JP2014175493A - 半導体集積回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】信号配線の配線性を向上させることが可能な半導体集積回路を提供する。
【解決手段】実施形態による半導体集積回路は、第1配線層にて第1方向に延びている電源ストラップ配線と、第1配線層より下位の第2配線層にて第1方向に延びている補助電源ストラップ配線と、第1、第2配線層間の第3配線層にて、各中間電源配線が1本の電源ストラップ配線と1本の補助電源ストラップ配線とを電気的に接続する複数本の中間電源配線とを備える。さらに、前記回路は、第2配線層より下位の第4配線層にて、第1方向に垂直な第2方向に延びている複数本の電源レール配線と、第1配線層より上位の第5配線層にて第2方向に延びている複数本の上位電源ストラップ配線とを備える。さらに、中間電源配線間の第1方向の周期は、電源レール配線間の第1方向の周期より広く、上位電源ストラップ配線間の第1方向の周期より狭い。
【選択図】図2

Description

本発明の実施形態は、半導体集積回路に関する。
半導体集積回路内に電源配線を配置する場合、各配線層にVDD用の配線とVSS用の配線が配置され、異なる配線層の配線同士がビアプラグにより接続される。この際、電源配線用の配線やビアプラグが各配線層を大きく占有すると、信号配線の配線性が悪化してしまうという問題がある。一方、信号配線の配線性の悪化を防ぐために、単純に電源配線用の配線やビアプラグの数を減らすと、電源電圧の電圧降下が大きくなってしまう。
特開2006−173492号公報
信号配線の配線性を向上させることが可能な半導体集積回路を提供する。
一の実施形態によれば、半導体集積回路は、第1配線層に配置され、第1方向に延びている1本以上の電源ストラップ配線を備える。さらに、前記回路は、前記第1配線層よりも下位の第2配線層に配置され、前記第1方向に延びている1本以上の補助電源ストラップ配線を備える。さらに、前記回路は、前記第1配線層と前記第2配線層との間の第3配線層に配置された複数本の中間電源配線であって、前記中間電源配線の各々は、前記電源ストラップ配線のうちのいずれか1本と前記補助電源ストラップ配線のうちのいずれか1本とを電気的に接続する、複数本の中間電源配線を備える。さらに、前記回路は、前記第2配線層よりも下位の第4配線層に配置され、前記第1方向に垂直な第2方向に延びており、前記補助電源ストラップ配線と電気的に接続されている複数本の電源レール配線を備える。さらに、前記回路は、前記第1配線層よりも上位の第5配線層に配置され、前記第2方向に延びており、前記電源ストラップ配線と電気的に接続されている複数本の上位電源ストラップ配線を備える。さらに、前記中間電源配線間の前記第1方向の周期は、前記電源レール配線間の前記第1方向の周期よりも広く、かつ前記上位電源ストラップ配線間の前記第1方向の周期よりも狭い。
第1実施形態の半導体集積回路の構造を示す斜視図である。 第1実施形態の半導体集積回路の構造を示す平面図である。 第2実施形態の半導体集積回路の構造を示す斜視図である。 第2実施形態の半導体集積回路の構造を示す平面図である。 第2実施形態の半導体集積回路の構造を示す別の平面図である。 第2実施形態の半導体集積回路の構造を示す別の斜視図である。 第2実施形態におけるM4電源配線の配置方法について説明するための平面図である。
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。
(第1実施形態)
(1)図1に示す構造の説明
図1は、第1実施形態の半導体集積回路の構造を示す斜視図である。
図1は、M1配線層と、M1配線層の上位のM2配線層と、M2配線層の上位のM3配線層と、M3配線層の上位のM4配線層と、M4配線層の上位のM5配線層と、M5配線層の上位のM6配線層と、M6配線層の上位のM7配線層とにおける電源配線を示している。M6、M4、M5、M1、M7配線層はそれぞれ、第1、第2、第3、第4、第5配線層の例である。また、符号T1〜T7はそれぞれ、M1〜M7配線層の電源配線の厚さを示す。
図1はさらに、M1、M2配線層の電源配線同士を電気的に接続する第1層目のビアプラグV1と、M2、M3配線層の電源配線同士を電気的に接続する第2層目のビアプラグV2と、M3、M4配線層の電源配線同士を電気的に接続する第3層目のビアプラグV3と、M4、M5配線層の電源配線同士を電気的に接続する第4層目のビアプラグV4と、M5、M6配線層の電源配線同士を電気的に接続する第5層目のビアプラグV5と、M6、M7配線層の電源配線同士を電気的に接続する第6層目のビアプラグV6とを示している。ビアプラグV5、V4はそれぞれ、第1、第2のビアプラグの例である。また、符号H1〜H6はそれぞれ、ビアプラグV1〜V6の厚さを示す。
図1はさらに、M1〜M7配線層に平行で、互いに垂直なX方向およびY方向と、M1〜M7配線層に垂直なZ方向とを示している。Y方向、X方向はそれぞれ、第1、第2方向の例である。
図1の電源配線はいずれも、VDD配線である。ただし、本実施形態は、図1の電源配線がいずれも、VSS配線である場合や、その他の電位を供給する配線である場合にも適用可能である。
(2)図2に示す構造の説明
図2は、第1実施形態の半導体集積回路の構造を示す平面図である。
符号M1〜M7の添字は、同じ層の電源配線同士を区別するために付されている。なお、図2では、作図の便宜上、M2、M3配線層やビアプラグV1〜V6の図示が省略されている。
M6配線層は、電源ストラップ配線M6Aを有している。電源ストラップ配線M6Aは、Y方向に延びている。なお、M6配線層は、図2においては1本の電源ストラップ配線を有しているが、2本以上の電源ストラップ配線を有していてもよい。
M4配線層は、補助電源ストラップ配線M4Aを有している。補助電源ストラップ配線M4Aは、Y方向に延びている。配線M6Aが元々の電源ストラップ配線に相当するのに対し、配線M4Aは、元々の電源ストラップ配線と後述の電源レーン配線との接続を仲介する補助的な電源ストラップ配線に相当する。なお、M4配線層は、図2においては1本の補助電源ストラップ配線を有しているが、2本以上の補助電源ストラップ配線を有していてもよい。
M5配線層は、1本の電源ストラップ配線M6Aと1本の補助電源ストラップ配線M4Aとを電気的に接続する複数本の中間電源配線を有している。図4は、このような中間電源配線の例として、3本の中間電源配線M5A〜M5Cを示している。
中間電源配線M5A〜M5Cは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号α1は、中間電源配線M5A〜M5C間のY方向の周期を示す。
