JP2015136012A - タイミング調整回路、クロック生成回路、及びタイミング調整方法 - Google Patents

タイミング調整回路、クロック生成回路、及びタイミング調整方法 Download PDF

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Abstract

【課題】異なる周波数を有するクロック信号間のタイミングを調整する回路を提供する。【解決手段】タイミング調整回路は、第1の周波数を有するデューティー比が50%の第1のクロック信号と、第1の周波数の1/2の周波数である第2の周波数を有するデューティー比が50%の第2のクロック信号と、第2のクロック信号と90度位相がずれており第2の周波数を有するデューティー比が50%の第3のクロック信号とに応じて、第1のクロック信号と第2及び第3のクロック信号との間のタイミング関係を示す検出信号を生成する検出器と、検出器の生成する検出信号を入力とするローパスフィルタと、ローパスフィルタの出力に応じて、第1のクロック信号のパルスの中心位置と第2のクロック信号のパルスの中心位置とが一致するように、第1のクロック信号と第2のクロック信号との間の相対的なタイミング関係を調整する可変遅延回路とを含む。【選択図】図2

Description

本願開示は、タイミング調整回路、クロック生成回路、及びタイミング調整方法に関する。
サンプリング処理や信号判定の為の比較処理等に高速信号を入力として供する場合、信号の速度が高速であるために、処理の速度を信号の速度に合わせることが難しい場合がある。そのような場合、入力信号が伝搬する一本の信号線に対して複数の処理回路を並列に接続し、時間上に並ぶ入力信号の複数の信号値を複数の処理回路で時分割的に処理する回路構成が用いられることがある。しかしながら一本の信号線に対して複数の処理回路を並列に接続すると、一本の信号線から見た場合の並列に接続された処理回路に対する入力容量が大きくなり、帯域が制限されてしまうという問題がある。
帯域制限の問題を解決するためには、入力信号を多重分離してから、複数の処理回路によりそれぞれ処理を実行すればよい。信号を多重分離する際には、複数の異なる位相を有し複数の異なる周波数を有する様々なデューティー比のクロック信号が用いられる。適切な多重分離を実現するためには、それらのクロック信号を生成して多重分離回路に供給する際に、クロック信号間のタイミングを調整して適切な位相関係を保つ必要がある。そのようなタイミング構成の対象となるクロック信号には、複数の異なる周波数を有するクロック信号も含まれる。
特開2001−268062号公報 特開平5−73167号公報 特開2003−37496号公報
以上を鑑みると、異なる周波数を有するクロック信号間のタイミングを調整する回路が望まれる。
タイミング調整回路は、第1の周波数を有するデューティー比が50%の第1のクロック信号と、前記第1の周波数の1/2の周波数である第2の周波数を有するデューティー比が50%の第2のクロック信号と、前記第2のクロック信号と90度位相がずれており前記第2の周波数を有するデューティー比が50%の第3のクロック信号とに応じて、前記第1のクロック信号と前記第2及び第3のクロック信号との間のタイミング関係を示す検出信号を生成する検出器と、前記検出器の生成する前記検出信号を入力とするローパスフィルタと、前記ローパスフィルタの出力に応じて、前記第1のクロック信号のパルスの中心位置と前記第2のクロック信号のパルスの中心位置とが一致するように、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の相対的なタイミング関係を調整する可変遅延回路とを含む。
クロック生成回路は、第1の周波数を有するデューティー比が50%の第1のクロック信号を分周することにより、前記第1の周波数の1/2の周波数である第2の周波数を有するデューティー比が50%の第2のクロック信号と、前記第2のクロック信号と90度位相がずれており前記第2の周波数を有するデューティー比が50%の第3のクロック信号と、前記第1の周波数の1/4の周波数である第3の周波数を有するデューティー比が50%の第4のクロック信号とを生成する分周回路と、前記第1のクロック信号と、前記第2のクロック信号と、前記第3のクロック信号とに応じて、前記第1のクロック信号と前記第2及び第3のクロック信号との間のタイミング関係を示す検出信号を生成する検出器と、前記検出器の生成する前記検出信号を入力とするローパスフィルタと、前記ローパスフィルタの出力に応じて、前記第1のクロック信号のパルスの中心位置と前記第2のクロック信号のパルスの中心位置とが一致するように、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の相対的なタイミング関係を調整する可変遅延回路と、前記ローパスフィルタの出力に応じて、前記第4のクロック信号に対して、遅延量を可変に制御する可変遅延回路と、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とのAND論理を取ることにより、前記第2の周波数を有するデューティー比が25%の第5のクロック信号を生成するAND回路とを含む。
少なくとも1つの実施例によれば、異なる周波数を有するクロック信号間のタイミングを調整する回路を提供できる。
並列処理回路の構成の一例を示す図である。 周波数の異なるクロック信号間のタイミングを調整する回路の構成の一例を示す図である。 クロック信号O_Bとクロック信号O_A及びO_Qとの間のタイミング関係を示す図である。 位相検出器の構成の一例を示す図である。 タイミングが合っている状態のクロック信号を示す図である。 タイミングがずれている状態のクロック信号を示す図である。 タイミングがずれている状態のクロック信号を示す図である。 位相検出器の構成の別の一例を示す図である。 位相検出器の構成の更に別の一例を示す図である。 タイミングが合っている状態における図8及び図9の位相検出器の各信号の波形を示す図である。 タイミングがずれている状態における図8及び図9の位相検出器の各信号の波形を示す図である。 タイミングがずれている状態における図8及び図9の位相検出器の各信号の波形を示す図である。 位相検出器の構成の更に別の一例を示す図である。 タイミングが合っている状態において図13に示される位相検出器の非反転側の各信号の波形を示す図である。 タイミングが合っている状態において図13に示される位相検出器の反転側の各信号の波形を示す図である。 タイミング調整回路の構成の別の一例を示す図である。 可変遅延回路の構成の一例を示す図である。 可変容量回路の構成の一例を示す図である。 遅延対象の信号が差動信号である場合の可変遅延回路の構成の一例を示す図である。 並列処理回路の構成の別の一例を示す図である。 図20の並列処理回路において用いるクロック信号の波形の一例を示す図である。 並列処理回路の構成の更に別の一例を示す図である。 図22の並列処理回路において用いるクロック信号の波形の一例を示す図である。 クロック生成回路の構成の一例を示す図である。 図24のクロック生成回路において用いられる信号の一例を示す図である。 図24のクロック生成回路において用いられるリタイミング回路の構成の一例を示す図である。 図24のクロック生成回路が生成する信号の一例を示す図である。
以下に、本発明の実施例を添付の図面を用いて詳細に説明する。
