JP2015125085A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015125085A5 JP2015125085A5 JP2013270763A JP2013270763A JP2015125085A5 JP 2015125085 A5 JP2015125085 A5 JP 2015125085A5 JP 2013270763 A JP2013270763 A JP 2013270763A JP 2013270763 A JP2013270763 A JP 2013270763A JP 2015125085 A5 JP2015125085 A5 JP 2015125085A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spectroscopic
- unit
- imaging device
- measurement system
- spectroscopic measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 34
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 27
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 15
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 14
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims 2
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013270763A JP6255992B2 (ja) | 2013-12-27 | 2013-12-27 | 分光測定システム、分光モジュール、及び、位置ズレ検出方法 |
| US14/580,848 US9797774B2 (en) | 2013-12-27 | 2014-12-23 | Spectrometry system, spectroscopic module, and positional deviation detection method |
| CN201410815568.9A CN104748846B (zh) | 2013-12-27 | 2014-12-24 | 分光测量系统、分光模块以及位置偏离检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013270763A JP6255992B2 (ja) | 2013-12-27 | 2013-12-27 | 分光測定システム、分光モジュール、及び、位置ズレ検出方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015125085A JP2015125085A (ja) | 2015-07-06 |
| JP2015125085A5 true JP2015125085A5 (enExample) | 2017-01-26 |
| JP6255992B2 JP6255992B2 (ja) | 2018-01-10 |
Family
ID=53481351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013270763A Active JP6255992B2 (ja) | 2013-12-27 | 2013-12-27 | 分光測定システム、分光モジュール、及び、位置ズレ検出方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9797774B2 (enExample) |
| JP (1) | JP6255992B2 (enExample) |
| CN (1) | CN104748846B (enExample) |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11490037B2 (en) * | 2014-10-29 | 2022-11-01 | Palo Alto Research Center Incorporated | Liquid crystal fourier transform imaging spectrometer |
| US10469771B2 (en) | 2014-10-29 | 2019-11-05 | Palo Alto Research Center Incorporated | Liquid crystal fourier transform imaging spectrometer |
| US10760967B2 (en) | 2014-10-29 | 2020-09-01 | Palo Alto Research Center Incorporated | Liquid crystal fourier transform imaging spectrometer |
| JP6641883B2 (ja) * | 2015-10-28 | 2020-02-05 | セイコーエプソン株式会社 | 測定装置、電子機器、及び測定方法 |
| JP6623685B2 (ja) * | 2015-10-29 | 2019-12-25 | セイコーエプソン株式会社 | 測定装置及び印刷装置 |
| EP3173770B1 (en) * | 2015-11-24 | 2022-08-31 | Hitachi High-Tech Analytical Science Limited | A portable analyzer using optical emission spectroscopy |
| US10451548B2 (en) | 2016-01-15 | 2019-10-22 | The Mitre Corporation | Active hyperspectral imaging system |
| JP6746376B2 (ja) * | 2016-05-23 | 2020-08-26 | 株式会社ミツトヨ | 測定システム及び調整用設定値の切替方法 |
| US11067446B2 (en) * | 2017-06-22 | 2021-07-20 | Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. | Compact spectrometer modules |
| DE102017212557A1 (de) * | 2017-07-21 | 2019-01-24 | Robert Bosch Gmbh | Mikrospektrometermodul und Verfahren zum Aufnehmen eines Spektrums mittels eines Mikrospektrometermoduls |
| US10955336B2 (en) * | 2017-08-26 | 2021-03-23 | Innovative Micro Technology | Gas sensor comprising a rotatable Fabry-Perot multilayer etalon |
| US12265019B2 (en) * | 2018-08-16 | 2025-04-01 | Essenlix Corporation | Compact imaging-based sensors |
