JP2015098588A - 異方性導電接着剤及び接続構造体 - Google Patents
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- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/16227—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
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- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
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- H01L2224/293—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
- H01L2224/29301—Base material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of less than 400°C
- H01L2224/29311—Tin [Sn] as principal constituent
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- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
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Abstract
【課題】優れた放熱性及び接続信頼性が得られる異方性導電接着剤の提供。【解決手段】樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成され、平均粒径が1〜10μmである導電性粒子31と、平均粒径が導電性粒子31の平均粒径の25〜400%であるはんだ粒子32と、平均粒径が100nm以下である無機充填材34とが接着剤成分33に分散されている異方性導電接着剤30。圧着時に導電性粒子31が押圧により扁平変形するとともに、はんだ粒子32が潰れてはんだ接合されるため、対向する端子間のとの接触面積が増加し、優れた放熱性を得ることができ、更に、平均粒径が100nm以下である無機充填材34が配合されているため、線膨張率を低下させ、例えばアルミベースのMCPCB(Metal Core PCB)に対しても、優れた接続信頼性を得ることができる異方性導電接着剤30。【選択図】図1
Description
本発明は、接着剤成分中に導電性粒子が分散された異方性導電接着剤に関し、特に、ドライバーIC(Integrated Circuit)、LED(Light Emitting Diode)等のチップ(素子)が発する熱を放熱することが可能な異方性導電接着剤及びこれを用いた接続構造体に関する。
従来、LED素子を基板に実装する工法として、ワイヤーボンド(WB)工法が用いられている。
図7は、ワイヤーボンド工法によるLED実装体の一例を示す断面図である。
このLED実装体100Aは、基板120上にLED素子110を実装したものである。
ここで、LED素子110は、例えばサファイヤからなる素子基板101上に、例えばn−GaNからなる第1導電型クラッド層102と、例えばInxAlyGa1−x−yN層からなる活性層103と、例えばp−GaNからなる第2導電型クラッド層104とを備え、いわゆるダブルヘテロ構造を有している。
ワイヤーボンド工法は、図7に示すように、LED素子110の電極(第1導電型電極104a及び第2導電型電極102a)面を上に向け(フェイスアップ)、そのLED素子110と、基板120の基材201上の第1導電型用回路パターン202と第2導電型用回路パターン203の電気的接合をボンディングワイヤ301a、301bで行い、LED素子110と基板120との接着には、ダイボンド材302を用いる。
図7は、ワイヤーボンド工法によるLED実装体の一例を示す断面図である。
このLED実装体100Aは、基板120上にLED素子110を実装したものである。
ここで、LED素子110は、例えばサファイヤからなる素子基板101上に、例えばn−GaNからなる第1導電型クラッド層102と、例えばInxAlyGa1−x−yN層からなる活性層103と、例えばp−GaNからなる第2導電型クラッド層104とを備え、いわゆるダブルヘテロ構造を有している。
ワイヤーボンド工法は、図7に示すように、LED素子110の電極(第1導電型電極104a及び第2導電型電極102a)面を上に向け(フェイスアップ)、そのLED素子110と、基板120の基材201上の第1導電型用回路パターン202と第2導電型用回路パターン203の電気的接合をボンディングワイヤ301a、301bで行い、LED素子110と基板120との接着には、ダイボンド材302を用いる。
しかし、このようなワイヤーボンド工法で電気的接続を得る方法では、電極(第1導電型電極104a及び第2導電型電極102a)からのボンディングワイヤ301a、301bの物理的破断・剥離のリスクがあるため、より信頼性の高い技術が求められている。さらに、ダイボンド材302の硬化プロセスは、オーブン硬化で行われるため、生産に時間が掛かる。
ワイヤーボンドを用いない工法として、図8に示すLED実装体100Bのように、LED素子110の電極(第1導電型電極104a及び第2導電型電極102a)面を基板120側に向け(フェイスダウン、フリップチップ)、そのLED素子110と基板120との電気的接続に、銀ペーストに代表される導電性ペースト303a、303bを用いる方法がある。
しかし、導電性ペースト303a、303bは、接着力が弱いため、封止樹脂304による補強が必要である。さらに、封止樹脂304の硬化プロセスは、オーブン硬化で行われるため、生産に時間が掛かる。
導電性ペーストを用いない工法として、図9に示すLED実装体100Cのように、LED素子110の電極面を基板120側に向け(フェイスダウン、フリップチップ)、そのLED素子110と基板120との電気的接続及び接着に、絶縁性の接着剤バインダー305中に導電性粒子306を分散させた異方性導電接着剤130を用いる方法がある。異方性導電接着剤130は、接着プロセスが短いため、生産効率が良い。また、異方性導電接着剤130は、安価であり、透明性、接着性、耐熱性、機械的強度、電気絶縁性等に優れている。
また、近年、フリップチップ(FC)実装をするためのLED素子が開発されている。このFC実装用LED素子は、パッシベーション105により(図10参照)、電極面積を大きく取る設計が可能であるため、バンプレス実装が可能となる。また、発光層の下に反射膜を設けることによって光取り出し効率が良くなる。
FC実装用LED素子を基板に実装する工法としては、図10に示すLED実装体100Dのように、金スズ共晶接合が用いられている。金スズ共晶接合は、LED素子110Aの電極接続部307を金とスズの合金で形成し、フラックスを基板120に塗布し、LED素子110を搭載した後、加熱することで基板電極と、共晶接合させる工法である。しかし、このようなはんだ接続工法は、加熱中のチップズレや洗浄しきれなかったフラックスによる信頼性への悪影響があるため歩留まりが悪い。また、高度な実装技術が必要である。
金スズ共晶を用いない工法として、図11に示すLED実装体100Eのように、LED素子110Aの電極面と基板120との電気的接続に、はんだペースト303を用いるはんだ接続工法がある。しかし、このようなはんだ接続工法は、ペースト自体が等方性の導電性を有するため、pn電極間がショートしてしまい歩留まりが悪い。
はんだペーストを用いない工法として、図12に示すLED実装体100Fのように、LED素子110と基板120との電気的接続及び接着に、図9に示す例と同様、絶縁性のバインダー305中に導電性粒子306を分散させたACF(異方性導電接着フィルム)などの異方性導電接着剤130を用いる方法がある。異方性導電接着剤130は、pn電極間に絶縁性のバインダー305が充填される。よって、ショートが発生しにくいため歩留まりが良い。また、接着プロセスが短いため、生産効率が良い。
