JP2014206490A - 除湿素子劣化検出装置および除湿素子劣化検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】周辺の温度および湿度に依らず、除湿素子の高精度の性能評価を可能にする。【解決手段】除湿素子５の陽極３及び陰極４に接続され、１Ｈｚ以上の周波数で除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８と、除湿素子５の陽極３および陰極４が接する空間に設置された２つの温湿度計７ａ，７ｂと、温湿度計７ａ，７ｂの測定値に基づき算出した２つの絶対水分量の平均値を除湿素子５の周辺絶対水分量とみなしその値と同一の絶対水分量の空間で予め測定し記憶された性能劣化のない除湿素子のインピーダンス参照値とインピーダンス測定部８で測定したインピーダンス値との比較により性能劣化を検出する性能劣化検出部９とを備える。【選択図】図１

Description

本発明は除湿素子劣化検出装置および除湿素子劣化検出方法に関し、電子機器の筐体内部の湿度制御を目的として取り付けられた固体電解質膜を使用した除湿素子の性能低下を検出する除湿素子劣化検出装置および除湿素子劣化検出方法に関するものである。

ランプ、圧力装置、ＥＣＵ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌ Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｕｎｉｔ）などの車両用電装部品や、携帯電話、カメラなどの電気製品の筐体には、筐体の外部から内部への水分浸入による湿度上昇を防止するために固体電解質膜を使用した除湿素子が取り付けられている。

固体電解質膜を使用した除湿素子の一例が、例えば特許文献１に開示されている。特許文献１に開示されている除湿素子は、固体電解質膜と、固体電解質膜を狭持する陰極および陽極と、陰極および陽極に接続された直流電源とから構成される。直流電源により、陰極と陽極の間に直流電圧が印加されると、陽極側の大気側面では、水分が、下記の式（１）の反応により電気分解されて、大気側の水分が除去されると共に大気側に酸素が供給される。

２Ｈ_２Ｏ → Ｏ_２＋ ４Ｈ^＋ ＋ ４ｅ⁻ （１）

このときに発生する水素イオンＨ^＋は固体電解質膜を通って陰極に達する。また、電子ｅ⁻は直流電源を含む外部回路を通って陰極に達する。そして、下記の式（２）の反応により陰極側において酸素を消費しながら水を生成する。

Ｏ_２ ＋ ４Ｈ^＋ ＋ ４ｅ⁻ → ２Ｈ_２Ｏ （２）

陽極側を電気製品の筐体内部、陰極側を電気製品の筐体外部に面するように、電気製品の筐体に除湿素子を取り付けることにより、筐体内部の湿度を制御できる。しかしながら、電気製品の設置環境における急激な温度および湿度の変化や埃や海水等の付着により除湿素子の除湿性能は低下する可能性がある。

そこで、例えば特許文献２では、密閉容器に除湿素子を設置し、除湿素子を流れる電流変化から湿度減少の時定数を算出して、除湿素子の性能低下を判断する機能を有する湿度調整装置が提案されている。

また、例えば特許文献３では、除湿素子の陰極と陽極の間に周波数が１ｋＨｚ以下で、水の理論分解電圧である１．２３Ｖ以下の交流電圧を印加してインピーダンス測定を行い、除湿素子の性能低下を判断する除湿素子の評価方法が提案されている。

特開２０００−５１６３８号公報 特開平１１−５７３８８号公報 特開２００４−８８５７号公報

特許文献１に記載の従来の除湿素子においては、急激な温度変化や湿度変化、あるいは、埃や海水等の付着により除湿素子の性能が低下する可能性があるにもかかわらず、除湿素子の性能低下の検出については全く意図されていないという問題点があった。

また、特許文献２では、除湿素子に直流電圧を印加した時に除湿素子を流れる電流変化により性能低下を判断しているが、除湿素子を流れる電流は除湿素子の周辺温湿度により変化するため、性能低下を正確に検出することは困難であるという問題点があった。

また、特許文献３では、１ｋＨｚ以下の低周波数でのインピーダンス測定により除湿性能を評価する。このとき、水の理論分解電圧である１．２３Ｖ以下の交流電圧でのインピーダンス測定により除湿性能を評価するため、除湿素子において上記の式（１）、（２）の反応が起こらない。そのため、陽極へのＨ_２Ｏの供給速度や陰極へのＯ_２の供給速度を支配する除湿素子の周辺温湿度による性能評価への影響は低減できる。しかしながら、除湿素子における固体電解質膜の内部の絶対水分量は周辺の温度および湿度により変化する。固体電解質膜の絶対水分量変化によるインピーダンス変化は、性能劣化によるインピーダンス変化よりも大きいため、性能評価が正確にできないという問題点があった。さらに、１ｋＨｚ以下（特に１Ｈｚ以下）の低周波数でのインピーダンス測定では、除湿素子の劣化初期過程で起こる固体電解質膜の導電特性変化を検出できないため、除湿性能の低下を早期に検出することが出来ないという問題点があった。

本発明は、かかる問題点を解決するためになされたものであり、周辺の温度および湿度に依らず、高精度の性能評価を可能とする除湿素子劣化検出装置および除湿素子劣化検出方法を提供することを目的としている。

本発明は、固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極が接する空間にそれぞれ設置され、それらの空間の温湿度をそれぞれ測定する２つの温湿度計と、前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極に接続され、前記除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部と、前記２つの温湿度計により測定された前記温湿度の測定値および前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値を用いて、前記除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出部とを備え、前記性能劣化検出部は、インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに予め記憶し、前記２つの温湿度計の前記測定値に基づき、前記陽極および前記陰極が接する２つの空間の絶対水分量を算出し、それらの絶対水分量の平均値を前記除湿素子の周辺絶対水分量とし、当該周辺絶対水分量の値と同一の絶対水分量における前記インピーダンス参照値を読み出し、前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値と、読みだした前記インピーダンス参照値との比較により、前記除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置である。

本発明は、固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極が接する空間にそれぞれ設置され、それらの空間の温湿度をそれぞれ測定する２つの温湿度計と、前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極に接続され、前記除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部と、前記２つの温湿度計により測定された前記温湿度の測定値および前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値を用いて、前記除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出部とを備え、前記性能劣化検出部は、インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに予め記憶し、前記２つの温湿度計の前記測定値に基づき、前記陽極および前記陰極が接する２つの空間の絶対水分量を算出し、それらの絶対水分量の平均値を前記除湿素子の周辺絶対水分量とし、当該周辺絶対水分量の値と同一の絶対水分量における前記インピーダンス参照値を読み出し、前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値と、読みだした前記インピーダンス参照値との比較により、前記除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であるので、周辺の温度および湿度に依らず、高精度の性能評価を可能にすることができる。

本発明の実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す構成図である。 本発明の実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。 本発明の実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置における電子機器筐体に設置された除湿素子の陽極面および陰極面に垂直な方向での固体電解質膜の内部の絶対水分量の分布を示す説明図である。 除湿素子のインピーダンスの周波数依存性を示す図である。 本発明の実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す構成図である。 本発明の実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。 本発明の実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置における電子機器筐体に設置された除湿素子を長時間通電運転した後での陽極面および陰極面に垂直な方向での固体電解質膜の内部の絶対水分量の分布を示す図である。 本発明の実施の形態３に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す構成図である。 本発明の実施の形態３に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。 本発明の実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す構成図である。 本発明の実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。 ｆ_ｃ＝１０Ｈｚ、ｆ_ｄ＝０．１Ｈｚとして測定した除湿素子のインピーダンスの変化率Ｐを示す図である。 ｆ_ｃ＝１０Ｈｚ、ｆ_ｄ＝１０００Ｈｚとして測定した除湿素子のインピーダンスの変化率Ｐを示す図である。 本発明の実施の形態５に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す構成図である。 本発明の実施の形態５に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。 ｆ_ｅ＝０．１Ｈｚ、ｆ_ｆ＝１０Ｈｚ、ｆ_ｇ＝１０００Ｈｚとして測定した除湿素子のインピーダンスの変化率Ｐ_１とＰ_２の差（Ｐ_１―Ｐ_２）を示す図である。 本発明の実施の形態６に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す構成図である。

実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す図である。本発明の実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置は、除湿素子の性能劣化を検出するための装置である。被検出対象の除湿素子５は、図１に示すように、電子機器（図示せず）を内部に収納する電子機器筐体１の通気穴１ａに設置され、固体電解質膜２と、固体電解質膜２を狭持する陽極３および陰極４とから構成され、陽極３および陰極４に接続された直流電源６により直流電圧が印加されて運転されるものである。

実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置は、図１に示すように、電子機器筐体１の内部に設置され、筐体内部の温度および湿度を測定する温湿度計７ａと、電子機器筐体１の外部に設置され、筐体外部の温度および湿度を測定する温湿度計７ｂと、陽極３および陰極４と接続され、１Ｈｚ以上の周波数で除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８と、２つの温湿度計７ａおよび７ｂの測定値に基づいて算出した２つの絶対水分量の平均値を除湿素子５の周辺絶対水分量とみなし、その値と同一の絶対水分量の空間で予め測定し記憶した性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値（以下、インピーダンス参照値とする。）と、性能劣化評価時にインピーダンス測定部８により測定した除湿素子５のインピーダンス値との比較により、除湿素子５の性能劣化を検出する性能劣化検出部９とから、構成されている。

電子機器筐体１は、電子機器を構成する部品等をその内部に納める筐体である。材質は、樹脂あるいは金属など任意のものを用いることができる。筐体を透過する水分を低減するためには、金属製のもの、例えばＳＵＳ（Steel Use Stainless）製のものを用いることが好ましい。形状は、除湿素子５を外面に取り付けることができれば、車載用のヘッドランプなどの曲線部を有するような形状を含め任意の形状のものを用いることができる。

