JP2014170665A - 光源装置及びプロジェクター - Google Patents
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Abstract
【解決手段】直列に接続された複数の発光素子11〜16と、発光素子11〜16のうち少なくとも一つの発光素子に並列に接続された開放故障検出部211と故障検出維持部212と短絡部213とを備え、開放故障検出部211は、並列に接続された発光素子11の開放故障を検出し、故障検出維持部212は、開放故障検出部211が開放故障を検出した場合、該開放故障しているときの回路状態に移行し、該移行した回路状態を維持し、短絡部213は、故障検出維持部212が開放故障しているときの回路状態を維持している場合、開放故障が検出された発光素子の両端を短絡させる。
【選択図】図1
Description
これにより、直列に接続された複数の発光素子のうち任意の発光素子が開放故障した場合でも、開放故障した発光素子を短絡させたままにすることができ、他の発光素子の発光を維持させることができる。更に、開放故障しているときの回路状態を維持することで、開放故障した発光素子の両端を短絡させたままにするので、再度発光素子の駆動を開始した場合には発光素子の両端を短絡させた状態から駆動が始まる。そのため、突入電流が発光素子に繰り返し流れることがないので、突入電流によって生じる発光素子の劣化を軽減することができる。
これにより、FETは、ほぼ0オームにて開放故障した発光素子の両端を短絡することができるのでFETでの損失がほぼ0Wとなり、発熱を低減することができる。その結果、開放故障しているときの回路状態を維持している場合に、光源装置の放熱構造が不要となる利点がある。
これにより、ヒューズが溶断した場合にFETのドレインとソースの導通状態を維持させることで、発光素子の両端を短絡したままにすることができる。これにより、再度発光素子の駆動を開始した場合には発光素子の両端を短絡させた状態から駆動が始まる。そのため、突入電流が発光素子に繰り返し流れることがないので、突入電流によって生じる発光素子の劣化を軽減することができる。
これにより、ヒューズの両端の電圧によらず、FETのゲート電圧が一定で高い状態にすることができFETがオフ状態のままにすることができる。そのため、ヒューズが完全に溶断されるまで、pMOSトランジスタQ12はOFF状態のままであるので、ヒューズが完全に溶断されるまでヒューズに一定の電流を供給することができる。その結果、ヒューズの溶断にかかる時間が長くなるのを防止することができる。
これにより、ヒューズの両端に十分な電圧をかけることができるので、ヒューズを確実に溶断することができる。
これにより、FETのドレインとソースの導通状態を維持させることで、発光素子の両端を短絡したままにすることができる。これにより、再度発光素子の駆動を開始した場合には発光素子の両端を短絡させた状態から駆動が始まる。そのため、突入電流が発光素子に繰り返し流れることがないので、突入電流によって生じる発光素子の劣化を軽減することができる。
これにより、発光素子が正常に動作しているときにはツェナーダイオードに電流が流れないので、故障検出維持部は、開放故障しているときの回路状態に移行しない。一方、発光素子が開放故障して、ツェナーダイオードに降伏電圧以上の電圧がかかった場合、開放故障しているときの回路状態に移行し、該移行した回路状態を維持することで、発光素子の両端を短絡したままにすることができる。
これにより、直列に接続された複数の発光素子のうち任意の発光素子が開放故障した場合でも、開放故障した発光素子を短絡させたままにすることができ、他の発光素子の発光を維持させることができる。更に、開放故障しているときの回路状態を維持することで、開放故障した発光素子の両端を短絡させたままにするので、再度駆動を開始した場合には発光素子の両端を短絡させる状態から駆動が始まる。そのため、突入電流が発光素子に繰り返し流れることがないので、突入電流によって生じる発光素子の劣化を軽減することができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。図1は、第1の実施形態における光源装置1の構成を示す概略ブロック図である。光源装置1は、駆動電源10、発光素子11〜16までの6個の発光素子、及び保護回路21〜26までの6個の保護回路を備える。発光素子11〜16は、順に直列に接続されている。発光素子は例えば、発光ダイオードである。発光素子11〜16は、アノードに所定の電圧(例えば、3.3V以上5.0V未満の電圧)が印加された場合、発光する。発光素子11は、アノードが駆動電源に接続され、カソードが発光素子12のアノードに接続されている。同様に、発光素子12は、アノードが発光素子11のカソードに接続され、カソードが発光素子13のアノードに接続されている。同様に、発光素子13は、アノードが発光素子12のカソードに接続され、カソードが発光素子14のアノードに接続されている。同様に、発光素子14は、アノードが発光素子13のカソードに接続され、カソードが発光素子15のアノードに接続されている。同様に、発光素子15は、アノードが発光素子14のカソードに接続され、カソードが発光素子16のアノードに接続されている。発光素子16は、アノードが発光素子15のカソードに接続され、カソードが駆動電源10に接続されている。なお、発光素子11〜16は、レーザーダイオード(Laser Diode:LD)でもよい。