M1配線層は、補助電源ストラップ配線M4Aと電気的に接続された複数本の電源レール配線を有している。図2は、このような電源レール配線の例として、5本の電源レール配線M1A〜M1Eを示している。これらの配線M1A〜M1Eは、X方向に延びており、互いに隣接して配置されている。これらの配線M1A〜M1Eは、M2、M3配線層の電源配線(図1参照)を介して補助電源ストラップ配線M4Aと電気的に接続されている。
電源レール配線M1A〜M1Eは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号β1は、電源レール配線M1A〜M1E間のY方向の周期を示す。本実施形態では、中間電源配線M5A〜M5C間の周期α1が、電源レール配線M1A〜M1E間の周期β1よりも広く設定されている(α1>β1)。
本実施形態の配線構造は、例えば、2種類の電源レール接続端子(VDD接続端子とVSS接続端子)をM1配線層内に有するスタンダードセルに電源を供給する場合に適用可能である。この場合、VDD電源レール、VSS電源レール、スタンダードセルは、例えば、次のように配置される。1)M1配線層内に複数本のVDD電源レールを配置し、VDD電源レール間の周期をβ1に設定する。2)M1配線層内においてVDD電源レールと交互に複数本のVSS電源レールを配置し、VSS電源レール間の周期をβ1に設定する。3)VDD電源レールとVSS電源レールとの間にスタンダードセルを並べて配置することにより、VDD、VSS電源レールとスタンダードセルのVDD、VSS接続端子とを接続する。
また、本実施形態の配線構造は、例えば、3種類以上の電源レール接続端子をM1配線層内に有するスタンダードセルに電源を供給する場合にも適用可能である。この場合、3種類以上の電源レールがこれらの電源レール接続端子に対応した位置に配置される。
また、中間電源配線M5A〜M5C間の周期は、単一の値α1とする代わりに、N種類の値α1、α2、...αN(Nは2以上の整数)の繰り返しで構成してもよい。同様に、電源レール配線M1A〜M1E間の周期は、単一の値β1とする代わりに、M種類の値β1、β2、...βM(Mは2以上の整数)の繰り返しで構成してもよい。すなわち、中間電源配線M5A〜M5C間のピッチや、電源レール配線M1A〜M1E間のピッチは、上記の繰り返しの中で一律でなくてもよい。このような配線構造は、例えば、複数の高さのスタンダードセル列が交互に混在している場合や、スタンダードセル列間に周期的にセルを配置しない列(信号配線用に使用される)を設ける場合などに採用される。この場合、本実施形態の配線構造は、i=1〜N、j=1〜Mを満たす任意の整数i、jに関し、αi>βjが成り立つように構成される。
本実施形態の半導体集積回路は、M7以上の配線層を有していてもよい。この場合、本実施形態の半導体集積回路はさらに、図2に示すように、M7配線層内に、X方向に延びる複数本の電源ストラップ配線(以下「上位電源ストラップ配線」と呼ぶ)を備えていてもよい。これにより、電源供給機能をさらに強化することが可能となる。
M7配線層は、電源ストラップ配線M6Aと電気的に接続された複数本の上位電源ストラップ配線を有している。図2は、このような上位電源ストラップ配線の例として、2本の上位電源ストラップ配線M7A、M7Bを示している。これらの配線M7A、M7Bは、X方向に延びており、互いに隣接して配置されている。
上位電源ストラップ配線M7A、M7Bは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号γ1は、上位電源レール配線M7A、M7B間のY方向の周期を示す。本実施形態では、中間電源配線M5A〜M5C間の周期α1が、上位電源ストラップ配線M7A、M7B間の周期γ1よりも狭く設定されている(α1<γ1)。
なお、中間電源配線M5A〜M5C間の周期は、単一の値α1とする代わりに、N種類の値α1、α2、...αN(Nは2以上の整数)の繰り返しで構成してもよい。同様に、上位電源ストラップ配線M7A、M7B間の周期は、単一の値γ1とする代わりに、L種類の値γ1、γ2、...γL(Lは2以上の整数)の繰り返しで構成してもよい。すなわち、中間電源配線M5A〜M5C間のピッチや、上位電源ストラップ配線M7A、M7B間のピッチは、上記の繰り返しの中で一律でなくてもよい。この場合、本実施形態の配線構造は、i=1〜N、k=1〜Lを満たす任意の整数i、kに関し、αi>γkが成り立つように構成される。
(3)第1実施形態の半導体集積回路の利点
最後に、図1および図2を参照し、第1実施形態の半導体集積回路の利点について詳細に説明する。
電源ストラップ配線M6Aと電源レール配線M1A〜M1Eとを接続する電源配線およびビアプラグを各配線層に同一数配置した場合、X方向を優先配線方向とするM1、M3、M5配線層内において、電源ストラップ配線M6Aの真下をX方向に通過可能な信号配線の配線トラック数は、電源ストラップ配線M6Aと電源レール配線M1A〜M1Eとを接続する電源配線やビアプラグにより制限される。例えば、M6配線層の厚さT6がM1〜M5配線層の厚さT1〜T5よりも厚い場合には、製造上の理由により、ビアプラグV5のサイズをビアプラグV1〜V4のサイズよりも大きくすることが望まれる。この場合、中間電源配線M5A〜M5Cのサイズも大きくなるため、使用可能な信号配線トラック数が少なくなる。
これに対し、本実施形態では、中間電源配線M5A〜M5C間の周期α1が、電源レール配線M1A〜M1E間の周期β1よりも広く設定されている(α1>β1)。よって、本実施形態によれば、周期α1を広くとり中間電源配線M5A〜M5Cの本数を減らすことで、M5配線層内における信号配線を配置可能な領域を広く確保することが可能となる。
一方、中間電源配線M5A〜M5C間の周期α1が上位電源ストラップ配線M7A、M7B間の周期γ1よりも広い場合、上位電源ストラップ配線M7A、M7BからM1配線層内のスタンダードセルの電源レール接続端子まで電源を供給する経路において、補助電源ストラップ配線M4Aの寄与が大きくなり、さらには、電流経路が遠回りとなる。そのため、上記電源供給経路において、補助電源ストラップ配線M4Aにおける電源電圧降下の割合が大きくなる。このことは、M4配線層の厚さT4がM6配線層の厚さT6よりも薄い場合に顕著である。
これに対し、本実施形態では、中間電源配線M5A〜M5C間の周期α1が、上位電源ストラップ配線M7A、M7B間の周期γ1よりも狭く設定されている(α1<γ1)。よって、本実施形態によれば、周期α1を周期γ1よりも狭くして、中間電源配線M5A〜M5Eの本数を上位電源ストラップ配線M7A、M7Bの本数よりも多くすることで、中間電源配線M5A〜M5Eの本数が足りずに過大な電源電圧降下が生じてしまう事態を抑制することが可能となる。
