JP2015087085A - 冷蔵庫 - Google Patents

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Abstract

【課題】 冷蔵室内への冷気供給がない場合であっても、冷蔵室内へイオンを供給することができる。【解決手段】 冷気を生成する冷却器9と、イオンを発生するイオン発生装置14と、冷気とイオンとを冷蔵室4内に供給する冷気供給装置とを備えた冷蔵庫であって、イオン発生装置14は、冷気供給装置が動作中にイオンを発生する第1運転と、冷気供給装置が停止中にイオンを発生する第2運転とを有し、第2運転は、所定の時間ごとにおけるイオン発生時間の割合を定めた間欠運転である。【選択図】図6

Description

本発明は、冷蔵庫に備えられたイオン発生装置の制御に関するものである。
従来の冷蔵庫としては、例えば特許文献1に開示される冷蔵庫がある。特許文献1に記載の冷蔵庫には、ファンなどの冷気通風装置が運転している時にイオン発生装置を運転させ、ファン停止時にはイオン発生装置を運転しないようにすることで、イオンおよびオゾンの発生量を持続かつ安定化でき、イオンによる脱臭効果の維持およびオゾン臭の抑制ができる記載がある。
特開2003−42645号公報
しかしながら、上記の従来例の構成では、冷蔵室内に冷気を供給しない限り、イオン発生装置も運転しないため、外気温が低い、または、冷蔵庫の扉の開閉頻度が低いなど、冷蔵室内に冷気を供給しない状態が長く続いた場合には、冷蔵室内のイオンが不足し、イオンによる除菌や脱臭効果が弱くなるといった課題がある。
本発明によれば、上記の課題を解決するものであり、冷蔵室内への冷気供給がない場合であっても、冷蔵室内へイオンを供給でき、かつ、オゾン臭の抑制をも可能とする冷蔵庫を提供できる。
上記の課題を解決するために、本発明は、冷気を生成する冷却器と、イオンを発生するイオン発生装置と、冷気とイオンとを冷蔵室内に供給する冷気供給装置とを備えた冷蔵庫であって、イオン発生装置は、冷気供給装置が動作中にイオンを発生する第1運転と、冷気供給装置が停止中に前記イオンを発生する第2運転とを有し、第2運転は、所定の時間ごとにおけるイオン発生時間の割合を定めた間欠運転であることを特徴としている。
また、本発明は、上記構成の冷蔵庫において、イオン発生装置は、目標となるイオン発生時間の割合が予め設定されており、第1運転におけるイオン発生時間の割合は目標となるイオン発生時間の割合よりも大きく、第2運転におけるイオン発生時間の割合よりも小さくなるように決められることを特徴としている。
また、本発明は、上記構成の冷蔵庫において、第1運転が連続して所定の時間以上となった場合は、所定の時間以後の第1運転におけるイオン発生時間の割合は、目標となるイオン発生時間の割合以下とすることを特徴としている。
また、本発明は、上記構成の冷蔵庫において、第1運転におけるイオン発生時間の割合と第2運転におけるイオン発生時間の割合とは、前回の冷気供給装置の運転率に基づいて定められることを特徴としている。
また、本発明は、上記構成の冷蔵庫において、第1運転におけるイオン発生時間の割合が予め定められた所定の上限値以上と算出された場合は、第1運転におけるイオン発生時間の割合は上限値とすることを特徴としている。
本発明によれば、イオン発生装置は、冷気供給装置が停止中にもイオンを発生する第2運転を有しているので、冷蔵室内への冷気供給がない場合であっても、冷蔵室内へイオンを供給することができる。また、第2運転時のイオン発生装置は、所定の時間ごとにおけるイオン発生時間の割合が制限されて運転されているので、冷蔵室内への冷気供給がない場合であっても、オゾン濃度が高くなりにくくなり、オゾン臭を抑制することができる。
