JP4886713B2 - X線撮影装置及びその制御方法 - Google Patents

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Description

本発明はX線源を用いた医療診断機器や産業機器分野の非破壊X線撮影に使用されるX線発生装置および該装置を用いたX線撮影装置に関するものである。
一般に、X線管球では、電子源として熱電子源を用い、高温度に加熱したフィラメントから放出される熱電子を加速、集束して所望の電子ビームを形成し、これを金属からなるX線ターゲットに照射してX線を発生させている。
近年この熱電子源に代わる電子源として微細な針の先端に高電界をかけて電子を取り出すスピント型や、カーボンナノチューブ等による冷陰極型電子源が開発されている。そして、これらの応用として単一の電子ビームを取り出す技術が特許文献1、特許文献2および特許文献3に記載されている。
特開平08−264139号公報 特開平09−180894公報 特開2005−237779公報
加速した電子ビームをターゲットに照射することによりX線を発生する際、X線の発生効率はきわめて低いことが知られており、ターゲットに照射された電子ビームのエネルギの大半は熱に変わる。そのため、X線発生装置では、従来からターゲットを回転させる回転陽極の構造が用いられている。
しかしながら、特許文献1に記載されているような電子ビームの照射面とX線発生面が相対する構造では、特許文献3で記載されるような発熱を抑えるための回転陽極を採用することは難しい。
医療診断機器等において診断に必要な画質を確保するためにはある程度の電流が必要であり、また画像の鮮鋭度を得るためにはターゲット上に形成されるX線焦点の寸法は小さい方が好ましい。しかし、電流を確保しつつX線焦点のサイズを小さくすると小さい面積に熱負荷が集中することによる前述の発熱の問題があり、一方大きくすると鮮鋭度が低下するという問題がある。
本発明の目的は、画像の鮮鋭度を低下させることなくX線発生における大電流化を達成するX線発生装置およびX線撮影装置を提供することにある。
上記の目的を達成するための本発明の一態様によるX線撮影装置は以下の構成を備える。即ち、
複数の電子放出素子を有し、駆動された電子放出素子に対応した電子ビームを発生する電子ビーム発生手段と、
前記電子ビーム発生手段で発生した電子ビームの照射位置をX線焦点としたX線を発生するターゲット電極と、
前記電子ビーム発生手段と前記ターゲット電極との間に設けられ、前記電子ビームの形成を行うためのレンズ電極と、
前記ターゲット電極から発生したX線を検出することにより2次元X線画像を生成する検出手段と、
前記検出手段で検出された前記2次元X線画像を方向別に周波数解析し、高周波成分の少ない方向の電子線強度の分布が高周波成分の多い方向の電子強度の分布よりも相対的に長くなるように、前記ターゲット電極に形成すべきX線焦点形状を決定する決定手段と、
前記ターゲット電極において、X線焦点の集合によって形成されるX線焦点形状が前記決定手段により決定されたX線焦点形状になるように、前記複数の電子放出素子の駆動を個別に制御するとともに、前記レンズ電極の駆動を制御する駆動制御手段と、を備える。
さらに、上記の目的を達成するための本発明の他の態様によるX線撮影装置の制御方法は、
複数の電子放出素子を有し、駆動された電子放出素子に対応した電子ビームを発生する電子ビーム発生手段と、
前記電子ビーム発生手段で発生した電子ビームの照射位置をX線焦点としたX線を発生するターゲット電極と、
前記電子ビーム発生手段と前記ターゲット電極との間に設けられ、前記電子ビームの形成を行うためのレンズ電極と、
前記ターゲット電極から発生したX線を検出することにより2次元X線画像を生成する検出手段と、を備えたX線撮影装置の制御方法であって、
前記検出手段で検出された前記2次元X線画像を方向別に周波数解析し、高周波成分の少ない方向の電子線強度の分布が高周波成分の多い方向の電子強度の分布よりも相対的に長くなるように、前記ターゲット電極に形成すべきX線焦点形状を決定する決定工程と、
前記ターゲット電極において、X線焦点の集合によって形成されるX線焦点形状が前記決定工程において決定されたX線焦点形状になるように、前記複数の電子放出素子の駆動を個別に制御するとともに、前記レンズ電極の駆動を制御する駆動制御工程と、を備える。
本発明によれば、画像の鮮鋭度を低下させることなくX線発生における大電流化を達成するX線発生装置およびX線撮影装置が提供される。
以下、添付の図面を参照して本発明の好適な実施形態について説明する。
<第1実施形態>
図1は第1実施形態に係るX線撮影装置の構成を示す図である。図1においてX線発生装置1から照射されたX線XRは被写体Pを透過し、X線検出器2に入射する。X線検出器2はX線画像用の平面検出器であり、被写体Pを透過して減弱したX線の強度分布を画像として主方向決定部3および画像処理部4に出力する。
このような撮影装置の具体例としては、例えばX線透視撮影装置が挙げられる。X線透視撮影装置では、被写体Pに対して連続したX線照射およびX線画像の取得を行い、被写体PのX線動画像を収集する。図2はその一例を示す図であり、C型アーム21に取り付けられたX線発生装置1およびX線検出器2を用いて、被写体Pである患者の透視画像を撮影するX線透視撮影装置を示している。