本実施形態によれば、以上のような構成により、電源配線用に使用される領域を減少させ、信号配線用に使用可能な配線トラックを増加させることが可能となる。よって、本実施形態によれば、信号配線の配線混雑を緩和し、信号配線の配線性を向上させることが可能となる。これにより、例えば、チップ面積増大によるコスト増加、電源配線迂回のための信号配線の配線長増大、タイミング制御の精度悪化、セル面積の増加、消費電力の増大などを抑制可能になると期待できる。
なお、本実施形態では、中間電源配線M5A〜M5C、電源レール配線M1A〜M1E、上位電源ストラップ配線M7A、M7Bが周期的に配置されているが、本実施形態の半導体集積回路は、これらの配線が周期的に配置された周期領域と、これらの配線が非周期的に配置された非周期領域の両方を含んでいてもよい。この場合、上記のβ1<α1<γ1の関係は、この周期領域内で設定することが可能である。
(第2実施形態)
(1)図3に示す構造の説明
図3は、第2実施形態の半導体集積回路の構造を示す斜視図である。
図3は、M1配線層と、M1配線層の上位のM2配線層と、M2配線層の上位のM3配線層と、M3配線層の上位のM4配線層と、M4配線層の上位のM5配線層と、M5配線層の上位のM6配線層とにおける電源配線を示している。
図3はさらに、M1、M2配線層の電源配線同士を電気的に接続する第1層目のビアプラグV1と、M2、M3配線層の電源配線同士を電気的に接続する第2層目のビアプラグV2と、M3、M4配線層の電源配線同士を電気的に接続する第3層目のビアプラグV3と、M4、M5配線層の電源配線同士を電気的に接続する第4層目のビアプラグV4と、M5、M6配線層の電源配線同士を電気的に接続する第5層目のビアプラグV5とを示している。
(2)図4に示す構造の説明
図4は、第2実施形態の半導体集積回路の構造を示す平面図である。
符号M1〜M6や符号V1〜V5の添字は、同じ層の電源配線同士やビアプラグ同士を区別するために付されている。なお、図4では、作図の便宜上、M2配線層やビアプラグV1、V2の図示が省略されている。
M6配線層は、VDD(第1電圧)配線である第1の電源ストラップ配線M6Aと、VSS(第2電圧)配線である第2の電源ストラップ配線M6Bとを有している。これらの配線M6A、M6Bは、Y方向に延びており、互いに隣接して配置されている。符号Lは、これらの配線M6A、M6B間の中心線を示す。
なお、M6配線層は、図4においては2本の電源ストラップ配線を有しているが、3本以上の電源ストラップ配線を有していてもよい。これらの電源ストラップ配線の各々は、VDD配線でもVSS配線でもよい。
M4配線層は、VDD配線である第1の補助電源ストラップ配線M4Aと、VSS配線である第2の補助電源ストラップ配線M4Bとを有している。これらの配線M4A、M4Bは、Y方向に延びており、互いに隣接して配置されている。
本実施形態では、補助電源ストラップ配線M4A、M4Bの幅W2は、電源ストラップ配線M6A、M6Bの幅W1よりも狭く設定されている。また、補助電源ストラップ配線M4A、M4B間の間隔D2は、電源ストラップ配線M6A、M6B間の間隔D1よりも狭く設定されている。また、第1、第2の補助電源ストラップ配線M4A、M4Bはそれぞれ、第1、第2の電源ストラップ配線M6A、M6Bよりも、中心線Lの近くに配置されている。
なお、M4配線層は、図4においては2本の補助電源ストラップ配線を有しているが、3本以上の補助電源ストラップ配線を有していてもよい。これらの補助電源ストラップ配線の各々は、VDD配線でもVSS配線でもよい。
M5配線層は、VDD配線である第1の中間電源配線M5Aと、VSS配線である第2の中間電源配線M5Bとを有している。これらの配線M5A、M5Bの各々は、電源ストラップ配線M6A、M6Bのうちのいずれか1本と、補助電源ストラップ配線M4A、M4Bのうちのいずれか1本とを電気的に接続している。具体的には、配線M5Aは、第1の電源ストラップ配線M6Aと第1の補助電源ストラップ配線M4Aとを電気的に接続している。配線M5Bは、第2の電源ストラップ配線M6Bと第2の補助電源ストラップ配線M4Bとを電気的に接続している。これらの配線M5A、M5Bは、X方向に延びており、かつ、同一直線上に配置されている。
第1の中間電源配線M5Aは、第1の電源ストラップ配線M6Aと重なる第1領域R1と、第1の電源ストラップ配線M6Aと重ならない第2領域R2とを有している。また、第2の中間電源配線M5Bは、第2の電源ストラップ配線M6Bと重なる第3領域R3と、第2の電源ストラップ配線M6Bと重ならない第4領域R4とを有している。第2、第4領域R2、R4はそれぞれ、第1、第3領域R1、R3よりも、中心線Lの近くに位置している。また、第2、第4領域R2、R4の面積はそれぞれ、図4に示すように、第1、第3領域R1、R3の面積よりも小さく設定されている。
なお、M5配線層は、第1の電源ストラップ配線M6Aと第1の補助電源ストラップ配線M4Aとを電気的に接続する2本以上の第1の中間電源配線と、第2の電源ストラップ配線M6Bと第2の補助電源ストラップ配線M4Bとを電気的に接続する2本以上の第2の中間電源配線とを有していてもよい。このような構造の具体例については、図5を参照して後述する。
以下、第5層目のビアプラグV5を上位ビアプラグと呼び、第4層目のビアプラグV4を下位ビアプラグと呼ぶ。
上位ビアプラグV5は、第1の電源ストラップ配線M6Aと第1の中間電源配線M5Aとを電気的に接続する1つ以上の上位ビアプラグV5A1〜V5A3と、第2の電源ストラップ配線M6Bと第2の中間電源配線M5Bとを電気的に接続する1つ以上の上位ビアプラグV5B1〜V5B3を含んでいる。図4に示すように、前者の上位ビアプラグV5A1〜V5A3は、第1領域R1と重なるように配置され、後者の上位ビアプラグV5B1〜V5B3は、第3領域R3と重なるように配置されている。
また、下位ビアプラグV4は、第1の補助電源ストラップ配線M4Aと第1の中間電源配線M5Aとを電気的に接続する1つ以上の下位ビアプラグV4A1〜V4A6と、第2の補助電源ストラップ配線M4Bと第2の中間電源配線M5Bとを電気的に接続する1つ以上の下位ビアプラグV4B1〜V4B6を含んでいる。図4に示すように、前者の下位ビアプラグV4A1〜V4A6は、第2領域R2と重なるように配置され、後者の下位ビアプラグV4B1〜V4B6は、第4領域R4と重なるように配置されている。
