JP2015121476A - コンタクトプローブ及び電気部品用ソケット - Google Patents
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Abstract
【解決手段】両端部が開口した円筒状に形成された導電性バレル10と、前記導電性バレルの両端部に抜け止めしてその内部に挿入され、電気部品の端子に接触する端子側プランジャ11、及び配線基板の接続部に接触する基板側プランジャ12と、前記導電性バレル内にて端子側プランジャ及び基板側プランジャを離間する方向に付勢するスプリング13とを有するコンタクトプローブ3であって、前記端子側プランジャ及び基板側プランジャの少なくとも一方の基端側大径部16に根本から頂部に至るに従い順次細くなる突起部20を設け、前記スプリングの端末部21を突起部の根本から頂部に至る傾斜面上に当接させ、その押圧力で前記少なくとも一方の基端側大径部の側部を導電性バレルの内壁面に押し付けるようにしたものである。
【選択図】図4
Description
図1は、本発明による電気部品用ソケットの実施形態を示す平面図であり、図2は、図1の正面図であり、図3は、図1のA−A線断面図である。この電気部品用ソケット1は、ICパッケージ等の電気部品の性能試験等に使用されるもので、枠体2と、コンタクトプローブ3とを有している。
2…枠体
3…コンタクトプローブ
4…ICパッケージ(電気部品)
5…収容部
6…支持プレート
7…底部プレート
8…ICパッケージの端子(半田ボール)
9…配線基板の接続部(接続パッド)
10…導電性バレル
11…端子側プランジャ
12…基板側プランジャ
13…スプリング
15…接触凹部
16…基端側大径部
18…基板側プランジャの接触部
19…帯状係止部
20…突起部
21…スプリングの端末部
22…基端側大径部の端面部分
23…突起部の傾斜面
24…導電性バレルの内壁面
P…配線基板
Claims (6)
- 両端部が開口した円筒状に形成された導電性バレルと、
前記導電性バレルの両端部に抜け止めしてその内部に挿入され、電気部品の端子に接触する端子側プランジャ、及び配線基板の接続部に接触する基板側プランジャと、
前記導電性バレル内にて前記端子側プランジャ及び基板側プランジャを離間する方向に付勢するスプリングと、を有するコンタクトプローブであって、
前記端子側プランジャ及び基板側プランジャの少なくとも一方の基端側大径部に根本から頂部に至るに従い順次細くなる突起部を設け、前記スプリングの端末部を前記突起部の根本から頂部に至る傾斜面上に当接させ、その押圧力で前記少なくとも一方の基端側大径部の側部を導電性バレルの内壁面に押し付けるようにしたことを特徴とするコンタクトプローブ。 - 前記突起部は、前記少なくとも一方の基端側大径部の端面にて、周囲に基端側大径部の端面部分を残してその内側より根本から頂部に至る傾斜面が盛り上がっていることを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
- 前記突起部は、前記基板側プランジャの基端側大径部に設けられたことを特徴とする請求項1又は2に記載のコンタクトプローブ。
- 前記スプリングは、コイルスプリングであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のコンタクトプローブ。
- 前記コイルスプリングの前記突起部の傾斜面に当接する端末部は、他の部分に対してコイル内径を絞ってあることを特徴とする請求項4に記載のコンタクトプローブ。
- 配線基板に電気的に接続される電気部品の収容部を有する枠体と、
前記枠体にて、収容部の下方に設けられた支持プレートの複数の挿入孔にそれぞれ挿入され、前記電気部品の端子に上端部が圧接されると共に、前記配線基板の接続部に下端部が圧接されて前記端子及び接続部を電気的に接続する複数のコンタクトプローブと、
を有する電気部品用ソケットであって、
前記コンタクトプローブとして、請求項1〜5のいずれか1項に記載のコンタクトプローブを備えたことを特徴とする電気部品用ソケット。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106347993A (zh) * | 2016-09-08 | 2017-01-25 | 深圳市燕麦科技股份有限公司 | 一种转移轴的径向受力的机构 |
KR101891641B1 (ko) * | 2017-08-28 | 2018-08-27 | 프라임텍 주식회사 | 접촉 면적을 확대한 접속핀 |
WO2018181776A1 (ja) * | 2017-03-30 | 2018-10-04 | 日本発條株式会社 | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
JP2019090633A (ja) * | 2017-11-13 | 2019-06-13 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ及びその製造方法 |
KR102132232B1 (ko) * | 2019-05-10 | 2020-07-10 | (주)루켄테크놀러지스 | 프로브 핀, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 반도체 검사 장치 |
CN112470011A (zh) * | 2018-07-27 | 2021-03-09 | 恩普乐股份有限公司 | 接触针及电子部件用插座 |
WO2023182023A1 (ja) * | 2022-03-25 | 2023-09-28 | 株式会社ヨコオ | プローブ |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050280433A1 (en) * | 2004-06-16 | 2005-12-22 | Nelson Larre H | Electrical test probes, methods of making, and methods of using |
JP2008014704A (ja) * | 2006-07-04 | 2008-01-24 | Enplas Corp | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
-
2013
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050280433A1 (en) * | 2004-06-16 | 2005-12-22 | Nelson Larre H | Electrical test probes, methods of making, and methods of using |
JP2008014704A (ja) * | 2006-07-04 | 2008-01-24 | Enplas Corp | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106347993A (zh) * | 2016-09-08 | 2017-01-25 | 深圳市燕麦科技股份有限公司 | 一种转移轴的径向受力的机构 |
CN110462408B (zh) * | 2017-03-30 | 2022-04-12 | 日本发条株式会社 | 接触式探针及探针单元 |
WO2018181776A1 (ja) * | 2017-03-30 | 2018-10-04 | 日本発條株式会社 | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
JPWO2018181776A1 (ja) * | 2017-03-30 | 2019-11-14 | 日本発條株式会社 | コンタクトプローブおよびプローブユニット |
CN110462408A (zh) * | 2017-03-30 | 2019-11-15 | 日本发条株式会社 | 接触式探针及探针单元 |
US11874300B2 (en) | 2017-03-30 | 2024-01-16 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contact probe and probe unit |
US11346859B2 (en) | 2017-03-30 | 2022-05-31 | Nhk Spring Co., Ltd. | Contact probe and probe unit |
KR101891641B1 (ko) * | 2017-08-28 | 2018-08-27 | 프라임텍 주식회사 | 접촉 면적을 확대한 접속핀 |
JP2019090633A (ja) * | 2017-11-13 | 2019-06-13 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ及びその製造方法 |
CN112470011A (zh) * | 2018-07-27 | 2021-03-09 | 恩普乐股份有限公司 | 接触针及电子部件用插座 |
CN112470011B (zh) * | 2018-07-27 | 2023-08-25 | 恩普乐股份有限公司 | 接触针及电子部件用插座 |
KR102132232B1 (ko) * | 2019-05-10 | 2020-07-10 | (주)루켄테크놀러지스 | 프로브 핀, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 반도체 검사 장치 |
WO2023182023A1 (ja) * | 2022-03-25 | 2023-09-28 | 株式会社ヨコオ | プローブ |
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