ところで、上述したLED素子110、110Aの活性層(ジャンクション)103は、光の他に多くの熱を発生し、発光層温度(Tj=ジャンクション温度)が100℃以上になると、LEDの発光効率が低下し、LEDの寿命が短くなる。このため、活性層103の熱を効率良く逃がすための構造が必要である。
図7に示すようなWB実装では、活性層103がLED素子110の上部の基板120から離れた場所に位置するため、活性層103から発生した熱が基板120側に効率良く伝わらないため放熱性が悪い。
また、図8、10、11に示すようなフリップチップ実装を行うと、活性層103が基板120側に位置するため、熱が基板120側に効率良く伝わる。図8、11に示すように、電極同士を導電性ペースト303a、303bやはんだペースト303で接合した場合、高効率で放熱することができるが、導電性ペースト303a、303bによる接続は、上記で述べたように接続信頼性が悪い。また、図10に示すように、金スズ共晶接合を行った場合も、上記で述べたのと同様に接続信頼性が悪い。
また、図9、12に示すように、導電性ペースト303a、303bを用いずにACF(Anisotropic conduct film)やACP(Anisotropic conduct paste)等の異方性導電接着剤130でフリップチップ実装することで、活性層103が基板120側近くに配置され、熱が基板120側に効率良く伝わる。また、接着力が高いため、優れた接続信頼性が得られる。
しかしながら、従来の異方性導電接着剤の硬化物の熱伝導率は、0.2W/(m・K)程度であるため、LED素子から発生する熱を基板側に十分に逃がすことができない。また、異方性導電接着剤を用いたフリップチップ実装では、電気接続部分の導電性粒子のみが放熱路となるため、放熱性が悪い。
また、従来の異方性導電接着剤では、線膨張率が比較的高い基板、例えば、アルミベースのMCPCB(Metal Core PCB)に対して、優れた接続信頼性を得ることが困難であった。
本発明は、このような従来の実情に鑑みて提案されたものであり、優れた放熱性及び接続信頼性が得られる異方性導電接着剤及びこれを用いた接続構造体を提供することを目的とする。
本件発明者は、鋭意検討を行った結果、樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成された導電性粒子と、はんだ粒子と、無機充填材とを配合することにより、上述の目的を達成できることを見出し、本発明を完成させるに至った。
すなわち、本発明に係る異方性導電接着剤は、樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成され、平均粒径が1〜10μmである導電性粒子と、平均粒径が前記導電性粒子の平均粒径の25〜400%であるはんだ粒子と、平均粒径が100nm以下である無機充填材とが接着剤成分に分散されてなることを特徴としている。
また、本発明に係る接続構造体は、第1の電子部品の端子と、第2の電子部品の端子とが、樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成された導電性粒子と、はんだ粒子と、無機充填材とを含有する異方性導電接着剤を介して電気的に接続されてなり、前記第1の電子部品の端子と前記第2の電子部品の端子とが、前記導電性粒子により接続されるともに、前記はんだ粒子によりはんだ接合されてなり、前記無機充填材の平均粒径が、100nm以下であることを特徴としている。
本発明によれば、圧着時に導電性粒子が対向する端子からの押圧力により扁平変形するとともに、はんだ粒子が潰れてはんだ接合され、これにより各端子と金属結合して接触面積が増加し、優れた放熱性を得ることができる。さらに、平均粒径が100nm以下である無機充填材が配合されているため、線膨張率を低下させ、例えばアルミベースのMCPCB(Metal CorePCB)に対しても、優れた接続信頼性を得ることができる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら下記順序にて詳細に説明する。
1.異方性導電接着剤及びその製造方法
2.接続構造体及びその製造方法
3.実施例
1.異方性導電接着剤及びその製造方法
2.接続構造体及びその製造方法
3.実施例
<1.異方性導電接着剤及びその製造方法>
図1に示すように、本実施の形態における異方性導電接着剤30は、樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成された導電性粒子31と、はんだ粒子32と、無機充填材(フィラー)34とがバインダー(接着剤成分)33中に分散されたものであり、その形状は、ペースト、フィルムなどであり、目的に応じて適宜選択することができる。
図1に示すように、本実施の形態における異方性導電接着剤30は、樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成された導電性粒子31と、はんだ粒子32と、無機充填材(フィラー)34とがバインダー(接着剤成分)33中に分散されたものであり、その形状は、ペースト、フィルムなどであり、目的に応じて適宜選択することができる。
図2(a)(b)は、それぞれ圧着前及び圧着後における対向する端子2、3を模式的に示す断面図である。なお、本明細書における「圧着」とは、加熱しながら加圧することをいうものとする。
本実施の形態では、異方性導電接着剤30のバインダー33中に導電性粒子31とはんだ粒子32が含まれていることから(詳細な構成は後述する)、圧着前において導電性粒子31とはんだ粒子32とを金属からなる端子2、3間に存在させることができる。そして、圧着時、芯材に樹脂粒子を使用した導電性粒子31が端子2、3からの押圧力により扁平変形し、変形に対する弾性反発が生じるため、端子2、3間における電気的な接続状態を維持することができる。また、圧着時、はんだ粒子32が導電性粒子31の扁平変形に追従して潰れ、加熱によるはんだ接合により各端子2、3と金属結合するため、端子2、3と接触する面積が増大し、放熱性及び電気特性を向上させることができる。また、樹脂を芯材とする導電性粒子31が、基板と素子の熱膨張率の違いにより発生する応力を緩和するため、はんだ接合部にクラックが発生するのを防ぎ、接続信頼性を向上させることができる。さらに、異方性導電接着剤30のバインダー33中に平均粒径が100nm以下の無機充填材34が分散されているため、異方性導電接着剤30の線膨張係数を低下させることができ、優れた接続信頼性を得ることができる。
本実施の形態では、異方性導電接着剤30のバインダー33中に導電性粒子31とはんだ粒子32が含まれていることから(詳細な構成は後述する)、圧着前において導電性粒子31とはんだ粒子32とを金属からなる端子2、3間に存在させることができる。そして、圧着時、芯材に樹脂粒子を使用した導電性粒子31が端子2、3からの押圧力により扁平変形し、変形に対する弾性反発が生じるため、端子2、3間における電気的な接続状態を維持することができる。また、圧着時、はんだ粒子32が導電性粒子31の扁平変形に追従して潰れ、加熱によるはんだ接合により各端子2、3と金属結合するため、端子2、3と接触する面積が増大し、放熱性及び電気特性を向上させることができる。また、樹脂を芯材とする導電性粒子31が、基板と素子の熱膨張率の違いにより発生する応力を緩和するため、はんだ接合部にクラックが発生するのを防ぎ、接続信頼性を向上させることができる。さらに、異方性導電接着剤30のバインダー33中に平均粒径が100nm以下の無機充填材34が分散されているため、異方性導電接着剤30の線膨張係数を低下させることができ、優れた接続信頼性を得ることができる。
導電性粒子31は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、アクリロニトリル・スチレン(AS)樹脂、ベンゾグアナミン樹脂、ジビニルベンゼン系樹脂、スチレン系樹脂等の樹脂粒子の表面をAu、Ni、Zn等の金属で被覆した金属被覆樹脂粒子である。金属被覆樹脂粒子は、圧縮時に潰れやすく、変形し易いため、配線パターンとの接触面積を大きくでき、また、配線パターンの高さのバラツキを吸収することができる。
また、導電性粒子31の配合量は、接続信頼性及び絶縁信頼性の観点から、バインダー33に対して1〜30vol%であることが好ましい。また、導電性粒子31の平均粒径(D50:粉体の粒径分布において,ある粒子径より大きい個数又は質量が,全粉体のそれの50%を占めるときの粒子径で、本明細書ではメジアン径をいう)は、1〜10μmであることが好ましく、より好ましくは2〜6μmである。