本発明の第1実施形態の冷蔵庫を示す側面図 イオン発生装置のデューティー比制御を説明する図 イオン発生装置をデューティー比制御した場合の、冷蔵室吐出口付近のイオンの濃度を示す図 イオン発生装置をデューティー比制御した場合の、冷蔵室内のオゾンの濃度を示す図 本発明の第1実施形態の冷蔵庫の制御手順を示す図 本発明の第1実施形態の冷蔵庫のイオン発生装置のデューティー比制御のタイムチャートを示す図 冷気供給装置の運転率を説明する図 本発明の第2実施形態の冷蔵庫の制御手順を示す図 本発明の第2実施形態の冷蔵庫のイオン発生装置のデューティー比制御のタイムチャートを示す図 本発明の第3実施形態の冷蔵庫を示す側面図 本発明の第4実施形態の冷蔵庫を示す正面透視図 本発明の第4実施形態の冷蔵庫を示す側面図 本発明の第5実施形態の冷蔵庫を示す側面図
<第1実施形態>
以下に本発明の第1実施形態を、図面を参照して説明する。図1は第1実施形態の冷蔵庫を示す側面図である。冷蔵庫1は断熱箱体を有する本体部2に冷凍室3及び冷蔵室4が設けられる。冷凍室3と冷蔵室4とは断熱仕切壁5によって仕切られている。また、冷凍室3及び冷蔵室4の前面はそれぞれ扉6、7により開閉される。
冷凍室3の背面には冷却器カバーで仕切られた冷却器室が設けられており、冷却器9および冷却ファン8が配されている。また、冷蔵庫1の断熱箱体の外には圧縮機13が備えられ、圧縮機13と冷却器9とによって冷凍サイクルを形成することにより、冷却器9の近傍の空気を冷却して冷気を生成する。冷却器9によって冷却された冷気は、冷却ファン8によって冷凍室吐出口10から冷凍室3内に供給される。また、一部の冷気は断熱仕切壁5に設けられたダクト11を通って冷蔵室吐出口12から冷蔵室4内に供給される。冷蔵室4内には温度センサ15が設けられており、温度センサ15によって検出された冷蔵室4内の温度が所定の温度以上になると圧縮機13および冷却ファン8を運転して冷蔵室4を冷却し、温度センサ15によって検出された冷蔵室4内の温度が所定の温度以下になると圧縮機13および冷却ファン8を停止して冷蔵室4内の温度が下がり過ぎるのを防ぐ。
冷蔵室吐出口12の近傍にはイオン発生装置14が設けられており、冷蔵室吐出口12から吐出される冷気にイオンを含ませて冷蔵室4内に供給することができる。
以上のような構成において、次に動作を説明する。
イオン発生装置14から発生したイオンによって、冷蔵室4内に貯蔵された食品が除菌および消臭される。一方で、イオン発生装置14からはオゾンも発生することが多く、オゾンの濃度が一定値以上になると不快なオゾン臭が感じられることが判っている。このため、イオン発生装置14から発生するイオンおよびオゾンの量を調節する制御を行う必要があり、たとえば、デューティー比制御によって可能となる。
デューティー比制御とは、図2に示すように所定の時間Tごとにオンする期間Tonとオフする期間Toffとを設けて、期間Tにおけるオンする期間Tonの割合を変化させることで、運転量を制御する方法である。図2ではイオン発生装置14をデューティー比制御した場合を示しており、イオン発生の割合すなわちデューティー比Pは、P=Ton/Tとなる。
図3に、イオン発生装置14をデューティー比制御した場合の、冷蔵室吐出口12付近のイオンの濃度を示す。冷蔵室吐出口12付近のイオンの濃度はデューティー比が大きくなるほど高くなるが、冷蔵室吐出口12の風量によってその傾向が大きく変わり、風量が大きい(冷却ファン8がON)場合にはデューティー比にほぼ比例してイオン濃度が高く傾向があるが、風量が小さい(冷却ファン8がOFF)場合には、あるデューティー比以上としてもイオン濃度が上がらない傾向がある。これは、イオンは他のイオンや物体などに衝突すると消滅するため、冷却ファン8などによって冷蔵室吐出口12からイオンを遠くに飛ばさなければ、冷蔵室吐出口12近傍にイオンが集中して消滅してしまうためと考えられる。したがって、風量が小さい場合にはデューティー比を大きくしてもイオンによる除菌および消臭の効果はさほど向上しない。