保護回路21は、発光素子11に並列に接続されている。同様に、保護回路22は発光素子12に並列に接続され、保護回路23は発光素子13に並列に接続され、保護回路24は発光素子14に並列に接続され、保護回路25は発光素子15に並列に接続され、保護回路26は発光素子16に並列に接続されている。
開放故障検出部211は、並列に接続された発光素子11の開放故障を検出する。ここで開放故障検出部211は、ツェナーダイオードZD11及び抵抗R11を備える。
ダイオードD11は、アノードが抵抗R13を介してヒューズF11に接続され、カソードがNPNトランジスタT11のコレクタに接続されている。
NPNトランジスタT11は、コレクタがダイオードD11のカソードに接続され、ベースが抵抗R12及びツェナーダイオードZD11を介して高電位線H21に接続され、エミッタが低電位線L21に接続されている。
FETゲート駆動部214は、抵抗R14、抵抗R15及び抵抗R16を備える。抵抗R14は、一端がヒューズF11と抵抗R13に接続され、他端がpMOSトランジスタQ12のゲート、抵抗R15及び抵抗R16に接続されている。抵抗R15は、一端が高電位線H21に接続され、他端がpMOSトランジスタQ12のゲート、抵抗R14及び抵抗16に接続されている。抵抗R16は、一端が抵抗R14、抵抗R15及びpMOSトランジスタQ12のゲートに接続され、他端が発光素子13のカソードに接続されている。
なお、本実施形態では、一例としてpMOSトランジスタQ12のゲートが2段下の発光素子13のカソードに接続されているとして説明したが、これに限らず、pMOSトランジスタQ12のゲートが、1段または3段以上、下の発光素子のカソードに接続されていてもよい。
開放故障検出部261は、並列に接続された発光素子11の開放故障を検出する。ここで開放故障検出部261は、ツェナーダイオードZD21及び抵抗R21を備える。ツェナーダイオードZD21は、アノードが低電位線L26に接続され、カソードが抵抗R21を介して高電位線H26に接続され、抵抗R22を介してPNPトランジスタT21のベースに接続されている。高電位線H26は、発光素子16のアノードに接続されている配線である。低電位線L26は、発光素子16のカソードに接続されている配線である。
PNPトランジスタT21は、コレクタがダイオードD21のアノードに接続され、ベースが抵抗R22を介してツェナーダイオードZD21のカソード及び抵抗R21に接続され、エミッタが高電位線H26に接続されている。
FETゲート駆動部264は、抵抗R24、抵抗R25及び抵抗R26を備える。抵抗R24は、一端がヒューズF21と抵抗R23に接続され、他端がnMOSトランジスタQ22のゲート、抵抗R25及び抵抗R26に接続されている。抵抗R25は、一端が低電位線L26に接続され、他端がnMOSトランジスタQ22のゲート、抵抗R24及び抵抗26に接続されている。抵抗R26は、一端が抵抗R24、抵抗R25及びnMOSトランジスタQ22のゲートに接続され、他端が高電位線H26に接続されている。
なお、本実施形態では、一例としてnMOSトランジスタQ22のゲートが2段上の発光素子14のアノードに接続されているとして説明したが、これに限らず、nMOSトランジスタQ22のゲートが、1段または3段以上、上の発光素子のアノードに接続されていてもよい。
更に、ヒューズの溶断にはある程度のエネルギーが必要なので、外部から入力された想定外の外部インパルスノイズ等ではヒューズが切れない。これにより、多少のインパルスノイズがあったとしても保護回路21〜26が誤動作するのを防ぐことができる。
続いて、第2の実施形態について説明する。第1の実施形態では、ヒューズF11に電流を流すと、ヒューズF11の温度上昇でヒューズF11の抵抗値が上昇し、それに伴いヒューズの両端の電圧が上昇する。それにより、pMOSトランジスタQ12のゲート電圧が落ちてきて、pMOSトランジスタQ12がON状態になり始めることで、pMOSトランジスタQ12のソースとドレインとの間に電流が流れて、ヒューズF11に流れる電流が小さくなっていく。
NPNトランジスタT13は、ベースが抵抗R31を介してヒューズF11及び抵抗R13に接続され、更にベースが抵抗R32を介して発光素子13のカソードに接続されている。NPNトランジスタT13は、コレクタが抵抗R34及び抵抗R33を介して高電位線H21に接続されている。NPNトランジスタT13は、エミッタが抵抗16及び発光素子13のカソードに接続されている。