直流電源６は、陽極３と陰極４との間に直流電圧を印加して、除湿素子５を動作させるための直流電源である。直流電源６として、通常２〜２．５Ｖの直流電圧を印加できる直流電源を用いることができる。

温湿度計７ａは、電子機器筐体１の内部に設置され、筐体内部の温度および湿度を測定し、性能劣化検出部９へ通信ケーブルを介して測定値を送信する。
温湿度計７ｂは、電子機器筐体１の外部に設置され、筐体外部の温度および湿度を測定し、性能劣化検出部９へ通信ケーブルを介して測定値を送信する。
なお、車載の電子機器であって自動車に温湿度計が標準搭載されている場合には、自動車に標準搭載された温湿度計を代用することができ、その場合には、構成から温湿度計７ａまたは７ｂのいずれかを省くことができる。自動車に搭載された温湿度計は、車外および車内どちらの温湿度を測定するためのものであっても用いることができる。ただし、車内の温湿度を測定するための温湿度計である場合は、自動車内の温度を制御するための空調機器を作動する前に、温湿度を測定し、その直後に性能劣化を評価することが好ましい。

インピーダンス測定部８は、陽極３および陰極４に接続され、１Ｈｚ以上の周波数で、除湿素子５のインピーダンスを測定するものである。従って、１Ｈｚ以上の周波数での測定が可能な市販のインピーダンスアナライザーを用いることができる。インピーダンス測定では、除湿素子５に交流電圧を印加するため、除湿素子５の陽極３と陰極４の極性が反転して、一定周期で陽極３が陰極、陰極４が陽極となり、性能劣化に繋がる可能性がある。そのため、印加電圧は極力小さくする必要があり、１０ｍＶ程度とすることが好ましい。インピーダンス測定における周波数は、除湿素子５の固体電解質膜の導電特性の変化を明確に検出できるようにするために、１Ｈｚ以上とすることが好ましく、検出したい性能劣化度合いに応じて周波数を調節してもよい。

性能劣化検出部９は、温湿度計７ａと、温湿度計７ｂと、インピーダンス測定部８とに、接続されている。性能劣化検出部９は、温湿度計７ａおよび７ｂより電子機器筐体１の内部および外部の温湿度を取得することができる。また、性能劣化検出部９は、インピーダンス測定部８に固定周波数でのインピーダンス測定を実行する命令を出し、インピーダンス測定部８から、除湿素子５のインピーダンス値を取得することができる。また、性能劣化検出部９には、インピーダンス値のデータを記憶するための記憶装置（図示省略）が内蔵されており、当該記憶装置には、内部の温湿度を制御した密閉容器に、性能劣化のない状態の除湿素子を入れて、周辺絶対水分量を変化させながら、インピーダンスを測定して求めた、周辺絶対水分量ごとの性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値のデータが、インピーダンス参照値として、予め記憶されている。なお、「性能劣化のない除湿素子」とは、例えば、未使用品の除湿素子が挙げられる。インピーダンス参照値としては、被検出対象の除湿素子と同じ型の製品で且つ未使用品のものを用いてインピーダンス値の測定を行って、それをインピーダンス参照値とする。但し、製品ごとに誤差程度のインピーダンス値の多少のばらつきがある可能性を考慮すれば、被検出対象の除湿素子そのものを用いた方がより望ましい。従って、その場合には、被検出対象の除湿素子を、使用する前に（すなわち、未使用の段階で）、インピーダンス値の測定を行って、それをインピーダンス参照値とする。このように、同じ型の製品でインピーダンス参照値を作成するか、被検出対象の除湿素子そのものを用いてインピーダンス参照値を作成するかについては、費用対効果などを考慮して、適宜決定すればよい。以下の他の実施の形態でも同様である。性能劣化検出部９は、記憶装置に記憶されているインピーダンス参照値と、インピーダンス測定部８により測定した除湿素子５のインピーダンス値とを比較して、性能劣化を検出する。

以下、除湿素子５の構成について説明する。除湿素子５は、水を電気分解して酸素を発生する陽極３、水分を放出する陰極４、陽極３と陰極４とが対向する領域において水素イオンを輸送する固体電解質膜２から構成される電気化学素子である。

固体電解質膜２は、気体を透過せず、電気絶縁性があり、水および水素イオン（Ｈ^＋）を伝導する材質、例えば、パーフルオロスルホン酸膜、ポリベンゾイミダゾール系イオン交換膜、ポリベンズオキサゾール系イオン交換膜、または、ポリアリーレンエーテル系イオン交換膜などを用いることができる。

陽極３は、基材と水の酸化反応を促進する酸化触媒から構成されている。基材としては、チタン（Ｔｉ）金属繊維の焼結体（例えば繊維径２０μｍ、長さ５０〜１００ｍｍの単繊維を織り込んで焼結体としたもの）からなる密度２００ｇ／ｃｍ^２の布（半径５０ｍｍ、厚み３００μｍ）や、チタン製の網目構造を持つエキスパンドメタルを用いることができる。基材の固体電解質膜２に接する面に触媒となる白金（Ｐｔ）または、酸化イリジウム（ＩｒＯ_２）を０．２５〜２ｍｇ／ｃｍ^２の密度でめっきすることにより陽極３を形成することができる。水の酸化反応は、基材上に形成された酸化触媒と固体電解質膜２の界面でのみ進行するので、基材としてエキスパンドメタルを用いる場合には、網目の密度が電解性能に影響する。具体的には、１インチあたり１０個以上の穴が開いたエキスパンドメタルを用いることが好ましい。

陰極４は、炭素系基材と酸素の還元反応を促進する還元触媒から構成されている。炭素系基材としては、半径５０ｍｍ、厚さ２００μｍの炭素繊維（例えば、繊維径約５〜５０μｍ、空隙率５０〜８０％）を用いることができる。炭素繊維は、撥水化処理されている。

除湿素子５に接続される直流電源６は、陽極３と陰極４の間に連続的もしくは断続的に直流電圧を印加して除湿素子５において電気化学反応を起こさせるものである。電子機器筐体１の内部の水は固体電解質膜２に吸収され、固体電解質膜２内を拡散し、固体電解質膜２で水が保持される。

陽極３では、供給された水が、下記の式（３）で示すように、酸素（Ｏ_２）と水素イオン（Ｈ^＋）とに分けられる。直流電源６により電圧を印加すると、電流が流れ、陽極３の表面から酸素が発生する。

２Ｈ_２Ｏ → Ｏ_２＋ ４Ｈ^＋ ＋ ４ｅ⁻ （３）

陰極４に対して空気などの酸素（Ｏ_２）を含有するガスが供給されると、陰極４上で固体電解質膜２と界面に達した水素イオン（Ｈ^＋）と酸素ガス（Ｏ_２）が反応し、下記の式（４）で示す還元反応によって水（Ｈ_２Ｏ）が発生する。

Ｏ_２ ＋ ４Ｈ^＋ ＋ ４ｅ⁻ → ２Ｈ_２Ｏ （４）

以下に、実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置の動作について説明する。

図２は、実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。以下、図２に沿って実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明する。

まず、図２に示すように、ステップＳ１で、除湿素子５を直流電源６により所定時間（好ましくは５分以上）だけ通電運転する。ここでの通電時間は、好ましくは、５分以上であるが、５〜１０分程度の短時間とする。次に、その直後に、ステップＳ２で、除湿素子５のインピーダンスと、電子機器筐体１の内部および外部の温湿度とを測定する。除湿素子５を所定時間の通電運転した直後に、これらの値を測定するのは、除湿素子５の固体電解質膜２の内部の絶対水分量を、電子機器筐体１の内部および外部の絶対水分量に応じた値に制御するためである。但し、除湿素子５の周辺温湿度が一定時間（１５分程度）以上安定していた場合は、この工程は省くことができる。

以下、ステップＳ２の測定方法について説明する。
まず、性能劣化検出部９により、インピーダンス測定部８に除湿素子５のインピーダンス測定を実行する指令を出す。それに応じて、インピーダンス測定部８は、予め設定された固定周波数（１Ｈｚ以上）、印加電圧（１０ｍＶ程度）で、除湿素子５のインピーダンスを測定する。性能劣化検出部９は、インピーダンス測定部８から測定結果を受け取り、そのインピーダンス値をＺとして、性能劣化検出部９に内蔵された記憶装置に保存する。
こうしてインピーダンスを測定した直後に、性能劣化検出部９は、電子機器筐体１の内部の温湿度を温湿度計７ａにより測定し、電子機器筐体１の外部の温湿度を温湿度計７ｂにより測定する。

次に、ステップＳ３において、性能劣化検出部９は、温湿度計７ａで測定した温湿度より、電子機器筐体１の内部の絶対水分量Ｍ_ｉｎを算出し、性能劣化検出部９に内蔵された記憶装置に保存する。また、電子機器筐体１の外部についても同様に、性能劣化検出部９は、温湿度計７ｂにより測定した温湿度より、電子機器筐体１の外部の絶対水分量Ｍ_ｏｕｔを算出し、性能劣化検出部９に内蔵された記憶装置に保存する。なお、絶対水分量Ｍ_ｉｎおよび絶対水分量Ｍ_ｏｕｔの算出方法としては、例えば、温度の値および湿度の値に対応させて絶対水分量の値を記憶したテーブルを予め用意しておき、当該テーブルから、測定した温度および湿度の値に対応する絶対水分量を求めるようにすればよい。