図4に、イオン発生装置14をデューティー比制御した場合の、冷蔵室4内のオゾンの濃度を示す。オゾンはイオンに比べ消滅しにくく冷蔵室4内に行き渡る傾向があり、したがってオゾンの濃度は図4に示すように、デューティー比が大きくなるにつれて累積的に増大する傾向がある。たとえば図4では、デューティー比を45%以上とすると、オゾン臭を人体が官能してしまう濃度(臭気官能限界濃度)に達してしまうことを示している。したがって、オゾン臭が感じられない程度のオゾン濃度となるようにイオン発生装置14のデューティー比を制御するために、イオン発生装置14はデューティー比を45%以下で制御することが好ましい。さらに、イオン発生装置14をデューティー比制御することによるオゾン濃度の時間変動、およびイオン発生装置14の個体ばらつきや印加電圧、周囲環境などによるオゾン濃度の変動などを加味すると、臭気官能限界濃度の5分の1程度(図4の設計値)にオゾン濃度が帰着するようにイオン発生装置14をデューティー比制御することが好ましい。
以上より、本実施形態では一例として、オゾン濃度が図4の設計値となるように目標とするデューティー比を25%に設定し、また、図3に示すイオン濃度において風量小の場合にイオン濃度が目標値になるデューティー比の4%を、冷却ファン8がOFFの場合のデューティー比に設定する。そして、冷却ファン8のON/OFFのサイクルを通しての総合的なデューティー比が上記の目標デューティー比に近くなるように、冷却ファン8がONの場合のデューティー比を設定するものである。
次に、本実施形態の冷蔵庫1の制御手順、特に、イオン発生装置14のデューティー比設定手順を示す。
図5に本実施形態の冷蔵庫1の制御手順を示す。図5では冷蔵庫1の制御手順のうち、イオン発生装置14の制御に関する部分を記載したものである。また、図6には冷蔵庫1の運転とイオン発生装置14に設定されるデューティー比とのタイムチャートを示す。以下、図5のステップに従って説明する。
まず、イオン発生装置14をデューティー比制御するにあたり、目標とするデューティー比Pset、および冷却ファン8がOFFの場合のデューティー比Poffは既に冷蔵庫1に記憶されて設定されているものとする。上記の例では、Pset=25%、Poff=4%に設定されている。
冷蔵庫1の電源が投入されると、ステップ#11で冷蔵室4内の温度が温度センサ15によって検出され、所定の温度以上であるかを判断する。所定の温度以上であると判断された場合には(ステップ#11でYes)、ステップ#12に移り、所定の温度未満であると判断された場合には(ステップ#11でNo)、ステップ#22に移る。
ステップ#12では圧縮機13をONにする。本実施形態では、圧縮機13の運転と冷却ファン8の運転とは互いに同期させているので、圧縮機13の運転に伴い冷却ファン8もONにする。これにより冷蔵室吐出口12から冷気が吐出されて冷蔵室4を冷却する。続くステップ#13で、電源投入後の初回の圧縮機13のONかどうかを判断する。圧縮機13のONが電源投入後初回であれば(ステップ#13でYes)、圧縮機13がONの時のイオン発生装置14を制御するデューティー比Pon=0%として、イオン発生装置14を運転させないようにする(ステップ#14)。これは、電源投入直後は前回の圧縮機13の運転情報が無いため、後述する圧縮機13の運転率情報が得られず、デューティー比Ponが求められないからである。本実施形態ではPon=0%としているが、これに限らず、例えばPon=Poffとして最低限のイオンを発生させてもよく、または、Pon=Psetとしてオゾン臭が官能できない程度のオゾン濃度でイオンを発生させてもよい。また、上記以外の固定値をPonに代入してもよい。ステップ#14でPonが代入されたら、ステップ#17に移る。