はんだ粒子32は、例えばJIS Z 3282−1999に規定されている、Sn−Pb系、Pb−Sn−Sb系、Sn−Sb系、Sn−Pb−Bi系、Bi−Sn系、Sn−Cu系、Sn−Pb−Cu系、Sn−In系、Sn−Ag系、Sn−Pb−Ag系、Pb−Ag系などから、電極材料や接続条件などに応じて適宜選択することができる。また、はんだ粒子32の形状は、粒状、燐片状などから適宜選択することができる。なお、はんだ粒子32は、異方性を向上させるために絶縁層で被覆されていても構わない。
はんだ粒子32の配合量は、1〜30vol%であることが好ましい。はんだ粒子32の配合量が少なすぎると優れた放熱性が得られなくなり、配合量が多すぎると電気的接続における異方性が損なわれ、接続信頼性を得ることができない。
また、はんだ粒子32の平均粒径(D50)は、導電性粒子31の平均粒径の25〜400%であることが好ましい。はんだ粒子32が導電性粒子31に対して小さすぎると、圧着時にはんだ粒子32が対向する端子間に捕捉されず、良好なはんだ接合が行われず、優れた放熱性を得ることができない。一方、はんだ粒子32が導電性粒子31に対して大きすぎると、電気的接続における異方性が損なわれ、接続信頼性を得ることができない。
無機充填材34は、例えば、シリカ(SiO2)、アルミナ(Al2O3)などを用いることができる。無機充填材34の平均粒径(D50:メジアン径)は、100nm以下である。無機充填材34のメジアン径が100nmより大きいと、はんだ粒子32と第1、第2の電子部品の端子の接合部の周辺や近傍に無機充填材34が入り込み(噛み込み)、当該はんだ接合部の接触面積が小さくなるため、熱抵抗値が上昇し、放熱性が悪化してしまう。
また、無機充填材34の配合量は、10〜40vol%であることが好ましい。無機充填材34の配合量が40vol%を超えると、圧着初期の段階からvf値が上昇し、優れた接続信頼性を得ることができない。
バインダー33としては、従来の異方性導電接着剤や異方性導電フィルムにおいて使用されている接着剤組成物を利用することができる。接着剤組成物としては、脂環式エポキシ化合物や複素環系エポキシ化合物や水素添加エポキシ化合物等を主成分としたエポキシ化合物、及び酸無水物等の硬化剤が好ましく挙げられる。
脂環式エポキシ化合物としては、分子内に2つ以上のエポキシ基を有するものが好ましく挙げられる。これらは、液状であっても固体状であってもよい。具体的には、グリシジルヘキサヒドロビスフェノールA、3,4−エポキシシクロヘキセニルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキセンカルボキシレート等を挙げることができる。中でも、硬化物にLED素子の実装等に適した光透過性を確保でき、速硬化性にも優れている点から、3,4−エポキシシクロヘキセニルメチル−3’,4’−エポキシシクロヘキセンカルボキシレートを好ましく使用することができる。
複素環状エポキシ化合物としては、トリアジン環を有するエポキシ化合物を挙げることができ、特に好ましくは1,3,5−トリス(2,3−エポキシプロピル)−1,3,5−トリアジン−2,4,6−(1H,3H,5H)−トリオンを挙げることができる。
水添加エポキシ化合物としては、先述の脂環式エポキシ化合物や複素環系エポキシ化合物の水素添加物や、その他公知の水素添加エポキシ樹脂を使用することができる。
脂環式エポキシ化合物や複素環系エポキシ化合物や水素添加エポキシ化合物は、単独で使用してもよいが、2種以上を併用することができる。また、これらのエポキシ化合物に加えて本発明の効果を損なわない限り、他のエポキシ化合物を併用してもよい。例えば、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、テトラメチルビスフェノールA、ジアリールビスフェノールA、ハイドロキノン、カテコール、レゾルシン、クレゾール、テトラブロモビスフェノールA、トリヒドロキシビフェニル、ベンゾフェノン、ビスレゾルシノール、ビスフェノールヘキサフルオロアセトン、テトラメチルビスフェノールA、テトラメチルビスフェノールF、トリス(ヒドロキシフェニル)メタン、ビキシレノール、フェノールノボラック、クレゾールノボラック等の多価フェノールとエピクロルヒドリンとを反応させて得られるグリシジルエーテル;グリセリン、ネオペンチルグリコール、エチレングリコール、プロピレングリコール、ヘキシレングリコール、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコール等の脂肪族多価アルコールとエピクロルヒドリンとを反応させて得られるポリグリシジルエーテル;p−オキシ安息香酸、β−オキシナフトエ酸のようなヒドロキシカルボン酸とエピクロルヒドリンとを反応させて得られるグリシジルエーテルエステル;フタル酸、メチルフタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、テトラハイドロフタル酸、エンドメチレンテトラハイドロフタル酸、エンドメチレンヘキサハイドロフタル酸、トリメット酸、重合脂肪酸のようなポリカルボン酸から得られるポリグリシジルエステル;アミノフェノール、アミノアルキルフェノールから得られるグリシジルアミノグリシジルエーテル;アミノ安息香酸から得られるグリシジルアミノグリシジルエステル;アニリン、トルイジン、トリブロムアニリン、キシリレンジアミン、ジアミノシクロヘキサン、ビスアミノメチルシクロヘキサン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン等から得られるグリシジルアミン;エポキシ化ポリオレフィン等の公知のエポキシ樹脂類が挙げられる。
硬化剤としては、酸無水物、イミダゾール化合物、ジシアン等を挙げることができる。中でも、硬化物を変色させ難い酸無水物、特に脂環式酸無水物系硬化剤を好ましく使用できる。具体的には、メチルヘキサヒドロフタル酸無水物等を好ましく挙げることができる。
接着剤組成物において、脂環式エポキシ化合物と脂環式酸無水物系硬化剤とを使用する場合、それぞれの使用量は、脂環式酸無水物系硬化剤が少なすぎると未硬化エポキシ化合物が多くなり、多すぎると余剰の硬化剤の影響で被着体材料の腐食が促進される傾向があるので、脂環式エポキシ化合物100質量部に対し、脂環式酸無水物系硬化剤を、好ましくは80〜120質量部、より好ましくは95〜105質量部の割合で使用する。
このような構成からなる異方性導電接着剤30は、圧着時に導電性粒子31が対向する端子からの押圧力により扁平変形するとともに、はんだ粒子32が潰れ、加熱によるはんだ接合により各端子と金属結合して接触面積が増加するため、優れた放熱性を得ることができる。また、平均粒径が100nm以下である無機充填材34を配合しているため、異方性導電接着剤30の線膨張係数を50ppm以下とすることができる。よって、熱伝導率は高いが線膨張率が比較的高いアルミベースのMCPCB基板(Metal CorePCB)を使用しても、優れた接続信頼性を得ることができる。
<2.接続構造体及びその製造方法>
次に、前述した異方性導電接着剤30を用いた接続構造体について説明する。本実施の形態における接続構造体は、第1の電子部品と第2の電子部品を有するもので、第1の電子部品の端子と、第2の電子部品の端子とが、樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成された導電性粒子31と、はんだ粒子32と、無機充填材34とを含有する異方性導電接着剤30を介して電気的に接続されてなり、第1の電子部品の端子と第2の電子部品の端子とが、導電性粒子31により接続されるともに、はんだ粒子32によりはんだ接合されてなり、無機充填材34の平均粒径が、100nm以下である。
次に、前述した異方性導電接着剤30を用いた接続構造体について説明する。本実施の形態における接続構造体は、第1の電子部品と第2の電子部品を有するもので、第1の電子部品の端子と、第2の電子部品の端子とが、樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成された導電性粒子31と、はんだ粒子32と、無機充填材34とを含有する異方性導電接着剤30を介して電気的に接続されてなり、第1の電子部品の端子と第2の電子部品の端子とが、導電性粒子31により接続されるともに、はんだ粒子32によりはんだ接合されてなり、無機充填材34の平均粒径が、100nm以下である。