本実施形態では、下位ビアプラグV4A1〜V4B6のすべてが、第2または第4領域R2、R4と重なっているが、下位ビアプラグV4A1〜V4B6のうちの一部のみが、第2または第4領域R2、R4と重なっていてもよい。例えば、12個の下位ビアプラグV4A1〜V4B6のうち、6個が図4において第2または第4領域R2、R4内に位置し、残りの6個が図4において第1または第3領域R1、R3内に位置していてもよい。
本実施形態では、上位ビアプラグV5の厚さH5が、下位ビアプラグV4の厚さH4よりも厚く設定されている(図3参照)。また、上位ビアプラグV5の幅P1が、下位ビアプラグV4の幅P2よりも広く設定されており、その結果、各上位ビアプラグV5の面積P1 が、各下位ビアプラグV4の面積P2 よりも広くなっている。また、下位ビアプラグV4は、上位ビアプラグV5よりも、中心線Lの近くに配置されている。
なお、本実施形態では、M5配線層の配線の厚さT5が、M4配線層の配線の厚さT4よりも厚く設定されており(図3参照)、この設定に起因して、各上位ビアプラグV5の面積が、各下位ビアプラグV4の面積よりも広くなっている。
また、本実施形態では、上位ビアプラグV5のX方向の幅とY方向の幅は異なっていてもよく、同様に、下位ビアプラグV4のX方向の幅とY方向の幅は異なっていてもよい。
中間電源配線M5A、M5Bは、上位ビアプラグV5を、より中心線Lに近い下位ビアプラグV4に置き換える機能を有している。すなわち、中間電源配線M5A、M5Bは、電源ストラップ配線M6A、M6Bと補助電源ストラップ配線M4A、M4Bとを接続するためのビアプラグの位置を変換するビア位置変換配線として機能する。また、中間電源配線M5A、M5Bは、上位ビアプラグV5を、サイズ(面積、厚さ)の異なる下位ビアプラグV4に置き換える機能も有している。
次に、M1〜M3配線層について詳細に説明する。
M1配線層は、VDD配線である複数本の第1の電源レール配線M1B、M1Dと、VSS配線である複数本の第2の電源レール配線M1A、M1Cとを有している。図4では、1本の第1の補助電源ストラップ配線M4Aに対し、複数本の第1の電源レール配線M1B、M1Dが電気的に接続され、1本の第2の補助電源ストラップ配線M4Bに対し、複数本の第2の電源レール配線M1A、M1Cが電気的に接続されている。
第1、第2の電源レール配線M1A〜M1Dは、X方向に延びており、互いに隣接して配置されている。M1配線層では、第1の電源レール配線M1B、M1Dと第2の電源レール配線M1A、M1Cとが交互に配置されている。
第1、第2の中間電源配線M5A、M5Bはいずれも、図4に示すように、第1の電源レール配線M1B、M1Dとも第2の電源レール配線M1A、M1Cとも重ならない位置に配置されている。具体的には、中間電源配線M5A、M5Bは、図4において、互いに隣接する第1の電源レール配線M1Bと第2の電源レール配線M1Cとの間に配置されている。
第1、第2の電源レール配線M1A〜M1D間には、不図示のスタンダードセルやゲートアレイセルが配置されている。VDD電位、VSS電位はそれぞれ、第1、第2の電源レール配線M1A〜M1Dからこれらのセルに供給される。本実施形態では、チップ上にこれらのセルを配置する領域ごとに、図4に示す配線構造が繰り返し設けられている。
M3配線層は、VDD配線である複数本の第1の電源配線M3B、M3Dと、VSS配線である複数本の第2の電源配線M3A、M3Cとを有している。第1の電源配線M3B、M3Dは、第1の補助電源ストラップ配線M4Aと第1の電源レール配線M1B、M1Dとを電気的に接続している。また、第2の電源配線M3A、M3Cは、第2の補助電源ストラップ配線M4Bと第2の電源レール配線M1A、M1Cとを電気的に接続している。第1、第2の電源配線M3A〜M3Dは、X方向に延びており、第1、第2の電源レール配線M1A〜M1Dと1対1で対応している。
第1、第2の電源配線M3A、M3Cはいずれも、図4に示すように、第1、第2の補助電源ストラップ配線M4A、M4B間に位置する領域を含んでいる、具体的には、電源配線M3A、M3Cは、図4において、中心線Lを横切る位置に配置されている。
上述のように、各電源配線M3A〜M3Dは、1本の電源レール配線M1A〜M1Dと対応している。よって、電源配線M3A〜M3D間のY方向のピッチ(周期)は、図4に示すように、電源レール配線M1A〜M1D間のY方向のピッチ(周期)と一致している。
一方、各中間電源配線M5A、M5Bは、複数本の電源レール配線M1A〜M1Dと対応している。よって、本実施形態では、中間電源配線M5A、M5B間のY方向のピッチ(第1の中間電源配線M5Aと不図示の第1の中間電源配線との間のピッチや、第2の中間電源配線M5Bと不図示の第2の中間電源配線との間のピッチ)は、電源レール配線M1A〜M1D間のY方向のピッチの2倍以上に設定することができる。このような構造の具体例については、図5を参照して後述する。
なお、M3配線層の電源配線に関する以上の説明は、M2配線層の電源配線にも同様に当てはまる。
M1〜M6配線層において、電源配線やセルが存在しない場所は、信号配線用に使用することができる。本実施形態では、M1、M3、M5配線層内の信号配線は、X方向が優先配線方向となっており、M2、M4、M6配線層内の信号配線は、Y方向が優先配線方向となっている。
本実施形態の半導体集積回路は、M7以上の配線層を有していてもよい。この場合、本実施形態の半導体集積回路はさらに、M7配線層内に、X方向に延びる第1、第2の上位電源ストラップ配線を備えていてもよい。これにより、電源供給機能をさらに強化することが可能となる。第1、第2の上位電源ストラップ配線の具体例については、図5や図6を参照して後述する。
本実施形態では、M6以上の配線層は、チップ上の広い領域に電力を供給するのに適した厚膜配線層となっている。図3では、M6配線層の厚さT6が、M1〜M5配線層の厚さT1〜T5よりも厚く設定されている。M6配線層が厚膜であることで、第1、第2の電源ストラップ配線M6A、M6Bのシート抵抗は低くなっている。また、M6配線層内の電源配線の配線幅や配線間隔は、全般的に、M1〜M5配線層内の電源配線の配線幅や配線間隔よりも広く設定されている。また、上位ビアプラグV5間の最小間隔は、下位ビアプラグV4間の最小間隔よりも大きくなっている。
(3)図5、図6に示す構造の説明
図5は、第2実施形態の半導体集積回路の構造を示す別の平面図である。図5は、図3や図4よりも広い領域を示している。
図6は、第2実施形態の半導体集積回路の構造を示す別の斜視図である。図6は、図5の一部の領域を示している。
以下、図5に示す構造について説明する。図5に示す電源配線間の三次元的な位置関係を確認したい場合には、図6を参照されたい。
図5は、M1、M4、M5、M6配線層の電源配線に加えて、M6配線層の上位のM7配線層の電源配線を示している。図5では、作図の便宜上、M2、M3配線層やビアプラグV1〜V5の図示が省略されている。図5ではさらに、M6、M7配線層の電源配線同士を電気的に接続する第6層目のビアプラグV6の図示が省略されている。