図1は、並列処理回路の構成の一例を示す図である。図1に示す並列処理回路は、スイッチ回路10A乃至12A、スイッチ回路10B乃至12B、比較回路13−1乃至13−4を含む。入力端子INから入力された多重信号は、スイッチ回路10A乃至12A及びスイッチ回路10B乃至12Bにより多重分離され、比較回路13−1乃至13−4の非反転入力に印加される。比較回路13−1乃至13−4の各々は、非反転入力に印加された多重分離後の信号を反転入力に印加される参照電位VREFと比較し、比較結果を出力端子OUT1乃至OUT4に出力する。比較回路13−1乃至13−4の非反転入力に接続される信号線には寄生容量14が存在する。従って、スイッチ回路10A乃至12A及び10B乃至12Bにより多重分離せずに入力多重信号をそのまま比較回路13−1乃至13−4に印加する場合には、入力端子INから見た入力容量が大きくなり、入力多重信号の帯域が制限されてしまう。スイッチ回路10A乃至12A及び10B乃至12Bにより多重分離することにより、高速な信号変化を可能にし、高速な入力多重信号に対する並列比較処理が可能になる。
スイッチ回路10Aは、所定の周波数fでデューティー比50%のクロック信号O_Bに同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路10Bは、クロック信号O_Bの反転クロック信号に同期して開閉を繰り返す。即ち、スイッチ回路10A及び10Bは、一方が開のときに他方が閉であり、一方が閉のときに他方が開である。
スイッチ回路11Aは、周波数f/2の周波数でデューティー比50%のクロック信号O_Aに同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路11Bは、クロック信号O_Aの反転クロック信号に同期して開閉を繰り返す。即ち、スイッチ回路11A及び11Bは、一方が開のときに他方が閉であり、一方が閉のときに他方が開である。
スイッチ回路12Aは、クロック信号O_Aと位相が90度ずれており、周波数f/2の周波数でデューティー比50%のクロック信号O_Qに同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路12Bは、クロック信号O_Qの反転クロック信号に同期して開閉を繰り返す。即ち、スイッチ回路12A及び12Bは、一方が開のときに他方が閉であり、一方が閉のときに他方が開である。
上に説明した複数のクロック信号のうち、周波数fのクロック信号O_Bが与えられれば、このクロック信号を入力として、分周器により複数の周波数f/2のクロック信号を生成することができる。このとき、分周器により生成された複数のクロック信号は、90度や180度等、所定の角度だけ互いに位相がずれたものとなる。従って上に説明したスイッチ回路10A乃至12A及び10B乃至12Bに供給するクロック信号のうち、互いに90度位相がずれた周波数f/2のクロック信号O_Aと周波数f/2のクロック信号O_Qとは、分周器により容易に生成することができる。しかしながら、分周器への入力となる周波数fのクロック信号O_Bと、分周器の出力である周波数f/2のクロック信号O_A及びO_Qとでは、互いの位相差が分周器の回路構成に応じたものとなり、所望の位相関係を満足させることができない。従って、周波数fのクロック信号と周波数f/2のクロック信号との位相関係を調整することが望ましい。
図2は、周波数の異なるクロック信号間のタイミングを調整する回路の構成の一例を示す図である。図2に示すタイミング調整回路は、遅延回路21、可変遅延回路22−1乃至22−3、位相検出器23、及びローパスフィルタ24を含む。なお図2及び以降の同様の図において、各ボックスで示される各回路又は機能ブロックと他の回路又は機能ブロックとの境界は、基本的には機能的な境界を示すものであり、物理的な位置の分離、電気的な信号の分離、制御論理的な分離等に対応するとは限らない。各回路又は機能ブロックは、他のブロックと物理的にある程度分離された1つのハードウェアモジュールであってもよいし、或いは他のブロックと物理的に一体となったハードウェアモジュール中の1つの機能を示したものであってもよい。
遅延回路21に入力されるクロック信号I_Bは、所定の周波数fを有するデューティー比が50%のパルス信号である。可変遅延回路22−1に入力されるクロック信号I_Aは、周波数fの1/2の周波数である周波数f/2を有するデューティー比が50%のパルス信号である。可変遅延回路22−2に入力されるクロック信号I_Qは、クロック信号I_Aと90度位相がずれており周波数f/2を有するデューティー比が50%のパルス信号である。可変遅延回路22−3に入力されるクロック信号I_Yは、周波数f/4を有するデューティー比が50%のパルス信号である。
可変遅延回路22−1乃至22−3は、入力クロック信号I_A、I_Q及びI_Yを互いに同一の遅延量だけ遅延させることにより、出力クロック信号O_A、O_Q及びO_Yを生成する。可変遅延回路22−1乃至22−3の遅延量は可変であり、ローパスフィルタ24の出力により応じて設定される。遅延回路21は、入力クロック信号I_Bを所定の遅延量だけ遅延させることにより、出力クロック信号O_Bを生成する。遅延回路21の遅延量は固定である。
クロック信号O_Bは、周波数fを有するデューティー比が50%のクロック信号である。クロック信号O_Aは、周波数fの1/2の周波数である周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号である。クロック信号O_Qは、クロック信号O_Aと90度位相がずれており周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号である。
位相検出器23は、クロック信号O_Bと、クロック信号O_Aと、クロック信号O_Qとに応じて、クロック信号O_Bとクロック信号O_A及びO_Qとの間のタイミング関係を示す検出信号を生成する。ローパスフィルタ24は、位相検出器23の生成する検出信号を入力とし、検出信号の高周波成分をカット又は減衰させることにより、検出信号の低周波成分に相当する出力信号を生成する。
可変遅延回路22−1は、ローパスフィルタ24の出力に応じて、クロック信号O_Bのパルスの中心位置とクロック信号O_Aのパルスの中心位置とが一致するように、クロック信号O_Bとクロック信号O_Aとの間の相対的なタイミング関係を調整する。図2に示す例では、クロック信号I_Bの遅延を固定にして、クロック信号I_Aの遅延を可変に制御することにより、クロック信号O_Bとクロック信号O_Aとの間の相対的なタイミング関係を調整している。代替的に、クロック信号I_Aの遅延を固定にして、クロック信号I_Bの遅延を可変に制御することにより、クロック信号O_Bとクロック信号O_Aとの間の相対的なタイミング関係を調整してもよい。
このとき、可変遅延回路22−1乃至22−3は、同一の遅延量を有するように制御される。従って、クロック信号O_Bとクロック信号O_Q及びO_Yとの間のタイミング関係も、クロック信号O_Bとクロック信号O_Aとの間のタイミング関係と同様に調整される。
なお図1に示すような並列処理回路で多重分離を適切に行うという目的のためには、クロック信号O_Bのパルスの中心位置とクロック信号O_Aのパルスの中心位置とが一致する、という条件は、完全一致ではなく、大略一致を意味してよい。ここで大略一致するとは、具体的には、クロック信号O_BのHIGHパルスの全体がクロック信号O_AのHIGHパルスの期間内に存在することを意味してよい。このとき、クロック信号O_A及びO_Qのデューティー比が正確に50%である場合、クロック信号O_Bのデューティー比は25%から75%迄の範囲であってよい。また逆にクロック信号O_Bのデューティー比が正確に50%であるとすると、クロック信号O_A及びO_Qのデューティー比は37.5%から62.5%迄の範囲であってよい。これら3つの全てのクロック信号のデューティー比が50%からずれると、互いに全体のマージンを分かち合う関係となる。また3つの全てのクロック信号が正確に50%である場合、クロック信号O_Qとクロック信号O_Aとの間の位相のずれは、0度から180度迄の範囲であってよい。またクロック信号O_Bの周波数がクロック信号O_Aの周波数の2の冪乗倍であれば、クロック信号O_AのHIGHパルスの中心にクロック信号O_BのHIGHパルスを位置決めすることができる。但し、後述の図24の例の場合には、クロック信号O_Bの周波数がクロック信号O_Aの周波数の2倍である。