本実施の形態における第1の電子部品としては、熱を発するドライバーIC(Integrated Circuit)、LED(Light Emitting Diode)等のチップ(素子)が好適である。また第2の部品としては、熱伝導率は高いが線膨張率が比較的高いアルミベースのMCPCB基板(Metal CorePCB)等が好適である。
図3は、本発明の接続構造体であるLED実装体1の構成例を示す断面図である。このLED実装体1は、LED素子10と基板20とを、前述した導電性粒子31と、はんだ粒子32と、無機充填材34(ここでは図示せず)とが接着剤成分33中に分散された異方性導電接着剤30を用いて電気的に接続するとともに固着したものである。
LED素子10は、例えばサファイヤからなる素子基板11上に、例えばn−GaNからなる第1導電型クラッド層12と、例えばInxAlyGa1−x−yN層からなる活性層13と、例えばp−GaNからなる第2導電型クラッド層14とを備え、いわゆるダブルヘテロ構造を有する。また、第1導電型クラッド層12上の一部に第1導電型電極12aを備え、第2導電型クラッド層14上の一部に第2導電型電極14aを備える。LED素子10の第1導電型電極12aと第2導電型電極14aとの間に電圧を印加すると、活性層13にキャリアが集中し、再結合することにより発光が生じる。
基板20は、基材21上に第1導電型用回路パターン22と、第2導電型用回路パターン23とを備え、これら第1導電型用回路パターン22及び第2導電型用回路パターン23上には、LED素子10の第1導電型電極12a及び第2導電型電極14aに対応する位置にそれぞれ電極22a及び電極23aが設けられている。
異方性導電接着剤30は、前述と同様、導電性粒子31と、導電性粒子31よりも平均粒径が小さいはんだ粒子32とがバインダー33中に分散されている。
図3に示すように、LED実装体1は、LED素子10の端子(第1導電型電極12a、第2導電型電極14a)と、基板20の端子(電極22a、23a)とが導電性粒子31を介して電気的に接続され、これらLED素子10の端子と基板20の端子とがはんだ接合されている。
また、異方性導電接着剤30の線膨張係数が、50ppm以下であり、LED実装体1の熱抵抗値が、12K/W以下であることが好ましい。これにより、LED素子10の活性層13で発生した熱を効率良く基板20側に逃がすことができ、発光効率の低下を防ぐとともにLED実装体1を長寿命化させることができる。また、異方性導電接着剤30の線膨張係数が一般的な異方性導電接着剤と比較して低いため、優れた接続信頼性を得ることができる。また、はんだ粒子32が、白又は灰色の無彩色であることにより、活性層13からの光を反射し、高い輝度を得ることができる。
また、フリップチップ実装するためのLED素子10Aは、図4に示すように、LED素子10の一方の端子(第1導電型電極12a)が、絶縁材料からなるパッシベーション15を介して第2導電型クラッド層14上に設けられ、これにより図3に示す例と比べてその面積が大きくなるように設計されているため、LED素子10の端子(第1導電型電極12a)と基板20の端子(回路パターン22)との間に導電性粒子31及びはんだ粒子32がより多く捕捉される。その結果、LED素子10の活性層13で発生した熱をさらに効率良く基板20側に逃がすことができる。
次に、上述した接続構造体の製造方法について説明する。本実施の形態におけるLED実装体の製造方法は、前述した導電性粒子31と、はんだ粒子32と、無機充填材34とが接着剤成分中に分散された異方性導電接着剤30を、第1の電子部品の端子と第2の電子部品の端子との間に挟み、第1の電子部品と第2の電子部品とを熱圧着する。
これにより、第1の電子部品の端子と、第2の電子部品の端子とが導電性粒子31を介して電気的に接続され、第1の電子部品の端子と第2の電子部品の端子とがはんだ接合されてなる接続構造体を得ることができる。
本実施の形態における接続構造体の製造方法は、圧着時に導電性粒子31が第1及び第2の電子部品の端子からの押圧力により扁平変形するとともに、はんだ粒子32が潰れ、加熱によるはんだ接合により第1及び第2の電子部品の端子と金属結合するため、対向する第1及び第2の端子間との接触面積が増大し、優れた放熱性及び優れた接続信頼性を得ることができる。また、樹脂を芯材とする導電性粒子31が、基板20と第1及び第2の電子部品である素子の熱膨張率の違いにより発生する応力を緩和するため、はんだ接合部にクラックが発生するのを防ぐことができる。さらに、異方性導電接着剤30中の無機充填材34の平均粒径が、100nm以下であるため、線膨張係数を低下させることができ、優れた接続信頼性を得ることができる。
<3.実施例>
以下、本発明の実施例について詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
以下、本発明の実施例について詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
本実施例では、はんだ粒子及び導電性粒子を配合した異方性導電接着剤(ACP)を作製し、LED実装体を作製し、放熱特性、接着特性、機械特性及び電気特性について評価した。
異方性導電接着剤の作製、LED実装体の作製、LED実装体の放熱特性の評価、接着特性の評価、機械特性及び電気特性の評価は、次のように行った。
[異方性導電接着剤の作製]
エポキシ硬化系接着剤(エポキシ樹脂(商品名:CEL2021P、(株)ダイセル化学製)及び酸無水物(MeHHPA、商品名:MH700、新日本理化(株)製)を主成分としたバインダー)中に、架橋ポリスチレン樹脂粒子の表面にAuが被覆された平均粒径(D50)5μmの導電性粒子(品名:AUL705、積水化学工業社製)を10vol%と、平均粒径(D50)5μmのはんだ粒子(商品名:M707、千住金属工業社製)を10vol%と、以下の粒子からなるフィラー(無機充填材)とを配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
エポキシ硬化系接着剤(エポキシ樹脂(商品名:CEL2021P、(株)ダイセル化学製)及び酸無水物(MeHHPA、商品名:MH700、新日本理化(株)製)を主成分としたバインダー)中に、架橋ポリスチレン樹脂粒子の表面にAuが被覆された平均粒径(D50)5μmの導電性粒子(品名:AUL705、積水化学工業社製)を10vol%と、平均粒径(D50)5μmのはんだ粒子(商品名:M707、千住金属工業社製)を10vol%と、以下の粒子からなるフィラー(無機充填材)とを配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
平均粒径(D50) 7nmのシリカ粒子(R812、日本アエロジル社製)
平均粒径(D50) 14nmのシリカ粒子(R202、日本アエロジル社製)
平均粒径(D50) 50nmのシリカ粒子(YA050C、アドマテックス社製)
平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)
平均粒径(D50)200nmのシリカ粒子(ハイプレシカ0.2、宇部日東化成社製)
平均粒径(D50)1.0μmのシリカ粒子(ハイプレシカ1.0、宇部日東化成社製)
平均粒径(D50)400nmのアルミナ粒子(スミコランダム、住友化学工業社製)
平均粒径(D50) 14nmのシリカ粒子(R202、日本アエロジル社製)
平均粒径(D50) 50nmのシリカ粒子(YA050C、アドマテックス社製)
平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)
平均粒径(D50)200nmのシリカ粒子(ハイプレシカ0.2、宇部日東化成社製)
平均粒径(D50)1.0μmのシリカ粒子(ハイプレシカ1.0、宇部日東化成社製)
平均粒径(D50)400nmのアルミナ粒子(スミコランダム、住友化学工業社製)
[LED実装体の作製]
異方性導電接着剤を用いてFC実装用LEDチップ(商品名:DA700、CREE社製、Vf=3.2V(If=350mA))をLED実装用Au電極基板(アルミベースのMCPCB基板、導体スペース=100μmP、Ni/Auメッキ=5.0/0.3μm)に実装した。この場合、異方性導電接着剤をAu電極基板に塗布した後、LEDチップをアライメントして搭載し、150℃−10秒→230℃−30秒、荷重1000g/chipの条件で加熱圧着を行った。
