JP2014055853A - 形状測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】プローブを走査して形状測定を行う形状測定装置において、振動のノイズを低減した形状測定装置を実現する。
【解決手段】第1(Y軸方向)の移動体19と、第1の移動体に略平行に移動する移動補助体24と、前記第1の移動体と略直角方向に移動する、第2(X軸方向)の移動体3を備え、第2の移動体を移動させるのに発生する力を、前記移動補助体で受け、XY軸方向に駆動するので、第2の移動体上に備えられた測定用プローブ1をXY軸方向に走査する際、第1の移動体が第1の移動体の移動方向の略直角方向の反作用を受けることなく、第1の移動体の振動を抑えることができる。
【選択図】図3A

Description

本発明は、プローブ等を用いて形状を測定する形状測定装置において、XY軸方向に表面を特定するプローブまたは測定物をXY軸方向にステージで移動させ、プローブにより測定物の形状を測定する形状測定装置に関するものである。
近年のオプトエレクトロニクス技術の進歩により、ディジタルカメラ等のカメラと、スマートフォン等のカメラを使用するモバイル機器とにおいて、画質向上への要請が高まっている。特に、カメラに使用されるレンズの表面形状として、設計形状に対して誤差が0.1μm(100nm)以下に仕上がった、高精度レンズへの要望が高まりつつある。その中で、高精度な測定を行う形状測定装置においても、測定時のノイズ低減による、高精度化への要望はますます高まりつつある。とりわけ、プローブを走査して形状測定する形状測定装置において、走査測定時の振動ノイズの低減が求められており、走査時の振動低減での効果は、XYステージの性能の占める割合が高い。
従来の形状測定装置等に使用されるステージ構造には、リニアモータの端部のリニアモータの駆動力を受ける部分を、ステージの可動部と固定部とは異なる別の支持部材により支持し、ステージを駆動する際の力の反作用をステージ全体で受けさせず、形状測定装置に発生する振動を低減しているものがある(例えば特許文献1参照。)。
図8A及び図8Bは、特許文献1に記載された従来のステージ構造を示すものである。
図8A及び図8Bにおいて、101は定盤、102は可動ステージ、103Xは第1のX軸方向のリニアモータ、103Yは第1のY軸方向のリニアモータ、104Xは第2のX軸方向のリニアモータ、104Yは第2のY軸方向のリニアモータ、105Xは第2のX軸方向のリニアモータ104Xを支持する支持板、105Yは第2のY軸方向のリニアモータ104Yを支持する支持板である。支持板105X,105Yは、定盤101とは異なる床109に設置されている。また、定盤101は、除振装置110により除振されるように構成されている。また、第2のX軸方向とY軸方向とのリニアモータ104X,104Yを支持する支持板105X、105Yは、床109からアームを延ばして支持されるように構成されている。
可動ステージ102は、Y方向に移動しかつX方向の移動方向をコントロールするX軸ヨーク106Xと、X方向に移動しY方向の移動方向をコントロールするY軸ヨーク106Yとの交点位置で、エアー軸受け等を用いてXY方向に移動可能で位置が決まるように支持されている。この構成により、X軸ヨーク106Xが第2のY軸方向のリニアモータ104Yの推力により、Y方向に動くことにより、可動ステージ102のY方向の粗い位置決めを行う。同様の手順で、Y軸ヨーク106Yが第2のX軸方向のリニアモータ104Xの推力により、X方向に動くことにより、可動ステージ102のX方向の粗い位置決めを行っている。
ここで、X軸ヨーク106XのY軸方向に移動するガイドでは、Y軸エアー軸受け107Yにより移動方向を規定し、Y軸ヨーク106YのX軸方向に移動するガイドでは、X軸エアー軸受け107Xにより移動方向を規定している。
さらに、X軸ヨーク106X及びY軸ヨーク106Yに設置された、X方向に駆動するコイル108X及びY方向に駆動するコイル108Yにより、それぞれX及びY方向に可動ステージ102に対し推力を発生させ、微細な位置決めを行う構成となっている。
図8A及び図8Bにおいて、可動ステージ102をY軸方向に駆動する従来例を以下に説明する、大きい推力での、高速で粗い位置決めを第2のY軸方向リアモータ104Yを用い行う。この際、第2のY軸方向のリニアモータ104Yの支持板105Yは床109からアームを延ばして支持されている。このため、第2のY軸方向のリニアモータ104Yの駆動時に、X軸ヨーク106Xにより可動ステージ102を駆動するのに発生する力に対して、第2のY軸方向のリニアモータ104Yの固定側に反作用の力が発生する。この反作用の力は、ステージユニットを構成する定盤101に伝わることがない。このため、第2のY軸方向のリニアモータ104Yによる大きい推力での、高速で粗い位置決めでは、定盤101は振動等を発生しない。
特開平5−77126号公報
しかし、微細な位置決めを行うには、床109に支持板105Yを設置し、第2のY軸方向リニアモータ104Yの固定側を支持しているので、床109からの振動等が、第2のY軸方向リニアモータ104Yの駆動力を通じて、X軸ヨーク106Xに床109の振動を伝えることになり、高精度な位置決めが行えない。
