JP2014121607A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2014121607A5
JP2014121607A5 JP2013262799A JP2013262799A JP2014121607A5 JP 2014121607 A5 JP2014121607 A5 JP 2014121607A5 JP 2013262799 A JP2013262799 A JP 2013262799A JP 2013262799 A JP2013262799 A JP 2013262799A JP 2014121607 A5 JP2014121607 A5 JP 2014121607A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
pixels
sub
imaging system
pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013262799A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2014121607A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102012224258.9A external-priority patent/DE102012224258A1/de
Application filed filed Critical
Publication of JP2014121607A publication Critical patent/JP2014121607A/ja
Publication of JP2014121607A5 publication Critical patent/JP2014121607A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2013262799A 2012-12-21 2013-12-19 位相ステッピングによる検査対象の微分位相コントラストイメージングのためのｘ線撮影システムならびにアンギオグラフィ検査方法 Pending JP2014121607A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102012224258.9A DE102012224258A1 (de) 2012-12-21 2012-12-21 Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping sowie angiographisches Untersuchungsverfahren
DE102012224258.9 2012-12-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014121607A JP2014121607A (ja) 2014-07-03
JP2014121607A5 true JP2014121607A5 (enExample) 2015-06-25

Family

ID=50878733

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013262799A Pending JP2014121607A (ja) 2012-12-21 2013-12-19 位相ステッピングによる検査対象の微分位相コントラストイメージングのためのｘ線撮影システムならびにアンギオグラフィ検査方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9179883B2 (enExample)
JP (1) JP2014121607A (enExample)
CN (1) CN103876766A (enExample)
DE (1) DE102012224258A1 (enExample)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013191001A1 (ja) * 2012-06-20 2013-12-27 株式会社日立メディコ Ｘ線ｃｔ装置
DE102012224258A1 (de) * 2012-12-21 2014-06-26 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping sowie angiographisches Untersuchungsverfahren
DE102013205406A1 (de) * 2013-03-27 2014-10-16 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenaufnahmesystem zur Röntgenbildgebung bei hohen Bildfrequenzen eines Untersuchungsobjekts mittels direkter Messung des Interferenzmusters
EP3169239B1 (en) 2014-07-17 2018-10-31 Koninklijke Philips N.V. Phase contrast imaging x-ray device provided with at least one movable grating
EP3178089B1 (en) * 2014-08-05 2018-01-10 Koninklijke Philips N.V. Grating device for an x-ray imaging device
WO2016058838A1 (en) 2014-10-13 2016-04-21 Koninklijke Philips N.V. Grating device for phase contrast and/or dark-field imaging of a movable object
CN104833686B (zh) * 2015-04-21 2018-07-06 北京师范大学 X射线放大成像系统
US10568588B2 (en) 2015-06-15 2020-02-25 Koninklijke Philips N.V. Tiled detector arrangement for differential phase contrast CT
WO2017012555A1 (zh) * 2015-07-20 2017-01-26 徐敏 光子结构和化学计量学病理系统
EP3326008B1 (en) 2015-07-21 2018-11-28 Koninklijke Philips N.V. X-ray detector for phase contrast and/or dark-field imaging
US11137504B2 (en) 2016-02-05 2021-10-05 General Electric Company Tiled radiation detector
US10032813B2 (en) 2016-02-05 2018-07-24 General Electric Company Active pixel radiation detector array and use thereof
US10591618B2 (en) 2016-04-22 2020-03-17 Sony Corporation X-ray detection device and detection method
JP6708474B2 (ja) 2016-04-28 2020-06-10 キヤノン株式会社 撮像装置及び放射線撮像システム
JP6673034B2 (ja) * 2016-06-06 2020-03-25 株式会社島津製作所 Ｘ線撮影装置およびｘ線検出器
WO2017212000A1 (en) 2016-06-08 2017-12-14 Koninklijke Philips N.V. Analyzing grid for phase contrast imaging and/or dark-field imaging
JP6673189B2 (ja) * 2016-12-26 2020-03-25 株式会社島津製作所 Ｘ線位相コントラスト撮影装置
JP6673188B2 (ja) * 2016-12-26 2020-03-25 株式会社島津製作所 Ｘ線位相撮影装置
EP3447538A1 (en) 2017-08-23 2019-02-27 Koninklijke Philips N.V. X-ray detection
EP3446630A1 (en) 2017-08-23 2019-02-27 Koninklijke Philips N.V. Device and method for phase stepping in phase contrast image acquisition
EP3498171A1 (en) 2017-12-15 2019-06-19 Koninklijke Philips N.V. Single shot x-ray phase-contrast and dark field imaging
WO2019171920A1 (ja) * 2018-03-06 2019-09-12 国立大学法人東北大学 放射線位相撮像装置
CN112601985A (zh) * 2018-09-07 2021-04-02 深圳帧观德芯科技有限公司 一种具有在不同模式下操作的子像素的辐射检测器
EP3626174A1 (en) 2018-09-20 2020-03-25 Koninklijke Philips N.V. Switchable grating
EP3669783A1 (en) 2018-12-21 2020-06-24 Koninklijke Philips N.V. Switchable phase stepping
US11389124B2 (en) 2020-02-12 2022-07-19 General Electric Company X-ray phase contrast detector
CN118921569B (zh) * 2024-10-11 2025-01-03 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 高静态调制传递函数的成像系统