異方性導電接着剤を用いてFC実装用LEDチップ(商品名:DA700、CREE社製、Vf=3.2V(If=350mA))をLED実装用Au電極基板(アルミベースのMCPCB基板、導体スペース=100μmP、Ni/Auメッキ=5.0/0.3μm)に実装した。この場合、異方性導電接着剤をAu電極基板に塗布した後、LEDチップをアライメントして搭載し、150℃−10秒→230℃−30秒、荷重1000g/chipの条件で加熱圧着を行った。
[放熱性の評価]
JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council;電子機器技術評議会)に準拠し、熱抵抗測定装置(型番:T3STER、Mentor Graphics社製)を用いて、LED実装体の熱抵抗値(K/W)を測定した。測定条件はIf=350mA(定電流制御)で行った。
JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council;電子機器技術評議会)に準拠し、熱抵抗測定装置(型番:T3STER、Mentor Graphics社製)を用いて、LED実装体の熱抵抗値(K/W)を測定した。測定条件はIf=350mA(定電流制御)で行った。
[接着特性の評価]
LED実装体の接着強度についてダイショア強度測定器(PTR−1100:RHESCA社製)を用いて測定した。
LED実装体の接着強度についてダイショア強度測定器(PTR−1100:RHESCA社製)を用いて測定した。
[線膨張係数測定]
厚さ100μmの接着剤硬化物(フィルム)サンプルを作製し、JIS K7197に準拠し、サンプルの線膨張係数について熱機械的分析装置(TMA/SS7000:SII社製)を用いて測定した。
厚さ100μmの接着剤硬化物(フィルム)サンプルを作製し、JIS K7197に準拠し、サンプルの線膨張係数について熱機械的分析装置(TMA/SS7000:SII社製)を用いて測定した。
[電気特性の評価]
初期Vf値として、If=350mA時のVf値を測定した。また、85℃、85%RH環境下でLED実装体をIf=350mAで点灯させ(高温高湿試験)、1000時間後に取り出し、If=350mA時のVf値を測定した。
初期Vf値として、If=350mA時のVf値を測定した。また、85℃、85%RH環境下でLED実装体をIf=350mAで点灯させ(高温高湿試験)、1000時間後に取り出し、If=350mA時のVf値を測定した。
高温高湿試験の初期の評価は、初期VfのRef(3.2V)からの変動が2%未満の場合を「○」、初期VfがRef(3.2V)よりも2%以上高い場合を「Vf高」、及び導通の破断を確認した場合(OPEN)を「×」と評価した。また、高温高湿試験後の評価は、初期Vf値からの変動が5%未満の場合を「○」、初期Vfよりも5%以上高い場合を「Vf高」、及び導通の破断を確認した場合(OPEN)を「×」と評価した。
また、−40℃/30min〜100℃/30minの条件で熱衝撃試験機に投入し、500サイクル試験後、及び1000サイクル試験後に取り出し、If=350mA時のVf値を測定した。
熱衝撃試験の初期の評価は、初期VfのRef(3.2V)からの変動が2%未満の場合を「○」、初期VfがRef(3.2V)よりも2%以上高い場合を「Vf高」、及び導通の破断を確認した場合(OPEN)を「×」と評価した。また、熱衝撃試験後の評価は、初期Vf値からの変動が5%未満の場合を「○」、初期Vfよりも5%以上高い場合を「Vf高」、及び導通の破断を確認した場合(OPEN)を「×」と評価した。
<実施例1>
フィラーとして、平均粒径(D50)50nmのシリカ粒子(YA050C、アドマテックス社製)を10vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)50nmのシリカ粒子(YA050C、アドマテックス社製)を10vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、実施例1の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は11.0K/W、ダイシェア強度は33N/chip、線膨張係数(α1:ガラス転移温度(Tg)以下の線膨張係数)は49ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が○であった。
<実施例2>
フィラーとして、平均粒径(D50)7nmのシリカ粒子(R812、日本アエロジル社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)7nmのシリカ粒子(R812、日本アエロジル社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、実施例2の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は11.0K/W、ダイシェア強度は35N/chip、線膨張係数(α1)は43ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が○であった。
<実施例3>
フィラーとして、平均粒径(D50)14nmのシリカ粒子(R202、日本アエロジル社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)14nmのシリカ粒子(R202、日本アエロジル社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、実施例3の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は11.0K/W、ダイシェア強度は36N/chip、線膨張係数(α1)は44ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が○であった。
<実施例4>
フィラーとして、平均粒径(D50)50nmのシリカ粒子(YA050C、アドマテックス社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)50nmのシリカ粒子(YA050C、アドマテックス社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、実施例4の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は11.0K/W、ダイシェア強度は35N/chip、線膨張係数(α1)は45ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が○であった。
<実施例5>
フィラーとして、平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、実施例5の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は11.4K/W、ダイシェア強度は34N/chip、線膨張係数(α1)は46ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が○であった。
<実施例6>
フィラーとして、平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)を30vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)を30vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、実施例6の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は11.6K/W、ダイシェア強度は31N/chip、線膨張係数(α1)は39ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が○であった。
<実施例7>