そこで、微細な位置制御を行う際には、第2のY軸方向のリニアモータ104Yでの粗い位置決めの終了後、第2のY軸方向リニアモータ104Yの駆動力をオフする。その後、防振装置110上に配置されかつY軸ヨーク106Y上に設置された第1のY軸方向のリニアモータ103Yにより、ステージ102に設置された磁石部分に推力を発生し、床振動を避けて高精度な位置決めを行う。
しかし、この構成では、ステージ102を駆動するのに発生する力に対して、力の発生元となるY軸ヨーク106Yに反作用の力が発生する。
ここで、Y軸ヨーク106YのY軸方向の位置は、移動方向の規制精度は良いが、剛性の低いX軸エアー軸受け107Xにより移動方向を規制している。
さらに、可動ステージ102を駆動する力により発生する加速度は、可動部分の重量に反比例する。このことから、可動ステージ102の重量が、Y軸ヨーク106Yの重量より大きい場合で、かつ、駆動する力が一定の場合、可動ステージ102を駆動する力により発生する加速度よりも、可動ステージ102より重量の軽いY軸ヨーク106Yに発生する反作用による加速度の方が大きくなる。さらに、Y軸ヨーク106YのY軸方向の規制は、剛性の低いX軸エアー軸受け107Xにより支持されている。これらの理由により、Y軸ヨーク106Yに振幅の大きな振動が発生することになる。
このY軸ヨーク106Yに引き起こされた振動により、形状測定装置の異なる部分に、有害な振動ノイズが共振等により伝播し、測定に有害なノイズを発生させる原因となり、高精度な測定が行えないといった問題があった。
すなわち、前記従来の構成では、微細な位置決め駆動を第1のリニアモータ103X又は103Yにより行うので、可動ステージ102からの反作用の力を、可動ステージ102より重量の軽いY軸ヨーク106Yで受けることになる。また、このY軸ヨーク106Yの位置を高精度に規制するために、剛性の低いX軸エアー軸受け107Xで支持している。このため、Y軸ヨーク106Yに発生する大きな加速度を、X軸エアー軸受け107Xで受け止めきれず、大きな振幅の振動を発生することとなり、この振動により、装置の異なる部分に共振が起き、測定にノイズを生じ高精度な測定が行えないという課題を有する。
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、プローブ等を用い形状を測定する形状測定装置において、XY軸方向にプローブあるいは測定物を駆動して測定する際の、測定時の振動を低減し、高精度な測定を行うことを目的とした形状測定装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の1つの態様によれば、定盤と、
前記定盤のXY軸方向のうちのいずれか1つの第1軸方向沿いに延在しかつ前記定盤と連結された第1固定部と、前記第1固定部に対して前記第1軸方向沿いに前後移動する第1可動部とを有して、前記定盤上に配置された第1の移動体と、
前記第1軸方向沿いに延在しかつ前記定盤と連結された補助体固定部と、前記補助体固定部に対して前記第1可動部の移動方向に略平行に前後移動する補助体可動部とを有する移動補助体と、
前記定盤の前記XY軸方向のうちの前記第1軸方向とは直交する第2軸方向沿いに延在しかつ一端部が前記第1の移動体に移動可能に支持されかつ他端部が前記移動補助体の前記補助体可動部に固定された第2固定部と、前記第2固定部に対して前記第2軸方向に左右移動する第2可動部とを有する第2の移動体とを備え、
前記第1の移動体は、前記第1固定部と前記第1可動部とを有する第1軸方向駆動装置を有するとともに、前記第2の移動体は、前記第2固定部と前記第2可動部とを有する第2軸方向駆動装置を有して、前記第1軸方向駆動装置を駆動して前記第1固定部に対して前記XYステージを前記第1可動部とともに前記第1軸方向に移動させるXYステージを構成し、
前記第2軸方向駆動装置を駆動して前記第2固定部に対して前記XYステージを前記第2可動部とともに前記第2軸方向に移動させるとき、前記第2可動部の移動時に発生する力の反作用を前記移動補助体で受け、
測定物の表面を測定するプローブと、前記測定物とのいずれか一方を前記XYステージで支持し、いずれか他方を前記定盤に支持し、
前記XYステージを駆動して前記測定物の前記表面に対して相対的に前記プローブをXY軸方向に走査し、前記プローブで取得した情報から前記測定物の形状を測定する形状測定装置を提供する。
本発明の別の態様によれば、前記移動補助体の前記補助体可動部を、前記第1の移動体の前記第1可動部の移動に応じて、同期させて移動させる連結機構をさらに備える、前記態様に記載の形状測定装置を提供する。
本発明のさらに別の態様によれば、前記第1の移動体に対する、前記第2の移動体の前記第2可動部の位置を検出する位置検出装置と、
前記位置検出装置で検出された前記第2可動部の位置に基づいて前記第2軸方向駆動装置を駆動制御する位置制御部とをさらに備える、前記いずれかの態様に記載の形状測定装置を提供する。