圧縮機13のONが電源投入後初回でなければ(ステップ#13でNo)、ステップ#15で前回の圧縮機13の運転率Rを計算する。圧縮機13の運転率Rは、図7に示すように前回の圧縮機13のON時間Conとその直後の圧縮機13のOFF時間Coffとからなる圧縮機13の運転1サイクル(Con+Coff)における圧縮機13のON時間の割合によって求めることができる。圧縮機13のON時間ConおよびOFF時間Coffは、後述するタイマのカウントによって得ることができる。
続くステップ#16では、ステップ#15で求めた圧縮機13の運転率Rを基に、圧縮機13がONの時のイオン発生装置14を制御するデューティー比Ponを求める。本実施形態では、Pon×R+Poff×(1−R)=Psetとしたいので、この式を展開して、Pon=(Pset−Poff)/R+Poffとすれば、Ponが求まる。たとえば、前回の圧縮機13の運転率R=70%であった場合は、Pon=(25%−4%)/70%+4%=34%となる。すなわち、前回の圧縮機13の運転率Rが低いほど、また、圧縮機13がOFFの時のイオン発生装置14を制御するデューティー比Poffが目標とするデューティー比Psetに対して小さいほど、圧縮機13がONの時のイオン発生装置14を制御するデューティー比Ponは大きくなる。したがって、上式にてPonを算出した場合、Pon>100%など、設定できない値を取る可能性がある。また、設定可能な値であったとしても、たとえば図4に示したような臭気官能限界以上のオゾン濃度となるデューティー比としてしまうと、オゾン臭によってユーザーが不快になるおそれがある。したがって、算出されたPonの値が所定の値以上となった場合には、その所定値に固定してしまうようにすることができる。たとえば、図3に示す例ではデューティー比を40%とすれば風量大の場合にイオン濃度が目標値とすることができ、かつ、図4に示す臭気官能限界濃度以下にすることができオゾン臭の問題がなくなるので、ここでは、デューティー比が40%以上とならないように、最大デューティー比Pmax=40%として予め冷蔵庫1に記憶されて設定されていてもよい。
ステップ#14またはステップ#16にて圧縮機13がONの時のイオン発生装置14を制御するデューティー比Ponが決められると、ステップ#17で、Ponを求めるのし使用した前回の圧縮機13のON時間ConおよびOFF時間Coffはクリアされ、続くステップ#18で圧縮機13のON時間Conがタイマによってカウントされる。次のステップ#19で、先に求まったPonのデューティー比でイオン発生装置14を運転する。続くステップ#20で冷蔵室4内の温度が温度センサ15によって検出され、所定の温度以下であるかを判断する。所定の温度以下であると判断された場合には(ステップ#20でYes)、ステップ#21に移り、所定の温度以下ではないと判断された場合には(ステップ#20でNo)、ステップ#18に戻って圧縮機13のON時間のカウントを続行するとともに、Ponのデューティー比でのイオン発生装置14の運転を続行する。
ステップ#21では圧縮機13をOFFにする。本実施形態では、圧縮機13の運転と冷却ファン8の運転とは互いに同期させているので、圧縮機13の停止に伴い冷却ファン8もOFFにする。これにより冷蔵室吐出口12から冷気は吐出されなくなる。また、このステップで、ステップ#18〜ステップ#20のループによってカウントされた圧縮機13のON時間Conが定まったことになる。続くステップ#22で圧縮機13のOFF時間Coffがタイマによってカウントされる。次のステップ#23で、予め定めたPoffのデューティー比でイオン発生装置14を運転する。ステップ#13で電源投入後の初回の圧縮機13のONであると判断された直後の圧縮機13のOFFである場合には、Poffとして一時的に0%やPset、またはその他の固定値を代入することもできる。次はステップ#11に戻って冷蔵室4内の温度が温度センサ15によって検出され、所定の温度以上であるかを判断する。したがって、ステップ#22、#23、およびステップ#11のループによって圧縮機13のOFF時間Coffがカウントされ、このループを脱したステップ#12で、圧縮機13のOFF時間Coffが定まったことになる。