フィラーとして、平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)を40vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)を40vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、実施例7の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は11.9K/W、ダイシェア強度は30N/chip、線膨張係数(α1)は35ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が○であった。
<比較例1>
フィラーを配合せずに、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーを配合せずに、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、比較例1の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は11.0K/W、ダイシェア強度は32N/chip、線膨張係数(α1)は62ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が×であった。
<比較例2>
フィラーとして、平均粒径(D50)200nmのシリカ粒子(ハイプレシカ0.2、宇部日東化成社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)200nmのシリカ粒子(ハイプレシカ0.2、宇部日東化成社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、比較例2の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は13.2K/W、ダイシェア強度は26N/chip、線膨張係数(α1)は47ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後が○であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が×であった。
<比較例3>
フィラーとして、平均粒径(D50)400nmのアルミナ粒子(スミコランダム、住友化学工業社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)400nmのアルミナ粒子(スミコランダム、住友化学工業社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、比較例3の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は14.1K/W、ダイシェア強度は24N/chip、線膨張係数(α1)は49ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後がVf高であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後が○であり、1000サイクル試験後が×であった。
<比較例4>
フィラーとして、平均粒径(D50)1.0μmのシリカ粒子(ハイプレシカ1.0、宇部日東化成社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)1.0μmのシリカ粒子(ハイプレシカ1.0、宇部日東化成社製)を20vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、比較例4の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は12.8K/W、ダイシェア強度は27N/chip、線膨張係数(α1)は48ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期が○であり、1000h試験後がVf高であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期が○であり、500サイクル試験後がVf高であり、1000サイクル試験後が×であった。
<比較例5>
フィラーとして、平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)を50vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
フィラーとして、平均粒径(D50)100nmのシリカ粒子(YA100C、アドマテックス社製)を50vol%配合し、熱伝導性を有する異方性導電接着剤を作製した。
表1に示すように、比較例5の異方性導電接着剤を用いて作製したLED実装体の熱抵抗の測定結果は12.7K/W、ダイシェア強度は25N/chip、線膨張係数(α1)は31ppmであった。また、電気特性の高温高湿試験の評価結果は、初期がVf高であり、1000h試験後が×であった。また、電気特性の熱衝撃試験の評価結果は、初期がVf高であり、500サイクル試験後が×であった。
また、図5は、フィラー粒径に対する熱抵抗値を示すグラフである。このグラフより、フィラー粒径を100nm以下とすることにより、熱抵抗値を低下させることが可能であることがわかる。
実施例1からわかるように、バインダー樹脂に対して50nmのフィラーを10vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルの熱抵抗値は11.0(K/W)で、フィラーを添加していない比較例1と同等の放熱性を維持した。また、ダイシェア強度は33N/chipで比較例1よりも向上した。線膨張係数は49ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。さらに、85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル、1000サイクル経過後でも良好な電気接続信頼性が得られた。
実施例2からわかるように、バインダー樹脂に対して7nmのフィラーを20vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルの熱抵抗値は11.0(K/W)で、比較例1と同等の放熱性を維持した。また、ダイシェア強度は35N/chipで比較例1よりも向上した。線膨張係数は43ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。さらに、85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル、1000サイクル経過後でも良好な電気接続信頼性が得られた。
実施例3からわかるように、バインダー樹脂に対して14nmのフィラーを20vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルの熱抵抗値は11.0(K/W)で、比較例1と同等の放熱性を維持した。また、ダイシェア強度は36N/chipで比較例1よりも向上した。線膨張係数は44ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。さらに、85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル、1000サイクル経過後でも良好な電気接続信頼性が得られた。
実施例4からわかるように、バインダー樹脂に対して50nmのフィラーを20vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルの熱抵抗値は11.0(K/W)で、比較例1と同等の放熱性を維持した。また、ダイシェア強度は35N/chipで比較例1よりも向上した。線膨張係数は45ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。さらに、85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル、1000サイクル経過後でも良好な電気接続信頼性が得られた。