M5配線層は、VDD配線である複数本の第1の中間電源配線M5A、M5C、M5Eと、VSS配線である複数本の第2の中間電源配線M5B、M5D、M5Fとを有している。前者の配線M5A、M5C、M5Eは、第1の電源ストラップ配線M6Aと第1の補助電源ストラップ配線M4Aとを電気的に接続しており、後者の配線M5B、M5D、M5Fは、第2の電源ストラップ配線M6Bと第2の補助電源ストラップ配線M4Bとを電気的に接続している。
図5に示すように、第1の中間電源配線M5A、M5C、M5Eは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号α1は、第1の中間電源配線M5A、M5C、M5E間のY方向の周期を示す。同様に、第2の中間電源配線M5B、M5D、M5Fは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号α2は、第2の中間電源配線M5B、M5D、M5F間のY方向の周期を示す。α1とα2は、本実施形態では同じ値に設定されているが、異なる値に設定されていてもよい。
M1配線層は、VDD配線である複数本の第1の電源レール配線M1B、M1D、M1F、M1Hと、VSS配線である複数本の第2の電源レール配線M1A、M1C、M1E、M1G、M1Iとを有している。前者の配線M1B、M1D、M1F、M1Hは、第1の補助電源ストラップ配線M4Aに電気的に接続されており、後者の配線M1A、M1C、M1E、M1G、M1Iは、第2の補助電源ストラップ配線M4Bに電気的に接続されている。これらの配線M1A〜M1IはX方向に延びており、第1の電源レール配線と第2の電源レール配線とが交互に配置されている。
図5に示すように、第1の電源レール配線M1B、M1D、M1F、M1Hは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号β1は、これら第1の電源レール配線間のY方向の周期を示す。同様に、第2の電源レール配線M1A、M1C、M1E、M1G、M1Iは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号β2は、これら第2の電源レール配線間のY方向の周期を示す。β1とβ2は、本実施形態では同じ値に設定されているが、異なる値に設定されていてもよい。
M7配線層は、VDD配線である複数本の第1の上位電源ストラップ配線M7A、M7Cと、VSS配線である複数本の第2の上位電源ストラップ配線M7B、M7Dとを有している。前者の配線M7A、M7Cは、第1の電源ストラップ配線M6Aに電気的に接続されており、後者の配線M7B、M7Dは、第2の電源ストラップ配線M6Bに電気的に接続されている。これらの配線M7A〜M7DはX方向に延びており、第1の上位電源ストラップ配線と第2の上位電源ストラップ配線とが交互に配置されている。
図5に示すように、第1の上位電源ストラップ配線M7A、M7Cは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号γ1は、これら第1の上位電源ストラップ配線間のY方向の周期を示す。同様に、第2の上位電源ストラップ配線M7B、M7Dは、Y方向に沿って周期的に配置されている。符号γ2は、これら第2の上位電源ストラップ配線間のY方向の周期を示す。γ1とγ2は、本実施形態では同じ値に設定されているが、異なる値に設定されていてもよい。
本実施形態では、第1の中間電源配線M5A、M5C、M5E間の周期α1は、第1の電源レール配線M1B、M1D、M1F、M1H間の周期β1よりも広く設定されており、かつ、第1の上位電源ストラップ配線M7A、M7C間の周期γ1よりも狭く設定されている(β1<α1<γ1)。
また、本実施形態では、第2の中間電源配線M5B、M5D、M5F間の周期α2は、第2の電源レール配線M1A、M1C、M1E、M1G、M1I間の周期β2よりも広く設定されており、かつ、第2の上位電源ストラップ配線M7B、M7D間の周期γ2よりも狭く設定されている(β2<α2<γ2)。
なお、本実施形態では、中間電源配線、電源レール配線、上位電源ストラップ配線が周期的に配置されているが、本実施形態の半導体集積回路は、これらの配線が周期的に配置された周期領域と、これらの配線が非周期的に配置された非周期領域の両方を含んでいてもよい。この場合、上記のβ1<α1<γ1、β2<α2<γ2の関係は、この周期領域内で設定することが可能である。
(4)第2実施形態の半導体集積回路の利点
最後に、図3から図6を参照し、第2実施形態の半導体集積回路の利点について詳細に説明する。
本実施形態では、電源ストラップ配線M6A、M6Bの配線幅W1や配線間隔D1が、広く設定されている。理由は、M6配線層の厚さT6が厚いため、デザインルールの関係上、これらの配線M6A、M6Bは粗く加工せざるを得ないからである。
一方、本実施形態では、補助電源ストラップ配線M4A、M4Bの配線幅W2、配線間隔D2がそれぞれ、配線幅W1、配線間隔D1よりも狭く設定されている。理由は、M4配線層の厚さT4が厚さT6よりも薄いため、これらの配線M4A、M4Bは細かく加工することが可能であるからである。
ここで、配線幅W2や配線間隔D2を狭く設定する利点について、図7を参照して説明する。図7は、第2実施形態におけるM4電源配線の配置方法について説明するための平面図である。
図7(a)は、配線間隔D2が広く設定された第1、第2の補助電源ストラップ配線M4A、M4Bを示す。符号Sは、補助電源ストラップ配線M4A、M4Bに近すぎるため、信号配線を配置できない領域を示す。また、符号Wは、領域SのX方向の幅を示す。図7(a)の場合、補助電源ストラップ配線M4A、M4Bの内部と、4つの領域Sの内部には、信号配線を配置することができない。
図7(b)は、配線間隔D2が狭く設定された第1、第2の補助電源ストラップ配線M4A、M4Bを示す。図7(b)では、配線間隔D2が、幅Wの2倍よりも狭く設定されており、補助電源ストラップ配線M4A、M4B間の2つの領域Sが結合されて、それらの合計面積よりも狭い領域S’となっている(S’<2×S)。
その結果、図7(a)で信号配線を配置できない領域が4×Sであるのに対し、図7(b)で信号配線を配置できない領域は2×S+S’となり、4×Sよりも狭くなっている。よって、図7(b)の場合には、図7(a)の場合に比べ、信号配線を配置可能な面積が広くなっている。なお、信号配線を配置可能な面積は、補助電源ストラップ配線M4A、M4Bの配線幅W2を狭くすることでも広げることができる。