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
DE102005012700B4 (de) 2005-03-18 2012-08-23 Siemens Ag Röntgenvorrichtung
DE102006017290B4 (de) * 2006-02-01 2017-06-22 Siemens Healthcare Gmbh Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur, Röntgen-System und Verfahren zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
JP4886713B2 (ja) * 2008-02-13 2012-02-29 キヤノン株式会社 Ｘ線撮影装置及びその制御方法
JP5461438B2 (ja) * 2008-02-14 2014-04-02 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 位相コントラストイメージング用のｘ線検出器
JP2010075620A (ja) * 2008-09-29 2010-04-08 Fujifilm Corp 放射線トモシンセシス撮影装置
JP2010236986A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Fujifilm Corp 放射線位相画像撮影装置
JP5378335B2 (ja) * 2010-03-26 2013-12-25 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム
JP2011206113A (ja) * 2010-03-29 2011-10-20 Fujifilm Corp 放射線撮影システム
JP2011224329A (ja) * 2010-03-30 2011-11-10 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び方法
DE102010018715A1 (de) 2010-04-29 2011-11-03 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenaufnahmesystem
WO2012052881A1 (en) 2010-10-19 2012-04-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Differential phase-contrast imaging
WO2012056724A1 (ja) * 2010-10-29 2012-05-03 富士フイルム株式会社 放射線位相画像撮影装置
JP2012147824A (ja) * 2011-01-17 2012-08-09 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置および放射線画像検出器
WO2012098908A1 (ja) * 2011-01-20 2012-07-26 富士フイルム株式会社 放射線位相画像撮影装置
JP2014138626A (ja) 2011-04-26 2014-07-31 Fujifilm Corp 放射線撮影装置及びその制御方法
DE102011082878A1 (de) * 2011-09-16 2013-03-21 Siemens Aktiengesellschaft Röntgendetektor einer gitterbasierten Phasenkontrast-Röntgenvorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer gitterbasierten Phasenkontrast-Röntgenvorrichtung
DE102012224258A1 (de) * 2012-12-21 2014-06-26 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping sowie angiographisches Untersuchungsverfahren

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6654578B2 (ja) ガンマ線イメージング
CN101862200B (zh) 一种快速x射线荧光ct方法
US7929665B2 (en) X-ray image obtaining/imaging apparatus and method
US10646176B2 (en) Layered radiation detector
JP4968384B2 (ja) 放射線断層撮影装置
WO2013126649A8 (en) X-ray imager with sparse detector array
RU2013122887A (ru) Формирование изображений методом дифференциального фазового контраста
JP2013039363A5 (ja) 計算機式断層写真法（ｃｔ）撮像用の低分解能シンチレート式アレイ
RU2014134452A (ru) Мультинаправленная фазоконтрастная рентгеновская визуализация
WO2009141861A1 (ja) ２次元位置マップ校正方法および放射線検出装置
JP2017143436A5 (enExample)
JP4835789B2 (ja) ２次元位置マップ校正方法
JP6256608B2 (ja) 画像再構成処理方法
JP2014121607A (ja) 位相ステッピングによる検査対象の微分位相コントラストイメージングのためのｘ線撮影システムならびにアンギオグラフィ検査方法
JP2008309683A5 (enExample)
WO2009056094A3 (de) Verfahren zur positronen-emissions-tomographie sowie pet-scanner
US20160209337A1 (en) Multiple-layered energy-integrating detector in a hybrid computed tomography scanner
TW202238460A (zh) 放射線圖像處理方法、機械學習方法、學習完成模型、機械學習之前處理方法、放射線圖像處理模組、放射線圖像處理程式及放射線圖像處理系統
CN104685539A (zh) 数字图像处理方法以及摄影装置
JP4250180B2 (ja) 放射線撮像装置およびそれを用いた核医学診断装置
Massari et al. Super Spatial Resolution (SSR) method for small animal SPECT imaging: A Monte Carlo study
Michail et al. Information capacity of positron emission tomography scanners
Miller et al. Recent advances in BazookaSPECT: Real-time data processing and the development of a gamma-ray microscope
JP2014228443A (ja) 核医学診断装置および核医学画像生成プログラム
Liu et al. A novel sub-pixel-shift-based high-resolution X-ray flat panel detector