本構成によって、第2の移動体に支持された測定物測定用プローブをXY軸方向に走査することにより、第2の移動体の第2可動部を第2可動部の移動する方向に駆動する際の、第1の移動体が第1の移動体の第1可動部の移動方向の略直角方向に作用する力の反作用を受けることなく、第1の移動体の振動を抑えることができるので、装置全体に余分な振動ノイズを発生させることもなく、高精度な形状測定装置を提供することができる。
以上のように、本発明の形状測定装置によれば、測定時の振動を低減させることができ、高精度な測定を行うことができる。
本発明の第1実施形態における形状測定装置の全体構成図 本発明の第1実施形態における形状測定装置のプローブ構成図 本発明の第1実施形態における形状測定装置の詳細な平面図 本発明の第1実施形態における形状測定装置の詳細な側面図 本発明の第1実施形態における連結機構の詳細を示す図 図4Aとは90度異なる角度から見た、本発明の第1実施形態における連結機構の詳細を示す図 本発明の第1実施形態におけるX、Y軸とZ軸ノイズの関係を示す図 本発明の第1実施形態におけるX、Y軸とZ軸ノイズの関係を示す図 従来の構成での測定データに生ずるノイズを示す図 本発明の第1実施形態により測定された測定データ例を示す図 特許文献1に記載された従来の形状測定装置のステージ構成を示す平面図 特許文献1に記載された従来の形状測定装置のステージ構成を示す側面図
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
(第1実施形態)
本発明の第1実施形態を実施する好適な装置構成を図1に示す。
図1は、本発明の第1実施形態の形状測定方法を実施するための一実施形態としての形状測定装置の概略構成を示す斜視図である。図1において、形状測定装置90は、以下のように構成されている。測定物9を保持部18Cで保持する下部定盤18上に、第2軸方向及び第1軸方向の一例としてのXY軸方向に移動可能に、XYステージ3が配置されている。XYステージ3上には上部石定盤8が配置され、上部石定盤8の上に、測定物9のXYZ座標位置を測定するための周波数安定化He−Neレーザ4が配置されている。プローブ1は、Z1軸ステージ2を介して上部石定盤8に取り付けられている。XYステージ3は、下側に配置されてモータ駆動のY軸ステージ3Yと、上側に配置されてモータ駆動のX軸ステージ3Xとで構成されている。発振周波数安定化He−Neレーザ4により周波数安定化He−Neレーザ光15が出射され、出射されたレーザ光15が、上部石定盤8に配置された光学系91を介して、X,Y,Z1、Z2軸の4方向にレーザ光に分岐されたのち、下部石盤18にそれぞれ固定されかつナノメートルオーダーの高い平面度をそれぞれ持つ、X基準ミラー5と、Y基準ミラー6と、Z基準ミラー7と、後述するプローブユニット14のミラー16とにそれぞれ反射させる。このように構成することにより、X座標検出装置92Xと、Y座標検出装置92Yと、Z基準ミラー7の位置を計測するZ1座標検出装置92Z1と、プローブ1のZ方向位置を検出するZ2座標検出装置92Z2とで、ナノメートルオーダーの超高精度で、測定物9の測定面9aのXYZ座標を測定できる。X座標検出装置92XとY座標検出装置92YとZ1座標検出装置92Z1とZ2座標検出装置92Z2とには、演算処理部93が接続されて、X座標検出装置92XとY座標検出装置92YとZ1座標検出装置92Z1とZ2座標検出装置92Z2とから入力された測定データを演算処理して、測定物9の測定面9aの三次元座標データを得て、形状測定を行うことができる。ここで、27はX軸方向レーザ出射部、28はY軸方向レーザ出射部である。
これらのユニット、すなわち、後述するプローブユニット14(フォーカス検出用レーザ13などを含む)と、Z1軸ステージ2と、XYステージ3と、発振周波数安定化He−Neレーザ4と、X軸方向レーザ出射部27と、Y軸方向レーザ出射部28と、X座標検出装置92Xと、Y座標検出装置92Yと、Z1座標検出装置92Z1Z2座標検出装置92Z2と演算処理部93と、さらには、後述するリニアモータ22,23などのそれぞれの駆動装置又は部材などは、制御装置94により動作制御され、自動的に形状測定装置90での計測動作を行うように構成されている。
図2に、この形状測定装置90で使用するプローブ1の構成を示す。図2で、スタイラス12はマイクロエアースライダ10により支持されている。マイクロエアースライダ10の可動部分は、マイクロスプリング11にて支持されている。測定物9とスタイラス12の先端との間には弱い原子間力が働く。この弱い原子間力によりマイクロスプリング11にたわみが発生する。マイクロエアースライダ10のミラー16上には、XYステージ3に支持されるプローブユニット14内の光学系14Cを介してフォーカス検出用レーザ13からのフォーカス検出用レーザ光13Lが照射され、照射されたフォーカス検出用レーザ光13Lをプローブユニット14のフォーカス検出部13Fで検出することにより、マイクロスプリング11のたわみを計測し、前記弱い原子間力を計測する。この弱い原子間力が一定となるように、プローブユニット14の全体をZ軸方向に対して、リニアモータ13Gでフィードバック制御しつつ、同時に、Z軸方向の変位を計測するために、前記周波数安定化He−Neレーザ光15をミラー16に照射する。このようにすることにより、プローブ1のZ軸方向の位置(Z座標)をZ2座標検出装置92Z2で測定する。この状態で、XY軸方向に、このプローブユニット14全体を、XYステージ3により、測定物9に対して相対的に走査して、測定物9の測定面9aの形状を測定する。このように構成すれば、スタイラス12を取り付ける可動部であるマイクロエアースライダ10の可動部の重量を軽くできる。このような構成により、例えば最大75°の高傾斜面9aまで、ナノメートル精度で高精度に、測定物9の測定面9aの形状を測定することが可能である。
