JP2014025761A - プローブカード、及び検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明にかかるプローブカードは、デバイス50の複数の電極51に接触される複数のプローブ31と、複数のプローブ31が設けられたプローブ基板30と、プローブ基板30のプローブ31が設けられた面と反対側の面に対向して配置された配線基板10と、プローブ基板30の配線と配線基板10の配線とを電気的に接続する接続ピン21と、プローブ基板30と配線基板10との間に接続ピン21を保持するホルダ22と、を有する接続体20と、配線基板10のプローブ基板30側の面に実装され、ホルダ22に設けられた貫通穴又は凹部によって形成された実装空間23に配置された第1の電子部品と、を備える。
【選択図】図3
Description
11 配線
12 パッド
13 テスタランド
14 スティフナ
15 パッド
20 接続体
21 接続ピン
22 ホルダ
22a 貫通穴
22b 貫通穴
23 実装空間
30 プローブ基板
31 プローブ
32 配線
33 パッド
34 パッド
40 リレースイッチ
41 第1コンデンサ
42 第2コンデンサ
43 第3コンデンサ
50 デバイス
51 電極
Claims (6)
- 検査対象物の複数の電極に接触する複数のプローブと、
前記複数のプローブが設けられたプローブ基板と、
前記プローブ基板の前記プローブが設けられた面と反対側の面に対向して配置された配線基板と、
前記プローブ基板の配線と前記配線基板の配線とを電気的に接続する接続ピンと、前記プローブ基板と前記配線基板との間に前記接続ピンを保持するホルダと、を有する接続体と、
前記配線基板の前記プローブ基板側の面に実装され、前記ホルダに設けられた貫通穴又は凹部によって形成された実装空間に配置された第1の電子部品と、を備えるプローブカード。 - 前記第1の電子部品が前記検査対象物への電源供給を遮断するリレースイッチである請求項1に記載のプローブカード。
- 前記プローブ基板の前記配線基板側の面において、前記第1の電子部品と対向する位置には、第2の電子部品が実装されている請求項1、又は2に記載のプローブカード。
- 前記配線基板の前記プローブ基板と反対側の面には、第1のコンデンサが設けられ、
前記第2の電子部品が、前記第1のコンデンサよりも容量が小さい第2のコンデンサであり、
前記プローブ基板の前記プローブが設けられた面には、前記第2のコンデンサよりも容量が小さい第3のコンデンサが設けられている請求項3に記載のプローブカード。 - 一つの前記第1のコンデンサが複数の前記第1の電子部品に接続されている請求項4に記載のプローブカード。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載のプローブカードと、
前記プローブカードに電源を供給するテスタと、を備えた検査装置。
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