なお、図2において主方向決定部3および画像処理部4は破線で囲まれた筐体22の内部に収められた不図示のコンピュータおよびソフトウェアにより実現されている。
第1実施形態において主方向決定部3はX線検出器2から入力した画像を解析して主方向(詳細は後述する)を決定し、その結果に基づいてX線発生装置1においてターゲット電極上に生成されるX線焦点の形状を制御する。なお第1実施形態では画像処理部4は用いられない。画像処理部4については第3実施形態において説明する。
図3を用いてX線発生装置1の動作を説明する。制御回路101は、主方向決定部3から入力した条件に基づいて、素子基板103上に複数配置された電子放出素子104を電極105を介して個別に駆動する。電子放出素子104から放出された電子は、引き出し電極106およびレンズ電極107により電子ビームeへ形成される。以上のように、個別に駆動可能な複数の電子放出素子104を有する素子基板103と、引き出し電極106と、レンズ電極107は、駆動された電子放出素子に対応した電子ビームを発生する電子ビーム発生部を構成する。電子ビームeは、高電圧電源109と接続されたターゲット電極108上に照射されてX線焦点Fを形成する。ターゲット電極108上に形成されたX線焦点Fから、電子ビームeと反対の方向へX線XRが放出される。ターゲット電極108は、上述の電子ビーム発生部で発生した電子ビームの照射位置をX線焦点としたX線を発生する。
図4は素子基板103における電子放出素子104の駆動パターンと、それに対応してターゲット電極108上に形成されるX線焦点の形状を例示した図である。図4では、左側に示す素子基板103内の太い破線で囲まれた電子放出素子104を駆動した場合に、右側に示す形状のX線焦点がターゲット電極108上に形成されることを示している。このように、制御回路101及び電子放出素子駆動回路102は、複数の電子放出素子104を個別に駆動制御することにより、ターゲット電極における、X線焦点の集合によって形成されるX線焦点の形状(以下、X線焦点形状ともいう)を制御する。X線焦点の形状の変更は、図4に示すように電子放出素子104の電極105をオン又はオフすることで実現できる。また、これに加えて、レンズ電極107による電子ビームの集束を調整することでそのサイズを変更するようにしても良い。
なお、図4では電子放出素子が3×3に配置されているが、電子放出素子の個数、配置形態はこれに限られるものではないし、ターゲット電極108上に形成されるX線焦点の形状も図示のものに限られるものではない。例えば電子放出素子を図9に示すように放射状に配置することも可能である。このような配置を取ることにより画像の中心から放射状に伸びる方向に対して電子放出素子の間隔が等間隔となる。そのため、例えば図4の(2)や(3)のパターンにおいて、同径方向における電子線強度の分布を一致させやすくすることが出来る。
次にX線検出器2について説明する。図1に示したようにX線検出器2は被写体Pを透過したX線を検出してディジタル信号に変換し、X線画像を出力する平面検出器である。X線検出器2はマトリクス状に配置されたX線検出素子を有する。X線を電気信号へ変換する方式としては、X線を一度光信号に変換した後これを電気信号に変換する間接型、あるいは直接X線を電気信号に変換する直接型のいずれの方式も本実施形態に適用可能である。
また、X線検出器2は上記のような平面検出器に限定されるものではない。例えば、イメージインテンシファイアやCR(Computed Radiography)のように被写体を透過することにより生成されるX線画像をディジタル信号として出力するものであれば、どのようなデバイスでも利用が可能である。
次に主方向決定部3の構成及び動作について説明する。図5は主方向決定部3の構成例を示すブロック図である。主方向決定部3は図2で説明したようにコンピュータのソフトウェア、或いは専用のハードウェア若しくはそれらの組み合わせにより実現することが出来る。
X線検出器2から出力されたX線画像は周波数解析部301により複数の方向に沿った周波数解析が行われる。以下に図6を参照して周波数解析部301の動作を例示する。
周波数解析部301は、例えば図6の(1)に示すような画像(X線画像)を入力し、図6の(2)で示される(A)乃至(D)の4つの放射状の方向に沿って画像データをサンプリングし、4つのデータ列を抽出する。さらにこのデータ列の各々に対してフーリエ変換により周波数スペクトルを計算する。図6の(3)は算出された周波数スペクトルの一例を示している。周波数解析部301は、このように(A)〜(D)の各方向に対応したデータ列に対して周波数のパワーを計算し、周波数パワーデータとして主方向解析部302に出力する。
主方向解析部302は、周波数解析部301からの周波数パワーデータに基づいて、画像における被写体の主方向が前述した(A)乃至(D)のいずれに該当するかを解析する。本実施形態において主方向解析部302は、周波数解析部301より入力した周波数パワーデータをpd、d∈{A,B,C,D}とした時、次式に基づいて主方向ηを決定する。
Figure 0004886713
ただしuは空間周波数であり、
Figure 0004886713
とする。
(式1)によれば、主方向ηは周波数分解により得られた空間周波数帯域Uにおいて所定の閾値T1以下の低周波成分を除外した周波数スペクトルの占める面積が最も小さい方向である。すなわち、解析対象とする方向の中で含まれる高周波成分が最も小さいもので、図6の(3)の例示においては(B)の方向が該当する。