図３は、電子機器筐体１に設置された除湿素子５の陽極面および陰極面に垂直な方向での固体電解質膜２の内部の絶対水分量の分布を示す図である。図３のように、固体電解質膜２の内部の絶対水分量は、電子機器筐体１の内部と外部の絶対水分量Ｍ_ｉｎ、Ｍ_ｏｕｔにより決定され、陽極３および陰極４の表面に垂直な方向に一定の変化の割合の勾配を持っている。したがって、固体電解質膜２の全体での絶対水分量は、電子機器筐体１の内部と外部における絶対水分量の平均値に一致すると考えられる。以上より、本実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置では、除湿素子５の固体電解質膜２の内部の絶対水分量Ｒを、電子機器筐体１の内部と外部における絶対水分量の平均値として扱うことができる。すなわち、以下の式（５）が成り立つ。

Ｒ＝（Ｍ_ｉｎ＋Ｍ_ｏｕｔ）／２ （５）

そこで、ステップＳ４において、性能劣化検出部９は、上記の式（５）を用いて、ステップＳ３で求めた電子機器筐体１の内部と外部の絶対水分量Ｍ_ｉｎ、Ｍ_ｏｕｔに基づいて、除湿素子５の固体電解質膜２の内部の絶対水分量Ｒを算出する。

次に、ステップＳ５で、性能劣化検出部９は、記憶装置から、ステップＳ４で求めた絶対水分量Ｒにおけるインピーダンス参照値Ｚ_０（すなわち、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値Ｚ_０）を読み出す。

次に、ステップＳ６で、性能劣化検出部９は、ステップＳ２で測定した除湿素子５のインピーダンス値Ｚと、ステップＳ５で記憶装置から読み出したインピーダンス参照値Ｚ_０とを比較して、除湿素子５の性能劣化を、以下の判定基準に基づき判定する。
すなわち、性能劣化に伴いインピーダンスは増大すると考えられるので、Ｚ_０とＺの間にはＺ≧Ｚ_０の関係がある。従って、判定基準は、Ｚ＝Ｚ_０の時は、除湿素子５に性能劣化なし、Ｚ＞Ｚ_０の時は、除湿素子５に性能劣化あり、として性能劣化を検出することができる。

性能劣化のない除湿素子５を電子機器筐体１に取り付けた直後に測定したインピーダンスＺは、Ｚ＝Ｚ_０の関係を満たすと考えられる。しかし、製造における微妙な差異によりＺとＺ_０は一致しない可能性がある。したがって、性能劣化のない除湿素子５を電子機器筐体１に取り付けた直後に測定したインピーダンスＺに基づき、以下の式（６）により、補正係数αを求め、性能劣化検出部９の記憶装置に記録されたインピーダンス参照値Ｚ_０に乗じて、インピーダンス参照値Ｚ_０を補正した上で、ステップＳ６の判定を行うことがより好ましい。

α＝Ｚ／Ｚ_０ （６）

（実施例１）
以下、本実施の形態１における実施例について説明する。
図４は、絶対水分量９．５ｍｇ／Ｌの密閉空間において測定した除湿素子５のインピーダンスの周波数依存性を示す図である。除湿素子５としては、未使用品、除湿性能が１１％低下した劣化品、除湿性能が６２％低下した劣化品、および、除湿性能が８２％低下した劣化品を用いた。図４において、細い実線が未使用品、（１）が除湿性能が１１％低下した劣化品、（２）が除湿性能が６２％低下した劣化品、（３）が除湿性能が８２％低下した劣化品のグラフを示す。

また、インピーダンスの測定では、周波数を０．１Ｈｚ〜１００ｋＨｚ、印加する交流電圧を１０ｍＶとした。

図４の結果から、除湿性能が６２％および８２％低下した劣化品の除湿素子では、全周波数に亘って、未使用品よりもインピーダンスが大きくなっていることがわかる。一方、除湿性能が１１％低下した劣化初期過程と考えられる除湿素子では、１Ｈｚ以下では未使用品とインピーダンスが一致しており、１Ｈｚ以上で未使用品よりもインピーダンスが増大していることがわかる。

１Ｈｚ以下の低周波数でのインピーダンス測定では、交流電圧の極性反転が遅く、直流電流に近い特性が現れており、水分解反応に関わるインピーダンスが検出されていると考えられる。一方、１Ｈｚよりも周波数が大きくなると、交流電圧の極性反転が速いため、除湿素子の固体電解質膜の導電特性に関わるインピーダンスが検出されていると考えられる。除湿性能が１１％低下した除湿素子では、劣化に伴い固体電解質膜の導電特性が低下したが、劣化の程度が小さいため、水分解反応に関わるインピーダンスは変化していないと考えられる。一方、除湿性能が６２％および８２％低下した除湿素子では、劣化の程度が大きいため、固体電解質膜の導電特性の低下だけでなく、水分解反応に関わるインピーダンスの増大も発生していると考えられる。

これらの結果より、除湿性能劣化の初期過程では、固体電解質膜の導電特性が劣化すると考えられる。また、この固体電解質膜の導電特性の変化を明確に検出するためには、１Ｈｚ以上の周波数を用いることができると考えられる。１〜１０Ｈｚにおいても導電特性変化は検出できるが、図４における未使用品と１１％性能低下した除湿素子のインピーダンス値の差異より、１０Ｈｚ以上とすることが好ましいと考えられる。

実施例１で示した除湿素子に対して適用するインピーダンス測定の周波数は、次のようにまとめられる。すなわち、劣化度合６０％以上の除湿素子を検出するには１Ｈｚ以上が好ましく、劣化度合い１１％以上６０％以下の除湿素子を検出するには１０Ｈｚ以上が好ましく、劣化度合い１１％以下の除湿素子を検出するには１Ｈｚ以上が好ましいことが分かった。また、図４に示すように、１００Ｈｚ以上では周波数が大きくなるほど、１１％性能低下と６２％性能低下のインピーダンスの差が小さくなる傾向が確認された。劣化度合い１１％以下と６０％以上の差異を明確に区別して性能劣化を検出するためには、周波数は１００Ｈｚ以下とすることが好ましい。

許容される劣化度合いは、除湿素子が使用される環境条件や除湿素子の長期信頼性設計に依存するので、上記の劣化度合いの境界値は相対的なものである。

実施例１で示す交流インピーダンスを用いた除湿素子劣化の評価法は、除湿素子の劣化プロセスの進行に伴い、特にその初期過程においては除湿素子の導電特性が選択的に変化することに着目したものである。また、除湿素子の劣化評価においては、除湿素子の周辺環境の湿度によって変化する素子構成部品の固体電解質膜の内部の絶対水分量が大きく影響することを、本実施例によって見出すことができた。

上記の交流インピーダンス法で得られた測定値を除湿素子の周辺環境から推算した固体電解質膜の内部の絶対水分量によって補正することで、本発明の目的である除湿素子の劣化プロセスの初期過程を検出することが初めて可能となった。

本実施例で示したように、実用上想定される除湿素子の劣化を検知するためには、インピーダンス測定の周波数は１Ｈｚ以上が望ましい。除湿素子の性能が半減する期間を設計寿命と定義すると、設計寿命が１年以上の除湿素子における劣化を検知するには、１０Ｈｚ以上が望ましい。また、設計寿命が３年以上または５年以上の除湿素子における劣化を検知するには、それぞれ１００Ｈｚ以上、１ｋＨｚ以上に調節することが望ましい。

以上のように、本実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置は、固体電解質膜２とその両側に設けられた陽極３及び陰極４とから構成された除湿素子５の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、除湿素子５の陽極３及び陰極４が接する空間にそれぞれ設置され、それらの空間の温湿度を測定する２つの温湿度計７ａ，７ｂと、除湿素子５の陽極３及び陰極４に接続され、除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８と、２つの温湿度計７ａ，７ｂの測定値およびインピーダンス測定部８により測定された除湿素子５のインピーダンスＺの値を用いて、除湿素子５の性能劣化を検出する性能劣化検出部９とを備えている。性能劣化検出部９は、インピーダンス参照値Ｚ_０として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに予め記憶し、２つの温湿度計７ａ，７ｂの測定値に基づき、陽極３および陰極４が接する２つの空間の絶対水分量Ｍ_ｉｎ，Ｍ_ｏｕｔを求め、それらの絶対水分量Ｍ_ｉｎ，Ｍ_ｏｕｔの平均値（（Ｍ_ｉｎ＋Ｍ_ｏｕｔ）／２）を除湿素子５の周辺絶対水分量Ｒとし、当該周辺絶対水分量Ｒの値と同一の絶対水分量におけるインピーダンス参照値Ｚ_０を読み出し、インピーダンス測定部８により測定された除湿素子５のインピーダンスＺの値と、読みだしたインピーダンス参照値Ｚ_０との比較により、除湿素子５の性能劣化を検出する構成とした。当該構成により、以上説明したように、本実施の形態１に係る除湿素子劣化検出装置によると、２つの温湿度計７ａ，７ｂの測定値に基づき算出した２つの絶対水分量の平均値の絶対水分量の雰囲気内で予め測定し記憶された性能劣化のない素子のインピーダンス参照値Ｚ_０とインピーダンス測定部８により測定したインピーダンス値Ｚとの比較により、除湿素子５の劣化判定を行うようにしたので、周辺温湿度の変化によるインピーダンスへの影響を低減できるので、高精度の性能評価が可能となる。また、周波数を１Ｈｚ以上にして、除湿素子５のインピーダンスを測定することにより、除湿素子５の性能劣化初期過程で起こる固体電解質膜２の導電特性変化を捉えることができるので、性能劣化を早期に検出することができる。

実施の形態２．
図５は、本発明の実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す図である。本発明の実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置は、除湿素子５を長時間運転した後に性能劣化の検出を実施することを特徴とし、電子機器筐体１の外部に設置され、筐体外部の温度および湿度を測定する温湿度計７ｂと、陽極３および陰極４と接続され、１Ｈｚ以上の周波数で除湿素子５のインピーダンスＺを測定するインピーダンス測定部８と、温湿度計７ｂの測定値に基づき除湿素子５の絶対水分量Ｒを算出し、その値と同一の絶対水分量の空間で予め測定し記憶された性能劣化のない除湿素子のインピーダンス参照値Ｚ_０と、評価時にインピーダンス測定部８により測定した除湿素子５のインピーダンスＺとの比較により性能劣化を検出する性能劣化検出部９Ａとを有する。