PNPトランジスタT23は、ベースが抵抗R41を介してヒューズF21と抵抗R23に接続され、更にベースが抵抗R42を介して発光素子13のカソードに接続されている。PNPトランジスタT23は、コレクタが抵抗R44及び抵抗R43を介して低電位線L26に接続されている。PNPトランジスタT23は、エミッタが抵抗26と発光素子13のカソードに接続されている。
続いて、第3の実施形態について説明する。第1の実施形態及び第2の実施形態では、駆動電源10が定電流制御しているので、ヒューズに所定の電圧(例えば、5V)までしかかけられない。それに対し、第3の実施形態の保護回路では、ヒューズにかけられる電圧を、第1の実施形態の3倍の電圧(例えば、15V)とすることで、ヒューズの抵抗が上昇して仮にヒューズが切れる瞬間にヒューズの両端に係る電圧が10Vくらいになったとしても、ヒューズにはまだ所定の電流(例えば、2A)以上の電流を流すことができる。これにより、ヒューズの抵抗が上がっても、大きな電流を流し続けられるので、より確実にヒューズを溶断することができる。
PNPトランジスタT51は、ベースが抵抗R52を介してノードNCと接続され、エミッタが高電位線H21に接続され、コレクタが抵抗R53を介してダイオードD51のアノードに接続されている。
ダイオードD51は、アノードが抵抗R53を介してPNPトランジスタT51のコレクタに接続されており、カソードがヒューズF51に接続され、更に抵抗R54を介してPNPトランジスタT52のベースに接続されている。ヒューズF51は、一端の電極がダイオードD51のカソードに接続され、他端の電極が発光素子13のカソードに接続されている。
PNPトランジスタT52は、ベースが抵抗R54を介してヒューズF51の一端とダイオードD51のカソードに接続され、更に抵抗R55を介して高電位線H21に接続され、エミッタが高電位線H21に接続されている。またPNPトランジスタT52は、コレクタが抵抗R56を介してpMOSトランジスタQ12のゲート、抵抗R15及び抵抗R16に接続されている。
NPNトランジスタT61は、ベースが抵抗R62を介してノードNDに接続され、コレクタが抵抗R63を介してダイオードD61のアノードに接続され、エミッタが低電位線L26に接続されている。
ダイオードD61は、アノードが抵抗R63を介してNPNトランジスタT61のコレクタに接続され、カソードがヒューズF61及び抵抗R65を介してNPNトランジスタT62のベースに接続されている。
NPNトランジスタT62は、ベースが抵抗R65を介してダイオードD61のカソード及びヒューズF61に接続され、更にベースが抵抗R64を介して低電位線L26に接続されている。NPNトランジスタT62は、コレクタが抵抗R66を介してnMOSトランジスタQ22のゲート、抵抗R25及び抵抗R26に接続され、エミッタが低電位線L26に接続されている。
続いて、第4の実施形態について説明する。第4の実施形態の保護回路は、故障検出維持部が、ヒューズでなくラッチ回路を備えた構成である。以下、第4の実施形態における光源装置1dの構成について説明する。図8は、第4の実施形態における光源装置1dの構成を示す概略ブロック図である。なお、図1と共通する要素には同一の符号を付し、その具体的な説明を省略する。第4の実施形態における光源装置1dの構成は、第1の実施形態における光源装置1の構成に対して、保護回路21が保護回路21dに、保護回路22が保護回路22dに、保護回路23が保護回路23dに、保護回路24が保護回路24dに、保護回路25が保護回路25dに、保護回路26が保護回路26dに変更されたものになっている。
コンデンサC11は、一端の電極が高電位線H21に接続され、他端の電極が抵抗R72を介してPNPトランジスタT71のベースに接続され、NPNトランジスタT72のコレクタに接続されている。
R74を介して発光素子13のカソードに、抵抗R73及び抵抗R76を介して発光素子13のカソードに接続されている。
コンデンサC21は、一端の電極が抵抗R82を介してNPNトランジスタT81のベースに接続され、PNPトランジスタT82のコレクタに接続されており、他端の電極が低電位線L26に接続されている。
R84を介して発光素子13のカソードに、抵抗R83及び抵抗R86を介して発光素子13のカソードに接続されている。
また、開放故障検出部211dが一度、発光素子の開放故障を検出した場合、故障検出維持部212dが備えるPNPトランジスタT71のオン状態が維持されて、抵抗14と高電位線H21との接続が常に切断される。これにより、pチャネルFET(Q21)のゲートが常にローレベルになって、pチャネルFET(Q21)のオン状態が維持される。その結果、再度駆動を開始した場合に、pチャネルFET(Q21)がオン状態から駆動が始まる。そのため、突入電流が繰り返し流れることがないので、保護回路21dは突入電流によって生じる光源素子の劣化を軽減することができる。同様に、保護回路22d〜26dは突入電流によって生じる光源素子の劣化を軽減することができる。