| JP7230540B2 (ja) * | 2019-01-31 | 2023-03-01 | セイコーエプソン株式会社 | 分光システム |
| JP2020195104A (ja) * | 2019-05-30 | 2020-12-03 | セイコーエプソン株式会社 | 表示方法、表示装置および情報システム |
| JP2021036644A (ja) * | 2019-08-30 | 2021-03-04 | セイコーエプソン株式会社 | 画像処理方法、画像処理装置および情報システム |
| JP7484139B2 (ja) * | 2019-11-22 | 2024-05-16 | セイコーエプソン株式会社 | 分光装置、及び分光装置の駆動方法 |
| US11601628B2 (en) * | 2020-05-28 | 2023-03-07 | Seiko Epson Corporation | Control method of spectroscopic imaging device, spectroscopic imaging device, computer program, control method of display system, control method of projector, display system, and projector |
| JP7639304B2 (ja) * | 2020-11-12 | 2025-03-05 | セイコーエプソン株式会社 | 測色装置 |
| JP2022143831A (ja) * | 2021-03-18 | 2022-10-03 | セイコーエプソン株式会社 | 測色装置 |
| US12277803B2 (en) | 2021-04-21 | 2025-04-15 | Assa Abloy Global Solutions Ab | Thermal based presentation attack detection for biometric systems |
| JP2022190309A (ja) * | 2021-06-14 | 2022-12-26 | セイコーエプソン株式会社 | オートフォーカスの方法、分光カメラ、及びコンピュータープログラム |
Family Cites Families (39)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04125429A (ja) * | 1990-09-17 | 1992-04-24 | Hitachi Ltd | 面分光監視装置 |
| US5172146A (en) * | 1991-08-01 | 1992-12-15 | Wooldridge Lloyd A | Electronically controlled optical color correction system for a camera |
| JP3628017B2 (ja) | 1993-02-23 | 2005-03-09 | フィジカル サイエンシーズ, インコーポレーテッド | 結像方法および結像装置 |
| JP3682834B2 (ja) | 1998-12-01 | 2005-08-17 | ホーチキ株式会社 | 波長可変干渉フィルタを用いた光学装置 |
| JP3992390B2 (ja) | 1999-01-14 | 2007-10-17 | 株式会社クボタ | 分光分析方法 |
| JP2000266605A (ja) | 1999-03-16 | 2000-09-29 | Komatsu Ltd | 紫外レーザの波長測定装置 |
| JP2001221686A (ja) * | 2000-02-04 | 2001-08-17 | Minolta Co Ltd | 反射特性測定装置 |
| JP2001296180A (ja) | 2000-04-12 | 2001-10-26 | Mitsubishi Electric Corp | 分光画像取得装置 |
| US6804429B2 (en) | 2001-02-09 | 2004-10-12 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Reconfigurable wavelength multiplexers and filters employing micromirror array in a gires-tournois interferometer |
| US7907394B2 (en) * | 2001-11-19 | 2011-03-15 | Otter Products, Llc | Protective enclosure for touch screen device |
| TW531671B (en) | 2002-07-22 | 2003-05-11 | Delta Electronics Inc | Tunable filter applied in optical networks |
| JP2005077964A (ja) | 2003-09-03 | 2005-03-24 | Fujitsu Ltd | 分光装置 |
| JP4800591B2 (ja) * | 2004-05-26 | 2011-10-26 | オリンパス株式会社 | 撮影システム |
| JP2006303955A (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | Konica Minolta Opto Inc | 撮像装置及び電子機器 |
| US7420663B2 (en) * | 2005-05-24 | 2008-09-02 | Bwt Property Inc. | Spectroscopic sensor on mobile phone |
| FI119830B (fi) * | 2006-05-24 | 2009-03-31 | Valtion Teknillinen | Spektrometri ja inferferometrinen menetelmä |
| JP4891841B2 (ja) * | 2007-06-08 | 2012-03-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光モジュール |
| JP2009210312A (ja) | 2008-03-03 | 2009-09-17 | Denso Corp | ファブリペロー干渉計およびその製造方法 |
| ES2715633T3 (es) * | 2008-05-20 | 2019-06-05 | Univ Health Network | Dispositivo y método para formación de imágenes y supervisión por fluorescencia |
| DE102008050867B4 (de) | 2008-09-30 | 2011-12-08 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Verfahren zum Messen eines Spektrums einer schmalbandigen Lichtquelle sowie Spektrometeranordnung |
| JP2010271246A (ja) | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Sony Corp | 色彩輝度測定装置及び色彩輝度測定方法 |