図3は、クロック信号O_Bとクロック信号O_A及びO_Qとの間のタイミング関係を示す図である。図2に示すタイミング調整回路によるタイミング調整により、クロック信号O_Bのパルスの中心位置とクロック信号O_Aのパルスの中心位置とが一致するように、クロック信号O_Bとクロック信号O_Aとの間の相対的なタイミング関係が調整される。即ち、タイミング調整により、図3に示す時間間隔T1と時間間隔T2とが等しくなるように、クロック信号O_Bとクロック信号O_Aとの間の相対的なタイミングが設定される。
図4は、位相検出器23の構成の一例を示す図である。図4に示す位相検出器23は、定電流源30、PMOSトランジスタ31乃至33、NMOSトランジスタ34乃至36、定電流源37、及び出力端子38を含む。定電流源30は、例えばゲートに一定のバイアス電圧が印加されたPMOSトランジスタであってよい。定電流源37は、例えばゲートに一定のバイアス電圧が印加されたNMOSトランジスタであってよい。
3つのPMOSトランジスタ31乃至33は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aがそれぞれゲートに印加され、直列に接続されている。3つのNMOSトランジスタ34乃至36は、クロック信号O_A、O_Q、及びO_Bがそれぞれゲートに印加され、直列に接続されている。出力端子38からは、前記の検出信号が出力される。電源電圧VDDと出力端子38との間に3つのPMOSトランジスタ31乃至33が接続され、出力端子38とグランド電圧との間に3つのNMOSトランジスタ34乃至36が接続される。
出力端子38に生成される検出信号vctrlのアサート期間(例えばHIGHの期間)は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てLOWになる期間に等しい。また検出信号vctrlのネゲート期間(例えばLOWの期間)は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てHIGHになる期間に等しい。それ以外の期間においては、検出信号vctrlはHIGHインピーダンス状態(浮遊状態)となる。
上記の検出信号vctrlが、図2に示すローパスフィルタ24に入力される。ローパスフィルタ24は、検出信号vctrlの低周波成分を抽出することにより、可変遅延回路22−1乃至22−3の遅延量を制御するための遅延制御信号を生成する。検出信号vctrlのHIGH期間がLOW期間よりも長い場合には、遅延制御信号はHIGHの信号となる。検出信号vctrlのHIGH期間がLOW期間よりも短い場合には、遅延制御信号はLOWの信号となる。検出信号vctrlのHIGH期間とLOW期間とが等しい場合には、遅延制御信号は略ゼロの信号となる。
図5は、タイミングが合っている状態のクロック信号を示す図である。互いに90度位相がずれているクロック信号O_Aとクロック信号O_Qとに対して、図5に示す状態では、クロック信号O_Bは適切なタイミングに調整されている。即ち、クロック信号O_Bのパルスの中心位置とクロック信号O_Aのパルスの中心位置とが一致した状態となっている。図4で説明した検出信号vctrlのHIGHの期間は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てLOWになる期間T4に等しい。また検出信号のLOWの期間は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てHIGHになる期間T3に等しい。図5に示すように適切なタイミング調整がなされている状態では、検出信号vctrlのHIGH期間(即ち期間T4)とLOW期間(即ち期間T3)とが等しくなり、遅延制御信号は略ゼロの信号となる。略ゼロである遅延制御信号に応じて、図2に示す可変遅延回路22−1乃至22−3は遅延量を変化させることなく、現在の遅延量をそのまま保持すればよい。
図6は、タイミングがずれている状態のクロック信号を示す図である。互いに90度位相がずれているクロック信号O_Aとクロック信号O_Qとに対して、図6に示す状態では、クロック信号O_Bは適切なタイミングよりも早いタイミングとなっている。即ち、クロック信号O_Bのパルスの中心位置が、クロック信号O_Aのパルスの中心位置よりも、時間的に若干早い位置となっている。図4で説明した検出信号vctrlのHIGHの期間は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てLOWになる期間T4に等しい。また検出信号のLOWの期間は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てHIGHになる期間T3に等しい。図6に示すようにクロック信号O_Bが適切なタイミングよりも早いタイミングである状態では、検出信号vctrlのHIGH期間(即ち期間T4)がLOW期間(即ち期間T3)よりも長くなり、遅延制御信号はHIGHの信号となる。HIGHである遅延制御信号に応じて、図2に示す可変遅延回路22−1乃至22−3は遅延量を短くする方向に変化させればよい。
図7は、タイミングがずれている状態のクロック信号を示す図である。互いに90度位相がずれているクロック信号O_Aとクロック信号O_Qとに対して、図7に示す状態では、クロック信号O_Bは適切なタイミングよりも遅いタイミングとなっている。即ち、クロック信号O_Bのパルスの中心位置が、クロック信号O_Aのパルスの中心位置よりも、時間的に若干遅い位置となっている。図4で説明した検出信号vctrlのHIGHの期間は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てLOWになる期間T4に等しい。また検出信号のLOWの期間は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てHIGHになる期間T3に等しい。図7に示すようにクロック信号O_Bが適切なタイミングよりも遅いタイミングである状態では、検出信号vctrlのHIGH期間(即ち期間T4)がLOW期間(即ち期間T3)よりも短くなり、遅延制御信号はLOWの信号となる。LOWである遅延制御信号に応じて、図2に示す可変遅延回路22−1乃至22−3は遅延量を短くする方向に変化させればよい。
なお図5乃至図7から分かるように、検出信号vctrlのHIGH期間(即ち期間T4)のパルス信号は、その長さが、クロック信号O_Aとクロック信号O_Bとの間のタイミング関係により定まる。また検出信号vctrlのLOW期間(即ち期間T3)のパルス信号は、その長さが、クロック信号O_Qとクロック信号O_Bとの間のタイミング関係により定まる。このように、位相検出器23が生成する検出信号vctrlは、クロック信号O_Aとクロック信号O_Bとの間のタイミング関係と、クロック信号O_Qとクロック信号O_Bとの間のタイミング関係とを示す信号となっている。
図8は、位相検出器23の構成の別の一例を示す図である。図8に示す位相検出器23は、定電流源40、PMOSトランジスタ41及び42、NMOSトランジスタ43及び44、定電流源45、OR回路46−1及び46−2、AND回路47−1及び47−2、及び出力端子48を含む。定電流源40は、例えばゲートに一定のバイアス電圧BiasPが印加されたPMOSトランジスタであってよい。定電流源45は、例えばゲートに一定のバイアス電圧BiasNが印加されたNMOSトランジスタであってよい。