上記の実施の形態１の構成との差異点は、電子機器筐体１の内部に設置された温湿度計７ａを有しない点と、性能劣化検出部９Ａの動作が性能劣化検出部９と異なる点である。本実施の形態は、温湿度計の数を１つにした場合でも、高精度で除湿性能を評価できることを特徴とする。

なお、図１に示す実施の形態１と同じ構成および同じ動作については、ここでは詳細な説明を省略する。

図６は、本発明の実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。以下、図６に沿って実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明する。

図６に示すように、まず、ステップＳ１１で、除湿素子５を直流電源６により所定時間（好ましくは１時間以上）通電運転する。上記の実施の形態１においては、５分以上の短時間の間、通電運転を行うと説明したが、本実施の形態２においては、上記の実施の形態１よりも長い時間の間、通電運転を行う。好ましくは、１〜２時間程度である。次に、その直後に、ステップＳ１２で、除湿素子５のインピーダンスＺと、電子機器筐体１の外部の温湿度を測定する。なお、除湿素子５を長時間の動作後に、これらの値を測定するのは、電子機器筐体１の内部の絶対水分量を限りなくゼロに近づけるためである。そのため、性能劣化の検出の精度を向上するためには、測定前の通電運転を十分長くすることが好ましい。すなわち、通電運転を行う所定時間は、電子機器筐体１の内部の絶対水分量が略ゼロになるのに十分な時間と定義される。ただし、測定直前に長時間にわたる通常の除湿素子５による除湿運転が行われていた場合は、測定のために長時間の通電運転を別途する必要はなく、通常の除湿運転直後に測定を実施することができる。

以下、ステップＳ１２の測定方法について説明する。
まず、性能劣化検出部９Ａにより、インピーダンス測定部８に除湿素子５のインピーダンス測定を実行する指令を出す。それに応じて、インピーダンス測定部８は、予め設定された固定周波数（１Ｈｚ以上）、印加電圧（１０ｍＶ程度）で、除湿素子５のインピーダンスを測定する。性能劣化検出部９は、インピーダンス測定部８より測定結果を受け取り、そのインピーダンス値をＺとして性能劣化検出部９に内蔵された記憶装置に保存する。
こうしてインピーダンスを測定した直後に、性能劣化検出部９は、電子機器筐体１の外部の温湿度を温湿度計７ｂにより測定する。

次に、ステップＳ１３において、性能劣化検出部９Ａは、温湿度計７ｂで測定した温湿度より電子機器筐体１の外部の絶対水分量Ｍ_ｏｕｔを算出し、性能劣化検出部９Ａに内蔵された記憶装置（図示省略）に保存する。なお、絶対水分量Ｍ_ｏｕｔの算出方法としては、上記の実施の形態１と同様の方法により算出すればよい。

図７は、電子機器筐体１に設置された除湿素子５を長時間通電運転した後での陽極面および陰極面に垂直な方向での固体電解質膜２の内部の絶対水分量の分布を示す図である。図７に示すように、除湿素子５を長時間通電運転した後の電子機器筐体１の内部の絶対水分量Ｍ_ｉｎ’は除湿素子５の長期運転中の運転条件と電子機器筐体１に存在する通気穴１ａの面積に依存して変化する。なぜなら、長期運転中の通電電流が大きく、除湿能力が高ければＭ_ｉｎ’は小さくなり、電子機器筐体１に存在する通気穴１ａの面積が大きければ、外気との湿度の交換量が増加するため、Ｍ_ｉｎ’は増加するからである。除湿能力Ｐｗ（ｇ／ｈｒ）を有する除湿素子５を、通気穴１ａの面積がＳｌ（ｃｍ^２）の電子機器筐体１に設置して使用する場合は、Ｍ_ｉｎ’は、例えば、以下の式（７）で求めることができる。ここで、除湿能力とは、単位時間あたりに除湿できる水分量（重量）である。なお、除湿能力Ｐｗ（ｇ／ｈｒ）は、実際に測定して予め求めておいてもよいが、設計値を用いるようにしてもよい。また、通気穴１ａの面積Ｓｌ（ｃｍ^２）は設計値を用いることとする。

ここで、Ｃ_１（ｇ／ｃｍ^３）、Ｃ_２（ｇ／ｃｍ^３）、Ｃ_３（ｃｍ／ｈｒ）は、以下の式（７−１），（７−２），（７−３）を満たす。

Ｃ_１ ^−１＝０．４２ （７−１）
Ｃ_２ ^−１＝１９．２ （７−２）
Ｃ_３＝０．２４ （７−３）

したがって、この場合の、上記の実施の形態１で示した式（５）で表される除湿素子５の固体電解質膜の絶対水分量Ｒは、以下の式（８）のように近似することができる。

Ｒ＝（Ｍ_ｉｎ’＋Ｍ_ｏｕｔ）／２ （８）

そこで、ステップＳ１４において、性能劣化検出部９Ａは、まず、上記の式（７）を用いて、電子機器筐体１の内部の絶対水分量Ｍ_ｉｎ’を推定し、次に、上記の式（８）を用いて、推定したＭ_ｉｎ’と、ステップＳ１３で求めた電子機器筐体１の外部の絶対水分量Ｍ_ｏｕｔとに基づいて、除湿素子５の固体電解質膜２の内部の絶対水分量Ｒを算出する。

次に、ステップＳ１５で、性能劣化検出部９Ａは、記憶装置から、ステップＳ１４で求めた絶対水分量Ｒにおけるインピーダンス参照値Ｚ_０（すなわち、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値Ｚ_０）を読み出し、ステップＳ１６で、上記の実施の形態１の動作と同様の方法により、性能劣化を行う。

以上のように、本実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置は、固体電解質膜２とその両側に設けられた陽極３及び陰極４とから構成された除湿素子５の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、除湿素子５の陰極４が接する空間に設置され、当該空間の温湿度を測定する温湿度計７ｂと、除湿素子５の陽極３及び陰極４に接続され、除湿素子５のインピーダンスＺを測定するインピーダンス測定部８と、温湿度計７ｂの測定値およびインピーダンス測定部８により測定された除湿素子５のインピーダンスＺの値を用いて、除湿素子５の性能劣化を検出する性能劣化検出部９Ａとを備えている。性能劣化検出部９Ａは、インピーダンス参照値Ｚ_０として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに予め記憶装置に記憶している。性能劣化検出部９Ａは、温湿度計７ｂの測定値に基づき陰極４が接する空間の絶対水分量Ｍ_ｏｕｔを算出し、陰極４が接する空間の絶対水分量Ｍ_ｏｕｔと除湿素子５の除湿能力とに基づき、陽極３が接する空間の絶対水分量Ｍ_ｉｎ’を求め、陰極４が接する空間の絶対水分量Ｍ_ｏｕｔと陽極３が接する空間の絶対水分量Ｍ_ｉｎ’との平均値を、除湿素子５の周辺絶対水分量Ｒとし、当該周辺絶対水分量Ｒの値と同一の絶対水分量におけるインピーダンス参照値Ｚ_０を読み出し、インピーダンス測定部８により測定された除湿素子５のインピーダンスＺの値と読みだしたインピーダンス参照値Ｚ_０との比較により、除湿素子５の性能劣化を検出する構成とした。これにより、本実施の形態２に係る除湿素子劣化検出装置によると、ステップＳ１１の工程に時間がかかるため、性能劣化評価にかかる時間が長くなる場合があるが、温湿度計１つの構成で、実施の形態１と同様に、除湿素子５の劣化初期過程で起こる固体電解質膜２の特性変化の検出により性能低下を早期に検出することができ、周辺温湿度に依らず、高精度での性能評価が可能となる。

実施の形態３．
図８は、本発明の実施の形態３に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す図である。本発明の実施の形態３に係る除湿素子劣化検出装置は、陽極３および陰極４と接続され、１Ｈｚ未満および１Ｈｚ以上の固定周波数での除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８Ｂと、１Ｈｚ未満の周波数で測定したインピーダンス値により除湿素子５の絶対水分量を算出し、その値と同一の絶対水分量の空間で予め１Ｈｚ以上の周波数で測定し記憶された性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値（以下、インピーダンス参照値とする。）と、評価時に１Ｈｚ以上の周波数で測定した除湿素子５のインピーダンス値との比較により、除湿素子５の性能劣化を検出する性能劣化検出部９Ｂとを有することを特徴とする。

上記の実施の形態１の構成との差異点は、１Ｈｚ未満の周波数と１Ｈｚ以上の周波数の２つの周波数領域における固定周波数でのインピーダンスを測定し、１Ｈｚ未満でのインピーダンス値により除湿素子５の絶対水分量を算出し、１Ｈｚ以上でのインピーダンス値により性能劣化を検出する点、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を上記の１Ｈｚ以上の周波数で測定した測定結果を当該測定を行った空間の絶対水分量ごとにインピーダンス参照値Ｚ_０として予め記憶している点、および、電子機器筐体１の内部および外部に設置された温湿度計７ａ、７ｂを有しない点であり、温湿度計を使用しなくても、高精度で除湿性能を評価できることを特徴とする。

なお、図１に示す実施の形態１と同じ構成および同じ動作については、ここでは詳細な説明を省略する。

本実施の形態３におけるインピーダンス測定部８Ｂは、１Ｈｚ未満および１Ｈｚ以上の２つの周波数領域における２つ以上の固定周波数でのインピーダンスを測定できるものである必要がある。１Ｈｚ未満および１Ｈｚ以上の２つの周波数領域のそれぞれにおいて少なくとも１つの固定周波数でのインピーダンス測定ができればよい。ただし、１Ｈｚ未満の周波数については、インピーダンス測定時の除湿素子に流れる電流が直流電流と見なせるような条件となるように、可能な限り交流電圧の極性反転の遅い低周波数とし、具体的には０．１Ｈｚ程度とすることが好ましい。