なお、T1は被写体の性質等によって予め適切な値を設定すればよい。但し、T1として、被写体の平均輝度レベルに相当する直流成分は除外し、さらに主として観察対象となる被写体の構造が有する周波数成分よりも小さい値を選択することが望ましい。
また、透視撮影のようにX線量が小さい条件下で撮影が行われる際は、低線量化における量子ノイズの影響を除外するため、量子ノイズの影響を回避可能な第2の閾値T2を設定し、uの範囲を、
Figure 0004886713
としてもよい。
なお、周波数解析部301における周波数分解の方法は、上述したフーリエ変換に限定される必要はなく、各方向別のデータの周波数成分を解析可能な方法であれば他の方法、例えば離散コサイン変換等であっても良い。以上のようにして主方向決定部3によって求められた主方向ηはX線発生装置1の制御回路101に出力される。
制御回路101は主方向決定部3から入力された主方向ηに基づいてX線発生装置1の電子放出素子104の駆動パターンを決定して電子放出素子駆動回路102を制御する。本実施形態では、ターゲット電極108上において電子線強度の主方向ηに平行な方向への分布が他の方向への分布よりも相対的に長くなるように電子放出素子駆動回路102及び/またはレンズ電極107を制御する。例えば、前述したように主方向ηが図6の(2)における方向(B)のように画像の垂直方向に該当する場合を想定する。この場合、制御回路101は、図4の(2)に示されるような縦長のX線焦点形状となるように電子放出素子駆動回路102による電子放出素子104の駆動パターンを制御する。
以上のような制御によれば、高周波成分の少ない方向(主方向η)に対して長くX線焦点が形成されることになる。高周波成分の少ない方向に対して鮮鋭度が低下したとしても画質上の影響は小さく、必要な鮮鋭度を維持することができるとともにX線焦点の面積を大きくすることができる。従って、鮮鋭度の維持と、大電流化の両立が可能となる。
以上は高周波成分が最も少ない方向を主方向として説明したが、逆に(式1)においてargminをargmaxとして高周波成分の最も多い方向を主方向としても良い。この場合、制御回路101は主方向に対して寸法が最も小さくなるような駆動パターンを選択して電子放出素子駆動回路102を制御する。上述した例においては、いずれの場合であっても図4の(2)に示されるような縦長のX線焦点が形成される。
また、図6の例示において各方向間で周波数成分の差異がなく(式1)において主方向ηが一意に決まらない場合、主方向解析部302はその旨を制御回路101に対して通知する。制御回路101はこのような場合に予め決められた駆動パターンを選択して電子放出素子駆動回路102を制御する。
このような駆動パターンとしては、例えば図4の(5)に示すように、水平、垂直方向に対して寸法が小さくなるようなものが選択されるようにすればよい。人間の視覚が、対角方向と比較して水平、垂直方向は鮮鋭度の低下に敏感であるためである。
図8は第1実施形態によるX線撮影処理を説明するフローチャートである。ステップS801において、主方向決定部3はX線検出器2からX線画像を取得する。ステップS802において主方向決定部3はX線画像を周波数解析して、当該画像の主方向を決定する。決定された主方向はX線発生装置1の制御回路101に通知される。ステップS803において、制御回路101は、主方向決定部3から通知された主方向への電子線強度の分布が他の方向のそれよりも大きく広がるように、電子放出素子の例えば選択的な駆動や、引き出し電極106、レンズ電極107の駆動パターンを決定する。そして、ステップS804においてこれらを実際に制御する。このようなX線発生装置1の駆動によりX線検出器2から2次元X線画像が取得され、診断のための画像として提供される(ステップS805)。
以上説明したように第1実施形態においては、取得された画像の周波数特性を解析し、高周波成分が小さい方向に対して伸びる形状となるようにX線焦点が形成される。これにより、高周波成分が大きい方向の鮮鋭度に大きな影響を与えることなく全体的な高電流化が可能となる。
なお、図8のフローチャートに示すステップS801およびS805においてX線画像が取得されるが、X線照射量はそれぞれの処理に適切な量が設定されてもよい。例えば、ステップS801におけるX線の照射量は周波数解析に必要なレベルで十分であり、被写体に対する被曝量を低減するために、ステップS801でのX線照射量をステップS805よりも小さくするようにしてもよい。
<第2実施形態>
前述した第1実施形態においては、主方向の決定はX線撮影された画像の周波数解析に基づいて行われたが、他の実施の形態として外部入力に基づいて決定するようにしても良い。以下にこの形態について説明する。
第2実施形態において主方向決定部3は、X線検出器2からのX線画像に加えて外部から撮影情報を入力する。ここで撮影情報とは、撮影の対象となる被写体に関する情報や被写体の主方向に関する情報である。例えば医療用撮影装置においては、被写体が胸部、四肢、腹部等どの部位かを示す情報、視線方向を示す情報、撮影部位が四肢の場合に被写体が画像上どちらの方向に伸びているかを示す情報等が撮影情報として挙げられる。
図2で説明したように主方向決定部3がコンピュータのソフトウェアとして実現されている場合、例えば不図示のキーボード、マウス等の入力デバイスによりオペレータが直接に撮影情報を入力するように構成できる。また、主方向決定部3が専用のハードウェアで実現されている場合は、予め撮影対象毎にセットされたボタン等を用いて撮影情報が入力されるようにしても良い。