ここで、図1において、X軸方向レーザ出射部27とY軸方向レーザ出射部28とは上部石定盤8にそれぞれ固定されているため、X軸方向レーザ出射部27とY軸方向レーザ出射部28との距離が一定であり、X軸方向レーザ出射部27とY軸方向レーザ出射部28とプローブ1とまでのXYの距離が変化しないように構成されている。このように一定に距離を保つように構成することにより、X軸方向レーザ出射部27とY軸方向レーザ出射部28とからX及びY軸方向に出射されたレーザ光15により、プローブ中心から、X基準ミラー5とY基準ミラー6とまでの距離をそれぞれ高精度に測定することが可能である。
この形状測定装置90は、図1において、測定物9の一例であるレンズの表面(測定面)9a上でプローブ1をXY軸方向に走査することにより、レンズの表面9a上のXYZ座標データ列をX座標検出装置92XとY座標検出装置92YとZ1座標検出装置92Z1とZ2座標検出装置92Z2とで求め、演算処理部93によって、プローブ1によって測定されたXY座標位置でのZ座標データの列は演算処理され、レンズの表面9aの形状測定を行う。
図3A及び図3Bは、本発明の第1実施形態にかかる、形状測定装置90において、測定時の振動を低減しかつ高精度な測定を行うことの原理を説明するための構成を示す説明図である。
すなわち、図3A及び図3Bで、Z軸方向のプローブ1による測定物9の測定を高精度に行うために、形状測定装置90において、XYステージ3を第1の移動体19と第2の移動体30とで構成するとともに、さらに、移動補助体24を備えるように構成している。
ここで、プローブ1をプローブユニット14と共にZ軸方向に駆動するZ軸ステージ(Z1軸ステージ)2と、Z軸ステージ2を支持してプローブ1をXY軸方向に走査するXYステージ3とにより、プローブ1の駆動装置が構成されている。XYステージ3は、その重量を例えば複数の荷重支持エアー軸受け17により、下部石盤18に対して重力方向に非接触な状態で支えるように、下部石盤18上に支持されている。よって、何ら規制がなければ、XYステージ3は、下部石盤18上でXY軸方向に自由に移動できるが、下記するように特定の方向に対しては移動規制をする。
まず、XYステージ3は、下側のXY軸ステージ本体部3Xaと、上側のX軸ステージ本体部3Xbと、XY軸ステージ本体部3XaとX軸ステージ本体部3Xbとの間を連結する支柱3Xcとで構成されており、XY軸ステージ本体部3XaとX軸ステージ本体部3Xbとの間に支柱3Xcで空間3Sを形成している。
次に、XYステージ3の図1のYステージ3Yを、図3A及び図3Bでは第1の移動体19で構成している。
この第1の移動体19は、一例として、XYステージ3の下部のXY軸ステージ本体部3Xaと、移動体本体部19aと、XY軸ステージ本体部3Xaと移動体本体部19aとをY軸の移動させるY軸リニアモータ22とで構成している。移動体本体部19aは、XY軸ステージ本体部3Xaの中央部をX軸方向には移動自在に貫通する「[」字形状の部材である。Y軸リニアモータ22は、移動体本体部19aの両端部にそれぞれ配置されている。
Y軸リニアモータ22は、第1可動部22mと、第1固定部22fとで構成されている。第1可動部22mは、移動体本体部19aの両端部にそれぞれ固定されている。Y軸リニアモータ22の両端の第1固定部22fは、第1可動部22mが前後移動可能でかつ移動体本体部19aの両端部付近にY軸方向沿いに延在するように配置されている。各第1固定部22fのY軸方向の両端部は、それぞれ、下部石盤18に固定支持されている。よって、第1の移動体本体部19aは、石盤18の左右に配置された、2つのY軸リニアモータ22の同期駆動によりY軸方向に移動される。
ここで、XYステージ3のY軸方向の移動方向を規制しかつX軸方向には円滑に移動可能とするために、第1の移動体19の移動体本体部19aとXY軸ステージ本体部3Xaとの間で、XY軸ステージ本体部3Xaの中央部分でかつ移動体本体部19aのY軸方向の少なくとも両側に(一例としては4個の)エアー軸受け20を構成している。これにより、XY軸ステージ本体部3XaのY軸方向の直線移動を規制して、高精度に、XY軸ステージ本体部3XaよってXYステージ3全体がX軸方向にのみ直線移動するように構成されている。