このように、本実施形態によれば、補助電源ストラップ配線M4A、M4Bの配線幅W2や配線間隔D2を狭くすることで、信号配線を設置可能な面積を広げることが可能となる。
本実施形態では、配線幅W2、配線間隔D2がそれぞれ配線幅W1、配線間隔D1よりも狭いため、図4に示すように、電源ストラップ配線M6A、M6Bと補助電源ストラップ配線M4A、M4Bとが互いにずらして配置されている。
そのため、本実施形態の第1の中間電源配線M5Aは、互いにずれた配線M6Aと配線M4Aとを接続するため、第1の電源ストラップ配線M6Aと重なる第1領域R1と、第1の電源ストラップ配線M6Aと重ならない第2領域R2とを有している(図4参照)。これにより、第1領域R1を利用して配線M6Aと配線M5Aとを接続すると共に、第2領域R2を利用して配線M4Aと配線M5Aとを接続することが可能となる。
同様に、本実施形態の第2の中間電源配線M5Bは、配線M6Bと配線M4Bとを接続するため、第2の電源ストラップ配線M6Bと重なる第3領域R3と、第2の電源ストラップ配線M6Bと重ならない第4領域R4とを有している(図4参照)。これにより、第3領域R3を利用して配線M6Bと配線M5Bとを接続すると共に、第4領域R4を利用して配線M4Bと配線M5Bとを接続することが可能となる。
また、本実施形態では、上記のような電源ストラップ配線M6A、M6Bと中間電源配線M5A、M5Bとを接続するため、上位ビアプラグV5が、第1または第3領域R1、R3と重なるように配置されている。
また、本実施形態では、上記のような補助電源ストラップ配線M4A、M4Bと中間電源配線M5A、M5Bとを接続するため、下位ビアプラグV4のうちの少なくとも一部が、第2または第4領域R2、R4と重なるように配置されている。
本実施形態では、図4の中間電源配線M5A、M5Bは、X方向に延びており、かつ、同一直線上に配置されている。このような構成には、例えば、配線M5A、M5BがY方向に延びている場合や、配線M5A、M5Bが別々の直線上に配置されている場合に比べて、M5配線層内における信号配線を配置可能な領域を広く確保しやすいという利点がある。また、本実施形態では、図5の中間電源配線M5C、M5Dも同一直線上に配置されており、さらには、図5の中間電源配線M5E、M5Fも同一直線上に配置されている。
本実施形態では、図5に示すように、第1の中間電源配線間の周期α1が、第1の電源レール配線間の周期β1よりも広く設定され、第2の中間電源配線間の周期α2が、第2の電源レール配線間の周期β2よりも広く設定されている。よって、本実施形態によれば、周期α1、α2を広くとり中間電源配線M5A〜M5Fの本数を減らすことで、M5配線層内における信号配線を配置可能な領域を広く確保することが可能となる。
また、本実施形態では、図5に示すように、第1の中間電源配線間の周期α1が、第1の上位電源ストラップ配線間の周期γ1よりも狭く設定され、第2の中間電源配線間の周期α2が、第2の上位電源ストラップ配線間の周期γ2よりも狭く設定されている。よって、本実施形態によれば、周期α1、α2を周期γ1、γ2よりも狭くして、中間電源配線M5A〜M5Fの本数を上位電源ストラップ配線M7A〜M7Dの本数よりも多くすることで、中間電源配線M5A〜M5Fの本数が足りずに過大な電源電圧降下が生じてしまう事態を抑制することが可能となる。
本実施形態によれば、以上のような構成により、電源配線用に使用される領域を減少させ、信号配線用に使用可能な配線トラックを増加させることが可能となる。よって、本実施形態によれば、信号配線の配線混雑を緩和し、信号配線の配線性を向上させることが可能となる。これにより、例えば、チップ面積増大によるコスト増加、電源配線迂回のための信号配線の配線長増大、タイミング制御の精度悪化、セル面積の増加、消費電力の増大などを抑制可能になると期待できる。
なお、本実施形態では、電源ストラップ配線M6A、M6Bと補助電源ストラップ配線M4A、M4Bとを互いにずらさない配置を採用することも可能である。この場合、本実施形態では例えば、上記のβ1<α1<γ1、β2<α2<γ2の関係が成り立つ構造を採用することなどにより、信号配線用に使用可能な配線トラックを増加させることが可能となる。
以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な回路は、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した回路の形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲およびこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。
M1〜M7:電源配線、V1〜V6:ビアプラグ

Claims (6)

  1. 第1配線層に配置され、第1方向に延びている1本以上の電源ストラップ配線と、
    前記第1配線層よりも下位の第2配線層に配置され、前記第1方向に延びている1本以上の補助電源ストラップ配線と、
    前記第1配線層と前記第2配線層との間の第3配線層に配置された複数本の中間電源配線であって、前記中間電源配線の各々は、前記電源ストラップ配線のうちのいずれか1本と前記補助電源ストラップ配線のうちのいずれか1本とを電気的に接続する、複数本の中間電源配線と、
    前記第2配線層よりも下位の第4配線層に配置され、前記第1方向に垂直な第2方向に延びており、前記補助電源ストラップ配線と電気的に接続されている複数本の電源レール配線と、
    前記第1配線層よりも上位の第5配線層に配置され、前記第2方向に延びており、前記電源ストラップ配線と電気的に接続されている複数本の上位電源ストラップ配線と、
    前記電源ストラップ配線と前記中間電源配線とを電気的に接続する複数の第1のビアプラグと、
    前記補助電源ストラップ配線と前記中間電源配線とを電気的に接続する複数の第2のビアプラグとを備え、
    前記中間電源配線間の前記第1方向の周期は、前記電源レール配線間の前記第1方向の周期よりも広く、かつ前記上位電源ストラップ配線間の前記第1方向の周期よりも狭く、
    前記第2のビアプラグの面積および厚さの少なくともいずれかは、前記第1のビアプラグの面積および厚さと異なり、
    前記電源ストラップ配線は、第1および第2の電源ストラップ配線を含み、
    前記補助電源ストラップ配線は、第1および第2の補助電源ストラップ配線を含み、
    前記中間電源配線は、前記第1の電源ストラップ配線と前記第1の補助電源ストラップ配線とを電気的に接続する複数本の第1の中間電源配線と、前記第2の電源ストラップ配線と前記第2の補助電源ストラップ配線とを電気的に接続する複数本の第2の中間電源配線とを含み、