なお、圧縮機13のON/OFF時間Con/Coffはタイマのカウントによって得るだけではなく、公知の時間計測手段を使用できる。たとえば、別途用意してある時計などの計時手段の値をステップ#12やステップ#21のタイミングで読み込み差分をとる、といった方法を用いることもできる。
以上の手順によって圧縮機13のON/OFF時間Con/Coffが定まり、このCon/Coffから求めた圧縮機13の運転率Rから、次回に圧縮機13がONする時のイオン発生装置14を制御するデューティー比Ponを求めることができる。
図6は図5の手順によって制御された冷蔵庫1における、圧縮機13の運転およびそれから求まる運転率R、そして、イオン発生装置14を制御するデューティー比のタイムチャートである。
電源ON後の最初(1サイクル目)の冷気供給装置(圧縮機13および冷却ファン8)運転/停止時では、前回の運転率Rのデータがないので、冷気供給装置ON時に、イオン発生装置14を制御するデューティー比Pon(1)は0、つまりOFFとなっている。1サイクル目の冷気供給装置OFF時に、イオン発生装置14を制御するデューティー比Poff(1)は、予め定められたPoffの値、ここでは4%となっている。
冷気供給装置が2サイクル目の運転を開始する状態では、1サイクル目の冷気供給装置の運転率R(1)は判っているので、このR(1)を基に2サイクル目の冷気供給装置ON時におけるイオン発生装置14を制御するデューティー比Pon(2)を求めることができる。図6の例では、R(1)は86%であることが判ったので、このR(1)、および予め用意されたPoff、PsetからPon(2)が求まる。すなわち、Pon(2)=(25%−4%)/86%+4%=28%となる。2サイクル目の冷気供給装置OFF時におけるイオン発生装置14を制御するデューティー比Poff(2)は、予め定められたPoff=4%となっている。
3サイクル目以降の冷気供給装置の運転/停止時も同様の計算でPonおよびPoffを求めることができる。すなわち、n+1サイクル目の冷気供給装置の運転時は、Pon(n+1)=(Pset−Poff)/R(n)+Poff、n+1サイクル目の冷気供給装置の停止時は、Poff(n+1)=Poff、で定まるデューティー比にてイオン発生装置14を制御する。
なお、図6では、4サイクル目以降におけるイオン発生装置14を制御するデューティー比Ponの計算値がPmax=40%を超えてしまったため、Pon(4)以降はPmaxの値である40%に制限されている。これにより、1サイクルを通しての総合的なデューティー比は目標であるPsetよりも若干下がることになるが、図3に示すように、冷気供給装置の運転時つまり風量が大きい場合は、イオン発生装置14を制御するデューティー比に対してほぼ比例したイオン濃度となるため、急激にイオン濃度が低下するようなことはない。一方で、イオン発生装置14を制御するデューティー比PonをPmax以上にしないように制限しているので、オゾン濃度増大によるオゾン臭によってユーザーが不快になることを防止できる。
以上のように、本実施形態では、冷気供給装置の停止時にもイオン発生装置14をデューティー比Poffにて制御してイオンを発生させているので、長時間冷気供給装置からの冷気供給がない場合であっても、冷蔵室4内に持続的にイオンを供給することができるため、冷蔵室4内に貯蔵された食品などを除菌および脱臭し続けることができる。