また、第1の移動体19の移動体本体部19aのX軸方向の移動方向を規制するために、移動体本体部19aの両端部に、下向きに突出した突出端部3Ybがそれぞれ配置され、この突出端部3Ybと下部石盤18との間で、X軸方向に、エアー軸受け21を挟み込むように構成している。これにより、下部石盤18に対する移動体本体部19aのX軸方向の直線移動を規制して、高精度に、移動体本体部19aがY軸方向にのみ直線移動するように構成されている。
よって、移動体本体部19aがXY軸ステージ本体部3Xaの中央部を貫通しかつエアー軸受け20を配置しているため、移動体本体部19aとXY軸ステージ本体部3XaとはY軸方向には一体的に移動する。
一方、X軸方向には、移動体本体部19aの両端部に、下向きに突出した突出端部3Ybとしてそれぞれ配置された、下部石盤18との間で、X軸方向に、エアー軸受け21を挟み込むように構成しているため、移動体本体部19aはX軸方向には移動せず、移動体本体部19aに対して、XY軸ステージ本体部3XaのみがX軸方向に前後移動可能となっている。
なお、移動体本体部19aは、XY軸ステージ本体部3Xaに挟み込まれているため、2つのY軸リニアモータ22の同期駆動により、移動体本体部19aがY軸方向に移動されるとき、XY軸ステージ本体部3XaよってXYステージ3全体も同様にY軸方向に移動される。
なお、下部石盤18の重量は、第1の移動体19全体の重量とXYステージ3全体の重量との合計の重量より、重くなるように構成されている。このように、第1の移動体19に対して、基準となる固定体(下部石盤18)の重量を重くすることにより、各Y軸リニアモータ22の第1固定部22fで受ける反作用による加速度は、第1の移動体19より小さなものとなり、安定した計測を実現できる。
また、XYステージ3の計測ユニット部である3Xbは、XY軸ステージ本体部3Xa上に、3本の支柱(図3Bでは2本のみ図示)3Xcにて支持される第2の移動体30の一例として構成している。
この第2の移動体30は、XY軸ステージ本体部3Xaと、XY軸ステージ本体部3XaをX軸方向に移動させるX軸リニアモータ23とにより構成されている。
X軸リニアモータ23は、第2可動部23mと第2固定部23fとで構成されている。第2可動部23mは、XY軸ステージ本体部3Xaに連結されている。
第2固定部23fは、XY軸ステージ本体部3XaとX軸ステージ本体部3Xbとの間の空間3AをX軸方向に貫通するように、移動体本体部19a上に配置されている。このように配置するのは、第2可動部23mが、第2の移動体30の重心付近を移動するようにするためである。第2固定部23fの一端部、すなわち、X軸リニアモータ23のXプラス方向(図3A及び図3Bの右方向)とXマイナス方向(図3A及び図3Bの左方向)との2つの方向の支持端部のうちの片方のXマイナス側(図3A及び図3Bの左側)の端部は、第1固定部22fの外側(図3A及び図3Bでの第1固定部22fの左側)に配置された移動補助体24により支持されている。第2固定部23fの他端部、すなわち、2つの支持部のうちの残りのXプラス側(図3A及び図3Bの右側)の端部29は、第1の移動体19の移動体本体部19aの上面に対して、X軸方向に移動自在でかつYZ軸方向には移動しない、レール構造等により、支持されている。第2可動部23mは、XY軸ステージ本体部3Xaに連結されているので、XYステージ3を含む第2の移動体30全体と一体的に、第2固定部23fに対してX軸方向に左右移動する。
移動補助体24は、第1の移動体19のY軸リニアモータ22の第1固定部22fと略平行のY軸方向に延びたレール状の補助体固定部24fに対して、補助体可動部24mが移動するように構成されている。この補助体可動部24mで第2固定部23fの一端部を支持している。
ここで、移動補助体24の補助体可動部24mは、Y軸方向に移動可能でかつY軸の移動方向とは略垂直方向のX軸方向の剛性を第1の移動体19のX方向の移動を規制するエアー軸受け部21より、剛性を高くするために、補助体固定部24fに対して、補助体可動部24mは、転がり軸受け等を用いた軸受け機構により支持されている。
この移動補助体24には、連結機構25より、移動体本体部19aから、XZ軸方向には大きな力を伝播させず、Y軸方向のみに駆動される駆動力を受ける構成となっている。
この際、第1の移動体19の移動体本体部19aの移動方向と移動補助体24の移動方向とを、サブミクロン以下の精度で完全に平行に一致して移動させることは不可能である。このため、連結機構25により、Y軸方向には移動体本体部19aの移動量がサブミクロンの精度でそのまま伝わるように連結部分にステージを駆動させる際の、加速度あるいは摩擦抵抗等の範囲でバネ的な効果が出ないように剛性が高く、X軸方向及びZ軸方向には力を逃がす構成(後述参照)で、連結機構25は構成されている。
この結果、第1の移動体19の移動体本体部19aと移動補助体24とにおいて、わずかなXZ軸方向の移動ずれと大きな力とを吸収し、移動体本体部19aのエアー軸受け20の精度に影響を与える余分な力を発生させない。