更に、PNPトランジスタT71のベースが抵抗R72を介してコンデンサC11が接続されてコンデンサC11に電荷が蓄えられることでPNPトランジスタT71のベース電位がローレベルに維持される。このためPWM調光等による短時間の電源切断の場合にも、保護回路21dはPNPトランジスタT71のオン状態を維持することができる。それとともに、想定外の外部ノイズがあってもPNPトランジスタT71のオン状態が維持されるので、保護回路21dの誤動作を防ぐことができる。同様に、保護回路22d〜26dはNPNトランジスタT81のオン状態を維持することができる。それとともに、想定外の外部ノイズがあってもNPNトランジスタT81のオン状態が維持されるので、保護回路22d〜26dの誤動作を防ぐことができる。
また各実施形態において、発光素子が6つ直列に接続された構成について説明したが、これに限らず、2〜5つまたは7つ以上発光素子が直列に接続されていてもよい。すなわち、複数の発光素子が直列に接続されていればよい。
また、各実施形態において、各発光素子に対して、保護回路が並列に接続されていたが、これに限らず、発光素子のうち少なくとも一つの発光素子に対して、保護回路が並列に接続されていればよい。換言すれば、光源装置は複数の発光素子のうち少なくとも一つの発光素子に対して、並列に接続された開放故障検出部と故障検出維持部と短絡部とをそれぞれ備えていればよい。
3 プロジェクター
10 駆動電源
11〜16 発光素子
21〜26 保護回路
31 変調部
32 投射光学系
211、211c、211d、261、261c、261d 開放故障検出部
212、212c、212d、262、262c、262d 故障検出維持部
213、213b、213c、263、263b、263c 短絡部
214、214b、214c、264、264b、264c FETゲート駆動部
215、265 短絡回路
Claims (8)
- 直列に接続された複数の発光素子と、
前記複数の発光素子のうち少なくとも一つの発光素子に対して、並列に接続された開放故障検出部と故障検出維持部と短絡部とをそれぞれ備え、
前記開放故障検出部は、並列に接続された発光素子の開放故障を検出し、
前記故障検出維持部は、前記開放故障検出部が開放故障を検出した場合、該開放故障しているときの回路状態に移行し、該移行した回路状態を維持し、
前記短絡部は、前記故障検出維持部が前記開放故障しているときの回路状態を維持している場合、前記開放故障が検出された発光素子の両端を短絡させる光源装置。 - 前記短絡部は、ドレインが前記発光素子の一端に接続され、ソースが前記発光素子の他端に接続されたFETを備え、
前記短絡部は前記FETのドレインとソースを導通状態にすることにより、前記発光素子の両端を短絡させる請求項1に記載の光源装置。 - 前記故障検出維持部は、前記開放故障検出部が開放故障を検出した場合に溶断するヒューズを備え、
前記故障検出維持部は、前記ヒューズが溶断した場合に前記FETのドレインとソースの導通状態を維持させる請求項2に記載の光源装置。 - 前記短絡部は、前記ヒューズが溶断されるまで、前記FETのゲート電位の変化を抑制する請求項3に記載の光源装置。
- 前記ヒューズの一端が、前記ヒューズを備える故障検出維持部が並列に接続されている発光素子の次の段以降の発光素子のカソード、または前段以前の発光素子のアノードに接続されている請求項3に記載の光源装置。
- 前記故障検出維持部は、コンデンサと複数のトランジスタとを備え、
前記故障検出維持部は、前記開放故障検出部が開放故障を検出した場合に、前記コンデンサに電荷を蓄積し前記複数のトランジスタの導通状態を固定することで、前記FETのドレインとソースの導通状態を維持させる請求項2に記載の光源装置。 - 前記開放故障検出部は、前記発光素子が正常に動作している際に両端にかかる電圧よりも高い降伏電圧を有するツェナーダイオードを備え、
前記故障検出維持部は、前記ツェナーダイオードに前記降伏電圧以上の電圧がかかった場合、前記開放故障しているときの回路状態に移行し、該移行した回路状態を維持する請求項1から6のいずれか一項に記載の光源装置。 - 直列に接続された複数の発光素子と、
前記発光素子から出射された光を変調する変調部と、
前記複数の発光素子のうち少なくとも一つの発光素子に対して、並列に接続された開放故障検出部と故障検出維持部と短絡部とをそれぞれ備え、
前記開放故障検出部は、並列に接続された発光素子の開放故障を検出し、
前記故障検出維持部は、前記開放故障検出部が開放故障を検出した場合、該開放故障しているときの回路状態に移行し、該移行した回路状態を維持し、
前記短絡部は、前記故障検出維持部が前記開放故障しているときの回路状態を維持している場合、前記開放故障が検出された発光素子の両端を短絡させるプロジェクター。
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