また、本実施形態では、イオン発生装置14から発生するイオン濃度およびオゾン濃度の傾向から、目標とするイオン発生装置14のデューティー比Psetを予め定めておき、冷気供給装置の運転/停止1サイクルを通しての総合的なデューティー比が目標デューティー比Psetに近づくように、冷気供給装置の運転/停止時のイオン発生装置14を制御するデューティー比Pon/Poffを定めることにより、冷気供給装置の運転率にかかわらず、安定したイオンおよびオゾン濃度を維持することができる。
また、本実施形態では、冷気供給装置の運転時のイオン発生装置14を制御するデューティー比Ponに上限Pmaxを定めることで、オゾン濃度が過大となり不快なオゾン臭をユーザーに官能させてしまうことを防止できる。
<第2実施形態>
本発明に係る第2実施形態を、図8、図9を参照して説明する。図8に本実施形態の冷蔵庫1の制御手順を示す。また、図9には冷蔵庫1の運転とイオン発生装置14に設定されるデューティー比とのタイムチャートを示す。
本実施形態は、図6に示す第1実施形態の制御手順において、ステップ#20でNoと判断された際に、追加のステップ#31、#32を経てステップ#18に戻る点が、第1実施形態とは異なる点である。第1実施形態と同様に制御手順を進め、ステップ#20で冷蔵室4内の温度が温度センサ15によって検出され、所定の温度以下であるかを判断する。所定の温度以下ではないと判断された場合には(ステップ#20でNo)、ステップ#31で、タイマによってカウントされている圧縮機13のON時間Conが所定の時間以上であるかを判断する。所定の時間未満であると判断された場合は(ステップ#31でNo)、そのままステップ#18に戻る。所定の時間以上であると判断された場合は(ステップ#31でYes)、ステップ#32に移り、先にステップ#14またはステップ#16にて決められたPonをPsetの値に変更する。その後、ステップ#18に戻る。
図9は図8の手順によって制御された冷蔵庫1における、圧縮機13の運転およびそれから求まる運転率R、そして、イオン発生装置14を制御するデューティー比のタイムチャートである。図9においては、第1実施形態と同様の動作となる部分は省略している。
nサイクル目の冷気供給装置の運転率R(n)に基づいて、第1実施形態と同様に、n+1サイクル目の冷気供給装置ON時におけるイオン発生装置14を制御するデューティー比Pon(n+1)を求め、n+1サイクル目の冷気供給装置ON時にPon(n+1)のデューティー比でイオン発生装置14を制御する。n+1サイクル目の冷気供給装置ONが所定の時間(図9の例では60分)以上続いた場合は、それ以降のn+1サイクル目の冷気供給装置ON時におけるイオン発生装置14を制御するデューティー比はPsetに変更する。n+1サイクル目の冷気供給装置がOFFとなったら、イオン発生装置14を制御するデューティー比をPoffに設定し、次のn+2サイクル目の運転を開始するときには、n+1サイクル目の冷気供給装置の運転率R(n+1)に基づいて、n+2サイクル目の冷気供給装置ON時におけるイオン発生装置14を制御するデューティー比Pon(n+2)を求めて設定する。
本実施形態によれば、冷気供給装置ONが所定の時間以上続いた場合は、以降のイオン発生装置14を制御するデューティー比をPsetに変更する。これによって、冷気供給装置ONが長時間連続した場合にPsetよりも大きなデューティー比であるPonでイオン発生装置14を制御し続けることを防止できる。第1実施形態では、Pmaxを設けてPonの上限値を制限することで、オゾン濃度が過大となり不快なオゾン臭をユーザーに官能させてしまうことを防止しているが、1サイクルを通しての総合的なデューティー比は目標であるPsetよりも若干下がることになる。本実施形態によれば、Ponのデューティー比によるイオン発生装置14の制御に制限時間を設けるので、発生オゾンの累積によるオゾン濃度増加を抑制することができる。したがって、Pmaxの値をやや大きめに緩和してもオゾン濃度増加によるオゾン臭のユーザーへの官能を防止できる。なお、本実施形態には、Pmaxの設定によるPonの上限値の制限をしない形態をも含まれる。
