周領域に未硬化の熱硬化性樹脂材を配置する工程と、
    加熱処理することにより、前記熱可塑性樹脂材及び前記熱硬化性樹脂材を流動させて前記カーボンナノチューブ集合体の隙間に含浸させる工程と、
    前記基板を除去する工程と
    を有することを特徴とするカーボンナノチューブシートの製造方法。
  7. 前記熱硬化性樹脂材及び前記熱可塑性樹脂材を含浸させる工程において、
    前記カーボンナノチューブ集合体の上端が前記熱硬化性樹脂材及び前記熱可塑性樹脂材で被覆され、かつ前記熱硬化性樹脂材は未硬化の状態で含浸されることを特徴とする請求項6に記載のカーボンナノチューブシートの製造方法。
  8. 前記熱可塑性樹脂材及び前記熱硬化性樹脂材を含浸させる工程の後に、
    前記カーボンナノチューブ集合体の上端を被覆する前記熱可塑性樹脂材及び前記熱硬化性樹脂材を研磨して、前記カーボンナノチューブの上端を露出させる工程を有することを特徴とする請求項7に記載のカーボンナノチューブシートの製造方法。
  9. 配線基板の接続パッドに半導体素子を接続する工程と、
    複数のカーボンナノチューブが配列されたカーボンナノチューブ集合体と、前記カーボンナノチューブ集合体の中央領域に含浸された熱可塑性樹脂部と、前記熱可塑性樹脂部を取り囲むように前記カーボンナノチューブ集合体の外周領域に含浸された未硬化の熱硬化性樹脂部とを含み、前記カーボンナノチューブの上端が前記熱硬化性樹脂部及び前記熱可塑性樹脂部で被覆されたカーボンナノチューブシートを用意する工程と、
    前記カーボンナノチューブシートを前記半導体素子の上に配置する工程と、
    前記カーボンナノチューブシートの上に放熱部材を配置し、前記放熱部材を下側に押圧しながら加熱処理することにより、前記カーボンナノチューブ集合体上の前記熱可塑性樹脂部及び前記熱硬化性樹脂部を横方向に押し出して、前記カーボンナノチューブの上端を前記放熱部材に接触させる工程と
    を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
  10. 前記カーボンナノチューブの上端を前記放熱部材に接触させる工程において、
    前記放熱部材は、下面側に凹部を備えて周縁に突出部が設けられており、前記放熱部材の突出部が前記配線基板に接着され、前記放熱部材の凹部の底面に前記カーボンナノチューブシートの上面が接触することを特徴とする請求項9に記載の半導体装置の製造方法。
JP2014010306A 2014-01-23 2014-01-23 カーボンナノチューブシート及び半導体装置とカーボンナノチューブシートの製造方法及び半導体装置の製造方法 Active JP6261352B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014010306A JP6261352B2 (ja) 2014-01-23 2014-01-23 カーボンナノチューブシート及び半導体装置とカーボンナノチューブシートの製造方法及び半導体装置の製造方法
US14/533,556 US9873825B2 (en) 2014-01-23 2014-11-05 Carbon nanotube sheet, semiconductor device, method of manufacturing carbon nanotube sheet, and method of manufacturing semiconductor device
CN201410643282.7A CN104810335B (zh) 2014-01-23 2014-11-06 碳纳米管片以及半导体装置、碳纳米管片的制造方法以及半导体装置的制造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014010306A JP6261352B2 (ja) 2014-01-23 2014-01-23 カーボンナノチューブシート及び半導体装置とカーボンナノチューブシートの製造方法及び半導体装置の製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015138903A true JP2015138903A (ja) 2015-07-30
JP2015138903A5 JP2015138903A5 (ja) 2016-10-27
JP6261352B2 JP6261352B2 (ja) 2018-01-17

Family

ID=53545463

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014010306A Active JP6261352B2 (ja) 2014-01-23 2014-01-23 カーボンナノチューブシート及び半導体装置とカーボンナノチューブシートの製造方法及び半導体装置の製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9873825B2 (ja)
JP (1) JP6261352B2 (ja)
CN (1) CN104810335B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020509944A (ja) * 2017-02-24 2020-04-02 リンテック・オヴ・アメリカ,インコーポレイテッド ナノファイバー熱界面材料
JP2022093705A (ja) * 2018-08-23 2022-06-23 昭和電工マテリアルズ株式会社 半導体デバイスの製造方法、熱伝導シート、及び熱伝導シートの製造方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190021230A (ko) * 2016-06-28 2019-03-05 니폰 제온 가부시키가이샤 방열 장치
KR102546241B1 (ko) * 2016-10-05 2023-06-22 삼성전자주식회사 반도체 패키지
US10861763B2 (en) 2016-11-26 2020-12-08 Texas Instruments Incorporated Thermal routing trench by additive processing
US11004680B2 (en) * 2016-11-26 2021-05-11 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device package thermal conduit
US11915991B2 (en) * 2021-03-26 2024-02-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor device having first heat spreader and second heat spreader and manufacturing method thereof