或いは、撮影装置が医療用撮影装置である場合は、直接オペレータの操作により入力するのではなく、放射線情報システムからオンラインで撮影情報を入力するように構成することもできる。
以下に一例として図6に示すように撮影部位が膝関節の場合について本実施形態における主方向決定部3の動作について説明する。
第2実施形態において、図5に示すように、撮影情報は周波数解析部301に入力される。ここで撮影情報は撮影部位の種類および方向であり、X線画像は図6の(4)に例示したように若干傾いた状態で撮影された膝関節であるとする。また、周波数解析部301は撮影部位に対応して予め関連付けられた周波数解析の方向を不図示のメモリに保持しており、例えば撮影部位が四肢の骨格系の場合には図6の(2)の4方向((A)〜(D))を選択するものとする。
さらに、周波数解析部301は、入力された撮影情報に含まれている「方向」に基づいて、図6の(2)の4つの方向を図6の(5)に示す4つの方向に回転する。なお、撮影情報に含まれる「方向」は、例えば、オペレータによって撮影対象の方向(角度)をキーボードから入力したものである。そして、図6の(5)に示す4つの方向について、第1実施形態で述べたのと同じように4つのデータ列を生成し、周波数スペクトルを計算する。以降の主方向決定部3の動作に関しては第1実施形態と同様であるので説明を省略する。
なお制御回路101が駆動パターンを選択する際、第2実施形態では第1実施形態と異なり、被写体が若干回転した状態となっているため、主方向ηが図4に例示したパターンとは正確に一致しない可能性がある。この場合は、いずれかのパターンに最も近いものを選択するようにする。或いは、制御回路101が、ターゲット電極108上に形成される電子線強度の分布が主方向に対して長く分布するように、各電子放出素子104の駆動電流を調整するようにしてもよい。こうして、第1実施形態と同様の効果を得ること、即ち、高周波成分が大きい方向の鮮鋭度に大きな影響を与えることなく全体的な高電流化を実現することが可能となる。
また、第2実施形態においては、撮影部位および方向等の撮影情報が入力され、主方向を決定する際にはそれら撮影情報を用いて周波数解析が行われる。これにより、上述したように被写体が特有の方向に対して特徴を有することが予め分かっている場合には、その特徴に対する鮮鋭度を低下させないように撮影を行うことが可能となる。
<第3実施形態>
第1実施形態、第2実施形態においては被写体の主方向に応じてX線焦点の形状を変更し、被写体に応じて画像の鮮鋭度を確保するようにした。第3実施形態ではX線焦点が長い方向に対しても鮮鋭度を確保するX線撮影装置について説明する。
第3実施形態では図1に示した画像処理部4が主方向決定部3によって決定された主方向ηに基づいて、入力されたX線画像に対して鮮鋭化処理(周波数強調処理)を行うことを特徴とする。
図7は画像処理部4の構成を示したブロック図である。X線検出器2から入力されたX線画像Iは、高周波成分演算部402に入力される。また、主方向決定部3から入力された主方向ηはフィルタ選択部401に入力され、該主方向に応じた高周波成分抽出用フィルタが選択される。高周波成分演算部402は入力した画像Iに対して選択されたフィルタにより畳み込み演算を行って高周波成分Ihを抽出し、これを加算器403に出力する。加算器403は入力画像Iと高周波成分Ihを加算して鮮鋭化画像Ieを出力する。
以下に第1実施形態で用いた例示に基づいて各部の動作を詳細に説明する。フィルタ選択部401は入力した主方向ηが図6の(2)に示される方向のいずれであるかに基づいて4種類のフィルタから最適なフィルタGを選択し、高周波成分演算部402に出力する。なお、本実施形態において、主方向ηは高周波成分の少ない方向とする。
Figure 0004886713
高周波成分演算部402は入力画像Iに対してフィルタGにより畳み込み演算を行い高周波成分Ihを求め、これを加算器403に出力する。加算器403は入力画像Iに対して重み付けをした高周波成分Ihを加算する。したがって、以上の処理は次式(式3)、(式4)により表される。
Figure 0004886713
ただし*は畳み込み演算を表す。また、wは重み付け係数を表し、画像処理部4が読み込み可能な不図示のメモリに記憶されているものとする。なお、wの値は予め実験等により1つに決めておいても良いし、第2実施形態において説明したように撮影部位等に応じて最適な値を決めておき、入力した撮影情報から選択するようにしても良い。
以上のように、X線焦点形状を高周波成分の小さい方向(上述の例においては図6の(2)における(B)に相当する)に対して伸びるようにしたことによりこの方向の鮮鋭度が低下しても、画像処理により当該方向の高周波成分が選択的に強調される。すなわち、第3実施形態では、主方向の高周波成分を他の方向に対して相対的に強調するように2次元X線画像に対して周波数強調処理を行うので、鮮鋭度が非等方的になることが補正される。
<第4実施形態>
第3実施形態で説明した画像処理部4による画像処理は上述の方法に限定されず、様々な形態を取ることが可能である。例えば、第2実施形態において例示したように被写体が傾いており、その方向が任意の角度であっても本発明を適用することが可能である。以下に、任意の角度の主方向に対応可能な画像処理部4の例を説明する。