<第3実施形態>
本発明に係る第3実施形態を、図10を参照して説明する。図10に示す冷蔵庫41は、第1実施形態での冷蔵庫1のダクト11にダクト11を開閉するダンパ42を設けている点が、第1実施形態と異なる点である。
このようにダンパ42を設けることで、冷蔵室4内の温度制御を、冷却器9を冷却する圧縮機13および冷却ファン8の運転/停止に委ねなくとも、ダンパ42の開閉によっても制御することができ、冷凍室3内と冷蔵室4内との独立した温度制御や、より細やかな冷蔵室4内の温度制御などが可能となる。
本実施形態のようにダンパ42を備えた冷蔵庫41では、冷気供給装置として、第1実施形態のような圧縮機13および冷却ファン8だけでなく、ダンパ42とすることもできる。すなわち、ダンパ42が閉じている状態を冷気供給装置が停止している状態とし、ダンパ42が開いている状態を冷気供給装置が動作している状態とすることができる。また、冷気供給装置が動作している状態として、ダンパ42が開いていて、かつ、冷却ファン8が動作している状態としてもよい。これにより、冷気供給装置が動作している状態の冷蔵室吐出口12からの風量を見積ることが容易となり、より正確に冷蔵室4内のイオンおよびオゾン濃度を制御することができる。
<第4実施形態>
本発明に係る第4実施形態を、図11および図12を参照して説明する。図11は本実施形態の冷蔵庫51の正面透視図、図12は側面図である。本実施形態では、冷蔵室4に衛生区画52を設けている点が第1実施形態と異なる。
衛生区画52は、図12の側面図に示すように、引出し可能なトレイ状の収納容器53と、収納容器53が冷蔵室4の背面方向に引き戻されて収納された場合に、収納容器53内を閉塞する蓋54とで形成され、収納容器53が冷蔵室4の背面方向に引き戻されて収納された場合には、衛生区画52内の空気は他の冷蔵室4内の空気と流通しにくくなるように構成されている。
そして、本実施形態の冷蔵庫51の冷蔵室吐出口は、冷蔵室4内に吹き出す冷蔵室吐出口55と、衛生区画52内に冷気を吹き出す衛生区画吐出口56とを有し、冷蔵室吐出口55と衛生区画吐出口56とはダクト11から分岐した先にそれぞれ設けられている。また、イオン発生装置14は、衛生区画吐出口56の近傍に設けられており、衛生区画吐出口56から吐出される冷気にイオンを含ませて衛生区画52内に供給することができる。
本実施形態の構成によって、衛生区画52内に優先的にイオンを供給することができるので、除菌や消臭を優先的に行いたい食品などを衛生区画52内に収納することで、イオンによる効果をより強く発揮させることができる。
本実施形態において、衛生区画52内に設ける衛生区画吐出口56は、衛生区画内の上部側に設けることが好ましい。また、衛生区画吐出口56は、吹き出し方向を水平方向に近い下方に向けることが好ましい。これにより、冷気供給装置が動作しており衛生区画吐出口56から冷気が風量を伴って吹き出される際には、衛生区画吐出口56からの冷気が直接衛生区画52内の食品に当たって乾燥や過冷却してしまうことを防ぐことができる。また、冷気供給装置が停止しており衛生区画吐出口56から冷気は吹き出していないがイオンは間欠的に出ている状態では、衛生区画52内の上部側に設けられた衛生区画吐出口56から拡散するイオンを、衛生区画52内を対流する空気に乗せることで衛生区画52内に行き渡らせることができる。
<第5実施形態>
本発明に係る第5実施形態を、図13を参照して説明する。図13に示す冷蔵庫61は、冷蔵室4が最上段に配置され、冷凍室3が冷蔵室4よりも下に配置される、いわゆるワークトップ型の冷蔵庫である。第1実施形態と同様に冷凍室3の背面に冷却器9が、冷蔵室4の背面にはダクト11が配置され、冷却器9とダクト11との間に配置された冷却ファン8によってダクト11内に送られた冷気は、ダクト11を通って冷蔵室4の天井に設けられた冷蔵室吐出口12から冷蔵室4内に供給される。そして、イオン発生装置14は、冷蔵室4の天井の冷蔵室吐出口12の近傍に設けられる。