また、既に説明したように、X軸リニアモータ23の第2固定部23fのXプラス方向の端部の支持部29は、移動体本体部19aに対してX軸方向に移動自在で、YZ軸方向には移動しない、レール構造等により、支持されている。よって、X軸リニアモータ23の、XYステージ3に対するX軸方向の駆動力は、移動補助体24により支持する構成となっている。
この構成により、移動体本体部19aの移動方向と移動補助体24の移動方向とが一致しない状態でY軸方向に移動した場合には、X軸方向のずれが発生する。このX軸方向のずれにより、X軸リニアモータ23の第2可動部23mの右端の支持部29に、X軸方向の変位が加わり、この変位により、力が発生する。このようにして発生する力を、連結機構25で逃がすことができ、移動体本体部19aのX軸方向に余分な力を加えることなく、移動体本体部19aのY軸方向の移動をエアー軸受け21により高精度に行うことができる。
移動補助体24の補助体固定部24fは、XYステージ3全体に比べて十分に重量の大きい下部石盤18に固定されている。XYステージ3が例えばXプラス方向(図3A及び図3Bの右方向)に移動する際に発生する、X軸リニアモータ23の第2固定部23fに加わるXYステージ3の移動方向の逆方向のXマイナス方向(図3A及び図3Bの左方向)の力(反作用の力)を、移動体本体部19aより重量が大きい下部定盤18をベースとして支持された移動補助体24で反作用を受ける構成となっている。さらに、移動補助体24は、X軸方向のリニアモータの駆動力に対し移動体本体部19aをX軸方向に支持するエアー軸受け21より剛性の高い軸受け(転がり軸受けなど)を備える、ように構成している。
このため、Y軸方向に移動可能でかつ精密なY軸方向の移動が必要な移動体本体部19aには、XYステージ3をX軸方向に駆動する駆動力の反作用を作用させることがなく、移動体本体部19aのX軸方向に、ノイズの発生源となる余分な振動を発生させることはない。
図4A及び図4Bに、連結機構25の詳細を説明する。連結機構25は、直方体形状の中間材25aに対して、2枚の第1平行板バネ25bで直方体形状の第1の移動体側連結部25dと連結され、2枚の第1平行板バネ25bとは例えば90度向きの異なる方向に設置された、2枚の第2平行板バネ25cで直方体形状の移動補助体側連結部25eと連結されて構成されている。
第1の移動体側連結部25dは第1の移動体19の移動体本体部19aに連結されている。移動補助体側連結部25eは移動補助体24に連結されている。そして、2枚の第1平行板バネ25bの平面がX軸方向と直交しかつ2枚の第2平行板バネ25cの平面がZ軸方向と直交するように、第1の移動体側連結部25dを移動体本体部19aに連結するとともに移動補助体側連結部25eを移動補助体24に連結する。
この結果、第1の移動体側連結部25dと中間材25aとの間では、2枚の第1平行板バネ25bによりX軸方向に移動自由でかつY軸方向には第1の移動体19のX軸方向の移動を規制するエアー軸受け部21より、剛性の高い状態で連結されている。また、移動補助体側連結部25eと中間材25aとの間では、2枚の第2平行板バネ25cによりZ軸方向に移動自由でかつY軸方向には第1の移動体19のX軸方向の移動を規制するエアー軸受け部21より、剛性の高い状態で連結されている。
このような連結機構25の構成により、移動体本体部19aのY軸方向の移動方向と移動補助体24の移動方向とが完全に平行でなくても、X軸リニアモータ23の第2可動部23mと第2固定部23fとのYZ軸方向の空隙が、X軸リニアモータ23の組立て調整範囲(例えば10マイクロメートル程度の許容範囲)内であれば、非接触駆動のリニアモータの空隙の調整範囲内であるので、X軸リニアモータ23にダメージを与えることもなく、かつ、移動体本体部19aにYZ軸方向に余分な力を加えることなく、移動体本体部19aは高精度に移動することができる。なお、リニアモータは、非接触駆動するために、通常、可動部と固定部との間に0.5mm近い隙間(空隙)を持っている。また、この隙間も、リニアモータを取り付ける際に、通常、リニアモータが移動するフルストロークで完璧に一定である必要はなく、多少(例えば、前記の隙間の値に対して10μm程度)変動してもよいように構成されている。この多少変動してもよい隙間寸法内であれば、機械的にも干渉することがなく、移動精度に影響を与えない。
ここで、X軸リニアモータ23を駆動制御するためには、移動体本体部19aに対するX軸方向の、XYステージ3のX軸方向の位置を検出するエンコーダ等のX軸位置検出装置26XをX軸リニアモータ23の第2可動部23mの近くに設置している。そして、このX軸位置検出装置26Xにより、XYステージ3のX軸方向の位置を、位置制御部の一例としてのサーボコントローラユニット等を用いて、X軸リニアモータ23にフィードバック制御することにより、位置と移動とをコントロールする構成となっている(図3A参照)。
このように、移動体本体部19a上に設けられたエンコーダ等のX軸位置検出装置26Xの信号を基準として、XYステージ3のX軸方向の位置をX軸リニアモータ23にフィードバックする構成となっている。