第4実施形態においては、フィルタ選択部401および高周波成分演算部402は下記の非特許文献に記載された方法により実現する。当該方法はフィルタを任意の角度で回転させることが可能であり、その詳細説明は当該文献に記載されているため省略する。以下に図7のフィルタ選択部401および高周波成分演算部402を合わせた処理ブロック404の機能として動作を説明する。
[非特許文献] W. T. Freeman and E. H. Adelson, “The design and use of steerable filters”, IEEE Trans.Pattern Analysis and Machine Intelligence, Vol.13No.9, pp891-906, 1991
処理ブロック404は主方向ηに基づき下記のようにして高周波成分Ihを計算する。ただし、第4実施形態において主方向ηは任意の角度([度])を表すものとする。なお、本実施形態において、主方向ηは高周波成分の少ない方向とする。
Figure 0004886713
(式5)により得られた高周波成分Ihは主方向ηの成分が強調されたものであり、これを(式3)により処理することで当該方向の鮮鋭度を上げることができる。
ただしG0 1およびG90 1はガウス分布の水平および垂直方向の一次導関数に相当するフィルタであり、本実施形態では次式により計算する。
Figure 0004886713
ここでG0 1 TはG0 1の転置である。実際のフィルタの係数は(式6)におけるxを次式により決定することで計算することが出来る。
Figure 0004886713
ここでNは基本となるフィルタのサイズ、Zは整数の集合であり、例えばNを5、標準偏差σを1とした時は、フィルタの係数は次のようになる。
Figure 0004886713
なおフィルタのサイズ、標準偏差σはX線焦点Fの大きさ、X線検出器2のMTF、さらにX線焦点Fと被写体P、X線検出器2の位置関係等によって予め適切な値が選択できるようにしておくことが好ましい。なお、MTFとは、modulation transfer functionであり、鮮鋭度の指標である。
すなわちフィルタ選択部401は予め不図示のメモリに複数のサイズ・標準偏差から計算されたフィルタを記憶しておく。そして、X線焦点Fが大きい、又は図2に示すX線焦点Fと被写体P間の距離aとX線検出器2と被写体P間の距離bの比b/aが大きくなるにつれて、より高周波強調の効果が強くなるようにサイズ、又は標準偏差σの大きなフィルタを選択するようにすればよい。
或いは、加算器403において、wを大きくすることでより高周波強調するようにしてもよい。また、前述したX線検出器2のMTF、距離の比b/a等は、例えばX線撮影装置内のメモリに予め記憶されていてもよいし、撮影中に被写体Pを載せたテーブルやC型アーム21の上下動をセンサで感知することにより取得してもよい。そして、図7に示すように装置情報として画像処理部4に入力される。
以上説明したように、第4実施形態によれば任意の方向に対する高周波成分の強調を行うことが出来る。したがって、X線焦点の形状を非等方的としたことで鮮鋭度が低下した方向が任意の角度の場合でも、それを補正することが可能となる。
以上のように、上記各実施形態に拠れば、電子ビームを放出する複数の電子放出素子104を個別に駆動可能な電子放出素子駆動回路102と、制御回路101により、ターゲット電極108上に任意形状のX線焦点を形成可能とした。これにより、X線発生装置を用いた撮影において特定の方向に対して鮮鋭度を持った画像を生成することができる。従って、高周波成分が最小となる方向を主方向として、この主方向に沿った方向に延びるX線焦点形状を形成することができる。このように鮮鋭度の影響を受けにくい方向にX線焦点を延ばすことで、鮮鋭度の低下の防止と、X線焦点の大面積化を図ることができる。即ち、鮮鋭度を保ちながら、画質を維持するのに十分な電子(電流)をターゲット電極に供給できる。
また、上記各実施形態に係るX線撮影装置に拠れば、X線検出器2で得られた2次元X線画像から、主方向決定部3によって決定された主方向に応じてX線焦点の形状が制御される。これにより、撮影対象物に応じて鮮鋭度を保ちつつ、大電流化を達成することで撮影画像の画質を向上させることができる。
また、上記第3、第4実施形態のX線撮影装置に拠れば、任意形状のX線焦点形状によってある方向の解像度が低下したとしても、画像処理部4がその方向に対して鮮鋭化処理を行うことで、診断への影響を抑制することが出来る。
[他の実施形態]
尚、本発明は、ソフトウェアのプログラムをシステム或いは装置に直接或いは遠隔から供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータが該供給されたプログラムコードを読み出して実行することによって前述した実施形態の機能が達成される場合を含む。この場合、供給されるプログラムは実施形態で図に示したフローチャートに対応したコンピュータプログラムである。
従って、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、該コンピュータにインストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明は、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も含まれる。