    前記第1および第2の中間電源配線は、同一直線上に配置されており、
    前記第1の中間電源配線は、前記第1の電源ストラップ配線と重なる第1領域と、前記第1の電源ストラップ配線と重ならない第2領域とを有し、
    前記第2の中間電源配線は、前記第2の電源ストラップ配線と重なる第3領域と、前記第2の電源ストラップ配線と重ならない第4領域とを有する、
    半導体集積回路。
  2. 第1配線層に配置され、第1方向に延びている1本以上の電源ストラップ配線と、
    前記第1配線層よりも下位の第2配線層に配置され、前記第1方向に延びている1本以上の補助電源ストラップ配線と、
    前記第1配線層と前記第2配線層との間の第3配線層に配置された複数本の中間電源配線であって、前記中間電源配線の各々は、前記電源ストラップ配線のうちのいずれか1本と前記補助電源ストラップ配線のうちのいずれか1本とを電気的に接続する、複数本の中間電源配線と、
    前記第2配線層よりも下位の第4配線層に配置され、前記第1方向に垂直な第2方向に延びており、前記補助電源ストラップ配線と電気的に接続されている複数本の電源レール配線と、
    前記第1配線層よりも上位の第5配線層に配置され、前記第2方向に延びており、前記電源ストラップ配線と電気的に接続されている複数本の上位電源ストラップ配線とを備え、
    前記中間電源配線間の前記第1方向の周期は、前記電源レール配線間の前記第1方向の周期よりも広く、かつ前記上位電源ストラップ配線間の前記第1方向の周期よりも狭い、半導体集積回路。
  3. 前記電源ストラップ配線と前記中間電源配線とを電気的に接続する複数の第1のビアプラグと、
    前記補助電源ストラップ配線と前記中間電源配線とを電気的に接続する複数の第2のビアプラグとをさらに備え、
    前記第2のビアプラグの面積および厚さの少なくともいずれかは、前記第1のビアプラグの面積および厚さと異なる、請求項2に記載の半導体集積回路。
  4. 前記電源ストラップ配線は、第1および第2の電源ストラップ配線を含み、
    前記補助電源ストラップ配線は、第1および第2の補助電源ストラップ配線を含み、
    前記中間電源配線は、前記第1の電源ストラップ配線と前記第1の補助電源ストラップ配線とを電気的に接続する複数本の第1の中間電源配線と、前記第2の電源ストラップ配線と前記第2の補助電源ストラップ配線とを電気的に接続する複数本の第2の中間電源配線とを含む、請求項2または3に記載の半導体集積装置。
  5. 前記第1および第2の中間電源配線は、同一直線上に配置されている、請求項4に記載の半導体集積回路。
  6. 前記第1の中間電源配線は、前記第1の電源ストラップ配線と重なる第1領域と、前記第1の電源ストラップ配線と重ならない第2領域とを有し、
    前記第2の中間電源配線は、前記第2の電源ストラップ配線と重なる第3領域と、前記第2の電源ストラップ配線と重ならない第4領域とを有する、
    請求項4または5に記載の半導体集積回路。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101752570B1 (ko) 2015-01-20 2017-07-11 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 전력 네트워크에서 인접 전도성 라인과의 간격을 향상시키는 피쉬본 구조물
KR101831621B1 (ko) * 2014-10-30 2018-02-23 퀄컴 인코포레이티드 전도성 스택 구조를 포함하는 장치
JP2018067693A (ja) * 2016-10-21 2018-04-26 株式会社ソシオネクスト 半導体装置
US10892220B2 (en) 2019-03-20 2021-01-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device
US10956645B2 (en) 2016-11-18 2021-03-23 Qualcomm Incorporated Adaptive multi-tier power distribution grids for integrated circuits
WO2023131997A1 (ja) * 2022-01-05 2023-07-13 キヤノン株式会社 光電変換装置、光電変換システム、および移動体

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9892224B2 (en) * 2015-02-12 2018-02-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method of forming masks
KR102349417B1 (ko) 2015-07-16 2022-01-10 삼성전자 주식회사 전압 강하를 개선할 수 있는 구조를 갖는 반도체 장치와 이를 포함하는 장치
US9812396B1 (en) * 2016-06-07 2017-11-07 Globalfoundries Inc. Interconnect structure for semiconductor devices with multiple power rails and redundancy
KR102475281B1 (ko) * 2017-04-11 2022-12-08 삼성전자주식회사 표준 셀 및 이를 포함하는 집적 회로
US10811357B2 (en) * 2017-04-11 2020-10-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Standard cell and an integrated circuit including the same
US11211330B2 (en) 2017-05-01 2021-12-28 Advanced Micro Devices, Inc. Standard cell layout architectures and drawing styles for 5nm and beyond
US11347925B2 (en) 2017-05-01 2022-05-31 Advanced Micro Devices, Inc. Power grid architecture and optimization with EUV lithography