図９は、実施の形態３に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。以下、図９に沿って実施の形態３に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明する。ここでは、簡単のため、１Ｈｚ未満および１Ｈｚ以上の２つの周波数領域のそれぞれにおいて１つの固定周波数を用いた場合について説明する。それぞれの周波数領域において２つ以上の固定周波数を用いた場合も、以下と同様の方法を用いることができる。

まず、図９に示すように、ステップＳ２１で、性能劣化検出部９Ｂにより、インピーダンス測定部８Ｂに２つの固定周波数、すなわち、第１の周波数ｆ_ａ（ｆ_ａ＜１Ｈｚ）および第２の周波数ｆ_ｂ（ｆ_ｂ≧１Ｈｚ）における、除湿素子５のインピーダンスＺ(ｆ_ａ)、Ｚ(ｆ_ｂ)を測定する指令を出し、インピーダンス測定部８から測定結果を受け取る。

次に、ステップＳ２２で、性能劣化検出部９は、ステップＳ２１の測定結果のうちの、第１の周波数ｆ_ａで測定したインピーダンスＺ（ｆ_ａ）を用いて、下記の式（９）により、インピーダンス測定時に除湿素子５に流れる電流値Ｉを算出する。

Ｉ＝Ｖ／Ｚ(ｆ_ａ) （９）

ここで、Ｖはインピーダンス測定部８においてインピーダンス測定時に除湿素子５に印加される交流電圧の電圧値である。第１の周波数ｆ_ａは、１Ｈｚ未満の低周波数であり、交流電圧の極性反転は遅く直流電圧を印加した場合に近く、第１の周波数ｆ_ａでのインピーダンス測定時の除湿素子５には電流値Ｉの直流電流が流れたと見なすことができる。すなわち、低周波数でのインピーダンス測定により、除湿素子に流れる直流電流の値を求めることができる。

次に、ステップＳ２３で、性能劣化検出部９Ｂは、ステップＳ２２で算出した上記の電流値Ｉを用いて、以下の式により固体電解質膜２の絶対水分量Ｒを求める。

Ｒ＝β×Ｉ （１０）

ここで、βは比例係数である。絶対水分量Ｒは除湿素子に流れる直流電流の値に比例すると考えられることから、所定の絶対水分量Ｒの空間に設置された除湿素子について、第１の周波数ｆ_ａおよび電圧Ｖでインピーダンス測定をすることによりβを予め求めることができる。ただし、性能劣化の程度が進んだ場合にはβは変化すると考えられる。この影響のために、本実施の形態３では性能劣化が進んだ状態の検出の精度は低くなる可能性があるが、少なくとも、性能劣化の初期過程を高精度に検出することは可能であると考えられる。

次に、ステップＳ２４で、ステップＳ２３で式（１０）により算出した固体電解質膜の絶対水分量Ｒと同一の絶対水分量の空間で、かつ、第２の周波数ｆ_ｂで測定した、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス参照値Ｚ_０を、性能劣化検出部９Ｂの記憶装置（図示省略）より読み出し、ステップＳ２５で、実施の形態１の動作説明においてＺをＺ(ｆ_ｂ)に読み替えることにより、実施の形態１の動作説明と同様の方法により性能劣化を評価する。

以上のように、本実施の形態３に係る除湿素子劣化検出装置は、固体電解質膜２とその両側に設けられた陽極３及び陰極４とから構成された除湿素子５の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、除湿素子５の陽極３及び陰極４に接続され、１Ｈｚ未満の第１の周波数ｆ_ａおよび１Ｈｚ以上の第２の周波数ｆ_ｂで、除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８Ｂと、インピーダンス測定部８Ｂにより測定された除湿素子５の２つのインピーダンスの値を用いて、除湿素子５の性能劣化を検出する性能劣化検出部９Ｂとから構成されている。性能劣化検出部９Ｂは、インピーダンス参照値Ｚ_０として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を、第２の周波数ｆ_ｂと同じ周波数で測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに予め記憶装置に記憶している。性能劣化検出部９Ｂは、第１の周波数ｆ_ａで測定したインピーダンス値により除湿素子５の絶対水分量Ｒを算出し、絶対水分量Ｒの値と同一の絶対水分量の空間で第２の周波数ｆ_ｂと同じ周波数で測定されたインピーダンス参照値Ｚ_０を読み出し、インピーダンス測定部８Ｂにより第２の周波数ｆ_ｂで測定された除湿素子５のインピーダンスＺ（ｆ_ｂ）と、読みだしたインピーダンス参照値Ｚ_０との比較により、除湿素子５の性能劣化を検出する構成とした。これにより、本実施の形態３に係る除湿素子劣化検出装置によると、温湿度計を用いることなく、周辺温湿度の変化による除湿素子のインピーダンスへの影響を低減して、周辺温湿度に依らず、高精度で除湿素子５の性能評価が可能となる。

実施の形態４．
図１０は、実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す図である。実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置は、陽極３および陰極４と接続され、２つ以上の固定周波数で除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８Ｃと、測定したインピーダンスの周波数依存性から性能劣化を検出する性能劣化検出部９Ｃとを有することを特徴とする。

上記の実施の形態１の構成との差異点は、２つ以上の固定周波数でインピーダンス測定をする点、性能劣化検出部９が、性能劣化がない除湿素子のインピーダンスを２つ以上の異なる周波数で予め測定し、当該測定値から周波数変化によるインピーダンスの変化率を求め、インピーダンスの変化率の参照値Ｐ_０として記憶している点、および、電子機器筐体１の内部および外部に設置された温湿度計７ａ、７ｂを有しない点であり、温湿度計を使用しなくても、高精度で除湿性能を評価できることを特徴とする。

本実施の形態４におけるインピーダンス測定部８Ｃは、２つ以上の固定周波数におけるインピーダンスを測定できるものである必要がある。２つ以上の固定周波数のうち１つは１０Ｈｚであり、もう１つは１Ｈｚ以下または１００Ｈｚ以上であることが好ましい。

なお、図１に示す実施の形態１と同じ構成および同じ動作については、ここでは詳細な説明を省略する。

図１１は、実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。以下、図１１に沿って実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明する。ここでは、インピーダンス測定部８Ｃにおける２つ以上の固定周波数としては、簡単のため、２つの固定周波数を用いた場合について説明するが、３つ以上の固定周波数を用いた場合も、以下と同様の方法を用いることができる。

以下では、２つの固定周波数の例として、第１の周波数を周波数ｆ_ｃ（ｆ_ｃ＝１０Ｈｚ）とし、第２の周波数を周波数ｆ_ｄ（ｆ_ｄ≦１Ｈｚまたはｆ_ｄ≧１００Ｈｚ）として説明する。

まず、図１１に示すように、ステップＳ３１において、性能劣化検出部９Ｃは、インピーダンス測定部８Ｃに、２つの固定周波数、すなわち、第１の周波数ｆ_ｃ（ｆ_ｃ＝１０Ｈｚ）および第２の周波数ｆ_ｄ（ｆ_ｄ≦１Ｈｚまたはｆ_ｄ≧１００Ｈｚ）における除湿素子５のインピーダンスＺ(ｆ_ｃ)、Ｚ(ｆ_ｄ)を測定する指令を出し、インピーダンス測定部８から測定結果を受け取る。

次に、ステップＳ３２において、性能劣化検出部９Ｃは、インピーダンス測定部８から受け取ったインピーダンスＺ(ｆ_ｃ)、Ｚ(ｆ_ｄ)を用いて、下記の式（１１）により、周波数変化によるインピーダンスの変化率Ｐを算出する。

Ｐ＝｜ｌｏｇＺ(ｆ_ｃ)―ｌｏｇＺ(ｆ_ｄ)｜／｜ｌｏｇｆ_ｃ−ｌｏｇｆ_ｄ｜ （１１）

インピーダンスＺ(ｆ_ｃ)、Ｚ(ｆ_ｄ)のそれぞれは、除湿素子５の周囲温湿度の影響を受けて変化する固体電解質膜２の絶対水分量により変化する。また、性能劣化が発生していない場合は、インピーダンスＺ(ｆ_ｃ)、Ｚ(ｆ_ｄ)は、固体電解質膜２の絶対水分量の変化量に応じていずれも等しく一定値だけインピーダンスが変化すると考えられる。一方、性能劣化が発生すると、水分解反応にかかわるインピーダンスおよび固体電解質膜２の導電特性の変化に応じて、２つのインピーダンスは周波数に応じてそれぞれ異なる値だけ変化すると考えられる。すなわち、性能劣化に伴ってインピーダンスの周波数依存性が変化すると考えられる。具体的には、図４より、除湿素子のインピーダンスの周波数依存性には１０Ｈｚ付近に変曲点があり、劣化に伴い、インピーダンスの変化率Ｐの値は、１０Ｈｚ以下では減少し、１０Ｈｚ以上では増大すると考えられる。

以上より、性能劣化評価時に測定したインピーダンスの変化率Ｐと、除湿素子５の設置直後に測定し性能劣化検出部９の記憶装置に保存された性能劣化がない除湿素子５での周波数変化によるインピーダンスの変化率の参照値Ｐ_０とを比較することにより、除湿素子５の周辺温湿度変化の影響を低減して、性能劣化を検出できる。