その場合、プログラムの機能を有していれば、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、OSに供給するスクリプトデータ等の形態であっても良い。
コンピュータプログラムを供給するためのコンピュータ読み取り可能な記憶媒体としては以下が挙げられる。例えば、フロッピー(登録商標)ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、MO、CD−ROM、CD−R、CD−RW、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROM、DVD(DVD−ROM,DVD−R)などである。
その他、プログラムの供給方法としては、クライアントコンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページに接続し、該ホームページから本発明のコンピュータプログラムをハードディスク等の記録媒体にダウンロードすることが挙げられる。この場合、ダウンロードされるプログラムは、圧縮され自動インストール機能を含むファイルであってもよい。また、本発明のプログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードすることによっても実現可能である。つまり、本発明の機能処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるWWWサーバも、本発明に含まれるものである。
また、本発明のプログラムを暗号化してCD−ROM等の記憶媒体に格納してユーザに配布するという形態をとることもできる。この場合、所定の条件をクリアしたユーザに、インターネットを介してホームページから暗号を解く鍵情報をダウンロードさせ、その鍵情報を使用して暗号化されたプログラムを実行し、プログラムをコンピュータにインストールさせるようにもできる。
また、コンピュータが、読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施形態の機能が実現される他、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているOSなどとの協働で実施形態の機能が実現されてもよい。この場合、OSなどが、実際の処理の一部または全部を行ない、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される。
さらに、記録媒体から読み出されたプログラムが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれて前述の実施形態の機能の一部或いは全てが実現されてもよい。この場合、機能拡張ボードや機能拡張ユニットにプログラムが書き込まれた後、そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部または全部を行なう。
実施形態によるX線撮影装置の基本的な構成例を示すブロック図である。 実施形態によるX線撮影装置の具体例を示す図である。 図1に示したX線撮影装置におけるX線発生装置の基本的な構成例を示すブロック図である。 電子放出素子の駆動パターンとX線焦点の形状を説明する図である。 図1に示したX線撮影装置における、主方向決定部の構成例を示すブロック図である。 主方向決定部における周波数解析の処理を説明する図である。 図1に示したX線撮影装置における画像処理部の構成例を示すブロック図である。 第1実施形態によるX線撮影処理を説明するフローチャートである。 素子基板上における電子放出素子の配列の変形例を示す図である。

Claims (9)

  1. 複数の電子放出素子を有し、駆動された電子放出素子に対応した電子ビームを発生する電子ビーム発生手段と、
    前記電子ビーム発生手段で発生した電子ビームの照射位置をX線焦点としたX線を発生するターゲット電極と、
    前記電子ビーム発生手段と前記ターゲット電極との間に設けられ、前記電子ビームの形成を行うためのレンズ電極と、
    前記ターゲット電極から発生したX線を検出することにより2次元X線画像を生成する検出手段と、
    前記検出手段で検出された前記2次元X線画像を方向別に周波数解析し、高周波成分の少ない方向の電子線強度の分布が高周波成分の多い方向の電子強度の分布よりも相対的に長くなるように、前記ターゲット電極に形成すべきX線焦点形状を決定する決定手段と、
    前記ターゲット電極において、X線焦点の集合によって形成されるX線焦点形状が前記決定手段により決定されたX線焦点形状になるように、前記複数の電子放出素子の駆動を個別に制御するとともに、前記レンズ電極の駆動を制御する駆動制御手段と、を備えることを特徴とするX線撮影装置。
  2. 前記決定手段は、
    前記2次元X線画像に対して複数の方向において周波数解析を行い、高周波成分が最小となる方向を主方向として決定する主方向決定手段を有し、
    前記主方向に基づいて前記ターゲット電極に形成すべき前記X線焦点形状を決定することを特徴とする請求項1に記載のX線撮影装置。
  3. 撮影対象の部位を示す情報を含む撮影情報を入力する入力手段を更に備え、
    前記主方向決定手段は、前記周波数解析を行なうべき複数の方向を、前記撮影情報が示す前記撮影対象の部位に基づいて選択することを特徴とする請求項2に記載のX線撮影装置。