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012199598A (ja) * 2007-10-22 2012-10-18 Fujitsu Ltd シート状構造体及びその製造方法並びに電子機器
JP2013153089A (ja) * 2012-01-25 2013-08-08 Fujitsu Ltd 電子装置及びその製造方法
JP2014003144A (ja) * 2012-06-18 2014-01-09 Fujitsu Ltd 電子機器の製造方法及び電子機器

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100383213C (zh) * 2004-04-02 2008-04-23 清华大学 一种热界面材料及其制造方法
US7135769B2 (en) * 2005-03-29 2006-11-14 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor packages and methods of manufacturing thereof
CN101054467B (zh) * 2006-04-14 2010-05-26 清华大学 碳纳米管复合材料及其制备方法
US7489033B2 (en) * 2006-11-10 2009-02-10 Intel Corporation Electronic assembly with hot spot cooling
ATE474876T1 (de) * 2007-02-22 2010-08-15 Dow Corning Verfahren zur herstellung leitfähiger folien sowie in diesem verfahren hergestellte artikel
JP5276565B2 (ja) * 2009-10-14 2013-08-28 新光電気工業株式会社 放熱用部品
JP5295932B2 (ja) 2009-11-02 2013-09-18 新光電気工業株式会社 半導体パッケージ及びその評価方法、並びにその製造方法
JP5842349B2 (ja) * 2011-03-18 2016-01-13 富士通株式会社 シート状構造体、シート状構造体の製造方法、電子機器及び電子機器の製造方法
JP5673325B2 (ja) 2011-04-20 2015-02-18 富士通株式会社 カーボンナノチューブの形成方法及び熱拡散装置
KR101332866B1 (ko) * 2012-02-16 2013-11-22 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체 장치
US9041192B2 (en) * 2012-08-29 2015-05-26 Broadcom Corporation Hybrid thermal interface material for IC packages with integrated heat spreader

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012199598A (ja) * 2007-10-22 2012-10-18 Fujitsu Ltd シート状構造体及びその製造方法並びに電子機器
JP2013153089A (ja) * 2012-01-25 2013-08-08 Fujitsu Ltd 電子装置及びその製造方法
JP2014003144A (ja) * 2012-06-18 2014-01-09 Fujitsu Ltd 電子機器の製造方法及び電子機器

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020509944A (ja) * 2017-02-24 2020-04-02 リンテック・オヴ・アメリカ,インコーポレイテッド ナノファイバー熱界面材料
JP7105234B2 (ja) 2017-02-24 2022-07-22 リンテック・オヴ・アメリカ,インコーポレイテッド ナノファイバー熱界面材料
JP2022093705A (ja) * 2018-08-23 2022-06-23 昭和電工マテリアルズ株式会社 半導体デバイスの製造方法、熱伝導シート、及び熱伝導シートの製造方法
JP7338738B2 (ja) 2018-08-23 2023-09-05 株式会社レゾナック 半導体デバイスの製造方法、熱伝導シート、及び熱伝導シートの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104810335A (zh) 2015-07-29
CN104810335B (zh) 2018-11-13
US20150206822A1 (en) 2015-07-23
US9873825B2 (en) 2018-01-23
JP6261352B2 (ja) 2018-01-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6261352B2 (ja) カーボンナノチューブシート及び半導体装置とカーボンナノチューブシートの製造方法及び半導体装置の製造方法
JP5276565B2 (ja) 放熱用部品
JP5733893B2 (ja) 電子部品装置
CN111211059B (zh) 电子封装件及其制法与散热件
JP5104688B2 (ja) シート状構造体及びその製造方法並びに電子機器
TWI663695B (zh) 晶片封裝結構及其製造方法
JP6283293B2 (ja) カーボンナノチューブシートの製造方法
TW201411788A (zh) 集成電路封裝件及其裝配方法
TWI242863B (en) Heat dissipating structure and semiconductor package with the heat dissipating structure
TW201640627A (zh) 電子裝置及其製法
JP2017123379A (ja) 半導体装置
JP2010278281A (ja) 電子部品装置の製造方法
JP2011187877A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2016063178A (ja) 半導体装置及びその製造方法
TW201832297A (zh) 封裝堆疊構造及其製造方法
TW201203500A (en) Semiconductor package and manufacturing method thereof
US9644128B2 (en) Carbon nanotube sheet, electronic device, method of manufacturing carbon nanotube sheet, and method of manufacturing electronic device
JP2010171200A (ja) 半導体パッケージ放熱用部品
JP5343620B2 (ja) 放熱材料及びその製造方法並びに電子機器及びその製造方法
TWI708337B (zh) 電子封裝件及其製法與散熱件
CN209880589U (zh) 半导体封装结构
JP5808227B2 (ja) 放熱用部品、半導体パッケージ及びその製造方法
CN112117243A (zh) 半导体封装结构及其制备方法
JP2001217359A (ja) 放熱用フィン及びその製造方法並びに半導体装置
TWI721898B (zh) 半導體封裝結構

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160909

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160909

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170725

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170822

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171004

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171121

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171212

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6261352

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150