この際、フィードバックの基準となる移動体本体部19aの振動ノイズは最小限になるように抑えておく必要がある。振動ノイズを最小限になるように抑えることができない場合、言い換えれば、移動体本体部19aが、エアー軸受け21のギャップの範囲内で振動している場合、本来、XYステージ3が下部石盤18に対しX軸方向に移動していないのにもかかわらず、移動体本体部19aが下部石盤18に対して、振動ノイズ等で移動することにより、エンコーダ等のX軸位置検出装置26Xで検出する信号が振動してしまうことになる。この結果、この擬似的に振動した信号を基に、重量の大きいXYステージ3を移動させる力が発生してしまい、この力により、更に移動体本体部19aの振動をさせることになる。すると、移動体本体部19aの振動を増長させることとなる。
これに対して、本発明の第1実施形態では、XYステージ3をX軸方向に駆動する際に発生する反作用の力は、移動体本体部19aで受けることはなく、移動補助体24で受ける構成となっている。このため、移動体本体部19aと、移動体本体部19aの上に設置されたX軸方向の位置を制御するための基準となる、エンコーダ等X軸位置検出装置26Xとにも、余分な振動を与えることがなく、X軸方向に余分な振動を発生させることがない。なお、Y軸方向にもフィードバック制御は行う。この場合、Y軸のエンコーダの固定側は、下部定盤18に直接取り付けることができて、X軸の様に、第1の移動体19のようにX軸方向に剛性の弱いエアー軸受け等で支持された振動しやすい構造ではない。このため、エンコーダが振動を誤検出してサーボによる増幅する振動の問題は発生しない。
ここで、移動体本体部19aの振動の測定データへの影響について、図5A及び図5Bを参照しなから、以下に説明する。
移動体本体部19aでX軸方向に振動ノイズが発生し、この振動ノイズが共振により他の部分に振動が伝播し、図1に示すプローブ1とX軸方向レーザ出射部27との間で共振による振動が発生し、形状測定装置剛性(形状測定装置の一定形状)が保たれずに変形するような、例えば25nm程度の振動が発生したとする。このような場合、X軸方向の計測において、25nm程度の誤差が発生することとなる。
図5Bに示すように、例えば測定物9の傾斜面(測定面の一例)9aを測定する場合、一例として、傾斜角を45度とすると、X軸方向の25nmの振動ノイズは、形状の誤差をZdで表し、(測定データ)−(設計データ)の差Zdをプロットする形式で出力する場合、プローブ1が測定物9の傾斜した表面9aの位置を計測することにより、X軸方向の測定誤差は45度の傾斜面9aでは、Z軸方向に同じ振幅として発生する。この場合、X軸方向の振動により、X位置が正しく計測されていないのが問題であるが、測定結果には、Z軸方向にノイズの乗った形式としてデータが出力される。
従来の装置構成では、第1の移動体がX軸リニアモータの反作用の力により振動してしまい、この振動により、プローブあるいはX軸方向レーザ出射部に共振を与えてしまう。この結果、X軸方向の測定データにノイズが発生することになる。このノイズの発生した状態でのデータ例を図6に説明する。図6において、グラフの横軸は測定物の一例としてのレンズのX又はY軸方向(図6ではR軸と称する。)の半径位置で、縦軸はZ軸方向の(測定データ)−(設計データ)の差Zd(図6ではZd軸と称する。)をプロットしている。
図6で、実線AはX軸方向の測定データであり、点線BはY軸方向の測定データである。また、本測定データの測定物9のレンズ形状は、図5Aに示すように、XY軸方向の中央より外側に向かうにつれて、測定物9の測定面9aの傾斜角が増加するように構成されている。図6の測定データより、レンズの外周部分では、X軸方向の測定データにはY軸方向の測定データより振幅の大きいノイズ成分が乗っており、X軸方向の面の粗さデータとしては、実際の値より大きい25nmの値となる。
これに対して、本発明の第1実施形態を適用した前記構造の形状測定装置90では、移動体本体部19aが振動することもなく、図7に示すようにX軸方向の測定データも、Y軸方向と同様の数ナノ程度の粗さで計測されており、より高精度な形状評価を行うことが可能である。
かかる第1実施形態の構成によれば、XYステージ3をX軸リニアモータ23で駆動する際の、XYステージ3からの駆動力の反作用を、XYステージ3よりも重量が大きい下部定盤18から、X軸方向の力に対し剛性の高い軸受け(転がり軸受けなど)を備える、移動補助体24で受けるようにしている。
この結果、Y軸方向に移動可能でかつ精密なY軸方向の移動が必要なXYステージ3より重量の軽い移動体本体部19aに、反作用が加わることが無い。
また、精密な軸方向の移動規制のために、エアー軸受け20等で、非接触で移動方向を高精度に規制する、X軸方向に剛性の低い移動体本体部19aが振動することがなく、また、X軸リニアモータ23のX軸方向の位置と移動とを制御するための情報を検出するエンコーダ等の位置検出装置26Xに、余計な振動を加えないので、移動体本体部19aの振動を増長することもないので、これら振動の共振による伝播による、プローブユニット14への有害な振動も発生させることがないので、高精度な測定を行うことが可能となる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その他種々の態様で実施できる。