実施例5からわかるように、バインダー樹脂に対して100nmのフィラーを20vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルの熱抵抗値は11.4(K/W)で、比較例1と同等の放熱性を維持した。また、ダイシェア強度は34N/chipで比較例1よりも向上した。線膨張係数は46ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。さらに、85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル、1000サイクル経過後でも良好な電気接続信頼性が得られた。
実施例6からわかるように、バインダー樹脂に対して100nmのフィラーを30vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルの熱抵抗値は11.6(K/W)で、比較例1と同等の放熱性を維持した。また、ダイシェア強度は31N/chipで比較例1と同等の接着強度を維持した。線膨張係数は39ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。さらに、85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル、1000サイクル経過後でも良好な電気接続信頼性が得られた。
実施例7からわかるように、バインダー樹脂に対して100nmのフィラーを40vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルの熱抵抗値は11.9(K/W)で、比較例1と同等の放熱性を維持した。また、ダイシェア強度は30N/chipで比較例1と同等の接着強度を維持した。線膨張係数は35ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。さらに、85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル、1000サイクル経過後でも良好な電気接続信頼性が得られた。
比較例1からわかるように、バインダー樹脂に対してフィラーを配合していないACPを用いたLED実装サンプルの熱抵抗値は11.0(K/W)であった。また、ダイシェア強度は32N/chipであった。線膨張係数は62ppmであった。さらに、85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル経過後で良好な電気接続信頼性を得られたが、1000サイクル経過後においてOPENが発生したため良好な電気接続信頼性が得られなかった。
比較例2からわかるように、バインダー樹脂に対して200nmのフィラーを20vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルでは、図6に示すように、フィラーの噛み込みが発生し、熱抵抗値は13.2(K/W)で、比較例1よりも放熱性が悪化した。図6のようにフィラーが噛み込まれると、はんだ接合が十分ではなく、熱抵抗率の悪化と接続信頼性が悪化する。また、ダイシェア強度は26N/chipで比較例1よりも悪化した。線膨張係数は47ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。85℃85%RH環境下での点灯試験では試験1000hにおいて電気接続信頼性も良好であった。また、熱衝撃試験500サイクル経過後で良好な電気接続信頼性を得られたが、1000サイクル経過後においてOPENが発生したため良好な電気接続信頼性が得られなかった。
比較例3からわかるように、バインダー樹脂に対して400nmのフィラーを20vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルでは、フィラーの噛み込みが発生し、熱抵抗値は14.1(K/W)で、比較例1よりも放熱性が悪化した。また、ダイシェア強度は24N/chipで比較例1よりも悪化した。線膨張係数は49ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。85℃85%RH環境下での点灯試験では初期の電気特性は良好であったが、試験1000hにおいてVf値の上昇が確認された。また、熱衝撃試験500サイクル経過後で良好な電気接続信頼性を得られたが、1000サイクル経過後においてOPENが発生したため良好な電気接続信頼性が得られなかった。
比較例4からわかるように、バインダー樹脂に対して1000nmのフィラーを20vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルでは、フィラーの噛み込みが発生し、熱抵抗値は12.8(K/W)で、比較例1よりも放熱性が悪化した。また、ダイシェア強度は27N/chipで比較例1よりも悪化した。線膨張係数は48ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。85℃85%RH環境下での点灯試験では初期の電気特性は良好であったが、試験1000hにおいてVf値の上昇が確認された。また、熱衝撃試験500サイクル経過後でVfの上昇が確認された。さらに、1000サイクル経過後でOPENが発生したため良好な電気接続信頼性が得られなかった。
比較例5からわかるように、バインダー樹脂に対して100nmのフィラーを50vol%添加したACPを用いたLED実装サンプルでは、フィラーの噛み込みが発生し、熱抵抗値は12.7(K/W)で、比較例1よりも放熱性が悪化した。また、ダイシェア強度は25N/chipで比較例1よりも悪化した。線膨張係数は31ppmで比較例1よりも低線膨張化できた。また、初期からVf値が高く、85℃85%RH環境下での点灯試験1000h、熱衝撃試験500サイクル経過後でOPENが発生したため良好な電気接続信頼性が得られなかった。
以上のように、はんだ粒子と導電性粒子を併用した異方性導電接着剤に100nm以下のフィラーを配合することで、LEDパッケージの放熱性・接着特性へ悪影響を与えることなく、低線膨張化することができた。
1…LED実装体(接続構造体) 2、3…端子 10…LED素子(第1の電子部品) 11…素子基板、12…第1導電型クラッド層、12a…第1導電型電極(端子)、13…活性層、14…第2導電型クラッド層、14a…第2導電型電極(端子)、15…パッシベーション、20…基板(第2の電子部品)、21…基材、22…第1導電型用回路パターン、23…第2導電型用回路パターン、30…異方性導電接着剤、31…導電性粒子、32…はんだ粒子、33…バインダー(接着剤成分)、34…無機充填材、101…素子基板、102…第1導電型クラッド層、103…活性層、104…第2導電型クラッド層、105…パッシベーション、201…基材、202…第1導電型用回路パターン、203…第2導電型用回路パターン、301a、301b…ボンディングワイヤ、302…ダイボンド材、303…はんだペースト、304…封止樹脂、305…バインダー、306…導電性粒子、307…電極接続部
Claims (8)
- 樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成され、平均粒径が1〜10μmである導電性粒子と、
平均粒径が前記導電性粒子の平均粒径の25〜400%であるはんだ粒子と、
平均粒径が100nm以下である無機充填材と
が接着剤成分に分散されてなる異方性導電接着剤。 - 前記無機充填材の配合量が、10〜40vol%である請求項1記載の異方性導電接着剤。
- 前記導電性粒子の配合量が、1〜30vol%であり、
前記はんだ粒子の配合量が、1〜30vol%である請求項2記載の異方性導電接着剤。 - 前記接着剤成分が、エポキシ化合物と、酸無水物とを含有する請求項1記載の異方性導電接着剤。
- 線膨張係数が、50ppm以下である請求項1記載の異方性導電接着剤。
- 第1の電子部品の端子と、第2の電子部品の端子とが、樹脂粒子の表面に導電性金属層が形成された導電性粒子と、はんだ粒子と、無機充填材とを含有する異方性導電接着剤を介して電気的に接続されてなり、
前記第1の電子部品の端子と前記第2の電子部品の端子とが、前記導電性粒子により接続されるともに、前記はんだ粒子によりはんだ接合されてなり、
前記無機充填材の平均粒径が、100nm以下である接続構造体。 - 前記第1の電子部品が、LED素子であり、
前記第2の電子部品が、アルミベースのMCPCB基板である請求項6記載の接続構造体。 - 前記異方性導電接着剤の線膨張係数が、50ppm以下であり、