OR回路46−1及び46−2により実現される論理回路は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aを入力とし、2個の出力を生成する。この2個の出力がそれぞれ、PMOSトランジスタ41及び42のゲートに印加される。AND回路47−1及び47−2により実現される論理回路は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aを入力とし、2個の出力を生成する。この2個の出力がそれぞれ、NMOSトランジスタ43及び44のゲートに印加される。電源電圧VDDと出力端子48との間に少なくとも2個のPMOSトランジスタ41及び42が接続され、出力端子48とグランド電圧との間に少なくとも2個のNMOSトランジスタ43及び44が接続される。
出力端子48に生成される検出信号vctrlのHIGHの期間は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てLOWになる期間に等しい。これと同一の論理を実現するように、OR回路46−1及び46−2により実現される論理回路の構成を変えて1個の出力を生成し、この1個の出力が1つのPMOSトランジスタのゲートに入力されるようにしてもよい。また検出信号のLOWの期間は、クロック信号O_B、O_Q、及びO_Aが全てHIGHになる期間に等しい。これと同一の論理を実現するように、AND回路47−1及び47−2により実現される論理回路の部分に関しては、論理回路の構成を変えて1個の出力を生成し、この1個の出力が1つのNMOSトランジスタのゲートに入力されるようにしてもよい。
図8に示す位相検出器23と図4に示す位相検出器23とは、具体的な論理回路の構成が異なるのみであり、入力クロック信号の論理値と出力検出信号の論理値との間の入出力関係は、2つの位相検出器23において同一である。図4に示す位相検出器23の場合には、電源電圧とグランド電圧との間に8つのMOSトランジスタが直列に配置されている。この場合、低い電源電圧で動作させると、MOSトランジスタの動作が飽和領域での動作ではなくなり、好ましくない。それに対して図8に示す位相検出器23の場合には、電源電圧とグランド電圧との間に6つのMOSトランジスタが直列に配置されているのみであり、比較的低い電源電圧に対しても適切に動作することができる。
図9は、位相検出器23の構成の更に別の一例を示す図である。図9において、図8と同一又は対応する構成要素は同一又は対応する番号で参照し、その説明は適宜省略する。図9に示す位相検出器23では、図8に示す位相検出器23に比較して、定電流源40と定電流源45との位置が、出力端子48に直接に接続する位置に移動されている。同様に、定電流源を適宜様々な位置に移動させても、出力端子48に検出信号vctlを生成する動作を変わりなく適切に実現することができる。
図10は、タイミングが合っている状態における図8及び図9の位相検出器の各信号の波形を示す図である。互いに90度位相がずれているクロック信号O_Aとクロック信号O_Qとに対して、図10に示す状態では、クロック信号O_B(信号DP及びDNと同じ)は適切なタイミングに調整されている。即ち、クロック信号O_B(信号DP及びDN)のパルスの中心位置とクロック信号O_Aのパルスの中心位置とが一致した状態となっている。図10に示すように適切なタイミング調整がなされている状態では、検出信号vctrlのHIGH期間(期間T6)とLOW期間(期間T5)とが等しくなり、可変遅延回路22−1乃至22−3に供給される遅延制御信号は略ゼロの信号となる。
図11は、タイミングがずれている状態における図8及び図9の位相検出器の各信号の波形を示す図である。互いに90度位相がずれているクロック信号O_Aとクロック信号O_Qとに対して、図11に示す状態では、クロック信号O_B(信号DP及びDNと同じ)は適切なタイミングよりも早いタイミングとなっている。即ち、クロック信号O_B(信号DP及びDN)のパルスの中心位置が、クロック信号O_Aのパルスの中心位置よりも、時間的に若干早い位置となっている。図11に示すようにクロック信号O_Bが適切なタイミングよりも早いタイミングである状態では、検出信号vctrlのHIGH期間(期間T6)がLOW期間(期間T5)よりも長くなり、可変遅延回路に供給される遅延制御信号はHIGHの信号となる。
図12は、タイミングがずれている状態における図8及び図9の位相検出器の各信号の波形を示す図である。互いに90度位相がずれているクロック信号O_Aとクロック信号O_Qとに対して、図12に示す状態では、クロック信号O_B(信号DP及びDNと同じ)は適切なタイミングよりも遅いタイミングとなっている。即ち、クロック信号O_B(信号DP及びDN)のパルスの中心位置が、クロック信号O_Aのパルスの中心位置よりも、時間的に若干遅い位置となっている。図12に示すようにクロック信号O_Bが適切なタイミングよりも遅いタイミングである状態では、検出信号vctrlのHIGH期間(期間T6)がLOW期間(期間T5)よりも短くなり、可変遅延回路に供給される遅延制御信号はLOWの信号となる。
図13は、位相検出器23の構成の更に別の一例を示す図である。図13において、図8又は図9と同一又は対応する構成要素は同一又は対応する番号で参照し、その説明は適宜省略する。図13に示す位相検出器23は、定電流源40、PMOSトランジスタ41及び42、NMOSトランジスタ43及び44、定電流源45、OR回路46−1及び46−2、AND回路47−1及び47−2、及び出力端子48を含む。位相検出器23は更に、PMOSトランジスタ51及び52、NMOSトランジスタ53及び54、定電流源55、NAND回路56−1及び56−2、及び、NOR回路57−1及び57−2を含む。
クロック信号O_AX、O_QX、及びO_BXは、それぞれクロック信号O_A、O_Q、及びO_Bの反転信号である。図13に示す位相検出器23は、図1に示す並列処理回路や図2に示すタイミング調整回路が、差動信号で動作する場合を想定したものである。そのような差動構成の場合であっても、図8又は図9に示されるような、非反転側のクロック信号O_A、O_Q、及びO_Bのみを入力とする位相検出器を用いて問題ない。しかしながら、非反転側のクロック信号O_A、O_Q、及びO_Bが位相検出器23に使用され、反転側のクロック信号O_AX、O_QX、及びO_BXが位相検出器23に使用されないとすると、それぞれのクロック信号への負荷がアンバランスとなる。バランスを取るためには、反転側のクロック信号O_AX、O_QX、及びO_BXを入力とするダミー位相検出器等を、わざわざ設けることが考えられる。しかしながら、そのようなダミー回路をわざわざ設けるのであれば、図13に示すように位相検出器23を差動構成としてしまうことが好ましい。
またクロック信号O_A、O_Q、及びO_Bに対して、クロック信号O_AX、O_QX、及びO_BXが正確に何らのタイミングのずれもなく反転されたものであるとは限らない。その場合、図13に示すような差動構成の位相検出器23を用いることで、タイミングのずれを平均化し、バランスのよい遅延調整動作を実現することができる。
図14は、タイミングが合っている状態において図13に示される位相検出器の非反転側の各信号の波形を示す図である。互いに90度位相がずれているクロック信号O_Aとクロック信号O_Qとに対して、図14に示す状態では、クロック信号O_B(信号DP及びDNと同じ)は適切なタイミングに調整されている。即ち、クロック信号O_B(信号DP及びDN)のパルスの中心位置とクロック信号O_Aのパルスの中心位置とが一致した状態となっている。
図15は、タイミングが合っている状態において図13に示される位相検出器の反転側の各信号の波形を示す図である。互いに90度位相がずれているクロック信号O_AXとクロック信号O_QXとに対して、図14に示す状態では、クロック信号O_BX(信号DP及びDNと同じ)は適切なタイミングに調整されている。