例えば、本第1実施形態では、XYステージ3に測定用プローブユニット14を固定し、測定物9を下部石盤18上に保持部18Cを介して設置する構成としている。しかしながら、本発明は、これに限られるものではなく、XYステージ3の上に保持部18Cを介して測定物9を設置し、測定用プローブユニット14を下部石盤18上に固定する構成としてもよい。
また、本第1実施形態では、移動補助体24の駆動を、連結機構25により駆動する構成としたが、移動補助体24の駆動を、移動体本体部19aとは異なるモータ等を有する駆動装置で、移動体本体部19aと同期して駆動する構成としてもよい。
なお、上記様々な実施形態又は変型例のうちの任意の実施形態又は変型例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。
本発明の形状測定装置は、XY軸方向に移動あるいは位置決めする際の移動体の振動を低減することが可能であり、表面を検出する機器にプローブ以外のカメラ等の画像処理装置を走査して、速度を制御しデータを取り込む測定装置等にも適用が可能で。ナノレベルの高精度な計測、評価の必要な、レンズ等の光学部品、液晶パネル、半導体、医療機器部品、マイクロマシン等の高精度デバイスの測定評価の用途にも適用できる。
1 プローブ
2 Z1軸ステージ
3 XYステージ(第2の移動体)
3A 空間
3X X軸ステージ
3Y Y軸ステージ
4 周波数安定化He−Neレーザ
5 X基準ミラー
6 Y基準ミラー
7 Z基準ミラー
8 上部石定盤
9 測定物
9a 測定面
10 マイクロエアースライダ
11 マイクロスプリング
12 スタイラス
13 フォーカス検出用レーザ
13L フォーカス検出用レーザ光
14 プローブユニット
15 周波数安定化He−Neレーザ光
16 ミラー
17 荷重支持エアー軸受け
18 下部石盤
18C 保持部
19 第1の移動体
19a 移動体本体部
20 エアー軸受け
21 エアー軸受け
22 Y軸リニアモータ
22f 第1固定部
22m 第1可動部
23 X軸リニアモータ
23f 第2固定部
23m 第2可動部
24 移動補助体
24f 補助体固定部
24m 補助体可動部
25 連結機構
25a 中間材
25b 第1平行板バネ
25c 第2平行板バネ
25d 第1の移動体側連結部
25e 移動補助体側連結部
26X X軸位置検出装置
27 X軸方向レーザ出射部
28 Y軸方向レーザ出射部
29 支持部
30 第2の移動体
90 形状測定装置
91 光学系
92X X座標検出装置
92Y Y座標検出装置
92Z1 Z1座標検出装置
92Z2 Z2座標検出装置
93 演算処理部
94 制御装置

Claims (3)

  1. 定盤と、
    前記定盤のXY軸方向のうちのいずれか1つの第1軸方向沿いに延在しかつ前記定盤と連結された第1固定部と、前記第1固定部に対して前記第1軸方向沿いに前後移動する第1可動部とを有して、前記定盤上に配置された第1の移動体と、
    前記第1軸方向沿いに延在しかつ前記定盤と連結された補助体固定部と、前記補助体固定部に対して前記第1可動部の移動方向に略平行に前後移動する補助体可動部とを有する移動補助体と、
    前記定盤の前記XY軸方向のうちの前記第1軸方向とは直交する第2軸方向沿いに延在しかつ一端部が前記第1の移動体に移動可能に支持されかつ他端部が前記移動補助体の前記補助体可動部に固定された第2固定部と、前記第2固定部に対して前記第2軸方向に左右移動する第2可動部とを有する第2の移動体とを備え、
    前記第1の移動体は、前記第1固定部と前記第1可動部とを有する第1軸方向駆動装置を有するとともに、前記第2の移動体は、前記第2固定部と前記第2可動部とを有する第2軸方向駆動装置を有して、前記第1軸方向駆動装置を駆動して前記第1固定部に対して前記XYステージを前記第1可動部とともに前記第1軸方向に移動させるXYステージを構成し、
    前記第2軸方向駆動装置を駆動して前記第2固定部に対して前記XYステージを前記第2可動部とともに前記第2軸方向に移動させるとき、前記第2可動部の移動時に発生する力の反作用を前記移動補助体で受け、
    測定物の表面を測定するプローブと、前記測定物とのいずれか一方を前記XYステージで支持し、いずれか他方を前記定盤に支持し、
    前記XYステージを駆動して前記測定物の前記表面に対して相対的に前記プローブをXY軸方向に走査し、前記プローブで取得した情報から前記測定物の形状を測定する形状測定装置。
  2. 前記移動補助体の前記補助体可動部を、前記第1の移動体の前記第1可動部の移動に応じて、同期させて移動させる連結機構をさらに備える、請求項1に記載の形状測定装置。
  3. 前記第1の移動体に対する、前記第2の移動体の前記第2可動部の位置を検出する位置検出装置と、
    前記位置検出装置で検出された前記第2可動部の位置に基づいて前記第2軸方向駆動装置を駆動制御する位置制御部とをさらに備える、請求項1又は2に記載の形状測定装置。
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