熱抵抗値が、12K/W以下である請求項6又は7のいずれか1項記載の接続構造体。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017033935A1 (ja) * | 2015-08-24 | 2017-03-02 | 積水化学工業株式会社 | 導電材料及び接続構造体 |
JP2017045832A (ja) * | 2015-08-26 | 2017-03-02 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
JP2017122144A (ja) * | 2016-01-05 | 2017-07-13 | デクセリアルズ株式会社 | 接着剤組成物 |
WO2018066368A1 (ja) * | 2016-10-06 | 2018-04-12 | 積水化学工業株式会社 | 導電材料、接続構造体及び接続構造体の製造方法 |
JP2018088498A (ja) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | デクセリアルズ株式会社 | 異方性導電接着剤 |
WO2021131586A1 (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-01 | デクセリアルズ株式会社 | 異方性導電接着剤 |
WO2023182046A1 (ja) * | 2022-03-22 | 2023-09-28 | デクセリアルズ株式会社 | エステル化合物及びその製造方法、並びに熱伝導性組成物及び熱伝導性シート |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7032367B2 (ja) * | 2019-10-25 | 2022-03-08 | デクセリアルズ株式会社 | 接続体の製造方法、異方性導電接合材料、及び接続体 |
TWI724911B (zh) * | 2020-05-26 | 2021-04-11 | 友達光電股份有限公司 | 發光裝置及其製造方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0773067B2 (ja) * | 1987-08-31 | 1995-08-02 | 日立化成工業株式会社 | 回路の接続部材 |
JPH03129607A (ja) * | 1989-10-14 | 1991-06-03 | Sony Chem Corp | 異方性導電膜 |
JPH04180029A (ja) * | 1990-11-15 | 1992-06-26 | Seiko Epson Corp | 回路の接続構造体 |
JP2948038B2 (ja) * | 1992-12-18 | 1999-09-13 | 住友ベークライト株式会社 | 異方導電フィルム |
EP1189308B1 (en) * | 2000-03-23 | 2007-03-07 | Sony Corporation | Electrical connection material and electrical connection method |
JP2006108523A (ja) * | 2004-10-08 | 2006-04-20 | Hitachi Chem Co Ltd | 異方性導電フィルムを用いた電気部品の接続方法 |
JP2007049045A (ja) * | 2005-08-11 | 2007-02-22 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子およびこれを備えた半導体装置 |
JP2007324417A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Sharp Corp | 半導体発光装置とその製造方法 |
JP4432949B2 (ja) * | 2006-09-15 | 2010-03-17 | パナソニック株式会社 | 電気部品の接続方法 |
TWI476266B (zh) * | 2007-03-19 | 2015-03-11 | Namics Corp | 異方性導電膏 |
JP5544766B2 (ja) * | 2009-06-15 | 2014-07-09 | 日立化成株式会社 | 半導体加工用接着フィルム積層体 |
JP5242521B2 (ja) * | 2009-08-17 | 2013-07-24 | 株式会社タムラ製作所 | はんだ接合剤組成物 |
JP5596767B2 (ja) * | 2011-11-02 | 2014-09-24 | 積水化学工業株式会社 | 異方性導電材料及び接続構造体 |
JP2013118181A (ja) * | 2011-11-02 | 2013-06-13 | Sekisui Chem Co Ltd | 異方性導電材料及び接続構造体 |
JP2014065766A (ja) * | 2012-09-24 | 2014-04-17 | Dexerials Corp | 異方性導電接着剤 |
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Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2017033935A1 (ja) * | 2015-08-24 | 2018-06-07 | 積水化学工業株式会社 | 導電材料及び接続構造体 |
TWI686820B (zh) * | 2015-08-24 | 2020-03-01 | 日商積水化學工業股份有限公司 | 導電材料及連接構造體 |
WO2017033935A1 (ja) * | 2015-08-24 | 2017-03-02 | 積水化学工業株式会社 | 導電材料及び接続構造体 |
CN107636774A (zh) * | 2015-08-24 | 2018-01-26 | 积水化学工业株式会社 | 导电材料及连接结构体 |
JP2017045832A (ja) * | 2015-08-26 | 2017-03-02 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
WO2017119274A1 (ja) * | 2016-01-05 | 2017-07-13 | デクセリアルズ株式会社 | 接着剤組成物 |
JP2017122144A (ja) * | 2016-01-05 | 2017-07-13 | デクセリアルズ株式会社 | 接着剤組成物 |
WO2018066368A1 (ja) * | 2016-10-06 | 2018-04-12 | 積水化学工業株式会社 | 導電材料、接続構造体及び接続構造体の製造方法 |
US11101052B2 (en) | 2016-10-06 | 2021-08-24 | Sekisui Chemical Co., Ltd. | Conductive material, connection structure and method for producing connection structure |
JP2018088498A (ja) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | デクセリアルズ株式会社 | 異方性導電接着剤 |
WO2018101003A1 (ja) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | デクセリアルズ株式会社 | 異方性導電接着剤 |
JP2021168387A (ja) * | 2016-11-29 | 2021-10-21 | デクセリアルズ株式会社 | 異方性導電接着剤 |
JP7359804B2 (ja) | 2016-11-29 | 2023-10-11 | デクセリアルズ株式会社 | 異方性導電接着剤、発光装置及び発光装置の製造方法 |
WO2021131586A1 (ja) * | 2019-12-24 | 2021-07-01 | デクセリアルズ株式会社 | 異方性導電接着剤 |
WO2023182046A1 (ja) * | 2022-03-22 | 2023-09-28 | デクセリアルズ株式会社 | エステル化合物及びその製造方法、並びに熱伝導性組成物及び熱伝導性シート |
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