図15に示すように適切なタイミング調整がなされている状態では、検出信号vctrlのHIGH期間(期間T8)とLOW期間(期間T7)とが等しくなり、可変遅延回路22−1乃至22−3に供給される遅延制御信号は略ゼロの信号となる。従って、可変遅延回路22−1乃至22−3の遅延量は変化することなく、現在の値を保持することになる。
図16は、タイミング調整回路の構成の別の一例を示す図である。図16において、図2と同一又は対応する構成要素は同一又は対応する番号で参照し、その説明は適宜省略する。図16に示すタイミング調整回路は、遅延回路21、可変遅延回路22−1及び22−2、位相検出器23、ローパスフィルタ24、抵抗素子列61、比較回路62、デコーダ64、及びアップダウンカウンタ65を含む。
遅延回路21、可変遅延回路22−1及び22−2、位相検出器23、及びローパスフィルタ24が、微調整回路に相当する。抵抗素子列61、比較回路62及び63、デコーダ64、及びアップダウンカウンタ65が粗調整回路に相当する。粗調整回路により粗い調整を行い、更に微調整回路により細かい調整を行うことにより、タイミング調整範囲の広さとタイミング調整の高い精度との両方を効率的に実現することができる。
可変遅延回路22−1及び22−2の各々は、ローパスフィルタ24の出力に応じて、微調整回路の働きにより、クロック信号O_Bとクロック信号O_Aとの間の相対的なタイミング関係を第1の時間幅で調整可能である。またそれと同時に、可変遅延回路22−1及び22−2の各々は、ローパスフィルタ24の出力に応じて、粗調整回路の働きにより、クロック信号O_Bとクロック信号O_Aとの間の相対的なタイミング関係を第1の時間幅よりも長い第2の時間幅で調整可能である。
抵抗素子列61は、電源電圧VDDを分圧して、異なる2つの電圧を生成する。比較回路62は、2つの電圧のうちの一方の電圧と、ローパスフィルタ24の出力電圧とを比較する。比較回路63は、2つの電圧のうちの他方の電圧と、ローパスフィルタ24の出力電圧とを比較する。デコーダ64は、比較回路62及び63の比較結果出力をデコードして、デコード結果を出力する。アップダウンカウンタ65は、デコード結果に応じて、出力カウント値を増加又は減少させる。可変遅延回路22−1及び22−2の遅延量は、アップダウンカウンタ65の出力カウント値により粗調整される。また可変遅延回路22−1及び22−2の遅延量は、ローパスフィルタ24の出力電圧により微調整される。この微調整動作は、図2乃至図7を用いて説明した調整動作と同様である。
図17は、可変遅延回路の構成の一例を示す図である。図17に示す可変遅延回路を、図16に示すタイミング調整回路における可変遅延回路22−1及び22−2の各々として用いることができる。
図17に示す可変遅延回路は、n個(n:2以上の整数)のインバータ70−1乃至70−n、n−1個の可変容量素子71−1乃至71−n−1、及びn−1個の可変容量回路72−1乃至72−n−1を含む。インバータ70−1乃至70−nは、前段の出力が次段の入力になるよう縦続に接続され、クロック信号を伝搬させる。可変容量素子71−1乃至71−n−1は、例えば可変容量ダイオードであってよく、図16に示されるローパスフィルタ24の出力である制御電圧V_CTRLFに応じて、その容量が変化する。可変容量回路72−1乃至72−n−1は、図16に示されるアップダウンカウンタ65の出力するNビット(N:2以上の整数)のカウント値を制御信号V_CTRLC<N−1:0>として受け取る。可変容量回路72−1乃至72−n−1の容量値は、制御信号V_CTRLC<N−1:0>の値に応じた容量値に設定される。これにより、インバータ70−1乃至70−nの入出力に接続される信号線の容量値が変化し、信号線を伝搬する信号の遅延量を調整することができる。
図18は、可変容量回路の構成の一例を示す図である。図18に示す可変容量回路を、図17に示す可変容量回路72−1乃至72−n−1の各々として用いてよい。図18に示す可変容量回路は、容量素子73−1乃至73−m(m:2以上の整数)、及びスイッチ回路74−1乃至74−mを含む。容量素子73−1乃至73−mの一端は、図17に示すインバータ70−1乃至70−nの入出力に接続される信号線に接続され、容量素子73−1乃至73−mの他端は、対応するスイッチ回路74−1乃至74−mを介してグランド線に接続される。m個のスイッチ回路74−1乃至74−mのうちで、Nビットの制御信号V_CTRLC<N−1:0>が示す値に等しい数のスイッチ回路が導通され、それ以外のスイッチ回路が非導通となってよい。
図19は、遅延対象の信号が差動信号である場合の可変遅延回路の構成の一例を示す図である。図19において、図17と同一又は対応する構成要素は同一又は対応する番号で参照し、その説明は適宜省略する。図19に示す可変遅延回路は、n個(n:2以上の整数)のインバータ70−1乃至70−n、n−1個の可変容量素子71−1乃至71−n−1、及びn−1個の可変容量回路72−1乃至72−n−1を含む。図19に示す可変遅延回路は更に、n個のインバータ70A−1乃至70A−n、n−1個の可変容量素子71A−1乃至71A−n−1、及びn−1個の可変容量回路72A−1乃至72A−n−1を含む。図19に示す可変遅延回路は更に、k個(k:2以上の整数)のインバータユニット78−1乃至78−kを含む。
インバータ70−1乃至70−n、可変容量素子71−1乃至71−n−1、及び可変容量回路72−1乃至72−n−1を含む回路部分は、図17に示す可変遅延回路と同等である。インバータ70A−1乃至70A−nは、インバータ70−1乃至70−nと同一の構成であってよく、前段の出力が次段の入力になるよう縦続に接続され、クロック信号を伝搬させる。可変容量素子71A−1乃至71A−n−1及び可変容量回路72A−1乃至72A−n−1は、それぞれ可変容量素子71−1乃至71−n−1及び可変容量回路72−1乃至72−n−1と同一の構成であってよい。
インバータユニット78−1乃至78−kは、インバータ70−1乃至70−nの入出力を接続する信号線と、インバータ70A−1乃至70A−nの入出力を接続する信号線との間を、一方を入力として他方を出力とする2個のインバータにより相互接続する。インバータユニット78−1乃至78−kにより、2つの信号線の間において、論理値の反転関係を維持している。
図20は、並列処理回路の構成の別の一例を示す図である。図20に示す並列処理回路は、トランスコンダクタンスアンプ80−1及び80−2、比較回路81−1乃至81−3、容量素子82−1乃至82−3、スイッチ回路83−1及び83−2、スイッチ回路84−1乃至84−5を含む。並列処理回路は更に、スイッチ回路85−1乃至85−3及びスイッチ回路86−1乃至86−3を含む。図20に示す並列処理回路は、入力端子Inputから入力された多重信号を例えば16個の信号に分離して、16個の分離された信号それぞれに対する処理を並列に実行し、16個の出力を並列に生成する並列処理回路の一部分を示したものである。
入力端子Inputから入力された多重信号は、トランスコンダクタンスアンプ80−1及び80−2により増幅された後、スイッチ回路83−1及び83−2及びスイッチ回路84−1乃至84−5により多重分離される。多重分離された信号は、容量素子82−1乃至82−3、スイッチ回路84−1乃至84−5、スイッチ回路85−1乃至85−3、及びスイッチ回路86−1乃至86−3により、サンプル、ホールド、及びリセットされる。サンプル及びホールドされた多重分離後の信号は、比較回路81−1乃至81−3の非反転入力に印加される。比較回路81−1乃至81−3の各々は、非反転入力に印加された多重分離後の信号を反転入力に印加される参照電位VREFと比較し、比較結果を出力端子に出力する。スイッチ回路により多重分離することにより、高速な信号変化を可能にし、高速な入力多重信号に対する並列比較処理が可能になる。