本実施形態の冷蔵庫61は、冷蔵室4が最上段に配置され、冷凍室3が冷蔵室4よりも下方に配置されている。したがって、第1実施形態の冷蔵庫1に比べて、冷蔵室3内の天井付近の温度が高く、冷蔵室3内の底部付近の温度が低くなりやすい。そこで、冷蔵室吐出口12を冷蔵室4の天井に設けることで、温度が高くなりやすい冷蔵室4の上部を冷蔵室吐出口12からの冷気で強く冷却することができ、冷蔵室4内を均一に冷却することができる。
そして、イオン発生装置14を、冷蔵室4の天井の冷蔵室吐出口12の近傍に設けることで、冷気供給装置が動作しており冷蔵室吐出口12から冷気が風量を伴って吹き出される際には、イオンを冷気に乗せて遠方まで行き渡らせることができる。また、冷気供給装置が停止しており冷蔵室吐出口12から冷気は吹き出していないがイオンは間欠的に出ている状態では、冷気供給装置が動作中に冷やされた冷蔵室4の天井付近の空気が下方に行こうとし、冷蔵室4の下方の空気が食品などから吸熱して温度上昇して上方に行こうとするため冷蔵室4内に対流が発生する。冷蔵室4の天井面はこの対流する空気が集中する箇所となるため、冷蔵室4の天井にイオン発生装置14を設けることで、間欠的に出ているイオンをこの対流に乗せて効率よく冷蔵室4内に行き渡らせることができる。
以上に示した各実施形態は任意に組み合わせることが可能である。また、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で上記実施形態に多くの修正および変更を加え得ることは勿論である。
本発明は、イオン発生装置を備えた冷蔵庫に利用することができる。
1 冷蔵庫
2 本体部
3 冷凍室
4 冷蔵室
5 断熱仕切壁
6、7 扉
8 冷却ファン
9 冷却器
10 冷凍室吐出口
11 ダクト
12 冷蔵室吐出口
13 圧縮機
14 イオン発生装置
15 温度センサ
41 冷蔵庫
42 ダンパ
51 冷蔵庫
52 衛生区画
53 収納容器
54 蓋
55 冷蔵室吐出口
56 衛生区画吐出口
61 冷蔵庫

Claims (5)

  1. 冷気を生成する冷却器と、イオンを発生するイオン発生装置と、前記冷気と前記イオンとを冷蔵室内に供給する冷気供給装置とを備えた冷蔵庫であって、
    前記イオン発生装置は、前記冷気供給装置が動作中に前記イオンを発生する第1運転と、前記冷気供給装置が停止中に前記イオンを発生する第2運転とを有し、
    前記第2運転は、所定の時間ごとにおけるイオン発生時間の割合を定めた間欠運転である、冷蔵庫。
  2. 前記イオン発生装置は、目標となるイオン発生時間の割合が予め設定されており、
    前記第1運転におけるイオン発生時間の割合は前記目標となるイオン発生時間の割合よりも大きく、前記第2運転におけるイオン発生時間の割合よりも小さくなるように決められる、請求項1に記載の冷蔵庫。
  3. 前記第1運転が連続して所定の時間以上となった場合は、前記所定の時間以後の前記第1運転におけるイオン発生時間の割合は、前記目標となるイオン発生時間の割合以下とする、請求項2に記載の冷蔵庫。
  4. 前記第1運転におけるイオン発生時間の割合と前記第2運転におけるイオン発生時間の割合とは、前回の冷気供給装置の運転率に基づいて定められる、請求項1から3のいずれかに記載の冷蔵庫。
  5. 前記第1運転におけるイオン発生時間の割合が予め定められた所定の上限値以上と算出された場合は、前記第1運転におけるイオン発生時間の割合は前記上限値とする、請求項4に記載の冷蔵庫。
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