US10607982B2 (en) 2018-07-10 2020-03-31 Samsung Electronics Co., Ltd. Layout connection isolation technique for improving immunity to jitter and voltage drop in a standard cell
US10796061B1 (en) 2019-08-29 2020-10-06 Advanced Micro Devices, Inc. Standard cell and power grid architectures with EUV lithography
US11921559B2 (en) * 2021-05-03 2024-03-05 Groq, Inc. Power grid distribution for tensor streaming processors

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5742099A (en) * 1994-09-29 1998-04-21 Intel Corporation Power bus for an integrated circuit including end-to-end arranged segments providing power and ground
US6609242B1 (en) * 2001-07-20 2003-08-19 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Automated creation of power distribution grids for tiled cell arrays in integrated circuit designs
JP2008227500A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Toshiba Corp 分割された電力平面を用いる集積回路チップで電圧を補償するためのシステムおよび方法
JP2009038240A (ja) * 2007-08-02 2009-02-19 Toshiba Corp 半導体集積回路装置の配置配線方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4820542B2 (ja) * 2004-09-30 2011-11-24 パナソニック株式会社 半導体集積回路
JP2006173492A (ja) 2004-12-17 2006-06-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置
JP4377342B2 (ja) 2005-01-18 2009-12-02 Necエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路、レイアウト方法、レイアウト装置及びレイアウトプログラム
JP2008066371A (ja) 2006-09-05 2008-03-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路における電源配線構造
JP2010219332A (ja) 2009-03-17 2010-09-30 Toshiba Corp 多層配線層の電源配線構造およびその製造方法
JP5554303B2 (ja) 2011-09-08 2014-07-23 株式会社東芝 半導体集積回路および半導体集積回路の設計方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5742099A (en) * 1994-09-29 1998-04-21 Intel Corporation Power bus for an integrated circuit including end-to-end arranged segments providing power and ground
US6609242B1 (en) * 2001-07-20 2003-08-19 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Automated creation of power distribution grids for tiled cell arrays in integrated circuit designs
JP2008227500A (ja) * 2007-03-09 2008-09-25 Toshiba Corp 分割された電力平面を用いる集積回路チップで電圧を補償するためのシステムおよび方法
JP2009038240A (ja) * 2007-08-02 2009-02-19 Toshiba Corp 半導体集積回路装置の配置配線方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101831621B1 (ko) * 2014-10-30 2018-02-23 퀄컴 인코포레이티드 전도성 스택 구조를 포함하는 장치
KR101752570B1 (ko) 2015-01-20 2017-07-11 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 전력 네트워크에서 인접 전도성 라인과의 간격을 향상시키는 피쉬본 구조물
US11239154B2 (en) 2015-01-20 2022-02-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Fishbone structure enhancing spacing with adjacent conductive line in power network
JP2018067693A (ja) * 2016-10-21 2018-04-26 株式会社ソシオネクスト 半導体装置
US10956645B2 (en) 2016-11-18 2021-03-23 Qualcomm Incorporated Adaptive multi-tier power distribution grids for integrated circuits
US10892220B2 (en) 2019-03-20 2021-01-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device
WO2023131997A1 (ja) * 2022-01-05 2023-07-13 キヤノン株式会社 光電変換装置、光電変換システム、および移動体

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