スイッチ回路83−1及び83−2は、それぞれクロック信号φ3及びφ4に同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路84−1乃至84−5は、それぞれクロック信号φs3、φs11、φs4、φs12、及びφs5に同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路85−1乃至85−3は、それぞれクロック信号φh3乃至φh5に同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路86−1乃至86−3は、それぞれクロック信号φr3乃至φr5に同期して開閉を繰り返す。
図21は、図20の並列処理回路において用いるクロック信号の波形の一例を示す図である。図21には、図20に示す並列処理回路の動作を説明するために適した代表的なクロック信号のみを示してある。図21に示されるように、クロック信号φ3及びφ4は、所定の周波数f/2でデューティー比25%のクロック信号である。またクロック信号φs4、φs12、φr4、φh4、及びφc4は、周波数f/4でデューティー比50%のクロック信号である。図20に示されるスイッチ回路のうちで、スイッチ回路85−1乃至85−3のみが、クロック信号がLOWのときに導通し、クロック信号がHIGHのときに非導通となる。その他のスイッチ回路は、クロック信号がHIGHのときに導通し、クロック信号がLOWのときに非導通となる。
図20に示す容量素子82−2によるサンプル及びホールド動作について説明する。図21に示すように、最初にφh4及びφr4が共にLOWの状態では、スイッチ回路85−2が導通し、スイッチ回路86−2が非導通の状態である。この状態から、φr4がまずHIGHになり、スイッチ回路86−2が導通する。このとき容量素子82−2は電源電圧VDDとグランド電圧との間に接続されることになり、容量素子82−2は電源電圧VDDに充電されたリセット状態となる。
次にφhがHIGHとなることにより、スイッチ回路85−2が非導通となる。従って容量素子82−2は電源電圧VDDから分離され、グランド電圧に接続された状態となる。このときφs4もHIGHとなり、スイッチ回路84−3が導通となる。その後、φ4がHIGHとなることにより、スイッチ回路83−2が導通となり、入力端子Inputに印加される多重信号により容量素子82−2が放電される。このサンプル動作により、容量素子82−2は、入力多重信号に応じた電圧に放電される。その後、φ4及びφs4がLOWとなることにより、容量素子82−2が入力側から分離され、更にその後、φr4がLOWとなることにより、スイッチ回路86−2が非導通となりグランド電圧からも分離される。その後、φh4がLOWとなることにより、スイッチ回路85−2が導通状態となり、サンプルされた入力多重信号の電圧が比較回路81−2の非反転入力に印加される。
図20及び図21に示すような並列処理回路においては、クロック信号φ3及びφ4のように、所定の周波数f/2でデューティー比25%のクロック信号が用いられる。またクロック信号φs4、φs12、φr4、φh4、及びφc4のように、周波数f/4でデューティー比50%のクロック信号が用いられる。従って、互いに所望のタイミング関係を有した上記各種クロック信号を生成することが望まれる。
図22は、並列処理回路の構成の更に別の一例を示す図である。図22に示す並列処理回路は、トランスコンダクタンスアンプ90−1及び90−2、比較回路91−1乃至91−3、容量素子92−1乃至92−3、スイッチ回路93−1及び93−2、スイッチ回路94−1乃至94−10を含む。並列処理回路は更に、スイッチ回路95−1乃至95−3及びスイッチ回路96−1乃至96−3を含む。図22に示す並列処理回路は、入力端子Inputから入力された多重信号を例えば16個の信号に分離して、16個の分離された信号それぞれに対する処理を並列に実行し、16個の出力を並列に生成する並列処理回路の一部分を示したものである。
なお内挿ユニット97−1乃至97−3の各々が、32個ずつ設けられている。32個の内挿ユニット97−1の各々は、スイッチ回路94−1及び94−2、スイッチ回路95−1、及び容量素子92−1を含む。32個の内挿ユニット97−2の各々は、スイッチ回路94−5及び94−6、スイッチ回路95−2、及び容量素子92−2を含む。32個の内挿ユニット97−3の各々は、スイッチ回路94−9及び94−10、スイッチ回路95−3、及び容量素子92−3を含む。
入力端子Inputから入力された多重信号は、トランスコンダクタンスアンプ90−1及び90−2により増幅された後、スイッチ回路93−1及び93−2及びスイッチ回路94−1乃至94−10により多重分離される。多重分離された信号は、容量素子92−1乃至92−3、スイッチ回路94−1乃至94−10、スイッチ回路95−1乃至95−3、及びスイッチ回路96−1乃至96−3により、サンプル、ホールド、及びリセットされる。サンプル及びホールドされた多重分離後の信号は、比較回路91−1乃至91−3の非反転入力に印加される。比較回路91−1乃至91−3の各々は、非反転入力に印加された多重分離後の信号を反転入力に印加される参照電位VREFと比較し、比較結果を出力端子に出力する。スイッチ回路により多重分離することにより、高速な信号変化を可能にし、高速な入力多重信号に対する並列比較処理が可能になる。
スイッチ回路93−1及び93−2は、それぞれクロック信号φ3及びφ4に同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路94−1乃至94−10は、それぞれクロック信号φs2、φs3、φs11、φs11、φs3、φs4、φs12、φs12、φs4、及びφs5に同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路95−1乃至95−3は、それぞれクロック信号φh3乃至φh5に同期して開閉を繰り返す。スイッチ回路96−1乃至96−3は、それぞれクロック信号φr3乃至φr5に同期して開閉を繰り返す。
前述のように、内挿ユニット97−1乃至97−3の各々が、32個ずつ設けられている。例えば32個の内挿ユニット97−2の各々は、入力側がスイッチ回路93−1及び93−2に接続され、出力側が比較回路91−2の非反転入力に接続される。32個の内挿ユニット97−2のうち、x個の内挿ユニット97−2においてはφs3が活性且つφs4が非活性となり、残りの32−x個の内挿ユニット97−2においてはφs3が非活性且つφs4が活性となる。これにより、入力端子Inputに印加される多重信号のうち、時間的に隣接する2つの信号電圧値の間をx/32:(32−x)/32に内挿した電圧をサンプルすることが可能になる。このような内挿処理により、受信装置側の固定のサンプルタイミングで受信信号をサンプリングし、受信信号のデータユニットの位置とサンプリング点の位置との関係が固定であるにも関わらず、データユニットの中心でサンプリングするのと同様の効果を実現できる。他の内挿ユニットについても、その動作は同様である。
図23は、図22の並列処理回路において用いるクロック信号の波形の一例を示す図である。図23には、図22に示す並列処理回路の動作を説明するために適した代表的なクロック信号のみを示してある。図23に示されるように、クロック信号φ3及びφ4は、所定の周波数f/2でデューティー比25%のクロック信号である。またクロック信号φs4、φs3、φr4、φh4、及びφc4は、周波数f/4でデューティー比50%のクロック信号である。図23に示されるスイッチ回路のうちで、スイッチ回路95−1乃至95−3のみが、クロック信号がLOWのときに導通し、クロック信号がHIGHのときに非導通となる。その他のスイッチ回路は、クロック信号がHIGHのときに導通し、クロック信号がLOWのときに非導通となる。図22に示す容量素子によるサンプル及びホールド動作については、図20に示す容量素子によるサンプル及びホールド動作と同様であるので、説明は省略する。