そこで、ステップＳ３３において、性能劣化検出部９Ｃは、性能劣化評価時に測定したインピーダンスの変化率Ｐと、性能劣化検出部９の記憶装置に記憶されたインピーダンスの変化率の参照値Ｐ_０とを比較することにより、除湿素子５の性能劣化を判定する。具体的には、Ｐ＝Ｐ_０の時は性能劣化なし、Ｐ≠Ｐ_０の時は性能劣化ありとして、除湿素子５の性能劣化を検出する。

（実施例２）
図１２は、第１の周波数ｆ_ｃ＝１０Ｈｚ、および、第２の周波数ｆ_ｄ＝０．１Ｈｚとして測定した除湿素子５のインピーダンスの変化率Ｐを示す図である。また、図１３は、第１の周波数ｆ_ｃ＝１０Ｈｚ、および、第２の周波数ｆ_ｄ＝１０００Ｈｚとして測定した除湿素子５のインピーダンスの変化率Ｐを示す図である。除湿素子としては、未使用品、除湿性能が１１％低下した劣化品、除湿性能が６２％低下した劣化品、および、除湿性能が８２％低下した劣化品を用いた。インピーダンス測定では、印加する交流電圧を１０ｍＶとした。

図１２に示すように、第２の周波数をｆ_ｄ＝０．１Ｈｚとした場合には、性能劣化に伴いインピーダンスの変化率Ｐが減少した。一方、図１３に示すように、第２の周波数をｆ_ｄ＝１０００Ｈｚとした場合には、性能劣化に伴いインピーダンスの変化率Ｐが増大した。図１２及び図１３のいずれにおいても、未使用品と性能劣化した除湿素子との間には、インピーダンスの変化率Ｐの値に差異が確認された。従って、本実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置により、性能劣化を検出できると考えられる。また、図１２の第２の周波数をｆ_ｄ＝０．１Ｈｚとした場合の方が、未使用品と１１％性能劣化の間のインピーダンスの変化率Ｐの差異は明確となった。従って、２つの固定周波数ｆ_ｃ（ｆ_ｃ＝１０Ｈｚ）、ｆ_ｄ（ｆ_ｄ≦１Ｈｚまたはｆ_ｄ≧１００Ｈｚ）としては、ｆ_ｃ＝１０Ｈｚおよびｆ_ｄ≦１Ｈｚとすることが好ましいと考えられる。

以上のように、本実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置は、固体電解質膜２とその両側に設けられた陽極３及び陰極４とから構成された除湿素子５の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、除湿素子５の陽極３及び陰極４に接続され、２つ以上の異なる周波数で除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８Ｃと、インピーダンス測定部８Ｃにより２つ以上の異なる周波数で測定された除湿素子５の２以上のインピーダンスの値を用いて、周波数変化によるインピーダンスの変化率Ｐを求め、測定したインピーダンスの周波数依存性に基づいて、除湿素子５の性能劣化を検出する性能劣化検出部９とを備える構成とした。なお、本実施の形態では、性能劣化検出部９が、性能劣化がない除湿素子のインピーダンスを２つ以上の異なる周波数で予め測定し、当該測定値から周波数変化によるインピーダンスの変化率を求め、インピーダンスの変化率の参照値Ｐ_０として記憶しており、インピーダンス測定部８Ｃで測定したインピーダンスの値から求めたインピーダンスの変化率Ｐと、記憶装置に記憶されたインピーダンスの変化率の参照値Ｐ_０とを比較することにより、それらの一致性に基づいて、除湿素子５の性能劣化を検出する。当該構成により、本実施の形態４に係る除湿素子劣化検出装置によると、温湿度計を用いることなく、周辺温湿度の変化による除湿素子のインピーダンスへの影響を低減して、周辺温湿度に依らず、高精度での除湿素子５の性能評価が可能となる。

実施の形態５．
図１４は、実施の形態５に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す図である。実施の形態５に係る除湿素子劣化検出装置は、陽極３および陰極４と接続され、３つ以上の固定周波数で除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８Ｄと、インピーダンスの周波数依存性における変曲点の有無により性能劣化を検出する性能劣化検出部９Ｄとを有することを特徴とする。

上記の実施の形態１の構成との差異点は、インピーダンスの周波数依存性における変曲点の有無により性能劣化を検出する点、電子機器筐体１の内部および外部に設置された温湿度計７ａ、７ｂを有しない点であり、温湿度計を使用しなくても、高精度で除湿性能を評価できることを特徴とする。

本実施の形態５におけるインピーダンス測定部８Ｄは、３つ以上の固定周波数におけるインピーダンスを測定できるものである必要がある。図４より除湿素子のインピーダンスの周波数依存性における変曲点は周波数１〜１０Ｈｚ付近に存在すると考えられることから、変曲点の有無を高精度に検出するためには、３つの固定周波数、すなわち、第１、第２、第３の周波数ｆ_ｅ、ｆ_ｆ、ｆ_ｇ（ｆ_ｅ＜ｆ_ｆ＜ｆ_ｇ、単位：Ｈｚ）の間には、以下の式が成り立つようにすることが好ましい。

１００×ｆ_ｅ≦ｆ_ｆ （１２）
１≦ｆ_ｆ≦１０ （１３）
１００×ｆ_ｆ≦ｆ_ｇ （１４）

３つ以上の固定周波数の場合には、その１組の周波数に含まれる少なくとも３つの固定周波数について上記の式（１２）〜（１４）が満たされることが好ましい。

なお、図１に示す実施の形態１と同じ構成および同じ動作については、ここでは詳細な説明を省略する。

図１５は、実施の形態５に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明するフローチャートである。以下、図１５に沿って実施の形態５に係る除湿素子劣化検出装置の動作を説明する。ここでは、インピーダンス測定部８Ｄにおける３つ以上の固定周波数としては、簡単のため、３つの固定周波数、第１〜第３の周波数を用いた場合について説明する。４つ以上の固定周波数を用いた場合も、以下と同様の方法を用いることができる。

図１５に示すように、まず、ステップＳ４１で、性能劣化検出部９Ｄは、インピーダンス測定部８に式（１２）〜式（１４）を満たす３つの固定周波数ｆ_ｅ、ｆ_ｆ、ｆ_ｇにおける除湿素子５のインピーダンスＺ(ｆ_ｅ)、Ｚ(ｆ_ｆ)、Ｚ(ｆ_ｇ)を測定する指令を出し、インピーダンス測定部８Ｄから測定結果を受け取る。

次に、ステップＳ４２で、性能劣化検出部９Ｄは、インピーダンス測定部８Ｄから受け取ったインピーダンスＺ（ｆ_ｅ）、Ｚ（ｆ_ｆ）、Ｚ（ｆ_ｇ）を用いて、以下の式（１５），（１６）により、周波数変化によるインピーダンスの変化率Ｐ_１およびＰ_２を算出する。

Ｐ_１＝｜ｌｏｇＺ(ｆ_ｆ)―ｌｏｇＺ(ｆ_ｅ)｜／｜ｌｏｇｆ_ｆ−ｌｏｇｆ_ｅ｜ （１５）
Ｐ_２＝｜ｌｏｇＺ(ｆ_ｇ)―ｌｏｇＺ(ｆ_ｆ)｜／｜ｌｏｇｆ_ｇ−ｌｏｇｆ_ｆ｜ （１６）

なお、インピーダンスの変化率Ｐ_１は、上記の式（１５）に示す通り、第１の周波数と第２の周波数で測定したインピーダンスＺ（ｆ_ｅ）、Ｚ（ｆ_ｆ）を用いて、算出されている。また、インピーダンスの変化率Ｐ_２は、上記の式（１６）に示す通り、第２の周波数と第３の周波数で測定したインピーダンスＺ（ｆ_ｆ）、Ｚ（ｆ_ｇ）を用いて、算出されている。なお、この場合に限らず、第１の周波数および第３の周波数で測定したインピーダンスＺ（ｆ_ｅ）、Ｚ（ｆ_ｇ）を用いて、周波数変化によるインピーダンスの変化率を求めるようにしてもよい。このように、本実施の形態５においては、インピーダンス測定部８Ｄにより３つ以上の異なる周波数で測定された除湿素子５の３以上のインピーダンスの値の中から、重複しない２以上のインピーダンスの値を含む組を少なくとも２つ生成し、各組ごとに周波数変化によるインピーダンスの変化率を求め、それらのインピーダンスの変化率の一致性により、除湿素子５の性能劣化を検出する。

図４より、性能劣化のない未使用品の除湿素子のインピーダンスの周波数依存性には、１〜１０Ｈｚ付近に変曲点があり、式（１１）の周波数変化によるインピーダンスの変化率は１〜１０Ｈｚ前後で変化することがわかる。一方、劣化の進んだ８２％性能低下した除湿素子では変曲点がなく、式（１１）の周波数変化によるインピーダンスの変化率は１〜１０Ｈｚの前後で変化しないことがわかる。

１Ｈｚ以下の低周波数でのインピーダンス測定では、交流電圧の極性反転が遅く、直流電流に近い特性が現れており、水分解反応に関わるインピーダンスが検出されていると考えられる。一方、１Ｈｚよりも周波数が大きくなると、交流電圧の極性反転が速いため、除湿素子の固体電解質膜の導電特性に関わるインピーダンスが検出されていると考えられる。性能劣化のない未使用品の除湿素子では、これらの周波数範囲の違いにより抽出される除湿素子のインピーダンス特性の差異が明確であるため、１〜１０Ｈｚ付近に変曲点が現れると考えられる。一方、性能劣化が進んだ除湿素子では、水分解反応性の低下および固体電解質膜の導電性の低下によりインピーダンスが全周波数にわたって増大したと考えられる。特に、水分解反応性の低下により、除湿素子は水分解反応等を生じることのない単純な電極と固体電解質膜とからなる系となったと考えられる。このような単純な電極と固体電解質膜とからなる系でインピーダンス測定により抽出される特性は、固体電解質膜の導電特性のみであると考えられる。その結果、性能劣化のない未使用品の除湿素子において周波数範囲の違いにより抽出されるようなインピーダンス特性の差異は検出されず、性能劣化の進んだ除湿素子で抽出されるインピーダンス特性は固体電解質膜の導電特性のみとなり変曲点が消失したと考えられる。