  4. 前記撮影情報はさらに前記2次元X線画像における対象の方向を示す情報を含み、
    前記主方向決定手段は、前記撮影対象に基づいて選択された、周波数解析すべき複数の方向を、前記対象の方向を示す情報に基づいて回転させることを特徴とする請求項3に記載のX線撮影装置。
  5. 前記駆動制御手段は、前記ターゲット電極上の電子線強度の前記主方向に平行な方向への分布が他の方向への分布よりも相対的に長く広がるように、前記複数の電子放出素子の駆動及び前記レンズ電極の駆動を制御することを特徴とする請求項請求項2乃至4のいずれか1項に記載のX線撮影装置。
  6. 前記検出手段で検出された2次元X線画像に対して周波数強調処理を行う画像処理手段を更に備え、
    前記画像処理手段は、前記主方向の高周波成分を他の方向に対して相対的に強調することを特徴とする請求項2乃至請求項5のいずれか1項に記載のX線撮影装置。
  7. 複数の電子放出素子を有し、駆動された電子放出素子に対応した電子ビームを発生する電子ビーム発生手段と、
    前記電子ビーム発生手段で発生した電子ビームの照射位置をX線焦点としたX線を発生するターゲット電極と、
    前記電子ビーム発生手段と前記ターゲット電極との間に設けられ、前記電子ビームの形成を行うためのレンズ電極と、
    前記ターゲット電極から発生したX線を検出することにより2次元X線画像を生成する検出手段と、を備えたX線撮影装置の制御方法であって、
    前記検出手段で検出された前記2次元X線画像を方向別に周波数解析し、高周波成分の少ない方向の電子線強度の分布が高周波成分の多い方向の電子強度の分布よりも相対的に長くなるように、前記ターゲット電極に形成すべきX線焦点形状を決定する決定工程と、
    前記ターゲット電極において、X線焦点の集合によって形成されるX線焦点形状が前記決定工程において決定されたX線焦点形状になるように、前記複数の電子放出素子の駆動を個別に制御するとともに、前記レンズ電極の駆動を制御する駆動制御工程と、を備えることを特徴とするX線撮影装置の制御方法。
  8. 請求項7に記載のX線撮影装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
  9. 請求項8に記載のプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4886713B2 (ja) 2008-02-13 2012-02-29 キヤノン株式会社 X線撮影装置及びその制御方法
JP2012066062A (ja) * 2010-08-24 2012-04-05 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
CN103081024B (zh) * 2010-09-06 2016-07-13 皇家飞利浦电子股份有限公司 利用像素化探测器的x射线成像
JP5871529B2 (ja) 2011-08-31 2016-03-01 キヤノン株式会社 透過型x線発生装置及びそれを用いたx線撮影装置
JP5901180B2 (ja) 2011-08-31 2016-04-06 キヤノン株式会社 透過型x線発生装置及びそれを用いたx線撮影装置
WO2013136299A1 (en) * 2012-03-16 2013-09-19 Nanox Imaging Limited Devices having an electron emitting structure
WO2013184213A2 (en) * 2012-05-14 2013-12-12 The General Hospital Corporation A distributed, field emission-based x-ray source for phase contrast imaging
DE102012110864B4 (de) * 2012-11-12 2014-08-21 Gsi Helmholtzzentrum Für Schwerionenforschung Gmbh Bewegungsrobuste Bestrahlungsplanung mittels Teilbestrahlungsplänen
DE102012224258A1 (de) * 2012-12-21 2014-06-26 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping sowie angiographisches Untersuchungsverfahren
JP6188470B2 (ja) * 2013-07-24 2017-08-30 キヤノン株式会社 放射線発生装置及びそれを用いた放射線撮影システム
CN104470179B (zh) * 2013-09-23 2017-10-24 清华大学 一种产生均整x射线辐射场的装置以及方法
CN105374654B (zh) * 2014-08-25 2018-11-06 同方威视技术股份有限公司 电子源、x射线源、使用了该x射线源的设备
JP6441015B2 (ja) * 2014-10-06 2018-12-19 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線診断装置及びx線管制御方法
GB2531326B (en) * 2014-10-16 2020-08-05 Adaptix Ltd An X-Ray emitter panel and a method of designing such an X-Ray emitter panel