図22及び図23に示すような並列処理回路においては、クロック信号φ3及びφ4のように、所定の周波数f/2でデューティー比25%のクロック信号が用いられる。またクロック信号φs4、φs3、φr4、φh4、及びφc4のように、周波数f/4でデューティー比50%のクロック信号が用いられる。従って、互いに所望のタイミング関係を有した上記各種クロック信号を生成することが望まれる。
図24は、クロック生成回路の構成の一例を示す図である。図24に示すクロック生成回路は、図20や図22に示す並列処理回路において用いるクロック信号を生成するために用いられる。図24に示すクロック生成回路は、分周回路100、タイミング調整回路101、リタイミング回路102、及びAND回路ユニット103を含む。
分周回路100は、1/2分周回路111、1/2分周回路112、及びフリップフロップ113乃至116を含む。分周回路100は、周波数fを有するデューティー比が50%のクロック信号CLKA、CLKAX、CLKB、及びCLKBXを受け取る。CLKAとCLKBとは互いに位相が90度ずれており、CLKAとCLKAXとは互いに反転しており(位相が180度ずれており)、CLKBとCLKBXとは互いに反転している(位相が180度ずれている)。1/2分周回路111は、CLKAとCLKAXとを1/2の周波数に分周することにより、周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号を生成する。1/2分周回路112は、1/2分周回路111が生成したクロック信号を1/2の周波数に分周することにより、周波数f/4を有するデューティー比が50%のクロック信号を生成する。フリップフロップ113及び114は、CLKAとCLKAXとをクロック信号として受け取り、クロック信号に同期して周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号を取り込むことにより、クロック信号をリタイミングする。フリップフロップ115及び116は、CLKBとCLKBXとをクロック信号として受け取り、クロック信号に同期して周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号を取り込むことにより、クロック信号をリタイミングする。このようにして、分周回路100は、周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号として、45度ずつ位相が異なる4個のクロック信号を生成して出力する。なお各クロック信号は差動信号であり、正相と逆相の2つのクロック信号の対となっている。従って、周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号として、45度ずつ位相が異なる8個のクロック信号が得られる。図27にこれらクロック信号が「f/2 50% duty<01>」乃至「f/2 50% duty<07>」として示される。
また分周回路100の1/2分周回路112が生成した周波数f/4を有するデューティー比が50%のクロック信号は、位相が90度ずつ異なる4個のクロック信号であってよい。そのうちの1つが、図27に、「f/4 50% duty<1>」として示される。
タイミング調整回路101は、図2に示したタイミング調整回路と同様の構成であってよい。タイミング調整回路101は、位相検出&ローパスフィルタ121、遅延回路122、及び可変遅延回路123を含む。位相検出&ローパスフィルタ121は、図2の位相検出器23とローパスフィルタ24とに相当する。遅延回路122は、図2の遅延回路21に相当する。可変遅延回路123は、図2の可変遅延回路22−1乃至22−3に相当する。位相検出&ローパスフィルタ121の検出器部分は、CLKA及びCLKAXを遅延回路122により遅延させた信号と、周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号を可変遅延回路123で遅延させた信号とに応じて、クロック信号間のタイミング関係を示す検出信号を生成する。具体的には、図3に示すクロック信号と同様に、互いに90度位相の異なる周波数f/2を有する2つのクロック信号と、周波数fを有するクロック信号との間のタイミング関係を示す検出信号を生成する。位相検出&ローパスフィルタ121のローパスフィルタ部分は、検出器部分の生成する検出信号を入力としてローパスフィルタ処理を行う。可変遅延回路123は、ローパスフィルタの出力に応じて、図3に示す関係のように、周波数f/2のクロック信号のパルスの中心位置と周波数fのクロック信号のパルスの中心位置とが一致するように、クロック信号間の相対的なタイミング関係を調整する。可変遅延回路123は更に、ローパスフィルタの出力に応じて、周波数f/4を有するデューティー比が50%のクロック信号も、周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号と同じ遅延量だけ遅延させる。遅延回路122については、その遅延量を固定としておいてよい。
図25は、図24のクロック生成回路において用いられる信号の一例を示す図である。図24に示されるAND回路ユニット103は、図25に示す関係のように、互いにパルスの中心位置が一致するように調整された周波数f/2のクロック信号と周波数fのクロック信号とのAND論理を取る。これにより、周波数f/2を有するデューティー比が25%のクロック信号を生成する。同様にして8個のクロック信号<7:0>が生成され、これらのクロック信号は、図27に示すように位相が45度ずつずれている。
図24に示すリタイミング回路102は、分周回路100の1/2分周回路112により生成され、タイミング調整回路101により遅延調整された周波数f/4を有するデューティー比が50%のクロック信号を、リタイミング(タイミング調整)する。具体的には、分周回路100により生成され、タイミング調整回路101により遅延調整された周波数f/2を有するデューティー比が50%のクロック信号のエッジと同期をとることにより、周波数f/4のクロック信号をリタイミングする。例えば、図25に示される周波数f/4でデューティー比50%のクロック信号を、周波数f/2でデューティー比50%のクロック信号の立ち上りエッジでフリップフロップに取り込むことにより、フリップフロップ出力としてリタイミング後の信号が得られる。
図26は、リタイミング回路の構成の一例を示す図である。図26に示すリタイミング回路は、フリップフロップ141乃至144を含む。フリップフロップ141乃至144の各々のクロック入力CKには、周波数f/2を有しデューティー比が50%のクロック信号CLKが入力され、データ入力Dには、周波数f/4を有しデューティー比が50%のクロック信号CLKが入力される。<N>として示される周波数f/2のクロック信号CLKは、例えば図27に示す「f/2 50% duty<04>」(N=4の場合)である。このクロック信号の立ち上りエッジによりリタイミングすることにより、フリップフロップ141及び143の出力として、φs4(N=4)及びφh4(N=4)が得られる。図21及び図23に示されるように、φs4及びφh4は同一のタイミングのクロック信号である。
また図26において、<N−1>として示される周波数f/2のクロック信号CLKは、例えば図27に示す「f/2 50% duty<03>」(N=4の場合)である。このクロック信号の立ち上りエッジによりリタイミングすることにより、フリップフロップ142の出力として、φsd4(N=4)が得られる。なおこのφsd4は、図23に示すφs3のことである。
