JP2015075949A - 検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検出装置は、センサ回路と、センサ回路の検出結果の信号を受けて検出信号を出力するセンサ信号処理回路と、センサ回路とセンサ信号処理回路に制御信号を出力し、センサ信号処理回路から検出信号を入力する制御回路と、を備え、センサ回路とセンサ信号処理回路は、制御回路からの制御信号によって間欠的に動作する構成とした。
【選択図】図1
Description
本実施例の電流出力式の検出装置10は、制御回路11と、センサ回路12と、センサ信号処理回路13とを備えている。
制御回路11は、例えば発振回路とカウンタを備えていて、間欠的に制御信号を出力し、センサ回路12とセンサ信号処理回路13を起動する。センサ回路12とセンサ信号処理回路13が停止している状態をスリープ状態tsl、起動している状態をアウェイク状態tawとする。スリープ状態tslでは制御回路11のみが動作しているので、検出装置10の消費電流はスリープ電流Islである。アウェイク状態tawでは全ての回路が動作しているので、検出装置10の消費電流はアウェイク電流Iawである。
本実施例の電流出力式の検出装置10は、制御回路11と、センサ回路12と、センサ信号処理回路13と、定電流回路14とを備えている。
図4は、本実施例の電流出力式の検出装置10の動作と消費電流の関係の一例を示す図である。
非検出期間T1での検出装置10の動作は、実施例1と同様である。
なお、本実施例の電流出力式の検出装置10は、検出期間T2において、非検出期間T1、T3と同様に間欠動作する構成として説明したが、連続で検出するようにしても良い。このようにすると、早く非検出状態にすることが出来るので、消費電流を削減することが出来る。
非検出期間T1での検出装置10の動作は、実施例1と同様である。
以上に説明したように、本発明の電流出力式の検出装置10によれば、従来技術に比較して消費電流を少なくすることが出来る。
3 測定部
6 フィルタ回路
10 検出装置
11 制御回路
12 センサ回路
13 センサ信号処理回路
14 定電流回路
Claims (4)
- 検出結果に応じて装置自身の消費電流量を変化させる電流出力式の検出装置であって、
検出すべき物理量を検出するセンサ回路と、
前記センサ回路の検出結果の信号を受けて検出信号を出力するセンサ信号処理回路と、
前記センサ回路と前記センサ信号処理回路に制御信号を出力し、前記センサ信号処理回路から検出信号を入力する制御回路と、を備え、
前記センサ回路と前記センサ信号処理回路は、前記制御信号によって間欠的に動作することを特徴とする検出装置。 - 前記検出装置は、更に、定電流回路を備え、
前記定電流回路は、前記制御信号によって定電流を流すことを特徴とする請求項1に記載の検出装置。 - 前記制御回路は、前記センサ信号処理回路から検出信号が入力されている間は、少なくとも前記センサ回路と前記センサ信号処理回路のいずれかに制御信号を出力し、
前記検出装置の消費電流を増加させることを特徴とする請求項1または2に記載の検出装置。 - 前記制御回路は、前記センサ信号処理回路から検出信号が入力されていない間は、少なくとも前記センサ回路と前記センサ信号処理回路のいずれかに制御信号を出力し、
前記検出装置の消費電流を増加させることを特徴とする請求項1または2に記載の検出装置。
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Citations (3)
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JP2007318352A (ja) * | 2006-05-24 | 2007-12-06 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 磁電変換スイッチ |
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---|---|---|---|---|
JP2007318352A (ja) * | 2006-05-24 | 2007-12-06 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 磁電変換スイッチ |
JP2009038246A (ja) * | 2007-08-02 | 2009-02-19 | Rohm Co Ltd | 電子機器 |
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