| JP5584434B2 (ja) | 2009-06-19 | 2014-09-03 | 株式会社クボタ | 粉粒体の内部品質計測装置 |
| JP2011017827A (ja) * | 2009-07-08 | 2011-01-27 | Olympus Corp | フィルタ装置ならびにこれを備える撮影レンズおよび撮影装置 |
| JP5609542B2 (ja) | 2010-10-28 | 2014-10-22 | セイコーエプソン株式会社 | 光測定装置 |
| EP2633678A4 (en) * | 2010-10-29 | 2015-05-20 | Univ California | CELLSCOPE DEVICE AND IMAGING METHOD THEREFOR |
| JP5810512B2 (ja) | 2010-11-12 | 2015-11-11 | セイコーエプソン株式会社 | 光学装置 |
| JP5845592B2 (ja) * | 2011-02-17 | 2016-01-20 | セイコーエプソン株式会社 | 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置 |
| US8711340B2 (en) * | 2011-05-31 | 2014-04-29 | General Electric Company | Auto-aligning spectroscopy system |
| WO2012177544A1 (en) * | 2011-06-18 | 2012-12-27 | Intuitive Medical Technologies, Llc | Smart-phone adapter for ophthalmoscope |
| JP5942356B2 (ja) | 2011-08-03 | 2016-06-29 | 凸版印刷株式会社 | 分光情報取得装置、分光情報取得方法及び分光情報取得用プログラム |
| JP5786672B2 (ja) | 2011-11-18 | 2015-09-30 | セイコーエプソン株式会社 | 分光測定装置 |
| JP6216491B2 (ja) | 2012-02-20 | 2017-10-18 | セイコーエプソン株式会社 | 分光測定装置 |
| JP2013181912A (ja) * | 2012-03-02 | 2013-09-12 | Seiko Epson Corp | 成分分析装置 |
| JP6142479B2 (ja) | 2012-08-07 | 2017-06-07 | セイコーエプソン株式会社 | 分光装置 |
| US8711495B2 (en) * | 2012-10-01 | 2014-04-29 | Apple Inc. | MEMS autofocus actuator |
| JP6224354B2 (ja) * | 2013-05-31 | 2017-11-01 | 株式会社トプコン | スペクトル画像取得装置及びスペクトル画像取得方法 |
| JP3185803U (ja) * | 2013-06-21 | 2013-09-05 | ティ・アール・エイ株式会社 | スマートフォン用撮影補助具 |
| US9195120B2 (en) * | 2013-07-24 | 2015-11-24 | Vadym Chalenko | Universal adjustable lens adapter |
| US9269014B2 (en) * | 2013-09-24 | 2016-02-23 | Corning Incorporated | Hyperspectral detector systems and methods using context-image fusion |
-
2013
- 2013-12-27 JP JP2013270763A patent/JP6255992B2/ja active Active
-
2014
- 2014-12-23 US US14/580,848 patent/US9797774B2/en active Active
- 2014-12-24 CN CN201410815568.9A patent/CN104748846B/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2015125085A5 (enExample) | ||
| JP6255992B2 (ja) | 分光測定システム、分光モジュール、及び、位置ズレ検出方法 | |
| US20160282453A1 (en) | Methods and Systems for LIDAR Optics Alignment | |
| WO2008046663A3 (de) | Vorrichtung und verfahren zum berührungs losen erfassen einer dreidimensionalen kontur | |
| JP2007279052A (ja) | 手持ち型色測定装置 | |
| TWI456189B (zh) | 基板檢查裝置、基板檢查方法及該基板檢查裝置之調整方法 | |
| WO2009107981A3 (ko) | 3차원형상 측정장치 및 측정방법 | |
| JP2014132237A5 (enExample) | ||
| US9885564B2 (en) | Optical coordinate measuring device | |
| JP2017530358A5 (enExample) | ||
| US20140117239A1 (en) | Drug detection device and drug detection method | |
| JP6522344B2 (ja) | 高さ検出装置、塗布装置および高さ検出方法 | |
| EP2918968A3 (en) | Optical shape measuring apparatus with diffraction grating and method of manufacturing article | |
| US20170132779A1 (en) | Substrate inspection device and method thereof | |
| TWI534424B (zh) | 圖案檢查裝置及圖案檢查方法 | |
| JP6030471B2 (ja) | 形状測定装置 | |
| EP3669139A1 (en) | Alignment assembly and method for multi-spectral optical systems | |
| JP7136064B2 (ja) | 被検査体の表面検査装置および被検査体の表面検査方法 | |
| JP2010286339A (ja) | 光源の指向性検査方法およびその装置 | |
| JP6462749B2 (ja) | 測定装置、プログラム、および測定方法 | |
| JP6432968B2 (ja) | 物体形状推定装置及びプログラム | |
| JP5217093B2 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
| JP2019140160A5 (enExample) | ||
| JP2014225712A (ja) | 部品実装機の吸着ノズル検査装置 | |
| JP6676910B2 (ja) | 検査装置 |