また図26において、<N−2>として示される周波数f/2のクロック信号CLKは、例えば図27に示す「f/2 50% duty<06>」(N=4の場合)である。このクロック信号の立ち上りエッジによりリタイミングすることにより、フリップフロップ144の出力として、φh4(N=4)が得られる。図21及び図23に示されるように、φh4はφr4から45度位相がずれたクロック信号である。
図27は、図24のクロック生成回路が生成する信号の一例を示す図である。図27に示されるように、周波数f/2を有しデューティー比が50%のクロック信号φsとしては、22.5度ずつ位相が異なる16個のクロック信号φs<01>乃至φs<16>が得られる。同様にして、図26のリタイミング回路の動作に関連して説明したように、クロック信号φsとタイミング的に重なる16個のクロック信号φh、φr、φsdが生成される。これらのクロック信号は、φs<15:0>、φh<15:0>、φr<15:0>、及びφsd<15:0>として、図24に示されるようにリタイミング回路102から出力される。
以上、本発明を実施例に基づいて説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載の範囲内で様々な変形が可能である。
21 遅延回路
22−1乃至22−3 可変遅延回路
23 位相検出器
24 ローパスフィルタ
100 分周回路
101 タイミング調整回路
102 リタイミング回路
103 AND回路ユニット

Claims (9)

  1. 第1の周波数を有するデューティー比が50%の第1のクロック信号と、前記第1の周波数の1/2の周波数である第2の周波数を有するデューティー比が50%の第2のクロック信号と、前記第2のクロック信号と90度位相がずれており前記第2の周波数を有するデューティー比が50%の第3のクロック信号とに応じて、前記第1のクロック信号と前記第2及び第3のクロック信号との間のタイミング関係を示す検出信号を生成する検出器と、
    前記検出器の生成する前記検出信号を入力とするローパスフィルタと、
    前記ローパスフィルタの出力に応じて、前記第1のクロック信号のパルスの中心位置と前記第2のクロック信号のパルスの中心位置とが一致するように、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の相対的なタイミング関係を調整する可変遅延回路と
    を含むタイミング調整回路。
  2. 前記検出器が生成する検出信号は、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間のタイミング関係と、前記第1のクロック信号と前記第3のクロック信号との間のタイミング関係とを示す信号であることを特徴とする請求項1記載のタイミング調整回路。
  3. 前記検出信号のアサート期間は、前記第1のクロック信号、前記第2のクロック信号、及び前記第3のクロック信号が全てLOWになる期間に等しく、前記検出信号のネゲート期間は、前記第1のクロック信号、前記第2のクロック信号、及び前記第3のクロック信号が全てHIGHになる期間に等しいことを特徴とする請求項1記載のタイミング調整回路。
  4. 前記検出器は、
    前記第1乃至第3のクロック信号がそれぞれゲートに印加され、直列に接続された3つのPMOSトランジスタと、
    前記第1乃至第3のクロック信号がそれぞれゲートに印加され、直列に接続された3つのNMOSトランジスタと、
    前記検出信号を出力する出力端子と
    を含み、電源電圧と前記出力端子との間に前記3つのPMOSトランジスタが接続され、前記出力端子とグランド電圧との間に前記3つのNMOSトランジスタが接続されることを特徴とする請求項3記載のタイミング調整回路。
  5. 前記検出器は、
    前記第1乃至第3のクロック信号を入力とし、1又は2個の第1の出力を生成する第1の論理回路と、
    前記1又は2個の第1の出力がそれぞれゲートに印加される1又は2個のPMOSトランジスタと、
    前記第1乃至第3のクロック信号を入力とし、1又は2個の第2の出力を生成する第2の論理回路と、
    前記1又は2個の第2の出力がそれぞれゲートに印加される1又は2個のNMOSトランジスタと、
    前記検出信号を出力する出力端子と
    を含み、電源電圧と前記出力端子との間に前記1又は2個のPMOSトランジスタが接続され、前記出力端子とグランド電圧との間に前記1又は2個のNMOSトランジスタが接続されることを特徴とする請求項3記載のタイミング調整回路。
  6. 前記可変遅延回路は、前記ローパスフィルタの出力に応じて、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の相対的なタイミング関係を第1の時間幅で調整可能であると同時に、前記ローパスフィルタの出力に応じて、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の相対的なタイミング関係を前記第1の時間幅よりも長い第2の時間幅で調整可能であることを特徴とする請求項1乃至5何れか一項記載のタイミング調整回路。
  7. 第1の周波数を有するデューティー比が50%の第1のクロック信号を分周することにより、前記第1の周波数の1/2の周波数である第2の周波数を有するデューティー比が50%の第2のクロック信号と、前記第2のクロック信号と90度位相がずれており前記第2の周波数を有するデューティー比が50%の第3のクロック信号と、前記第1の周波数の1/4の周波数である第3の周波数を有するデューティー比が50%の第4のクロック信号とを生成する分周回路と、
    前記第1のクロック信号と、前記第2のクロック信号と、前記第3のクロック信号とに応じて、前記第1のクロック信号と前記第2及び第3のクロック信号との間のタイミング関係を示す検出信号を生成する検出器と、
    前記検出器の生成する前記検出信号を入力とするローパスフィルタと、
    前記ローパスフィルタの出力に応じて、前記第1のクロック信号のパルスの中心位置と前記第2のクロック信号のパルスの中心位置とが一致するように、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の相対的なタイミング関係を調整する可変遅延回路と、
    前記ローパスフィルタの出力に応じて、前記第4のクロック信号に対して、遅延量を可変に制御する可変遅延回路と、
    前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号とのAND論理を取ることにより、前記第2の周波数を有するデューティー比が25%の第5のクロック信号を生成するAND回路と、
    を含むクロック生成回路。
  8. 前記第4のクロック信号を前記第2のクロック信号に同期させるリタイミング回路を更に含むことを特徴とする請求項6記載のクロック生成回路。
  9. 第1の周波数を有するデューティー比が50%の第1のクロック信号と、前記第1の周波数の1/2の周波数である第2の周波数を有するデューティー比が50%の第2のクロック信号と、前記第2のクロック信号と90度位相がずれており前記第2の周波数を有するデューティー比が50%の第3のクロック信号とに応じて、前記第1のクロック信号と前記第2及び第3のクロック信号との間のタイミング関係を示す検出信号を生成し、
    前記検出信号をローパスフィルタ処理し、
    前記ローパスフィルタ処理の出力に応じて、前記第1のクロック信号のパルスの中心位置と前記第2のクロック信号のパルスの中心位置とが一致するように、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との間の相対的なタイミング関係を調整する
    各段階を含むタイミング調整方法。
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