US11282668B2 (en) * 2016-03-31 2022-03-22 Nano-X Imaging Ltd. X-ray tube and a controller thereof
US10991539B2 (en) * 2016-03-31 2021-04-27 Nano-X Imaging Ltd. X-ray tube and a conditioning method thereof
CN110664420B (zh) * 2019-10-11 2023-04-07 上海联影医疗科技股份有限公司 焦点校正方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质
DE102020206938B4 (de) * 2020-06-03 2022-03-31 Siemens Healthcare Gmbh Beeinflussung eines Brennflecks

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1464249A (en) * 1973-11-20 1977-02-09 Roeck W W Apparatus for use in the determination of focal spot size in x-ray tubes
DE3022968A1 (de) * 1980-06-19 1981-12-24 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Messgeraet fuer den optischen brennfleck
JPS6429764U (ja) 1987-08-17 1989-02-22
JPH0613195A (ja) * 1992-06-29 1994-01-21 Shimadzu Corp X線透視撮影装置
US5566220A (en) * 1992-12-04 1996-10-15 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray computerized tomography apparatus
JPH08264139A (ja) 1995-03-22 1996-10-11 Hamamatsu Photonics Kk X線発生装置
JP3439590B2 (ja) 1995-12-22 2003-08-25 株式会社荏原製作所 X線源
US20040240616A1 (en) * 2003-05-30 2004-12-02 Applied Nanotechnologies, Inc. Devices and methods for producing multiple X-ray beams from multiple locations
US6980627B2 (en) * 2000-10-06 2005-12-27 Xintek, Inc. Devices and methods for producing multiple x-ray beams from multiple locations
US6480572B2 (en) * 2001-03-09 2002-11-12 Koninklijke Philips Electronics N.V. Dual filament, electrostatically controlled focal spot for x-ray tubes
US20030002628A1 (en) 2001-06-27 2003-01-02 Wilson Colin R. Method and system for generating an electron beam in x-ray generating devices
JP2005237779A (ja) 2004-02-27 2005-09-08 Shimadzu Corp X線ct装置
US8306184B2 (en) * 2005-05-31 2012-11-06 The University Of North Carolina At Chapel Hill X-ray pixel beam array systems and methods for electronically shaping radiation fields and modulation radiation field intensity patterns for radiotherapy
JP2007066694A (ja) * 2005-08-31 2007-03-15 Hamamatsu Photonics Kk X線管
JP4878311B2 (ja) * 2006-03-03 2012-02-15 キヤノン株式会社 マルチx線発生装置
US7809114B2 (en) * 2008-01-21 2010-10-05 General Electric Company Field emitter based electron source for multiple spot X-ray
JP4886713B2 (ja) 2008-02-13 2012-02-29 キヤノン株式会社 X線撮影装置及びその制御方法

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