以上にように、性能劣化前は変曲点が存在するが、劣化に伴い変曲点がなくなると考えられる。すなわち、除湿素子のインピーダンスの周波数依存性において、変曲点がある場合は性能劣化なし、変曲点がない場合は性能劣化ありというように、変曲点の有無により性能劣化の有無を評価できると考えられる。

除湿素子のインピーダンスの周波数依存性における変曲点の有無は、式（１５）、（１６）で求めたＰ_１およびＰ_２の一致性により判定できると考えられる。すなわち、Ｐ_１≠Ｐ_２の場合は変曲点あり（性能劣化なし）、Ｐ_１＝Ｐ_２の場合は変曲点なし（性能劣化あり）と判定できる。

そこで、ステップＳ４３で、性能劣化検出部９は、以上のメカニズムを用いて、ステップＳ４２で式（１５）、（１６）により算出したＰ_１およびＰ_２を用いて、それらの一致性により性能劣化を検出する。具体的には、Ｐ_１≠Ｐ_２の場合は性能劣化なし、Ｐ_１＝Ｐ_２の場合は性能劣化ありとして性能劣化を検出する。

なお、下記の実施例３で示すように、Ｐ_１とＰ_２との値が全く同じでなくても、許容範囲内であれば、変曲点なし（性能劣化あり）と判定できるようにしてもよい。すなわち、Ｐ_１とＰ_２との一致性に許容範囲γを設定（γは、検出される性能劣化の度合いに合わせて適宜設定）し、Ｐ_１とＰ_２との差が許容範囲γ内であれば、変曲点なし（性能劣化あり）と判定できるようにしてもよい。すなわち、｜Ｐ_１−Ｐ_２｜≦γのときに、変曲点なし（性能劣化あり）、｜Ｐ_１−Ｐ_２｜＞γの場合は変曲点あり（性能劣化なし）と判定するようにしてもよい。

（実施例３）
図１６は、３つの固定周波数としての第１〜第３の周波数を、それぞれ、ｆ_ｅ＝０．１Ｈｚ、ｆ_ｆ＝１０Ｈｚ、ｆ_ｇ＝１０００Ｈｚとして測定した除湿素子のインピーダンスの変化率Ｐ_１とＰ_２の差（Ｐ_１―Ｐ_２）を示す図である。除湿素子としては、未使用品、除湿性能が１１％低下した劣化品、除湿性能が６２％低下した劣化品、および、除湿性能が８２％低下した劣化品を用いた。インピーダンス測定では、印加する交流電圧を１０ｍＶとした。

図１６に示すように、性能劣化に伴いインピーダンスの変化率の差（Ｐ_１―Ｐ_２）は小さくなる傾向が確認された。これにより、Ｐ_１とＰ_２の一致性により、性能劣化を検出できると考えられる。１１％性能劣化では（Ｐ_１―Ｐ_２）≒０．２となっていることから、１１％以上の性能劣化を検出するためには、Ｐ_１＝Ｐ_２＋ｄ（ｄ＝０．２）となった時に性能劣化ありと判定すればよい。また、ｄの値により、検出される性能劣化の度合いを設定することができる。例えば、ｄ＝０．０５とした時は、性能劣化が６２％に至った場合を検出できると考えられる。

以上のように、本実施の形態５に係る除湿素子劣化検出装置は、固体電解質膜２とその両側に設けられた陽極３及び陰極４とから構成された除湿素子５の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、除湿素子５の陽極３及び陰極４に接続され、３つ以上の異なる周波数で除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８Ｄと、インピーダンス測定部８Ｄにより上記の３つ以上の異なる周波数で測定された除湿素子５のインピーダンスの値の中から、重複しない２以上のインピーダンスの値を含む組を少なくとも２つ生成し、各組ごとに周波数変化によるインピーダンスの変化率を求め、それらのインピーダンスの変化率を比較し、それらの一致性に基づいて、除湿素子５の性能劣化を検出する性能劣化検出部とを備えた構成とした。当該構成により、本実施の形態５に係る除湿素子劣化検出装置によると、温湿度計を用いることなく、周辺温湿度の変化による除湿素子のインピーダンスへの影響を低減して、周辺温湿度に依らず、高精度での性能評価が可能となる。

実施の形態６．
図１７は、実施の形態６に係る除湿素子劣化検出装置の構成を示す図である。実施の形態６に係る除湿素子劣化検出装置は、メンテナンス時などに電子機器筐体１から取り外した除湿素子５の性能劣化を検出するための装置であって、内部絶対水分量が制御され、内部に性能劣化検出対象の除湿素子５が設置される密閉容器１０と、除湿素子５の陽極３と陰極４と接続され、１Ｈｚ以上の固定周波数での除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８と、インピーダンス測定部８により測定した除湿素子５のインピーダンスＺの値と、絶対水分量が制御された密閉容器１０の内部に設置された性能劣化のない除湿素子について１Ｈｚ以上の固定周波数で予め測定して性能劣化検出部９に記憶されたインピーダンス参照値Ｚ_０との比較により、除湿素子５の性能劣化を検出する性能劣化検出部９とを有する。

密閉容器１０は、絶対水分量が既知の気体または液体により内部が満たされている。密閉容器１０の内部の気体または液体中には、除湿素子５の性能劣化を引き起こすＮａやＭｇ等のイオンなどの不純物が含まれていないことが好ましい。具体的には、気体としてはある一定量だけ純水を含む窒素ガス、液体としては純水などを用いることができる。密閉容器１０の材質としては、水分が容器を透過して内部の絶対水分量が変化することを防ぐために、金属製（例えば、ＳＵＳ製）とすることが好ましい。

他の構成については、実施の形態１と同様のものを用いることができる。また、それに限らず、実施の形態２〜５で示した除湿素子劣化検出装置の構成を適用してもよい。

次に、本実施の形態６にかかる除湿素子劣化検出装置の動作について説明する。
まず、除湿素子５を電子機器筐体１から取り外し、密閉容器１０の内部に入れる。性能劣化検出部９から、インピーダンス測定部８に、除湿素子５のインピーダンスＺを測定する指令が出される。これにより、予め設定された固定周波数（１Ｈｚ以上）および印加電圧（１０ｍＶ程度）により、除湿素子５のインピーダンスＺが測定される。この時、密閉容器１０の内部空間の絶対水分量は一定であるため、除湿素子５の固体電解質膜２の導電特性を高精度に測定することができる。性能劣化検出部９の記憶装置（図示省略）には、性能劣化のない除湿素子について上記と同一の内部絶対水分量の密閉容器内で、同一の固定周波数、同一の印加電圧で測定したインピーダンス参照値Ｚ_０のデータが予め保存されている。性能劣化検出部９は、インピーダンス測定部８からインピーダンスＺを受け取り、インピーダンスＺとインピーダンス参照値Ｚ_０の比較により性能劣化を検出する。具体的には、Ｚ＝Ｚ_０の時は性能劣化なし、Ｚ＞Ｚ_０の時は性能劣化ありとして性能劣化を検出できる。

以上のように、本実施の形態６に係る除湿素子劣化検出装置は、メンテナンス時などに電子機器筐体１から取り外された除湿素子５の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、当該除湿素子５は、固体電解質膜２とその両側に設けられた陽極３及び陰極４とから構成された除湿素子５の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、内部絶対水分量が制御され、内部に前記除湿素子を設置する密閉容器１０と、除湿素子５の陽極３と陰極４と接続され、１Ｈｚ以上の固定周波数での除湿素子５のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部８と、絶対水分量が制御された密閉容器１０の内部に設置された性能劣化のない除湿素子５について１Ｈｚ以上の固定周波数で予めインピーダンスを測定した測定結果をインピーダンス参照値として予め記憶し、インピーダンス測定部８により測定した除湿素子５のインピーダンスＺと予め記憶されたインピーダンス参照値Ｚ_０との比較により、除湿素子５の性能劣化を検出する。これにより、除湿素子５を絶対水分量を制御した空間（密閉容器１０）に設置して、１Ｈｚ以上の周波数でインピーダンス測定することにより、除湿素子５のインピーダンス値への周辺温湿度変化による影響を取り除き、高精度に性能劣化の有無を検出することができる。

なお、本発明は、上記実施の形態１〜６の説明に何ら限定されるものではない。特許請求の範囲の記載を逸脱せず、当業者が容易に想到できる範囲で種々の変形態様もこの発明に含まれる。

１ 電子機器筐体、１ａ 通気穴、２ 固体電解質膜、３ 陽極、４ 陰極、５ 除湿素子、６ 直流電源、７ａ 温湿度計、７ｂ 温湿度計、８，８Ｂ，８Ｃ，８Ｄ インピーダンス測定部、９，９Ａ，９Ｂ，９Ｃ，９Ｄ 性能劣化検出部、１０ 密閉容器。

Claims (14)

1. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、
   前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極が接する空間にそれぞれ設置され、それらの空間の温湿度をそれぞれ測定する２つの温湿度計と、
   前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極に接続され、前記除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部と、
   前記２つの温湿度計により測定された前記温湿度の測定値および前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値を用いて、前記除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出部と
   を備え、
   前記性能劣化検出部は、
   インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに予め記憶し、
   前記２つの温湿度計の前記測定値に基づき、前記陽極および前記陰極が接する２つの空間の絶対水分量を算出し、それらの絶対水分量の平均値を前記除湿素子の周辺絶対水分量とし、
   当該周辺絶対水分量の値と同一の絶対水分量における前記インピーダンス参照値を読み出し、
   前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値と、読みだした前記インピーダンス参照値との比較により、前記除湿素子の性能劣化を検出する
   除湿素子劣化検出装置。
2. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、
   前記除湿素子の前記陰極が接する空間に設置され、前記空間の温湿度を測定する温湿度計と、
   前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極に接続され、前記除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部と、
   前記温湿度計により測定された前記温湿度の測定値および前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値を用いて、前記除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出部と
   を備え、
   前記性能劣化検出部は、
   インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに予め記憶し、
   前記温湿度計の前記測定値に基づき前記陰極が接する空間の絶対水分量を算出し、
   当該陰極が接する空間の絶対水分量と前記除湿素子の除湿能力とに基づき、前記陽極が接する空間の絶対水分量を算出し、
   前記陰極が接する空間の絶対水分量と前記陽極が接する空間の絶対水分量との平均値を、前記除湿素子の周辺絶対水分量とし、
   当該周辺絶対水分量の値と同一の絶対水分量における前記インピーダンス参照値を読み出し、
   前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値と、読みだした前記インピーダンス参照値との比較により、前記除湿素子の性能劣化を検出する
   除湿素子劣化検出装置。
3. 前記インピーダンス測定部におけるインピーダンス測定時に、前記除湿素子に印加される交流電圧の周波数は１Ｈｚ以上である
   請求項１または２に記載の除湿素子劣化検出装置。
4. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、
   前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極に接続され、１Ｈｚ未満の第１の周波数および１Ｈｚ以上の第２の周波数で、前記除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部と、
   前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子の２つのインピーダンスの値を用いて、前記除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出部と
   を備え、
   前記性能劣化検出部は、
   インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を、前記第２の周波数と同一の周波数で測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに予め記憶し、
   前記第１の周波数で測定したインピーダンス値に基づいて前記除湿素子の絶対水分量を算出し、
   当該絶対水分量の値と同一の絶対水分量の空間で前記第２の周波数と同じ周波数で測定された前記インピーダンス参照値を読み出し、
   前記インピーダンス測定部により前記第２の周波数で測定された前記除湿素子のインピーダンスの値と、読みだした前記インピーダンス参照値との比較により、前記除湿素子の性能劣化を検出する
   除湿素子劣化検出装置。
5. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、
   前記除湿素子の前記陽極及び前記陰極に接続され、複数の異なる周波数で前記除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部と、
   前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子の複数のインピーダンスの値を用いて、周波数変化によるインピーダンスの変化率を求め、当該変化率に基づいて、前記除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出部と
   を備えた除湿素子劣化検出装置。
6. 前記インピーダンス測定部は、２つ以上の異なる周波数で前記除湿素子のインピーダンスを測定し、
   前記性能劣化検出部は、
   インピーダンスの変化率の参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を前記２つ以上の異なる周波数で測定した測定結果から算出した周波数変化によるインピーダンスの変化率を予め記憶し、
   前記インピーダンス測定部により前記２つ以上の異なる周波数で測定された前記除湿素子の２以上のインピーダンスの値を用いて、周波数変化によるインピーダンスの変化率を算出し、
   算出した当該インピーダンスの変化率と前記インピーダンスの変化率の参照値との比較により、前記除湿素子の性能劣化を検出する
   請求項５に記載の除湿素子劣化検出装置。
7. 前記インピーダンス測定部は、３つ以上の異なる周波数で前記除湿素子のインピーダンスを測定し、
   前記性能劣化検出部は、
   前記インピーダンス測定部により前記３つ以上の異なる周波数で測定された前記除湿素子のインピーダンスの値の中から、重複しない２以上のインピーダンスの値を含む組を少なくとも２つ生成し、
   各組ごとに周波数変化によるインピーダンスの変化率を求め、
   それらのインピーダンスの変化率の比較により、前記除湿素子の性能劣化を検出する
   請求項５に記載の除湿素子劣化検出装置。
8. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出装置であって、
   内部絶対水分量が制御された密閉容器と、
   前記密閉容器の内部に設置された前記除湿素子の前記陽極と前記陰極とに接続され、１Ｈｚ以上の固定周波数で前記除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定部と、
   前記インピーダンス測定部により測定された前記除湿素子のインピーダンスの値を用いて、前記除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出部と
   を備え、
   前記性能劣化検出部は、
   インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子を前記密閉容器の内部に設置し、当該除湿素子のインピーダンス値を前記固定周波数と同一の周波数で測定した測定結果を予め記憶し、
   前記インピーダンス測定部により測定した前記除湿素子のインピーダンス値と予め記憶された前記インピーダンス参照値との比較により、前記除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出器と
   を備えた除湿素子劣化検出装置。
9. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出方法であって、
   インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに記憶装置に予め記憶するインピーダンス参照値記憶ステップと、
   前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定ステップと、
   前記被検出対象の除湿素子の前記陽極及び前記陰極が接する空間の温湿度をそれぞれ測定する温湿度測定ステップと、
   前記温湿度の測定値に基づき、前記陽極および前記陰極が接する２つの空間の絶対水分量を求め、それらの絶対水分量の平均値を前記被検出対象の除湿素子の周辺絶対水分量として求める周辺絶対水分量算出ステップと、
   当該周辺絶対水分量の値と同一の絶対水分量における前記インピーダンス参照値を前記記憶装置から読み出すインピーダンス参照値読出ステップと、
   測定された前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスの値と、読み出した前記インピーダンス参照値との比較により、前記被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出ステップと
   を備えた除湿素子劣化検出方法。
10. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出方法であって、
    インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに記憶装置に予め記憶するインピーダンス参照値記憶ステップと、
    前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定ステップと、
    前記被検出対象の除湿素子の前記陰極が接する空間の温湿度を測定する温湿度測定ステップと、
    前記温湿度の測定値に基づき前記陰極が接する空間の絶対水分量を算出する陰極側絶対水分量算出ステップと、
    当該陰極が接する空間の絶対水分量と前記被検出対象の除湿素子の除湿能力とに基づき、前記陽極が接する空間の絶対水分量を算出する陽極側絶対水分量算出ステップと、
    前記陰極が接する空間の絶対水分量と前記陽極が接する空間の絶対水分量との平均値を、前記被検出対象の除湿素子の周辺絶対水分量として算出する周辺絶対水分量算出ステップと、
    当該周辺絶対水分量の値と同一の絶対水分量における前記インピーダンス参照値を前記記憶装置から読み出すインピーダンス参照値読出ステップと、
    測定された前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスの値と、読み出した前記インピーダンス参照値との比較により、前記被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出ステップと
    を備えた除湿素子劣化検出方法。
11. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出方法であって、
    インピーダンス参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を、１Ｈｚ以上の周波数で測定した測定結果を、当該測定を行った空間の絶対水分量ごとに記憶装置に予め記憶するインピーダンス参照値記憶ステップと、
    １Ｈｚ未満の第１の周波数および前記１Ｈｚ以上の周波数と同じ周波数の第２の周波数とで、前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定ステップと、
    前記第１の周波数で測定したインピーダンス値により前記被検出対象の除湿素子の絶対水分量を算出する絶対水分量算出ステップと、
    当該絶対水分量の値と同一の絶対水分量の空間で前記第２の周波数と同じ周波数で測定された前記インピーダンス参照値を前記記憶装置から読み出すインピーダンス参照値読出ステップと、
    前記インピーダンス測定ステップにより前記第２の周波数で測定された前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスの値と、読み出した前記インピーダンス参照値との比較により、前記被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出ステップと
    を備えた除湿素子劣化検出方法。
12. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出方法であって、
    インピーダンスの変化率の参照値として、性能劣化のない除湿素子のインピーダンス値を２つ以上の異なる周波数で測定した測定結果から算出した周波数変化によるインピーダンスの変化率を記憶装置に予め記憶するインピーダンス変化率参照値記憶ステップと、
    前記２つ以上の異なる周波数と同じ２つ以上の周波数で前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定ステップと、
    前記インピーダンス測定ステップにより得られた前記被検出対象の除湿素子の２以上のインピーダンスの値を用いて、周波数変化によるインピーダンスの変化率を算出するインピーダンス変化率算出ステップと、
    算出した当該インピーダンスの変化率と前記記憶装置に記憶された前記インピーダンスの変化率の参照値との比較により、前記被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出ステップと
    を備えた除湿素子劣化検出方法。
13. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出方法であって、
    ３つ以上の異なる周波数で前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定ステップと、
    前記インピーダンス測定ステップにより前記３つ以上の異なる周波数で測定された前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスの値の中から、重複しない２以上のインピーダンスの値を含む組を少なくとも２つ生成する組生成ステップと、
    前記組ごとに、周波数変化によるインピーダンスの変化率を求めるインピーダンス変化率算出ステップと、
    算出された前記組ごとの前記インピーダンスの変化率の比較により、前記被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出ステップと
    を備えた除湿素子劣化検出方法。
14. 固体電解質膜とその両側に設けられた陽極及び陰極とから構成された被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する除湿素子劣化検出方法であって、
    内部絶対水分量が制御された密閉容器を用意する密閉容器設置ステップと、
    性能劣化のない除湿素子を前記密閉容器の内部に設置し、１Ｈｚ以上の固定周波数で前記除湿素子のインピーダンスを測定した測定結果を、インピーダンス参照値として記憶装置に予め記憶するインピーダンス参照値記憶ステップと、
    １Ｈｚ以上の固定周波数で前記被検出対象の除湿素子のインピーダンスを測定するインピーダンス測定ステップと、
    前記インピーダンス測定ステップにより測定した前記被検出対象の除湿素子のインピーダンス値と前記記憶装置に記憶された前記インピーダンス参照値との比較により、前記被検出対象の除湿素子の性能劣化を検出する性能劣化検出ステップと
    を備えた除湿素子劣化検出方法。

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