JP2014160539A5 - - Google Patents

Description

図１Ｃを参照して、本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板Ｇの外周側の端部の形状について説明する。図１Ｃにおいて、主表面１１ｐ、側壁面１１ｗ、および、面取面１１ｃの直線部を、それぞれＬｐ、Ｌｗ、およびＬｃと表記している。また、図１Ｃにおいて、主表面１１ｐの直線部Ｌｐと、面取面１１ｃの直線部Ｌｃとの交点をＰ１１とし、側壁面１１ｗの直線部Ｌｗと、面取面１１ｃの直線部Ｌｃとの交点をＰ１２とし、主表面１１ｐの直線部Ｌｐと、側壁面１１ｗの直線部Ｌｗとの交点をＰ１３とする。
主表面１１ｐの直線部Ｌｐと面取面１１ｃの直線部Ｌｃとのなす角（面取り角度；θ１）は、例えば４０〜７０度とすることが好ましい。側壁面１１ｗの直線部Ｌｗと面取面１１ｃの直線部Ｌｃとのなす角（面取り角度；θ２）は、例えば２０〜５０度とすることが好ましい。また、点Ｐ１１と点Ｐ１３の間の距離Ｄ１は０．０５〜０．２０ｍｍ、点Ｐ１２と点Ｐ１３の間の距離Ｄ２は０．１０〜０．３０ｍｍとすることが好ましい。上述の範囲内の形状とすることで、ガラス基板の製造完了後の検査工程、成膜工程、ＨＤＤの組み立て工程などにおいて外周端部を把持したときでも、外周端部がカケたり、基板が落下したりする不具合を防止することができる。
尚、図１Ｃを参照して磁気ディスク用ガラス基板Ｇの外周側の一方の主表面に近い端部の形状について説明したが、他の端部（つまり、外周側の他方の主表面に近い端部や、内周側の端部）についても同様である。
以下の説明では適宜、外周側の側壁面１１ｗおよび面取面１１ｃ，１２ｃを総称して外周端面といい、図示しない内周側の側壁面および面取面を総称して内周端面という。

Claims (20)

1. 中心に円孔が形成され、Ａ面とＢ面からなる一対の主表面と、側壁面および主表面と側壁面との間に形成された面取面からなる外周端面および内周端面とを有する磁気ディスク用ガラス基板であって、
   前記ガラス基板の主表面の中心を基準として周方向に３０度ごとに外周端面に測定点を設け、Ａ面とＢ面それぞれについて、隣り合う前記測定点間における側壁面と面取面との間の部分の形状の曲率半径の差の平均値を求め、Ａ面における平均値とＢ面における平均値との差分を絶対値で求めたものをΔＲとしたときに、ΔＲが０．００３ｍｍ以下であることを特徴とする、
   磁気ディスク用ガラス基板。
2. 隣接する測定点間の前記曲率半径の差が０．０１ｍｍ以下であることを特徴とする、
   請求項１に記載された磁気ディスク用ガラス基板。
3. 隣接する測定点間の前記曲率半径の差が０．００５ｍｍ以下であることを特徴とする、
   請求項２に記載された磁気ディスク用ガラス基板。
4. 前記ガラス基板の中心を基準として周方向に３０度ごとに測定点を設け、前記主表面と前記面取面との間の部分の形状の前記測定点における曲率半径を第２曲率半径としてもとめたときに、隣接する測定点間の前記第２曲率半径の差が０．００４ｍｍ以下であることを特徴とする、
   請求項１〜３のいずれかに記載された磁気ディスク用ガラス基板。
5. 前記ガラス基板の板厚は、０．６３５ｍｍ以下であることを特徴とする、
   請求項１〜４のいずれかに記載された磁気ディスク用ガラス基板。
6. 前記磁気ディスクは、エネルギーアシスト磁気記録用磁気ディスクである、請求項１〜５のいずれかに記載された磁気ディスク用ガラス基板。
7. 請求項１〜６のいずれかに記載された磁気ディスク用ガラス基板の表面に、少なくとも磁性膜を有する、磁気ディスク。
8. 中心に円孔が形成され、Ａ面とＢ面からなる一対の主表面と、側壁面および主表面と側壁面との間に形成された面取面からなる外周端面および内周端面とを有する円環状のガラス素板であって、
   前記ガラス素板の主表面の中心を基準として周方向に３０度ごとに外周端面に測定点を設け、Ａ面とＢ面それぞれについて、隣り合う前記測定点間における側壁面と面取面との間の部分の形状の曲率半径の差の平均値を求め、Ａ面における平均値とＢ面における平均値との差分を絶対値で求めたものをΔＲとしたときに、ΔＲが０．００３ｍｍ以下であることを特徴とする、
   円環状のガラス素板。
9. 隣接する測定点間の前記曲率半径の差が０．０１ｍｍ以下であることを特徴とする、
   請求項８に記載された円環状のガラス素板。
10. 隣接する測定点間の前記曲率半径の差が０．００５ｍｍ以下であることを特徴とする、
    請求項９に記載された円環状のガラス素板。
11. 前記ガラス素板の中心を基準として周方向に３０度ごとに測定点を設け、前記主表面と前記面取面との間の部分の形状の前記測定点における曲率半径を第２曲率半径としてもとめたときに、隣接する測定点間の前記第２曲率半径の差が０．００４ｍｍ以下であることを特徴とする、
    請求項８〜１０のいずれかに記載された円環状のガラス素板。
12. 前記ガラス素板の板厚は、０．６３５ｍｍ以下であることを特徴とする、
    請求項８〜１１のいずれかに記載された円環状のガラス素板。
13. 磁気ディスク用ガラス基板の素板として使用される、請求項８〜１２のいずれかに記載された円環状のガラス素板。
14. 前記磁気ディスクは、エネルギーアシスト磁気記録用磁気ディスクである、請求項１３に記載された円環状のガラス素板。
15. 中心に円孔が形成され、一対の主表面と、側壁面および主表面と側壁面との間に形成された面取面からなる外周端面および内周端面とを有するドーナツ型の円環状のガラス素板であって、
    外周端面において、前記ガラス素板の中心を基準として周方向に３０度ごとに測定点を設け、前記側壁面と前記面取面との間の部分の形状の前記測定点における曲率半径をもとめたときに、隣接する測定点間の前記曲率半径の差が０．０１ｍｍ以下であることを特徴とする、
    円環状のガラス素板。
16. 隣接する測定点間の前記曲率半径の差が０．００５ｍｍ以下であることを特徴とする、
    請求項１５に記載された円環状のガラス素板。
17. 前記ガラス素板の中心を基準として周方向に３０度ごとに測定点を設け、前記主表面と前記面取面との間の部分の形状の前記測定点における曲率半径を第２曲率半径としてもとめたときに、隣接する測定点間の前記第２曲率半径の差が０．００４ｍｍ以下であることを特徴とする、
    請求項１５または１６に記載された円環状のガラス素板。
18. 前記ガラス素板の板厚は、０．６３５ｍｍ以下であることを特徴とする、
    請求項１５〜１７のいずれかに記載された円環状のガラス素板。
19. 磁気ディスク用ガラス基板の素板として使用される、請求項１５〜１８のいずれかに記載された円環状のガラス素板。
20. 前記磁気ディスクは、エネルギーアシスト磁気記録用磁気ディスクである、請求項１９に記載された円環状のガラス素板。